JPH02105726A - Ａ／ｄコンバータの非直線性の検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置であるＡ／Ｄコンバータに関し、特
に製造後の検査方法に関する。

〔従来の技術〕

従来、この種のＡ／Ｄコンバータの非直線性の検査方法
は第２図、第３図に示す様に計算機１から基準Ｄ／Ａ３
に入力コード４をゼロからフルスケールまで等間隔に与
えて被測定Ａ／Ｄ２より得られる出力コード６を計算機
１に取り込み変化点を求め非直線性誤差を計算して良否
を判定する方法が取られていた。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述した従来のＡ／Ｄコンバータの非直線性の検査方法
は高精度を得るための高分解能のＤ／Ａを用いてゼロか
らフルスケールまで等間隔に同等の重みで測定すると非
常に長いテスト時間がかかり、かつ記憶すべきデータ数
も膨大になるという欠点がある（例として１６ビツトフ
ルスケールの場合測定点は１６’−１，＝６５５３５点
）。

このため８ビット程度の被測定Ａ／Ｄの場合は１１〜１
２ビツトで測定するのが一般的であるが、ノイズに弱い
低精度のＡ／Ｄの測定の場合は１１〜１２ピツ）Ｄ／Ａ
ではマージン的に粗く出力コードが一定せず、検査によ
り品質を保証しかねる場合がおこる欠点がある。

〔発明の従来技術に対する相違点〕

上述した従来のＡ／Ｄコンバータの非直線性の検査方法
に対し本発明は、高分解能のＤ／Ａを用いてあらかじめ
数ステップ毎の粗いアナログ入力を被測定Ａ／Ｄに与え
粗い変化点を得る予備テストを施した後、本テストにお
いて予備テストで得た粗い変化点より最小分解能にて再
度変化点を走査するという相違点を有する。

〔課題を解決するための手段〕

本発明のＡ／Ｄコンバータの非直線性の検査方法は計算
機のテストプログラムにおいて予備テストと本テストの
二段階テストを有し、予備テストにおいては基準Ｄ／Ａ
の最小分解能の数倍の分解能にてゼロからフルスケール
まで全テストの後粗い変化点を求める機能を、本テスト
においては最小分解能にて粗い変化点より真の変化点ま
で局部テストを行ない真の変化点を求める機能をそれぞ
れ有している。

〔実施例〕

次に、本発明について図面を参照して説明する。

第１図は本発明の一実施例のテストプログラムのフロー
チャート、第４図は本発明の一実施例の予備テストを示
すＡ／Ｄ出力特性図、第５図は本発明の一実施例の本テ
ストを示めすＡ／Ｄ出力特性の部分図である。

計算機ｌにおいてあらかじめ定められた、基準Ｄ／Ａコ
ンバータ３の最小分解能８（ΔＬ）の整数倍の分解能７
（ΔＧ＝ｎΔＬまただしｎ：整数）ずつ入力コード４を
基準Ｄ／Ａコンバータ３に入力し、アナログ人力５を被
測定Ａ／Ｄ　Ｄ　Ｖ　Ｔ２に与え得られた出力コード６
を計算機ｌに取込む。

このサイクルをゼロスケールからフルスケールまで行な
い、予備テストにおける粗い変化点電圧１１　　（Ｇ（
ｉ）、　　ｉ　：出力コード）を得る。

次に本テストでＧ（ｉ）から最小分解能ΔＬで入力を与
えコードが変化する直前の電圧１２（Ｌ（ｉ乃を求める
。このＬ（ｉ）が求めるこのＡ／Ｄの真の変化点電圧と
なる。

第５図は第４図のＩＡ、ＩＢの部分についての本テスト
の様子を示したものである。ここでＩＢにおいては、予
備テストでコード“３”は検出できなかったが本テスト
で最小分解能でテストしたところコード“３ｎが検出さ
れ変化点電圧Ｌ（３）が得られたことを示すものである
。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明は、高精度を得るための高分
解能のＤ／Ａコンバータを用いてもゼロからフルスケー
ルまで等間隔に同等の重みで測定することがなく、予備
テストにより粗い変化点をさがしてそれ以前の区間のム
ダな高精度測定を省略できるため比較的短いテスト時間
で高精度測定が行なえる利点があり、記憶すべきデータ
数も少なくてすむという効果がある。

このため８ビット程度のノイズに弱い低精度Ａ／Ｄの検
査でも１６ビツト以上の高精度測定が現実的に可能にな
り、検査による品質保証かはぼ完全にできる効果がある
。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のＡ／Ｄコンバータの非直線性の検査方
法の一実施例のテストプログラムのフローチャート、第
２図は従来の方法のフローチャート、第３図は一般的な
Ａ／Ｄコンバータの検査に用いられる装置の概略図、第
４図は本発明の一実施例の予備テストを示すＡ／Ｄ出力
特性図、第５図は本発明の一実施例の本テストを示すＡ
／Ｄ出力特性の部分図である。 ｌ・・・・・・計算機、２・・・・・・被測定Ａ／Ｄコ
ンバータ、３・・・・・・基準Ｄ／Ａコンバータ、４・
・・・・・Ｄ／Ａ入力コード、訃・・・・・アナログ入
力、６・・・・・・Ａ／Ｄ出力コード、７・・・・・・
予備テストのＤ／Ａ分解能、８・・・・・・本テストの
Ｄ／Ａ分解能、９・・・・・・Ａ／Ｄの出力特性、１０
・・・・・・予備テストの測定点、１１・・・・・・予
備テストの変化点電圧、１２・・・・・・本テストの変
化点電圧、１３・・・・・・本テストの測定点。 代理人　弁理士　　内　原　　　　晋 図 濱１ 第づ図

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）計算機より入力コードを基準となるＤ／Ａコンバ
   ータに与え、その出力されたアナログ量を被測定対象で
   あるＡ／Ｄコンバータに入力し、出力されたデジタルコ
   ードを計算機に取り込み計算により非直線性誤差を求め
   るＡ／Ｄコンバータの非直線性の検査方法において、あ
   らかじめ出力コード変化点付近の入力量を求める予備テ
   ストを行なった後本テストを行なうことを特徴とするＡ
   ／Ｄコンバータの非直線性の検査方法。
2. （２）予備テストにおけるＤ／Ａコンバータの分解能は
   、本テストの分解能より粗くすることを特徴とする特許
   請求の範囲第（１）項記載のＡ／Ｄコンバータの非直線
   性の検査方法。
3. （３）予備テスト、本テストにおけるＤ／Ａコンバータ
   の分解能の切換えをＤ／Ａコンバータに入力するコード
   のステップ幅の変更により行なうことを特徴とする特許
   請求の範囲第（１）項または第（２）項記載のＡ／Ｄコ
   ンバータの非直線性の検査方法。
4. （４）本テストにおけるＡ／Ｄコンバータの変化点走査
   は、予備テストにより得られた変化点付近の入力量より
   開始し、それ以前の走査を省くことを特徴とする特許請
   求の範囲第（１）項、第（２）項または第（３）項記載
   のＡ／Ｄコンバータの非直線性の検査方法。