JPH0191976A - 溶接2次ケーブルの断線検出方法 - Google Patents
溶接2次ケーブルの断線検出方法Info
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- JPH0191976A JPH0191976A JP24691987A JP24691987A JPH0191976A JP H0191976 A JPH0191976 A JP H0191976A JP 24691987 A JP24691987 A JP 24691987A JP 24691987 A JP24691987 A JP 24691987A JP H0191976 A JPH0191976 A JP H0191976A
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- welding
- cable
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
本発明は、溶接ガンと変圧器とを接続する溶接2次ケー
ブルを構成する複数の内部導体の断線を検出する検出方
法に関する。
ブルを構成する複数の内部導体の断線を検出する検出方
法に関する。
r従来の技術」
本件出願人は既に溶接用2次ケーブルの断線検出方法と
して磁気センサの磁界強度信号を統計的手法により処理
し°〔磁界強度のバラツキ量(標準偏差、分散等の統計
値)を求め、このバラツキ策と予め設定したしきい値と
の比較により、溶接2次テーブルを構成する内部導体の
断線を検出する方法を提案し、迅速かつ連続的な断線検
出を可能にして常時監視Rvpを採り、突発的な作業中
断を未然に防止するとともに点検工数の削減を図った。
して磁気センサの磁界強度信号を統計的手法により処理
し°〔磁界強度のバラツキ量(標準偏差、分散等の統計
値)を求め、このバラツキ策と予め設定したしきい値と
の比較により、溶接2次テーブルを構成する内部導体の
断線を検出する方法を提案し、迅速かつ連続的な断線検
出を可能にして常時監視Rvpを採り、突発的な作業中
断を未然に防止するとともに点検工数の削減を図った。
「発明が解決しようとする問題点」
しかしながら、実際の溶接作業現場においては、溶接2
次ケーブル、は溶接位置に応じて複雑に曲げられたり、
大きくねしられることが多く、ケーブル外周上に固設し
た磁気センサの位置関係が変化し、磁気センサの検出出
力が変化することがある。
次ケーブル、は溶接位置に応じて複雑に曲げられたり、
大きくねしられることが多く、ケーブル外周上に固設し
た磁気センサの位置関係が変化し、磁気センサの検出出
力が変化することがある。
また、通電中に発生ずる内部導体間の反発力で内部導体
が振動し、その結果外部の磁界強度が変動して、センサ
出力信号に誤差を生じることもある。
が振動し、その結果外部の磁界強度が変動して、センサ
出力信号に誤差を生じることもある。
このため各磁気センサにより検出される磁力線の変化が
、内部導体の断線率に変化がなくてもバラツキを生じ、
内部導体の断線による磁力線の変化であるか、その他の
原因による変化であるかの判定が困難となり、スポット
溶接の各打点毎の判定によっては誤判定の可能性が増大
して、正確かつ確実に溶接2次ケーブルを構成する内部
導体の断線を検出することができない等の解決すべき問
題点があった。
、内部導体の断線率に変化がなくてもバラツキを生じ、
内部導体の断線による磁力線の変化であるか、その他の
原因による変化であるかの判定が困難となり、スポット
溶接の各打点毎の判定によっては誤判定の可能性が増大
して、正確かつ確実に溶接2次ケーブルを構成する内部
導体の断線を検出することができない等の解決すべき問
題点があった。
「問題点を解決するための手段」
本発明は、前記問題点を解決し溶接2次ケーブルの内部
導体の断線による溶接品「の低下、及び突発的な作業中
断を未然に防1トすることを目的とするもので、その具
体的構成は、溶接ガンと変圧器とを接続する複数の正側
内部導体と、複数の負側内部導体とをケーブル断面に対
して交互にリング状に配列して構成17た溶接2次ゲー
ブルの外周に、前記各内部導体に対応させて複数の磁気
センサを配置し、その各磁気センサから出力される磁界
強度信号を統計的手法により処理して磁界強度のバラツ
キ量を求めるとともに、このバラツキ量を毎回記憶し、
過去N同のバラツキ呈の平均を算出して求めた特性値と
予め設定したしきい値との比較により、前記溶接2次ケ
ーブルを構成する各内部導体の断線を検出することを特
徴とするものである。
導体の断線による溶接品「の低下、及び突発的な作業中
断を未然に防1トすることを目的とするもので、その具
体的構成は、溶接ガンと変圧器とを接続する複数の正側
内部導体と、複数の負側内部導体とをケーブル断面に対
して交互にリング状に配列して構成17た溶接2次ゲー
ブルの外周に、前記各内部導体に対応させて複数の磁気
センサを配置し、その各磁気センサから出力される磁界
強度信号を統計的手法により処理して磁界強度のバラツ
キ量を求めるとともに、このバラツキ量を毎回記憶し、
過去N同のバラツキ呈の平均を算出して求めた特性値と
予め設定したしきい値との比較により、前記溶接2次ケ
ーブルを構成する各内部導体の断線を検出することを特
徴とするものである。
「作用」
本発明方法は、前記具体的構成の説明により明らかにし
たように、内部導体に対応させて配置した磁気センサか
ら出力される磁界強度信号を統計的手法により処理して
磁界強度のバラツキ量を定量的に求めるとともに、過去
の一定の測定回数におけるバラツli1の平均値と、予
め設定したしきい値との比較により、溶接2次ケーブル
を構成する内部導体の断線の有無を、明確な有意差をら
って確実に検出する。
たように、内部導体に対応させて配置した磁気センサか
ら出力される磁界強度信号を統計的手法により処理して
磁界強度のバラツキ量を定量的に求めるとともに、過去
の一定の測定回数におけるバラツli1の平均値と、予
め設定したしきい値との比較により、溶接2次ケーブル
を構成する内部導体の断線の有無を、明確な有意差をら
って確実に検出する。
r実施例」
本件発明方法及びその装置の一実施例を添付図面に基づ
いて説明する。
いて説明する。
第1図は、溶接2次ケーブル1(以下ケーブルという)
の断面構造の一例を示したもので、それぞれTl流方向
が相反する正側内部導体2a、2b。
の断面構造の一例を示したもので、それぞれTl流方向
が相反する正側内部導体2a、2b。
2Cと負側内部導体3a、3b、3eとを、交互にケー
ブル断面に対してリング状に平行に配置し、各内部導体
間を絶縁セパレータ4により分障区画するとともに、交
流インピーダンスを下げるため各内部導体にケーブル長
手方向の撚りをかけ、外装チューブ5に収める。このケ
ーブル1の使用時には、外装チューブ5内の空隙6に冷
却水を通して冷却する。
ブル断面に対してリング状に平行に配置し、各内部導体
間を絶縁セパレータ4により分障区画するとともに、交
流インピーダンスを下げるため各内部導体にケーブル長
手方向の撚りをかけ、外装チューブ5に収める。このケ
ーブル1の使用時には、外装チューブ5内の空隙6に冷
却水を通して冷却する。
第21’71は、本発明方法の基礎となる前記ケーブル
1の近傍磁界の計測方法を示したもので、同図矢線に示
すように各内部導体に通電した場合に、ケーブル1の中
心から放射方向に発生する磁力線gで形成される磁界の
強さを、ガウスメータGにより計測する。
1の近傍磁界の計測方法を示したもので、同図矢線に示
すように各内部導体に通電した場合に、ケーブル1の中
心から放射方向に発生する磁力線gで形成される磁界の
強さを、ガウスメータGにより計測する。
寸、たこの計測方法によりケーブル1を構成する内部導
体のtttr線を検出することができる原理を簡単に説
明する。
体のtttr線を検出することができる原理を簡単に説
明する。
平行に置かれた2本の導体に、それぞれ逆方向に電流を
流すと、各導体の周りには磁力線の方向が逆方向の磁界
が発生し、2本の導体の中間位置の磁界強度は両者を重
ね合わせた強度を示す、この中間位置に磁気センサを配
置すると2本の導体に流れる電気址の変化を、磁界強度
の変化として捉えることができる。さらにこれをケーブ
ル1を構成する3組の内部導体束に適用すると、3個の
磁気センサにより、各3組の導体束に流れる電流量の変
化を捉えることかり能となり、各内部導体を形成する細
q線が徐//に破断して内部導体の抵抗が変化し電流の
分流比率が変化するから、これを磁界強度の変化として
捉え、内部導体の断線を検出することができる。
流すと、各導体の周りには磁力線の方向が逆方向の磁界
が発生し、2本の導体の中間位置の磁界強度は両者を重
ね合わせた強度を示す、この中間位置に磁気センサを配
置すると2本の導体に流れる電気址の変化を、磁界強度
の変化として捉えることができる。さらにこれをケーブ
ル1を構成する3組の内部導体束に適用すると、3個の
磁気センサにより、各3組の導体束に流れる電流量の変
化を捉えることかり能となり、各内部導体を形成する細
q線が徐//に破断して内部導体の抵抗が変化し電流の
分流比率が変化するから、これを磁界強度の変化として
捉え、内部導体の断線を検出することができる。
第3図(イ)、(ロ)は、前記計測方法及び計測原理に
従い、ケーブルを構成する内部導体の断線モード及びそ
の近傍磁界の磁界強度の分布をケーブルの円周上に沿っ
て計測した結果を示す。
従い、ケーブルを構成する内部導体の断線モード及びそ
の近傍磁界の磁界強度の分布をケーブルの円周上に沿っ
て計測した結果を示す。
第3図(イ)において、縦軸に磁界強さを、横軸に内部
導体を配列順に並べて表す、横軸の導体に付した番号は
、同図(ロ)のAに示すように第1図に示した各内部導
体について時計廻り順に付した番号であり、B、C,D
において番号を付していないものは、断線した内部導体
を示す。第3図(イ)、(ロ)によれば、内部導体に断
線のない正常なケーブルでは、各内部導体の中間におい
て、磁界の強さが等しくかつ最大となる周期的パターン
を示し、内部導体に断線のあるケーブルでは、磁界の強
さが変化し周期的パターンを呈することもなく両者に大
きな相違がある。
導体を配列順に並べて表す、横軸の導体に付した番号は
、同図(ロ)のAに示すように第1図に示した各内部導
体について時計廻り順に付した番号であり、B、C,D
において番号を付していないものは、断線した内部導体
を示す。第3図(イ)、(ロ)によれば、内部導体に断
線のない正常なケーブルでは、各内部導体の中間におい
て、磁界の強さが等しくかつ最大となる周期的パターン
を示し、内部導体に断線のあるケーブルでは、磁界の強
さが変化し周期的パターンを呈することもなく両者に大
きな相違がある。
尚、ケーブルの断線パターンとして内部導体の全てが同
時に断線することはなく、1〜2本の内部導体が徐々に
断線していくのが普通である。従って、磁界強度の乱れ
を定量的に捉えることによりケーブルの内部導体の断線
を検出できる。
時に断線することはなく、1〜2本の内部導体が徐々に
断線していくのが普通である。従って、磁界強度の乱れ
を定量的に捉えることによりケーブルの内部導体の断線
を検出できる。
第4図(A)、(B)は、第1図に示す構造のケーブル
1に配置する磁気センサの配置位置を示したもので、正
側内部導体と負側内部導体例えば2aと3a、2bと3
b、2cと3cの三組の内部導体の各ペアの中間に磁気
センサを配置するもので、同図(A)の場合はケーブル
1の外装チューブ5の同一円周上に120°角間隔に3
個の磁気センサSa、Sb、Scを配:i7シ、各内部
導体の通電時に発生する放射方向の最大磁束を捉えるよ
うにし、また同図(B)の場合は、ケーブル1を構成す
る各内部導体には直配のように長手方向に沿って撚りが
かけられているなめ、円周上の一点で長手方向の断面を
考えると、図に示す如く各内部導体が一列に・■ぶこと
から、3個の磁気センサSa、Sb。
1に配置する磁気センサの配置位置を示したもので、正
側内部導体と負側内部導体例えば2aと3a、2bと3
b、2cと3cの三組の内部導体の各ペアの中間に磁気
センサを配置するもので、同図(A)の場合はケーブル
1の外装チューブ5の同一円周上に120°角間隔に3
個の磁気センサSa、Sb、Scを配:i7シ、各内部
導体の通電時に発生する放射方向の最大磁束を捉えるよ
うにし、また同図(B)の場合は、ケーブル1を構成す
る各内部導体には直配のように長手方向に沿って撚りが
かけられているなめ、円周上の一点で長手方向の断面を
考えると、図に示す如く各内部導体が一列に・■ぶこと
から、3個の磁気センサSa、Sb。
Scを外装チューブ5の外側で長手方向の一1σ線−に
に配?りして、各内部導体の通電時に発生する垂直方向
の最大磁束を捉えるようにする。
に配?りして、各内部導体の通電時に発生する垂直方向
の最大磁束を捉えるようにする。
尚、磁気センサとして、本実施例においてはポール素子
を用いているが、磁気抵抗素子、コイル等の磁;変換素
子を使用することらできる。
を用いているが、磁気抵抗素子、コイル等の磁;変換素
子を使用することらできる。
第5図は本発明方法を適用する装置のブロックダイヤグ
ラムを示す。
ラムを示す。
10は前置増幅器であって、ケーブル1に嵌めたセンサ
リング7内に前記第411Z(A>に示すように配置し
た3個の磁気センサSa、Sb、Scからの磁界強度信
号を、信号処理可能レベルまで増幅するもので、各磁気
センサに対応して3個の増幅器10a、fob、loc
を有する。11は特定の溶接電流す・イクルの信号のみ
を通過させるサンプルスイッチで3個のスイッチ11a
、ilb。
リング7内に前記第411Z(A>に示すように配置し
た3個の磁気センサSa、Sb、Scからの磁界強度信
号を、信号処理可能レベルまで増幅するもので、各磁気
センサに対応して3個の増幅器10a、fob、loc
を有する。11は特定の溶接電流す・イクルの信号のみ
を通過させるサンプルスイッチで3個のスイッチ11a
、ilb。
11Cからなる。12はサンプルスイッチ11を通過し
た磁界強度信号の最大値を記憶するピークホールド回路
で3個の回路12 a 、 12 b 、 12Cか
らなる。]3はピークホールド回路に記憶されたアナロ
グ電圧をマイクロコンピュータ14の処理しやすいデジ
タル信号に変換するA/D変換回路、14はA/D変換
R’ir 13からのデジタル信号を用いて、統計、1
(桧準10差、偏差平方和、分散、範囲等)の演算や、
その演+¥紡果に基づきケーブル1を構成する内部導体
の断線の有無の判定を行うマイクロコンピュータであっ
て、CPU。
た磁界強度信号の最大値を記憶するピークホールド回路
で3個の回路12 a 、 12 b 、 12Cか
らなる。]3はピークホールド回路に記憶されたアナロ
グ電圧をマイクロコンピュータ14の処理しやすいデジ
タル信号に変換するA/D変換回路、14はA/D変換
R’ir 13からのデジタル信号を用いて、統計、1
(桧準10差、偏差平方和、分散、範囲等)の演算や、
その演+¥紡果に基づきケーブル1を構成する内部導体
の断線の有無の判定を行うマイクロコンピュータであっ
て、CPU。
RAM、ROM、アドレスデコーダ回路15及び人出力
インターフェイス16からなる。17はパルス化回路で
あって、溶接電流サイクルをNt′J′1.する積算回
路21を作動させるための信号を前置増幅器10の増幅
信号により作るため、最大値セレクタ回路18、比軸回
路19及びしきい値電圧設定回路20とからなる。また
積算回路21は1位の積算回路21aと10位の積算回
路21bとからなる。22はサンプルサイクル数設定回
路、23は該回路22がらの信号と1位の積算回路21
aの信号とから、設定したサイクル数に達したことを判
別する比軸回路である。24はサンプルスイッチ駆動信
号発生回路で比絞回路23の信号をジけて出力信号を発
し、萌記サンダルスイッチ11を0N10FFさせて、
特定の溶接電流サイクルの1サイクル分の電流によって
発生する磁界強度を示す信号を通過せしめる。25は加
圧パルプ信号入力回路であって、溶接機からの溶接プロ
セスの始動、完了の情報を加圧バルブ信号として人力し
、溶接終了信号発生回路26、リセット信号発生回路2
7に信号を送る。lf1接終了信号発生回路26は無通
電判別を行う無通電判別フリップフロ11回路29にリ
セット信号を送る。リセット信号発生回路27は溶接開
始時に、ピークホールド回路12、積算回路21等をリ
セットするリセット信号を送る。28は判定開始判別フ
リップフロップ回路であって、前記マイクロコンピュー
タ14に、演算処理、断線判定処理を開始するタイミン
グ情報を送る。その他30は断線判定結果を表示するラ
ンプ31..32を点灯するランプ点灯回路、33は電
源回路であって、前記各回路に所定電圧を供給する。
インターフェイス16からなる。17はパルス化回路で
あって、溶接電流サイクルをNt′J′1.する積算回
路21を作動させるための信号を前置増幅器10の増幅
信号により作るため、最大値セレクタ回路18、比軸回
路19及びしきい値電圧設定回路20とからなる。また
積算回路21は1位の積算回路21aと10位の積算回
路21bとからなる。22はサンプルサイクル数設定回
路、23は該回路22がらの信号と1位の積算回路21
aの信号とから、設定したサイクル数に達したことを判
別する比軸回路である。24はサンプルスイッチ駆動信
号発生回路で比絞回路23の信号をジけて出力信号を発
し、萌記サンダルスイッチ11を0N10FFさせて、
特定の溶接電流サイクルの1サイクル分の電流によって
発生する磁界強度を示す信号を通過せしめる。25は加
圧パルプ信号入力回路であって、溶接機からの溶接プロ
セスの始動、完了の情報を加圧バルブ信号として人力し
、溶接終了信号発生回路26、リセット信号発生回路2
7に信号を送る。lf1接終了信号発生回路26は無通
電判別を行う無通電判別フリップフロ11回路29にリ
セット信号を送る。リセット信号発生回路27は溶接開
始時に、ピークホールド回路12、積算回路21等をリ
セットするリセット信号を送る。28は判定開始判別フ
リップフロップ回路であって、前記マイクロコンピュー
タ14に、演算処理、断線判定処理を開始するタイミン
グ情報を送る。その他30は断線判定結果を表示するラ
ンプ31..32を点灯するランプ点灯回路、33は電
源回路であって、前記各回路に所定電圧を供給する。
以下に本発明装置の作動を第5図のブロックダイヤグラ
ム及び第6図の本発明装置のタイミングチャートに従い
説明する。
ム及び第6図の本発明装置のタイミングチャートに従い
説明する。
溶接用自動機(ロボット、* JH[等)や溶接作業者
から、溶接制御装&40に溶接指令信号が加えられると
、溶接動作が開始され第6図Aで示す加圧バルブ信号が
、溶接′:4極による被溶接部材圧接のためのシリンダ
を制御する制御バルブに発せられる。また本発明装置の
Urn検出装置(以下単に装置という)に加えられた前
記加圧バルブ信号は、加圧バルブ信号入力回路25でス
クイズ動作による誤動作を防止するため若干の遅延を加
えた後(第6図B)、リセット信号発生回路27により
リセット信号を発する(同図D)。このリセット信号は
装置のピークホールド回路12.積算回路21.判定開
始判別フリップフロップ回路28.ゲート制御フリップ
フロップ回路34等に供給され、それらの回路の初期化
を行う。続いて初期加圧時間終了後通電時間に入ると、
ケーブル1には溶接電流が流れケーブル1の近傍に磁界
が発生し、これをセンサリング7に配置した磁気センサ
Sa、Sb。
から、溶接制御装&40に溶接指令信号が加えられると
、溶接動作が開始され第6図Aで示す加圧バルブ信号が
、溶接′:4極による被溶接部材圧接のためのシリンダ
を制御する制御バルブに発せられる。また本発明装置の
Urn検出装置(以下単に装置という)に加えられた前
記加圧バルブ信号は、加圧バルブ信号入力回路25でス
クイズ動作による誤動作を防止するため若干の遅延を加
えた後(第6図B)、リセット信号発生回路27により
リセット信号を発する(同図D)。このリセット信号は
装置のピークホールド回路12.積算回路21.判定開
始判別フリップフロップ回路28.ゲート制御フリップ
フロップ回路34等に供給され、それらの回路の初期化
を行う。続いて初期加圧時間終了後通電時間に入ると、
ケーブル1には溶接電流が流れケーブル1の近傍に磁界
が発生し、これをセンサリング7に配置した磁気センサ
Sa、Sb。
Scが検出して、センサ出力信号として第6図Fに示す
信号と同様の信号が前置増幅器10a。
信号と同様の信号が前置増幅器10a。
10b、10cに入力される。ケーブル1の断線モード
によっては、いずれかの磁気センサにおいて殆ど出力信
号が得られないこともあるので、前記3個の前置増幅器
10a、iob、10cの増幅信号のうち最大値を最大
値セレクタ回路18により選出し、その信号と予めしき
い値電圧設定回路20により設定したしきい値電圧とを
比較回路19で比較して、センサ出力パルス信号とする
(第6図G)、このパルス信号は積算回路21で積算さ
れるとともに、サンプルサイクル数設定回路22で設定
されたサンプルサイクル数と比較回路23で比較し、一
致した場合にはサンプルスイッチ駆動信号発生回路24
へ一致信号を送る。
によっては、いずれかの磁気センサにおいて殆ど出力信
号が得られないこともあるので、前記3個の前置増幅器
10a、iob、10cの増幅信号のうち最大値を最大
値セレクタ回路18により選出し、その信号と予めしき
い値電圧設定回路20により設定したしきい値電圧とを
比較回路19で比較して、センサ出力パルス信号とする
(第6図G)、このパルス信号は積算回路21で積算さ
れるとともに、サンプルサイクル数設定回路22で設定
されたサンプルサイクル数と比較回路23で比較し、一
致した場合にはサンプルスイッチ駆動信号発生回路24
へ一致信号を送る。
比較回路23において用いるサンプルサイクルは10進
1桁の数値のため積算回路には、11サイクル以上のパ
ルス信号が加わらないように、10位の8F算回路21
bの最下位ビットがONになった時(10サイクル目の
パルスを数えた時)以降ゲート回路35を閉じる。
1桁の数値のため積算回路には、11サイクル以上のパ
ルス信号が加わらないように、10位の8F算回路21
bの最下位ビットがONになった時(10サイクル目の
パルスを数えた時)以降ゲート回路35を閉じる。
前記一致信号を受けたサンプルスイッチ駆動信号発生回
路24は、溶接電源周波数に同期した1サイクル分の時
間幅を持つサンプルスイッチ駆動信号をサンプルスイッ
チ11に供給する(第6図H)。その信号を受けた各サ
ンプルスイッチ11a、llb、llcは前記1サイク
ル分の時間幅の間だけ閉じ前記前置増幅器1oの各増幅
出力信号をピークホールド回路12の各回路12a。
路24は、溶接電源周波数に同期した1サイクル分の時
間幅を持つサンプルスイッチ駆動信号をサンプルスイッ
チ11に供給する(第6図H)。その信号を受けた各サ
ンプルスイッチ11a、llb、llcは前記1サイク
ル分の時間幅の間だけ閉じ前記前置増幅器1oの各増幅
出力信号をピークホールド回路12の各回路12a。
12b、12cに送る。ピークホールド回路12は第6
図■に示すように、前記の時間幅内に受けた増幅出力信
号の最大値を、サンプルスイッチ11が作動しなくなっ
た後も保持する。
図■に示すように、前記の時間幅内に受けた増幅出力信
号の最大値を、サンプルスイッチ11が作動しなくなっ
た後も保持する。
前記サンプルスイッチ駆動信号は同時に、判定開始判別
79117011回路28をセットし、マイクロプロセ
ッサCI) Uに信号処理、判定処理の開始を知らせる
(第6図J)とともに、無通電判別フリップフロップ回
路29をセットし、前記加圧バルブ信号入力中に、溶接
電流が通電されたことを記憶させる。前記判定開始を通
知されたマイクロプロセッサC1) Uは、アドレスデ
コーダ回路15を介してアナログデジタル変換回路13
を駆動し、前記ピークホールド回路12に保持されたセ
ンサ出力電圧をデジタル値として取り込み、その各デジ
タル出力信−号’ X + + X i + X sを
次式くi。
79117011回路28をセットし、マイクロプロセ
ッサCI) Uに信号処理、判定処理の開始を知らせる
(第6図J)とともに、無通電判別フリップフロップ回
路29をセットし、前記加圧バルブ信号入力中に、溶接
電流が通電されたことを記憶させる。前記判定開始を通
知されたマイクロプロセッサC1) Uは、アドレスデ
コーダ回路15を介してアナログデジタル変換回路13
を駆動し、前記ピークホールド回路12に保持されたセ
ンサ出力電圧をデジタル値として取り込み、その各デジ
タル出力信−号’ X + + X i + X sを
次式くi。
ii、1ii)に基づき算術演算を行い標準偏差Sを算
出する。
出する。
平均値ミニ(x+ + x2+x*)/ 3・・・(i
)偏IL平方和 5=(x+−X)’+(X、−X)2
+(X3−x)”−−−(ii)分 散 ■工S/
’(3−1) ・・・(iii )標準偏差
s=■ ・・・(ii)式(ii >、 (
iii )、 (ii)には前記の関係があるため断線
検出のパラメータとしての磁界強度のバラツキ量は標準
偏差に限ることなく、分散、偏差平方和であってもよい
。
)偏IL平方和 5=(x+−X)’+(X、−X)2
+(X3−x)”−−−(ii)分 散 ■工S/
’(3−1) ・・・(iii )標準偏差
s=■ ・・・(ii)式(ii >、 (
iii )、 (ii)には前記の関係があるため断線
検出のパラメータとしての磁界強度のバラツキ量は標準
偏差に限ることなく、分散、偏差平方和であってもよい
。
尚、ここで示す分散は正確には不偏分散といわれるもの
であるが、データ数3で除した分散、標準偏差でも同様
である。
であるが、データ数3で除した分散、標準偏差でも同様
である。
さらに統計学上データ中の最大値S waxと最小値S
sinの差で決定される範囲Rと標準偏差Sとの間に
は、 s=R/k (但しkはデータ数により規定される定
数)の関係があるため、範囲Rを断線検出のパラメータ
として用いてもよい。
sinの差で決定される範囲Rと標準偏差Sとの間に
は、 s=R/k (但しkはデータ数により規定される定
数)の関係があるため、範囲Rを断線検出のパラメータ
として用いてもよい。
上記により標準偏差Sを算出したマイクロプロセッサC
PUは、遂次内部メモリーにその標準偏差Sを記憶する
とともに、過去N回の標準偏差Sの平均値を算出して、
この平均値を予め定めた判定しきい値と比較し、上まわ
っていればケーブル交換の警告(NG信号)を、ランプ
駆動回路30によりNGランプ32を点灯して告知する
。また下まわっていれば正常の表示(G OOD信号)
を同様にGOOI)ランプ31を点灯して告知する。
PUは、遂次内部メモリーにその標準偏差Sを記憶する
とともに、過去N回の標準偏差Sの平均値を算出して、
この平均値を予め定めた判定しきい値と比較し、上まわ
っていればケーブル交換の警告(NG信号)を、ランプ
駆動回路30によりNGランプ32を点灯して告知する
。また下まわっていれば正常の表示(G OOD信号)
を同様にGOOI)ランプ31を点灯して告知する。
上記判定後マイクロプロセッサCPUは、判定終了信号
(第6図K)を無通電判別フリップフロップ回路29に
送り該回路29をリセットするとともに、判定開始判別
フリップフロップ回路28へのセット信号が通過するセ
ット信号ゲート36を閉じる。
(第6図K)を無通電判別フリップフロップ回路29に
送り該回路29をリセットするとともに、判定開始判別
フリップフロップ回路28へのセット信号が通過するセ
ット信号ゲート36を閉じる。
通電時間、保持時間が終了すると前記加圧バルブ信号の
オフエツジで、溶接終了信号発生回路26により溶接終
了信号が発生する。゛正常に溶接電流が通電されていれ
ば、前記の様に判定開始判別フリップフロ11回路28
へのセット信号ゲート36が閉じられているので、マイ
クロプロセッサCPUは起動せず、無通電判別フリップ
フロップ回路29のリセットを行うのみである。
オフエツジで、溶接終了信号発生回路26により溶接終
了信号が発生する。゛正常に溶接電流が通電されていれ
ば、前記の様に判定開始判別フリップフロ11回路28
へのセット信号ゲート36が閉じられているので、マイ
クロプロセッサCPUは起動せず、無通電判別フリップ
フロップ回路29のリセットを行うのみである。
しかし、溶接電流が通電されなかった場合には、前記ゲ
ート36は開いており、第6図J°に示すように判定開
始判別フリップ70ツブ回路28がセットされ、マイク
ロプロセッサCPUが信号処理を開始して、無通電判別
フリップフロップ回路がセットされていないことを、入
出力インターフェイス16の入力回路を介して読み取る
。その結果無通電判定を行いケーブル断線検出同様NG
ランプ32にて警告する。
ート36は開いており、第6図J°に示すように判定開
始判別フリップ70ツブ回路28がセットされ、マイク
ロプロセッサCPUが信号処理を開始して、無通電判別
フリップフロップ回路がセットされていないことを、入
出力インターフェイス16の入力回路を介して読み取る
。その結果無通電判定を行いケーブル断線検出同様NG
ランプ32にて警告する。
本発明装置の作動は」−記の通りであって、通電中に発
生するケーブル1を構成する各内部導体間の反発力で内
部導体が振動し、その結果外部の磁界強度が変動して、
磁気センサのセンサ出力信号に誤差を生じる場合であっ
ても、予め設定した溶接電流1サイクル分の電流によっ
て発生する磁界の強度信号を取り込むため、前記振動に
よって生じる誤差を除去できるばかりでなく、無通電判
別フリップフロップ回路2つを設け、その出力を入出力
インターフェイス16の入力回路と接続し、マイクロプ
ロセッサで読み取ることにより、溶接電流の兼通電検出
も行うことができる。さらに溶接2次ケーブルの構造的
特徴により、磁気センサの取付けは、ケーブルの周りに
等角度間隔で配置する場合に限定されることなく、ケー
ブルの長手方向昏こ直線状に配置することもできる。
生するケーブル1を構成する各内部導体間の反発力で内
部導体が振動し、その結果外部の磁界強度が変動して、
磁気センサのセンサ出力信号に誤差を生じる場合であっ
ても、予め設定した溶接電流1サイクル分の電流によっ
て発生する磁界の強度信号を取り込むため、前記振動に
よって生じる誤差を除去できるばかりでなく、無通電判
別フリップフロップ回路2つを設け、その出力を入出力
インターフェイス16の入力回路と接続し、マイクロプ
ロセッサで読み取ることにより、溶接電流の兼通電検出
も行うことができる。さらに溶接2次ケーブルの構造的
特徴により、磁気センサの取付けは、ケーブルの周りに
等角度間隔で配置する場合に限定されることなく、ケー
ブルの長手方向昏こ直線状に配置することもできる。
第7図は、1台の溶接スポットガンの車両1自分のスポ
ット溶接位置と断線検出のパラメータとしての磁界強度
のバラツキkk(標準偏差)の実測値例である。同図に
示すように、前記標準偏差はスポット溶接位置によって
、かなり大きなバラツキを持つが、車両1台当たりの溶
接態様(ケーブルの捩れ、曲がり等)が変化しなければ
、高い再現性を有することが分かる。妨記標準偏差のバ
ラツキの原因は、スポット位置によりケーブル1が捩れ
、内部導体とそれを覆う外装チューブ5の外周上に固定
した磁気センサの位置関係がずれるためであると考えら
れる。このように標準偏差がバラツクことから、1回の
溶接工程により採取され算出されるに準偏差から、直ち
にケーブルの断線を判定することは、誤判定の危険性が
高い。
ット溶接位置と断線検出のパラメータとしての磁界強度
のバラツキkk(標準偏差)の実測値例である。同図に
示すように、前記標準偏差はスポット溶接位置によって
、かなり大きなバラツキを持つが、車両1台当たりの溶
接態様(ケーブルの捩れ、曲がり等)が変化しなければ
、高い再現性を有することが分かる。妨記標準偏差のバ
ラツキの原因は、スポット位置によりケーブル1が捩れ
、内部導体とそれを覆う外装チューブ5の外周上に固定
した磁気センサの位置関係がずれるためであると考えら
れる。このように標準偏差がバラツクことから、1回の
溶接工程により採取され算出されるに準偏差から、直ち
にケーブルの断線を判定することは、誤判定の危険性が
高い。
このためマイクロコンピュータ14のCPUの内部処理
により、そのメモリー内に過去N回の標準偏差を記憶し
、常時過去N回まで遡って得られる標準偏差の平均を算
出して標準偏差のバラツキを低減し、この平均値と予め
設定したしきい値との比較により断線を判定する。
により、そのメモリー内に過去N回の標準偏差を記憶し
、常時過去N回まで遡って得られる標準偏差の平均を算
出して標準偏差のバラツキを低減し、この平均値と予め
設定したしきい値との比較により断線を判定する。
ここでNの辿切な法定方法は以下の二通りが考えられ、
−の方法は固定値として予めマイクロコンピュータ内部
にセットしておき(但しN22)、池の方法は車両1台
に対してスポット溶接機が打つ打点数をNとし、外部ス
イッチによりセットするものであり、前置によれば、C
PUの内部処理により行うことができ、後者によれば1
1両】台毎に前記した特性値のバラツキが周期性をもつ
ため、バラツキの影響を無くすることができる。
−の方法は固定値として予めマイクロコンピュータ内部
にセットしておき(但しN22)、池の方法は車両1台
に対してスポット溶接機が打つ打点数をNとし、外部ス
イッチによりセットするものであり、前置によれば、C
PUの内部処理により行うことができ、後者によれば1
1両】台毎に前記した特性値のバラツキが周期性をもつ
ため、バラツキの影響を無くすることができる。
r効果」
本発明方法は、前記した具体的構成及び作用の説明で明
らかにしたように、各内部導体に対応させて複数の磁気
センサを配置し、その各磁気セン・す“から出力される
磁界強度信号を統計的手法により処理して磁界強度のバ
ラツキ量を求めるとともに、このバラツキ量を毎回記憶
し、過去N回のバラツキ量の平均を算出して求めた特性
値と予め設定しなしきい値との比1咬により、前記溶1
′?2次ケーブルを構成する各内部導体のFJr線を検
出するもので、常に判定時点からjする過去N回のバラ
ツキ量の平均を算出して求めた特性値によってItJi
線判定全判定ようにしたから、溶接位置によってたまた
まバラツキ量が大きく変化した場合であっても、過去N
回のバラツキ量をヱー均化してその影響を低減でき、断
線誤判定の可能性を極力防止して、内部導体の断線検出
を行うことができるばかりでなく、常時監視態゛勢を採
って、断線による溶接品質の低下を招いたり、突発的な
作業中断を未然に防止し、さらに点検工数をも削減でき
る等の効果を有する。
らかにしたように、各内部導体に対応させて複数の磁気
センサを配置し、その各磁気セン・す“から出力される
磁界強度信号を統計的手法により処理して磁界強度のバ
ラツキ量を求めるとともに、このバラツキ量を毎回記憶
し、過去N回のバラツキ量の平均を算出して求めた特性
値と予め設定しなしきい値との比1咬により、前記溶1
′?2次ケーブルを構成する各内部導体のFJr線を検
出するもので、常に判定時点からjする過去N回のバラ
ツキ量の平均を算出して求めた特性値によってItJi
線判定全判定ようにしたから、溶接位置によってたまた
まバラツキ量が大きく変化した場合であっても、過去N
回のバラツキ量をヱー均化してその影響を低減でき、断
線誤判定の可能性を極力防止して、内部導体の断線検出
を行うことができるばかりでなく、常時監視態゛勢を採
って、断線による溶接品質の低下を招いたり、突発的な
作業中断を未然に防止し、さらに点検工数をも削減でき
る等の効果を有する。
添付図面第1図は溶接2次ケーブル1の断面構造図、第
2図は溶接2次ケーブル1の近傍磁界の計測方法を示す
斜視図、第3図(イ)、(ロ)は溶接2次ケーブル1の
断線モード及びその近傍磁界の計測結果を示した図、第
4図(A)、(B)は磁気センサの配置を示した断面図
であって、同図(A)は円周配置を同図(B)はケーブ
ルの長手方向配置を示す、第5図は本発明装置のブロッ
クダイヤグラム、第6図は本発明装置作動タイミングチ
ャート、第7図はスポット溶接位置と断線検出のパラメ
ータとしての磁界強度のバラツキ量の実測値の関係を示
した図である。 〕06.溶接2次ケーブル、 2a〜2c、3a〜3c
、、、内部導体、 S a 、 S b 、 S c
、、、磁気センサ、 79.、センサリング、 10
.、、前置増幅器、 11 、、、サンプルスイッチ
、 12.、、ピークホールド回路、 13.、、ア
ナログデジタル回路、 14 、、、マイクロコンピ
ュータ、 17.。 パルス化回路、 21 、、、留立回路、 CP U
、、。 マイクロプロセッサ、 30 、ランプ駆動回路。 第1図
2図は溶接2次ケーブル1の近傍磁界の計測方法を示す
斜視図、第3図(イ)、(ロ)は溶接2次ケーブル1の
断線モード及びその近傍磁界の計測結果を示した図、第
4図(A)、(B)は磁気センサの配置を示した断面図
であって、同図(A)は円周配置を同図(B)はケーブ
ルの長手方向配置を示す、第5図は本発明装置のブロッ
クダイヤグラム、第6図は本発明装置作動タイミングチ
ャート、第7図はスポット溶接位置と断線検出のパラメ
ータとしての磁界強度のバラツキ量の実測値の関係を示
した図である。 〕06.溶接2次ケーブル、 2a〜2c、3a〜3c
、、、内部導体、 S a 、 S b 、 S c
、、、磁気センサ、 79.、センサリング、 10
.、、前置増幅器、 11 、、、サンプルスイッチ
、 12.、、ピークホールド回路、 13.、、ア
ナログデジタル回路、 14 、、、マイクロコンピ
ュータ、 17.。 パルス化回路、 21 、、、留立回路、 CP U
、、。 マイクロプロセッサ、 30 、ランプ駆動回路。 第1図
Claims (1)
- 溶接ガンと変圧器とを接続する複数の正側内部導体と、
複数の負側内部導体とをケーブル断面に対して交互にリ
ング状に配列して構成した溶接2次ケーブルの外周に、
前記各内部導体に対応させて複数の磁気センサを配置し
、その各磁気センサから出力される磁界強度信号を統計
的手法により処理して磁界強度のバラツキ量を求めると
ともに、このバラツキ量を毎回記憶し、過去N回のバラ
ツキ量の平均を算出して求めた特性値と予め設定したし
きい値との比較により、前記溶接2次ケーブルを構成す
る各内部導体の断線を検出することを特徴とする溶接2
次ケーブルの断線検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24691987A JPH0191976A (ja) | 1987-09-30 | 1987-09-30 | 溶接2次ケーブルの断線検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24691987A JPH0191976A (ja) | 1987-09-30 | 1987-09-30 | 溶接2次ケーブルの断線検出方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0191976A true JPH0191976A (ja) | 1989-04-11 |
Family
ID=17155705
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24691987A Pending JPH0191976A (ja) | 1987-09-30 | 1987-09-30 | 溶接2次ケーブルの断線検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0191976A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6159836A (ja) * | 1984-08-31 | 1986-03-27 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 半導体装置の製造方法 |
JPS61189882A (ja) * | 1985-02-19 | 1986-08-23 | Dengensha Mfg Co Ltd | 抵抗溶接機用制御装置の二次導体監視装置 |
-
1987
- 1987-09-30 JP JP24691987A patent/JPH0191976A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6159836A (ja) * | 1984-08-31 | 1986-03-27 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 半導体装置の製造方法 |
JPS61189882A (ja) * | 1985-02-19 | 1986-08-23 | Dengensha Mfg Co Ltd | 抵抗溶接機用制御装置の二次導体監視装置 |
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