JPH02103643A - Interruption generation circuit for debug - Google Patents

Interruption generation circuit for debug

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JPH02103643A
JPH02103643A JP63255800A JP25580088A JPH02103643A JP H02103643 A JPH02103643 A JP H02103643A JP 63255800 A JP63255800 A JP 63255800A JP 25580088 A JP25580088 A JP 25580088A JP H02103643 A JPH02103643 A JP H02103643A
Authority
JP
Japan
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address
microprogram
control
circuit
comparing
Prior art date
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Pending
Application number
JP63255800A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masaru Ito
勝 伊藤
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Abstract

PURPOSE:To efficiently make debugging by previously designating the address range of a functional routine to be verified in a microprogram and generating interruption when the designated address range is executed. CONSTITUTION:This interruption generation circuit is provided with a controlling storage 1, instruction register, execution controlling section 3, comparing address registers 5 and 6, comparator circuits 7 and 8, arithmetic circuit 9, and control circuit 10. By respectively storing necessary addresses in the comparing address registers 5 and 6 and designating a necessary mode to the control circuit 10, interruption is generated under the address range conditions of a microprogram and two-point address conditions. Therefore, a strong debugging means is obtained and the debugging efficiency can be improved.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はデバッグ用割込発生回路に関し、特に、マイク
ロプログラムの検証のために中央処理装置に設けられる
デバッグ用割込発生回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a debugging interrupt generating circuit, and more particularly to a debugging interrupt generating circuit provided in a central processing unit for verifying a microprogram.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、マイクロプログラムの検証方法として、このマイ
クロプログラムを実行させ、その実行中に外部から割込
信号を与えても所定の処理が間違いなく行なわれるかを
、験す方法をとっている。
Conventionally, a method for verifying a microprogram has been to run the microprogram and test whether predetermined processing is performed without error even if an interrupt signal is applied from the outside during execution.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかしながら、上述した従来のマイクロプログラムの検
証方法においては、割込発生をマイクロプログラムの特
定の機能実行に同期して与えることが難しく、割込発生
の種々なタイミングに対応したマイクプログラムの検証
が得られにくいという問題点を有している。
However, in the conventional microprogram verification method described above, it is difficult to generate an interrupt in synchronization with the execution of a specific function of the microprogram, and it is difficult to verify a microphone program that corresponds to various timings of interrupt generation. The problem is that it is difficult to

本発明の目的は、マイクロプログラムの検証したい機能
ルーチンのアドレス範囲を予め指定する事により指定ア
ドレス範囲が実行された時点で割込みを発生することが
できるデバッグ用割込発生回路を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a debugging interrupt generation circuit that can generate an interrupt when the specified address range is executed by specifying in advance the address range of a functional routine to be verified in a microprogram. .

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明によるデバッグ用割込発生回路は、制御記憶に格
納されているマイクロプログラムによって制御される処
理装置において、 制御記憶に供給される制御記憶アドレスと比較するため
のアドレスデータを第1及び第2のアドレスデータとし
て格納する第1および第2のコンベアアドレス格納手段
と、 マイクロプログラムの実行ごとに、前記制御記憶アドレ
スと前記第1のコンベアアドレス格納手段に格納されて
いる第1のアドレスデータとを比較する第1の比較手段
と、 マイクロプログラムの実行ごとに、前記制御記憶アドレ
スと前記第2のコンベアアドレス格納手段に格納されて
いる第2のアドレスデータとを比較する第2の比較手段
と、 前記第1の比較手段の出力と前記第2の比較手段の出力
とを演算し、その演算結果を割込要求信号として発生す
る演算手段と、 前記第1および第2の比較手段と前記演算手段とを制御
するための手段とを有する。
The debugging interrupt generation circuit according to the present invention is a processing device controlled by a microprogram stored in a control memory. first and second conveyor address storage means for storing the control memory address and first address data stored in the first conveyor address storage means each time a microprogram is executed; a first comparison means for comparing; and a second comparison means for comparing the control storage address and second address data stored in the second conveyor address storage means each time a microprogram is executed; arithmetic means for calculating the output of the first comparing means and the output of the second comparing means and generating the result of the calculation as an interrupt request signal; the first and second comparing means; and the calculating means. and means for controlling.

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施例の構成を示すプロ・ツク図で
ある。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of one embodiment of the present invention.

本実施例によるデバッグ用割込発生回路は、制a :l
E憶1.命令レジスタ2.実行制御部3.コンベアアド
レスレジスタ5および6.比較回路7および8.演算回
路9.および制御回路10を有している。
The debugging interrupt generation circuit according to this embodiment has control a:l
E-memory 1. Instruction register 2. Execution control unit 3. Conveyor address registers 5 and 6. Comparison circuits 7 and 8. Arithmetic circuit 9. and a control circuit 10.

マイクロプログラムは制御記憶1の中に格納されており
、この制御記憶1の中の、ライン310で指定されるア
ドレスにあるマイクロ命令が読出されて命令レジスタ2
に格納される。このように命令レジスタ2に読出された
命令は、実行制御部3に供給され、ここで命令がデコー
ドされて実行される。実行されるべき次の命令のアドレ
スは、実行制御部3で生成され、ライン310を介して
制御記憶1に与えられ、これによって再び次の命令が命
令レジスタ2に読出され、かくして制御記憶1に格納さ
れたマイクロプログラムの各命令はプログラムに従って
次々に読出されて実行されることになる。
The microprogram is stored in control memory 1, and the microinstruction at the address specified by line 310 in control memory 1 is read and stored in instruction register 2.
is stored in The instructions read into the instruction register 2 in this manner are supplied to the execution control section 3, where they are decoded and executed. The address of the next instruction to be executed is generated in the execution controller 3 and applied to the control store 1 via line 310, which again reads the next instruction into the instruction register 2 and thus the control store 1. Each instruction of the stored microprogram is read out and executed one after another according to the program.

さて、本実施例は3つの特有なモードを有している。Now, this embodiment has three unique modes.

これらの各モードは、コンソール(図示せず)からライ
ン110を介して制御回路10に供給されるモード指定
信号により指定され、制御回路10はこの信号の指定に
より比較回路7.比較回路8.および演算回路9を以下
に示すように制御する。
Each of these modes is specified by a mode designation signal supplied from a console (not shown) to the control circuit 10 via line 110, and the control circuit 10 uses the comparison circuit 7. Comparison circuit 8. and the arithmetic circuit 9 are controlled as shown below.

まず比較回路7は、ライン310を介して制御記憶1に
供給される内容(これをCとする)とコンベアアドレス
レジスタ5の内容(これをA1とする)とを比較し、こ
の比較結果に従って“1”または“0”を出力するが、
この結果の与え方は制御回路10からの制御信号178
の指定により、モードによって第2図に示すように変化
する。
First, the comparison circuit 7 compares the contents supplied to the control memory 1 via the line 310 (this is referred to as C) and the contents of the conveyor address register 5 (this is referred to as A1), and according to the comparison result, " Outputs “1” or “0”, but
This result is given by the control signal 178 from the control circuit 10.
According to the designation of , it changes as shown in FIG. 2 depending on the mode.

すなわち、第1モードのときは、ライン310を介して
制御記憶1に供給される内容Cと、コンベアアドレスレ
ジスタ5の内容A1とが等しいとき(C−AIのとき)
に論理“1”を出力し、等しくないとき(C≠A1のと
き)には論理“0”を出力する。また、第2のモードお
よび第3モードのときには、ライン310を介して制御
記憶1に供給される内容Cがコンベアアドレスレジスタ
5の内容A1よりも大きいかまたは等しいとき(C>A
 1のとき)に論理“1”を出力し、小さいとき(C<
AIのとき)には論理“0”を出力する。
That is, in the first mode, when the content C supplied to the control memory 1 via the line 310 and the content A1 of the conveyor address register 5 are equal (in the case of C-AI).
A logic "1" is outputted to the output signal, and a logic "0" is outputted when they are not equal (when C≠A1). Also, in the second and third modes, when the content C supplied to the control store 1 via line 310 is greater than or equal to the content A1 of the conveyor address register 5 (C>A
1), outputs logic “1” when it is small (C<
(at the time of AI), a logic "0" is output.

同様に比較回路8は、ライン310を介して制御記憶1
に供給される内容とコンベアアドレスレジスタ6の内容
(これをA2とする)とを比較し、この比較結果に従っ
て、“1”または′0”を出力するがこの結果の与え方
は制御回路10からの制御信号178の指定によりモー
ドによって第2図に示すように変化する。すなわち、第
1モードのときには、C−A2のときに論理“1”を出
力し、C≠A2のときに論理“0′を出力する。また第
2モードおよび第3モードのときには、C<A2のとき
に論理“1”を出力し、C>A2のときに論理“0”を
出力する。
Similarly, the comparison circuit 8 connects the control memory 1 via line 310 to the control memory 1.
The contents supplied to the conveyor address register 6 are compared with the contents of the conveyor address register 6 (this is referred to as A2), and "1" or '0' is output according to the comparison result, but the method of giving this result is determined by the control circuit 10. The control signal 178 changes depending on the mode as shown in FIG. 2. That is, in the first mode, logic "1" is output when C-A2, and logic "0" is output when C≠A2. ′ is output. Further, in the second mode and the third mode, a logic "1" is output when C<A2, and a logic "0" is output when C>A2.

次に演算回路9は、比較回路7の出力(これをPとする
)と比較回路8の出力(これをQとする)とを論理合成
して割込発生要因信号930を生成するが、その論理合
成の仕方は制御回路10からの制御信号109の指定に
より各モードごとに第2図に示すように変化する。
Next, the arithmetic circuit 9 logically synthesizes the output of the comparator circuit 7 (which is designated as P) and the output of the comparator circuit 8 (which is designated as Q) to generate an interrupt generation factor signal 930. The method of logic synthesis changes depending on the designation of the control signal 109 from the control circuit 10 as shown in FIG. 2 for each mode.

すなわち、第1モードのときにはPとQのオア、第2の
モードのときにはPとQアンド、第3のモードのときに
はPとQのナンドの論理演算によって割込発生要因信号
を生成するように動作する。
That is, in the first mode, the interrupt generation factor signal is generated by the OR of P and Q, in the second mode, by the AND of P and Q, and in the third mode, by the NAND logical operation of P and Q. do.

以上より明らかなように、本実施例によると、コンソー
ルからライン110を介して第1モードが指定されると
、C−AlまたはC−A2が成立した場合に、また第2
モードが指定されると、AI<C<A2が成立した場合
に、さらに第3モードが指定されるとC<AIまたはC
>A2が成立した場合に、割込発生要因信号930が“
1″となる。
As is clear from the above, according to this embodiment, when the first mode is specified from the console via the line 110, when C-Al or C-A2 is established, the second mode is also specified.
When a mode is specified, if AI<C<A2 is established, and a third mode is specified, C<AI or C
>A2 is established, the interrupt generation factor signal 930 becomes “
1″.

この割込発生要因信号930は、実行制御部3に供給さ
れ、この内部において、他の割込発生要因と論理和され
、これによって割込発生要因信号930が論理“1”に
なると割込みが発生される。
This interrupt generation factor signal 930 is supplied to the execution control unit 3, and is logically summed with other interrupt generation factors therein. When the interrupt generation factor signal 930 becomes logic "1", an interrupt occurs. be done.

以上述べたように本実施例によると、コンベアアドレス
レジスタ5および6にそれぞれ必要なアドレスを格納し
、かつ制御回路10に必要なモードを指定することによ
って、従来行ない得なかったマイクロプログラムのアド
レス範囲条件さらに2点アドレス条件での割込発生が可
能となる。
As described above, according to this embodiment, by storing the necessary addresses in the conveyor address registers 5 and 6, and specifying the necessary mode in the control circuit 10, the address range of the microprogram, which was previously impossible, is achieved. In addition, it is possible to generate an interrupt under a two-point address condition.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のように本発明によるとマイクロプログラム実行中
に割込みが行なわれても、所定の動作が行なわれること
を試験するために、指定された2つのアドレスの範囲内
かまたは範囲外かによって、さらにそれぞれのいずれか
が実行された時点で割込みが発生でき、従来技術では行
ない得なかった強力なデバッグ手段の提供が可能となり
、デバ・ノブの効率化が達成される。
As described above, according to the present invention, in order to test whether a predetermined operation is performed even if an interrupt occurs during the execution of a microprogram, the An interrupt can be generated when any one of these is executed, making it possible to provide a powerful debugging means that was not possible with the prior art, and making the debug knob more efficient.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例の構成を示すプロ・ンク図、
第2図は本実施例に使用されている回路の動作を説明す
るための図である。 1・・・制御記憶、2・・・命令レジスタ、3・・・実
行制御部、5,6・・・コンベアアドレスレジスタ、7
.8・・・比較回路、9・・・演算回路、10・・・制
御回路。
FIG. 1 is a diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention;
FIG. 2 is a diagram for explaining the operation of the circuit used in this embodiment. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Control memory, 2... Instruction register, 3... Execution control part, 5, 6... Conveyor address register, 7
.. 8... Comparison circuit, 9... Arithmetic circuit, 10... Control circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、制御記憶に格納されているマイクロプログラムによ
って制御される処理装置において、前記制御記憶に供給
される制御記憶アドレスと比較するためのアドレスデー
タを第1及び第2のアドレスデータとして格納する第1
および第2のコンベアアドレス格納手段と、マイクロプ
ログラムの実行ごとに、前記制御記憶アドレスと前記第
1のコンベアアドレス格納手段されている前記第1のア
ドレスデータとを比較する第1の比較手段と、 マイクロプログラムの実行ごとに、前記制御記憶アドレ
スと前記第2のコンベアアドレス格納手段に格納されて
いる前記第2のアドレスデータとを比較する第2の比較
手段と、 前記第1の比較手段の出力と前記第2の比較手段の出力
とを演算し、その演算結果を割込要求信号として発生す
る演算手段と、 前記第1および第2の比較手段と前記演算手段とを制御
するための制御手段とを有する事を特徴とするデバッグ
用割込発生回路。
[Scope of Claims] 1. In a processing device controlled by a microprogram stored in a control memory, address data for comparison with a control memory address supplied to the control memory is stored in first and second addresses. The first to be stored as data
and a second conveyor address storage means, and a first comparison means for comparing the control storage address and the first address data stored in the first conveyor address storage means each time a microprogram is executed. a second comparison means that compares the control storage address with the second address data stored in the second conveyor address storage means each time a microprogram is executed; and an output of the first comparison means. and an output of the second comparing means, and generating the result of the calculation as an interrupt request signal; and a control means for controlling the first and second comparing means and the calculating means. A debugging interrupt generation circuit characterized by having the following features.
JP63255800A 1988-10-13 1988-10-13 Interruption generation circuit for debug Pending JPH02103643A (en)

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JP63255800A JPH02103643A (en) 1988-10-13 1988-10-13 Interruption generation circuit for debug

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0849669A1 (en) * 1996-12-19 1998-06-24 STMicroelectronics Limited Diagnostic procedures in an integrated circuit device
EP0862115A1 (en) * 1997-02-27 1998-09-02 STMicroelectronics Limited Trigger sequencing controller

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