JPH0191325A - ミラー面検出回路 - Google Patents
ミラー面検出回路Info
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- JPH0191325A JPH0191325A JP24850887A JP24850887A JPH0191325A JP H0191325 A JPH0191325 A JP H0191325A JP 24850887 A JP24850887 A JP 24850887A JP 24850887 A JP24850887 A JP 24850887A JP H0191325 A JPH0191325 A JP H0191325A
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- signal
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 70
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 10
- 244000145845 chattering Species 0.000 abstract description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000009191 jumping Effects 0.000 description 3
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
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- Moving Of Head For Track Selection And Changing (AREA)
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、光ディスクから光を検出媒体として検出さ
れた高周波信号からミラー面を検出するミラー面検出回
路に関する。
れた高周波信号からミラー面を検出するミラー面検出回
路に関する。
第3図は、CD(コンパクトディスク)などの光ディス
クに記録されている音楽情報などを再生する光デイスク
再生装置におけるトラック飛越し制御部を示す。
クに記録されている音楽情報などを再生する光デイスク
再生装置におけるトラック飛越し制御部を示す。
光ディスク(以下CDという)2は、モータ4で回転さ
せ、モータ4は、図示していない線速度(CLV)サー
ボの制御出力D CLVで一定の線速度に制御される。
せ、モータ4は、図示していない線速度(CLV)サー
ボの制御出力D CLVで一定の線速度に制御される。
ピックアップ6は、送りモータ8の回転によりアーム1
0を通してCD2の直径方向の任意の位置に移動させる
ことができ、レーザー光源12で発射させた検出媒体と
してのレーザー光14を、ハーフミラ−16や対物レン
ズ18などからなる光学系を通過させて集束させること
によりCD2に照射し、CD2からの反射光20を受光
素子22.24.26で受光し、電気信号に変換する。
0を通してCD2の直径方向の任意の位置に移動させる
ことができ、レーザー光源12で発射させた検出媒体と
してのレーザー光14を、ハーフミラ−16や対物レン
ズ18などからなる光学系を通過させて集束させること
によりCD2に照射し、CD2からの反射光20を受光
素子22.24.26で受光し、電気信号に変換する。
そして、光学系は、フォーカスコイル28によってレー
ザー光14の焦点を?A整し、トラッキングコイル30
によってトラック上にレーザー光14の焦点を結ばせる
。
ザー光14の焦点を?A整し、トラッキングコイル30
によってトラック上にレーザー光14の焦点を結ばせる
。
受光素子22はレーザー光14のメインビーム、受光素
子24.26はレーザー光14のサブビームの反射光2
0を電気信号に変換するものであり、受光素子22でメ
インビームによる高In(RF)信号が得られる。
子24.26はレーザー光14のサブビームの反射光2
0を電気信号に変換するものであり、受光素子22でメ
インビームによる高In(RF)信号が得られる。
ところで、トラック飛越しでは、たとえば、第4図に示
すように、矢印Xで示す方向に回転するCD2に対して
メインビームによるスポット32を矢印Yで示す方向に
走査することになる。この場合、34はトラック上のピ
ット(非反射面)、36はミラー面を表す。
すように、矢印Xで示す方向に回転するCD2に対して
メインビームによるスポット32を矢印Yで示す方向に
走査することになる。この場合、34はトラック上のピ
ット(非反射面)、36はミラー面を表す。
そして、受光素子22を通して電気信号に変換されて前
置増幅器3日を通過させて得られるRF倍信号、第5図
のAに示すように、トラック間を移動するため、トラッ
ク間のミラー面36の通過を表すエンベロープ、すなわ
ち、ミラー面情報としての低周波信号成分Lfと、ピッ
ト34の通過を表す高周波信号成分Hfとからなってい
る。
置増幅器3日を通過させて得られるRF倍信号、第5図
のAに示すように、トラック間を移動するため、トラッ
ク間のミラー面36の通過を表すエンベロープ、すなわ
ち、ミラー面情報としての低周波信号成分Lfと、ピッ
ト34の通過を表す高周波信号成分Hfとからなってい
る。
従来、このRF倍信号以てCD2のトラック飛越し時の
通過トラック数を計数する場合において、その基礎とな
るトラックをトラック間のミラー面から検出するミラー
面検出回路40が設置されている。
通過トラック数を計数する場合において、その基礎とな
るトラックをトラック間のミラー面から検出するミラー
面検出回路40が設置されている。
その場合、第5図のAに示すように、RF倍信号上限レ
ベルであるピーク(Peak)レベル■、を検出すると
ともに、下限レベルであるボトム(Bo−ttom)レ
ベルV、を検出してRF倍信号エンベロープの上限レベ
ルおよび下限レベルを抽出した後、その中間に基準レベ
ルvI4を基準レベル設定回路42によって設定する。
ベルであるピーク(Peak)レベル■、を検出すると
ともに、下限レベルであるボトム(Bo−ttom)レ
ベルV、を検出してRF倍信号エンベロープの上限レベ
ルおよび下限レベルを抽出した後、その中間に基準レベ
ルvI4を基準レベル設定回路42によって設定する。
すなわち、RF倍信号ピークレベル■、を検出するピー
クレベル検出回路44は、npn型トランジスタ48、
定電流源50およびキャパシタ52を以て構成し、キャ
パシタ52でピークレベルV、に対応した長い時定数τ
、が設定される。RF倍信号ボトムレベル■8を検出す
るボトムレベル検出回路46は、pnp型トランジスタ
54、定電流源56およびキャパシタ5日を以て構成し
、キャパシタ58でボトムレベルVRに対応した短い時
定数τ、(<τ、)が設定される。そして、ピークレベ
ル検出回路44、ボトムレベル検出回路46の各出力レ
ベルV、 、V、を抵抗60.62の直列回路の両端側
から加え、その中点から抵抗60.62の比によって4
9レベル■イが設定されるのである。
クレベル検出回路44は、npn型トランジスタ48、
定電流源50およびキャパシタ52を以て構成し、キャ
パシタ52でピークレベルV、に対応した長い時定数τ
、が設定される。RF倍信号ボトムレベル■8を検出す
るボトムレベル検出回路46は、pnp型トランジスタ
54、定電流源56およびキャパシタ5日を以て構成し
、キャパシタ58でボトムレベルVRに対応した短い時
定数τ、(<τ、)が設定される。そして、ピークレベ
ル検出回路44、ボトムレベル検出回路46の各出力レ
ベルV、 、V、を抵抗60.62の直列回路の両端側
から加え、その中点から抵抗60.62の比によって4
9レベル■イが設定されるのである。
また、トラック間のミラー面36の通過を表す低周波信
号成分Lfを検出する低周波成分検出回路66が設置さ
れ、この低周波成分検出回路66はpnp型トランジス
タ68、定電流源70およびキャパシタ72で構成され
、キャパシタ72でその低周波信号成分Lfに対応した
時定数τ。
号成分Lfを検出する低周波成分検出回路66が設置さ
れ、この低周波成分検出回路66はpnp型トランジス
タ68、定電流源70およびキャパシタ72で構成され
、キャパシタ72でその低周波信号成分Lfに対応した
時定数τ。
(ボトムレベル■8に対応する時定数τ6より小さい)
を設定する。
を設定する。
このようにして得られた基準レベルv1.lと、低周波
信号成分Lfとを比較器74に加えて両者を比較し、第
5図の已に示すミラー面検出信号V erを得ている。
信号成分Lfとを比較器74に加えて両者を比較し、第
5図の已に示すミラー面検出信号V erを得ている。
このミラー面検出信号V srは、トラックの計数情報
として制御部76に加えられ、設定された必要なトラッ
ク数に到達したか否かを判断する。制御部76から出力
されたトラック飛越しの制御信号が駆動部78に加えら
れて必要なトラック数に移行するまで、送りモータ8の
回転が行われ、所定のトラック上にピックアップ6の検
出点が設定されるのである。
として制御部76に加えられ、設定された必要なトラッ
ク数に到達したか否かを判断する。制御部76から出力
されたトラック飛越しの制御信号が駆動部78に加えら
れて必要なトラック数に移行するまで、送りモータ8の
回転が行われ、所定のトラック上にピックアップ6の検
出点が設定されるのである。
ところで、このようなミラー面検出回路40において、
低周波成分検出回路66に設定される時定数τ。を特定
の値にしてピックアップ6のトラック飛越し速度を高め
る(高速アクセス)と、第6図のAに示すように、ミラ
ー面情報を表す信号としての低周波信号成分Lfの周波
数が高くなるのに対し、時定数τ。が一定であるため、
比較器74から得られるミラー面検出信号V srが本
来のミラー面36より時間的に遅れて生じ(位相の遅れ
)たり、そのパルス幅が非常に狭くなってミラー面36
の検出が困難になったりするおそれがある。
低周波成分検出回路66に設定される時定数τ。を特定
の値にしてピックアップ6のトラック飛越し速度を高め
る(高速アクセス)と、第6図のAに示すように、ミラ
ー面情報を表す信号としての低周波信号成分Lfの周波
数が高くなるのに対し、時定数τ。が一定であるため、
比較器74から得られるミラー面検出信号V srが本
来のミラー面36より時間的に遅れて生じ(位相の遅れ
)たり、そのパルス幅が非常に狭くなってミラー面36
の検出が困難になったりするおそれがある。
また、上記の速度に追従させるために、低周波成分検出
回路66の時定数τ。を短くした場合、ピックアップ6
のトラック飛越し速度を遅くすると、IITの長さを持
つ最長ビットによる影響が問題になる。たとえば、第7
図のAにおいて、S1%S2の最長ピントによるエンベ
ロープが低周波信号成分Lfとして現れ、第7図のBに
示すように、S+ 、Szによる低周波信号成分Lfが
ミラー面検出信号■1として検出され、ミラー面36の
検出に誤差(チャタリング)を生ずることになる。
回路66の時定数τ。を短くした場合、ピックアップ6
のトラック飛越し速度を遅くすると、IITの長さを持
つ最長ビットによる影響が問題になる。たとえば、第7
図のAにおいて、S1%S2の最長ピントによるエンベ
ロープが低周波信号成分Lfとして現れ、第7図のBに
示すように、S+ 、Szによる低周波信号成分Lfが
ミラー面検出信号■1として検出され、ミラー面36の
検出に誤差(チャタリング)を生ずることになる。
そこで、この発明は、高速アクセス時においても、正確
にミラー面36を検出できるようにしたものである。
にミラー面36を検出できるようにしたものである。
この発明のミラー面検出回路は、第1図に示すように、
光ディスク2から光(レーザー光14)を媒体として検
出された高周波信号(RF)の上限レベル(ピークレベ
ル■2)と下限レベル(ボトムレベル■、)とを検出し
、両者の中間レベルを基準レベル■8に設定する基準レ
ベル設定手段(基準レベル設定回路42)と、高周波信
号の下限レベルを起点として特定の時定数τ。を以て低
周波信号成分Lfを得る低周波成分検出手段(低周波成
分検出回路66)と、低周波成分検出手段を通過させた
低周波信号成分Lfと基準レベルV、4 とを比較する
比較手段(比較器74)とを備えてミラー面36を表す
ミラー面検出信号V llrを得るミラー面検出回路4
0において、低周波成分検出手段の出力側にミラー面情
報を表す信号から高周波成分を除く低域通過フィルタ8
0を設置し、この低域通過フィルタ80を通過した低周
波信号成分Lfoを比較手段に加えるようにしたもので
ある。
光ディスク2から光(レーザー光14)を媒体として検
出された高周波信号(RF)の上限レベル(ピークレベ
ル■2)と下限レベル(ボトムレベル■、)とを検出し
、両者の中間レベルを基準レベル■8に設定する基準レ
ベル設定手段(基準レベル設定回路42)と、高周波信
号の下限レベルを起点として特定の時定数τ。を以て低
周波信号成分Lfを得る低周波成分検出手段(低周波成
分検出回路66)と、低周波成分検出手段を通過させた
低周波信号成分Lfと基準レベルV、4 とを比較する
比較手段(比較器74)とを備えてミラー面36を表す
ミラー面検出信号V llrを得るミラー面検出回路4
0において、低周波成分検出手段の出力側にミラー面情
報を表す信号から高周波成分を除く低域通過フィルタ8
0を設置し、この低域通過フィルタ80を通過した低周
波信号成分Lfoを比較手段に加えるようにしたもので
ある。
このように構成したことによって、低周波成分検出手段
の時定数τ。は、高速アクセス速度に対応する値に設定
し、その場合に、低周波成分検出手段の出力側に現れる
ミラー面情報を表す信号中のミラー面検出上不要な高周
波帯域における成分を低域通過フィルタ80によって遮
断することができ、正確なミラー面検出を実現したので
ある。
の時定数τ。は、高速アクセス速度に対応する値に設定
し、その場合に、低周波成分検出手段の出力側に現れる
ミラー面情報を表す信号中のミラー面検出上不要な高周
波帯域における成分を低域通過フィルタ80によって遮
断することができ、正確なミラー面検出を実現したので
ある。
第1図は、この発明のミラー面検出回路の実施例を示す
。
。
このミラー面検出回路40において、基準レベル設定回
路42の構成は、第3図に示したミラー面検出回路40
と同様であり、低周波成分検出回路66について、キャ
パシタ72で高速アクセスが可能な時定数τ。を設定し
ている。低周波成分検出回路66をpnp型トランジス
タ68、定電流源70およびキャパシタ72で構成し、
キャパシタ72でその低周波信号成分Lfに対応した時
定数τ。(ボトムレベルvlIに対応する時定数τ日よ
り小さい)を設定する。
路42の構成は、第3図に示したミラー面検出回路40
と同様であり、低周波成分検出回路66について、キャ
パシタ72で高速アクセスが可能な時定数τ。を設定し
ている。低周波成分検出回路66をpnp型トランジス
タ68、定電流源70およびキャパシタ72で構成し、
キャパシタ72でその低周波信号成分Lfに対応した時
定数τ。(ボトムレベルvlIに対応する時定数τ日よ
り小さい)を設定する。
そして、この低周波成分検出回路66の出力側にミラー
面検出上不要な高周波帯域における信号成分を遮断する
とともに、必要な低周波信号成分Lfを抽出するための
低域通過フィルタ(LPF)80を設置したものである
。
面検出上不要な高周波帯域における信号成分を遮断する
とともに、必要な低周波信号成分Lfを抽出するための
低域通過フィルタ(LPF)80を設置したものである
。
このLPF80は、たとえば、抵抗およびキャパシタか
らなる回路や、適当な時定数に調整可能なプログラムプ
ルローパスフィルタで構成する。
らなる回路や、適当な時定数に調整可能なプログラムプ
ルローパスフィルタで構成する。
この場合、前置増幅器38を通して得られるRF倍信号
ついて、直流(DC)から400 )(zの周波数帯域
で基準レベル設定回路42の基準レベル■Hおよびエン
ベロープの変動が生じ、4001(zから20 k H
zの周波数帯域でトラック情報が保存され、190kH
zを越える周波数帯域ではビット情報のみとなることか
ら、このような周波数帯域と必要な成分との関係からL
PF80には、たとえば、ミラー面36を表す低周波信
号(20k)[z)に対して大幅な位相遅れを生じない
160 k Hz (20k Hzの4倍)以上を禁止
域に設定する。
ついて、直流(DC)から400 )(zの周波数帯域
で基準レベル設定回路42の基準レベル■Hおよびエン
ベロープの変動が生じ、4001(zから20 k H
zの周波数帯域でトラック情報が保存され、190kH
zを越える周波数帯域ではビット情報のみとなることか
ら、このような周波数帯域と必要な成分との関係からL
PF80には、たとえば、ミラー面36を表す低周波信
号(20k)[z)に対して大幅な位相遅れを生じない
160 k Hz (20k Hzの4倍)以上を禁止
域に設定する。
このようなLPF80を設置すると、低周波成分検出回
路66の高周波域の位相特性について、第2図に破線で
示す特性から実線で示すように位相補償を施したことに
なる。
路66の高周波域の位相特性について、第2図に破線で
示す特性から実線で示すように位相補償を施したことに
なる。
この結果、低周波成分検出回路66から出力された不要
な高周波成分をLPF80によって遮断することができ
る。
な高周波成分をLPF80によって遮断することができ
る。
そして、基準レベル設定回路42では、ピークレベル検
出回路44がnpn型トランジスタ4日、定電流源50
およびキャパシタ52を以て、キャパシタ52でピーク
レベル■2に対応して設定された長い時定数τ、により
、RF倍信号上限レベルであるピークレベル■、を検出
し、また、ボトムレベル検出回路46が、pnp型トラ
ンジスタ54、定電流源56およびキャパシタ58を以
て、キャパシタ58でボトムレベル■8に対応して設定
された短い時定数τ、により、下限レベルであるボトム
レベルV1を検出する。このようにしてRF倍信号エン
ベロープの上限レベルおよび下限レベルを抽出した後、
ピークレベル検出回路44、ボトムレベル検出回路46
の各出力レベル■2、■、を抵抗60.62の直列回路
の両端側から加え、その中点から抵抗60.62の比に
よって基準レベルV9が設定される。
出回路44がnpn型トランジスタ4日、定電流源50
およびキャパシタ52を以て、キャパシタ52でピーク
レベル■2に対応して設定された長い時定数τ、により
、RF倍信号上限レベルであるピークレベル■、を検出
し、また、ボトムレベル検出回路46が、pnp型トラ
ンジスタ54、定電流源56およびキャパシタ58を以
て、キャパシタ58でボトムレベル■8に対応して設定
された短い時定数τ、により、下限レベルであるボトム
レベルV1を検出する。このようにしてRF倍信号エン
ベロープの上限レベルおよび下限レベルを抽出した後、
ピークレベル検出回路44、ボトムレベル検出回路46
の各出力レベル■2、■、を抵抗60.62の直列回路
の両端側から加え、その中点から抵抗60.62の比に
よって基準レベルV9が設定される。
このようにして得られた基準レベルV、4と、不要な信
号成分をLPF80で除去した低周波信号成分Lfoと
を比較器74に加えて両者を比較し、ミラー面検出信号
V。、、を得ることができる。
号成分をLPF80で除去した低周波信号成分Lfoと
を比較器74に加えて両者を比較し、ミラー面検出信号
V。、、を得ることができる。
したがって、低周波成分検出回路66の出力側にミラー
面情報を表す信号からミラー面36の検出上不要な信号
成分を除去するLPF80を設置したので、不要な信号
成分によるミラー面36の誤検出の防止ができるととも
に、位相遅れを防止することができる。特に、従来の回
路で生じた最長ビットの影響を回避でき、高速アクセス
時の位相遅れやミラー面検出信号V erの検出ミスを
防止できるとともに、低速アクセスについてもチャタリ
ングを防止することができる。
面情報を表す信号からミラー面36の検出上不要な信号
成分を除去するLPF80を設置したので、不要な信号
成分によるミラー面36の誤検出の防止ができるととも
に、位相遅れを防止することができる。特に、従来の回
路で生じた最長ビットの影響を回避でき、高速アクセス
時の位相遅れやミラー面検出信号V erの検出ミスを
防止できるとともに、低速アクセスについてもチャタリ
ングを防止することができる。
この発明によれば、低周波成分検出手段の出力側に低周
波成分検出手段が出力するミラー面情報を表す信号中に
含まれるミラー面検出上の不要な高周波成分を遮断する
低域通過フィルタを設置したので、不要な高周波成分に
よる検出誤差や位相遅れなどを防止でき、高速アクセス
から低速アクセスまで信頼性の高いミラー面の検出を実
現することができる。
波成分検出手段が出力するミラー面情報を表す信号中に
含まれるミラー面検出上の不要な高周波成分を遮断する
低域通過フィルタを設置したので、不要な高周波成分に
よる検出誤差や位相遅れなどを防止でき、高速アクセス
から低速アクセスまで信頼性の高いミラー面の検出を実
現することができる。
第1図はこの発明のミラー面検出回路の実施例を示す回
路図、第2図は第1図に示したミラー面検出回路におけ
る低周波成分検出回路の位相補償を示す図、第3図は従
来の光デイスク再生装置におけるトラック飛越し制御部
を示す回路図、第4図はトラック飛越しを示す図、第5
図ないし第7図は第3図に示したトラック飛越し制御部
におけるミラー面検出回路の動作を示す図である。 2・・・光ディスク 14・・・レーザー光(光) 36・・・ミラー面 40・・・ミラー面検出回路 42・・・基準レベル設定回路(基準レベル設定手段) 66・・・低周波成分検出回路(低周波成分検出手段) 74・、・・比較器(比較手段) 80・・・低域通過フィルタ 第2図 第4図
路図、第2図は第1図に示したミラー面検出回路におけ
る低周波成分検出回路の位相補償を示す図、第3図は従
来の光デイスク再生装置におけるトラック飛越し制御部
を示す回路図、第4図はトラック飛越しを示す図、第5
図ないし第7図は第3図に示したトラック飛越し制御部
におけるミラー面検出回路の動作を示す図である。 2・・・光ディスク 14・・・レーザー光(光) 36・・・ミラー面 40・・・ミラー面検出回路 42・・・基準レベル設定回路(基準レベル設定手段) 66・・・低周波成分検出回路(低周波成分検出手段) 74・、・・比較器(比較手段) 80・・・低域通過フィルタ 第2図 第4図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 光ディスクから光を媒体として検出された高周波信号の
上限レベルと下限レベルとを検出し、両者の中間レベル
を基準レベルに設定する基準レベル設定手段と、 前記高周波信号の下限レベルを起点として特定の時定数
を以て低周波信号成分を得る低周波成分検出手段と、 低周波成分検出手段を通過させた低周波信号成分と基準
レベルとを比較する比較手段とを備えてミラー面を表す
ミラー面検出信号を得るミラー面検出回路において、 前記低周波成分検出手段の出力側にミラー面情報を表す
信号から高周波成分を除く低域通過フィルタを設置し、
この低域通過フィルタを通過した低周波信号成分を前記
比較手段に加えるミラー面検出回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24850887A JP2621231B2 (ja) | 1987-10-01 | 1987-10-01 | ミラー面検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24850887A JP2621231B2 (ja) | 1987-10-01 | 1987-10-01 | ミラー面検出回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0191325A true JPH0191325A (ja) | 1989-04-11 |
JP2621231B2 JP2621231B2 (ja) | 1997-06-18 |
Family
ID=17179226
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24850887A Expired - Lifetime JP2621231B2 (ja) | 1987-10-01 | 1987-10-01 | ミラー面検出回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2621231B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6311494B2 (en) | 1999-08-20 | 2001-11-06 | Cummins Engine Company, Inc. | Exhaust gas recirculation system for a turbocharged internal combustion engine |
EP1237154A2 (en) * | 2001-03-02 | 2002-09-04 | Texas Instruments Incorporated | Mirror detection signal generator |
US7844086B2 (en) | 2003-05-30 | 2010-11-30 | Microsoft Corporation | Head pose assessment methods and systems |
-
1987
- 1987-10-01 JP JP24850887A patent/JP2621231B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2621231B2 (ja) | 1997-06-18 |
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