JPH0143965B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0143965B2 JPH0143965B2 JP56169584A JP16958481A JPH0143965B2 JP H0143965 B2 JPH0143965 B2 JP H0143965B2 JP 56169584 A JP56169584 A JP 56169584A JP 16958481 A JP16958481 A JP 16958481A JP H0143965 B2 JPH0143965 B2 JP H0143965B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- weight
- parts
- powder
- film
- glass
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims description 33
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 18
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 17
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 229910020617 PbO—B2O3—SiO2 Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 4
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 11
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 11
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 9
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 8
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 6
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 6
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N palladium Substances [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Substances [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910000416 bismuth oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- TYIXMATWDRGMPF-UHFFFAOYSA-N dibismuth;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Bi+3].[Bi+3] TYIXMATWDRGMPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- 239000010970 precious metal Substances 0.000 description 3
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010944 silver (metal) Substances 0.000 description 3
- 239000001856 Ethyl cellulose Substances 0.000 description 2
- ZZSNKZQZMQGXPY-UHFFFAOYSA-N Ethyl cellulose Chemical compound CCOCC1OC(OC)C(OCC)C(OCC)C1OC1C(O)C(O)C(OC)C(CO)O1 ZZSNKZQZMQGXPY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- WUOACPNHFRMFPN-UHFFFAOYSA-N alpha-terpineol Chemical compound CC1=CCC(C(C)(C)O)CC1 WUOACPNHFRMFPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SQIFACVGCPWBQZ-UHFFFAOYSA-N delta-terpineol Natural products CC(C)(O)C1CCC(=C)CC1 SQIFACVGCPWBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 2
- 229920001249 ethyl cellulose Polymers 0.000 description 2
- 235000019325 ethyl cellulose Nutrition 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- -1 resistors Substances 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- 229940116411 terpineol Drugs 0.000 description 2
- VXQBJTKSVGFQOL-UHFFFAOYSA-N 2-(2-butoxyethoxy)ethyl acetate Chemical compound CCCCOCCOCCOC(C)=O VXQBJTKSVGFQOL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021586 Nickel(II) chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- GEIAQOFPUVMAGM-UHFFFAOYSA-N ZrO Inorganic materials [Zr]=O GEIAQOFPUVMAGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- QVQLCTNNEUAWMS-UHFFFAOYSA-N barium oxide Inorganic materials [Ba]=O QVQLCTNNEUAWMS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KGBXLFKZBHKPEV-UHFFFAOYSA-N boric acid Chemical compound OB(O)O KGBXLFKZBHKPEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004327 boric acid Substances 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- QMMRZOWCJAIUJA-UHFFFAOYSA-L nickel dichloride Chemical compound Cl[Ni]Cl QMMRZOWCJAIUJA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- LGQLOGILCSXPEA-UHFFFAOYSA-L nickel sulfate Chemical compound [Ni+2].[O-]S([O-])(=O)=O LGQLOGILCSXPEA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910000363 nickel(II) sulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N zinc oxide Inorganic materials [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
- Conductive Materials (AREA)
Description
本発明はメツキ処理が可能な低温焼成用厚膜導
電ペーストに関する。 厚膜技術を用いて導体、抵抗体、誘電体を基板
上に回路として形成する場合、最後の工程で導体
による外部電極の形成を行なうことがある。この
場合焼成温度が高いと特に抵抗体においてその特
性値が著るしく変化する。このため、この外部電
極となる導体の焼成を500〜650℃程度の温度で行
うのが一般的である。所が従来のこのような低温
焼成用の導電ペーストには次のような欠点があつ
た。即ち、従来一般の導電ペーストはAg、Pd、
Pt、Au等の貴金属粉末(合金を含む)、ガラス粉
末、酸化ビスマス及び有機質ビヒクルで構成され
ており、このような構成の導電ペーストは750〜
950℃焼成用に適し、焼成膜と基板との接着強度
が強く、半田付けも可能である。しかしながらこ
のような導電ペーストを基板上に500〜650℃程度
の温度で焼付けても充分な接着強度が得られな
い。その原因はこのような低温度では酸化ビスマ
スは軟化せず、導電皮膜と基板との接着に何ら寄
与しないからである。このため500〜650℃で焼成
するための導電ペーストは酸化ビスマスを添加せ
ず、その代りにガラス粉末を増量して接着強度の
改善を図つている。 しかしながらこのような組成の導電ペーストで
形成される導電皮膜は半田付け性が劣るのが通例
であり、そのため半田付けが必要な場合は導電皮
膜に半田メツキを施すのであるが、半田メツキ処
理すると該皮膜の接着強度が著るしく低下する傾
向があつた。この原因はガラス中のPbO及び
B2O3がメツキ液中の酸で侵されるためと考えら
れる。 本発明は上記欠点を解消し、メツキ処理に耐え
られる低温焼成用導電ペーストを提供するもので
ある。 この目的を達成するため本発明の導電ペースト
は、貴金属粉末100重量部、PbO−B2O3−SiO2系
ガラス粉末2.5〜20重量部、ジルコニア粉末1〜
10重量部からなる基材を有機質ビヒクルに分散せ
しめた点に特徴がある。 本発明に用いる貴金属粉末は、従来の厚膜導電
ペーストに用いられているのと同様であつて、
Ag、Pd、Pt、Au等の単体、合金又はこれらの
混合物である。価格の点でAg、Ag−Pd、Ag−
Pt等が好ましい。貴金属粉末の粒径は1〜10μm
が適当である。 ガラス粉末は、焼成時に軟化ないし熔融して貴
金属粉末を基板に強固に接着せしめるものでなけ
ればならない。このため軟化点が焼成温度より10
〜200℃低いガラスが必要である。この目的のた
めにPbO−B2O3−SiO2系ガラスが適当である。 例えば600℃で焼成する場合は、PbO60、
B2O310、SiO230各重量%のガラス(軟化点約560
℃)を用いることができる。PbO−B2O3−SiO2
系ガラスはZnO、BaO、Al2O3、TiO2、ZrO2等
の酸化物を少量含んでいても良い。 ガラス粉末の粒度は−325メツシユ程度に粉砕
したものが適当である。ガラス粉末の添加割合は
貴金属粉末100重量部当り2.5〜20重量部とする必
要がある。25重量部未満では基板との接着力が不
足であり、20重量部を超えると焼成膜の導電性が
低下し、該焼成膜表面に均一にメツキできない。 ジルコニア(ZrO2)粉末は焼成皮膜の耐酸性
を向上するために添加される。ジルコニア粉末の
添加割合は、貴金属粉末100重量部当り1〜10重
量部とする必要がある。1重量部未満では耐酸性
向上の効果は少なく、10重量部を超えると焼成膜
の導電性が低下し、該焼成膜に均一にメツキでき
なくなる上、基板と該焼成膜の接着力が低下す
る。ジルコニア粉末としては、平均粒径1〜3μ
m程度のものが適当である。 上記の貴金属粉末、ガラス粉末、ジルコニア粉
末からなる基材は有機質ビヒクルと共に混練し、
均一なペースト状とされる。この有機質ビヒクル
は従来の厚膜ペーストに用いられているもので良
い。1例としてエチルセルロースをブチルカルビ
トールアセテート、ターピネオールに10〜20重量
%程度溶解したものが挙げられる。基材とビヒク
ルの添加割合は最終的に得られるペースト粘度と
の関連で決めれば良い。標準的な添加割合は、主
成分となる貴金属粉末100重量部当り約40重量部
である。 このように調整されたペーストは従来の導電ペ
ーストと同様に塗布、焼成ができる。 本発明の導電ペーストはガラス、又はセラミツ
ク基板に直接に焼付けても良いし、既に基板上に
形成された導体、抵抗体、誘電体等の上に重ねて
焼付けることもできる。 以下に実験例を示す。 実験No.1〜30 貴金属粉末として銀粉95重量部、パラジウム粉
5重量部を用い、PbO:B2O3:SiO2−60:10:
30(重量比)のガラス粉1、2.5、5、10、20及び
25重量部、ジルコニア粉0、1、5、10及び12重
量部の全ての組合せについてペーストを作製し、
焼成後の特性を測定した。有機質ビヒクルはエチ
ルセルローズを20重量%含有するターピネオール
溶液を用い、上記すべての組合せについて各々40
重量部を適用した。 作製したペーストは1インチ角のアルミナ基板
にライン幅625ミクロン、全長312.5mmのジグザグ
パターンでスクリーン印刷し、約130℃で10分間
乾燥後600℃で焼成し、焼成した試料について下
記の均一メツキ性及び耐酸性の試験を行なつた。 (1) メツキ性:ワツト浴(硫酸ニツケル、塩化ニ
ツケル、硼酸を含有する)を用いてメツキ処理
し、焼成膜表面に均一にニツケルが電着してい
るかどうかを調べた。メツキが一部分でも付い
ていない場合は不可(×印)とし、一応全面に
メツキが付いていれば可(○印)、特に良好な
ものは優(◎印)とした。 (2) 耐酸性:試料を3.5%塩酸水溶液に40℃にて
5分間浸漬後水洗し、垂直に立てたステンレス
針に100gの荷重をかけながら試料面をこすり、
皮膜が基板から剥離するかどうかを調べた。 針が通過した跡に皮膜の割れ、剥離が認められ
たもの、皮膜が全く接着していないものは不可
(×印)とした。接着力が維持されているものは
皮膜面に針の条痕が残るだけである。条痕が光沢
を有し、硬度が充分保たれていると認められるも
のは優(◎)とした。ペースト組成と試験結果を
表にまとめて示した。 上記試験結果から、貴金属粉末100重量部当り
ガラス粉末2〜20重量部でかつジルコニア粉末1
〜10重量部のとき、均一メツキ性、耐酸性いずれ
も良好であることが分る。 実験No.31〜33 実験No.31は貴金属粉末として銀粉95重量部、白
金粉5重量部、実験No.32は銀粉95重量部、金粉5
重量部、実験No.33は銀粉を100重量部とし、それ
ぞれガラス粉5重量部、ジルコニア粉5重量部、
ビヒクル40重量部としてペーストを作製し、実験
No.1〜30と同様に塗布焼成してメツキ性、耐酸性
を調べた。ペースト組成と試験結果を表に示す。
いずれの場合も均一メツキ性、耐酸性共に満足す
べき結果が得られた。
電ペーストに関する。 厚膜技術を用いて導体、抵抗体、誘電体を基板
上に回路として形成する場合、最後の工程で導体
による外部電極の形成を行なうことがある。この
場合焼成温度が高いと特に抵抗体においてその特
性値が著るしく変化する。このため、この外部電
極となる導体の焼成を500〜650℃程度の温度で行
うのが一般的である。所が従来のこのような低温
焼成用の導電ペーストには次のような欠点があつ
た。即ち、従来一般の導電ペーストはAg、Pd、
Pt、Au等の貴金属粉末(合金を含む)、ガラス粉
末、酸化ビスマス及び有機質ビヒクルで構成され
ており、このような構成の導電ペーストは750〜
950℃焼成用に適し、焼成膜と基板との接着強度
が強く、半田付けも可能である。しかしながらこ
のような導電ペーストを基板上に500〜650℃程度
の温度で焼付けても充分な接着強度が得られな
い。その原因はこのような低温度では酸化ビスマ
スは軟化せず、導電皮膜と基板との接着に何ら寄
与しないからである。このため500〜650℃で焼成
するための導電ペーストは酸化ビスマスを添加せ
ず、その代りにガラス粉末を増量して接着強度の
改善を図つている。 しかしながらこのような組成の導電ペーストで
形成される導電皮膜は半田付け性が劣るのが通例
であり、そのため半田付けが必要な場合は導電皮
膜に半田メツキを施すのであるが、半田メツキ処
理すると該皮膜の接着強度が著るしく低下する傾
向があつた。この原因はガラス中のPbO及び
B2O3がメツキ液中の酸で侵されるためと考えら
れる。 本発明は上記欠点を解消し、メツキ処理に耐え
られる低温焼成用導電ペーストを提供するもので
ある。 この目的を達成するため本発明の導電ペースト
は、貴金属粉末100重量部、PbO−B2O3−SiO2系
ガラス粉末2.5〜20重量部、ジルコニア粉末1〜
10重量部からなる基材を有機質ビヒクルに分散せ
しめた点に特徴がある。 本発明に用いる貴金属粉末は、従来の厚膜導電
ペーストに用いられているのと同様であつて、
Ag、Pd、Pt、Au等の単体、合金又はこれらの
混合物である。価格の点でAg、Ag−Pd、Ag−
Pt等が好ましい。貴金属粉末の粒径は1〜10μm
が適当である。 ガラス粉末は、焼成時に軟化ないし熔融して貴
金属粉末を基板に強固に接着せしめるものでなけ
ればならない。このため軟化点が焼成温度より10
〜200℃低いガラスが必要である。この目的のた
めにPbO−B2O3−SiO2系ガラスが適当である。 例えば600℃で焼成する場合は、PbO60、
B2O310、SiO230各重量%のガラス(軟化点約560
℃)を用いることができる。PbO−B2O3−SiO2
系ガラスはZnO、BaO、Al2O3、TiO2、ZrO2等
の酸化物を少量含んでいても良い。 ガラス粉末の粒度は−325メツシユ程度に粉砕
したものが適当である。ガラス粉末の添加割合は
貴金属粉末100重量部当り2.5〜20重量部とする必
要がある。25重量部未満では基板との接着力が不
足であり、20重量部を超えると焼成膜の導電性が
低下し、該焼成膜表面に均一にメツキできない。 ジルコニア(ZrO2)粉末は焼成皮膜の耐酸性
を向上するために添加される。ジルコニア粉末の
添加割合は、貴金属粉末100重量部当り1〜10重
量部とする必要がある。1重量部未満では耐酸性
向上の効果は少なく、10重量部を超えると焼成膜
の導電性が低下し、該焼成膜に均一にメツキでき
なくなる上、基板と該焼成膜の接着力が低下す
る。ジルコニア粉末としては、平均粒径1〜3μ
m程度のものが適当である。 上記の貴金属粉末、ガラス粉末、ジルコニア粉
末からなる基材は有機質ビヒクルと共に混練し、
均一なペースト状とされる。この有機質ビヒクル
は従来の厚膜ペーストに用いられているもので良
い。1例としてエチルセルロースをブチルカルビ
トールアセテート、ターピネオールに10〜20重量
%程度溶解したものが挙げられる。基材とビヒク
ルの添加割合は最終的に得られるペースト粘度と
の関連で決めれば良い。標準的な添加割合は、主
成分となる貴金属粉末100重量部当り約40重量部
である。 このように調整されたペーストは従来の導電ペ
ーストと同様に塗布、焼成ができる。 本発明の導電ペーストはガラス、又はセラミツ
ク基板に直接に焼付けても良いし、既に基板上に
形成された導体、抵抗体、誘電体等の上に重ねて
焼付けることもできる。 以下に実験例を示す。 実験No.1〜30 貴金属粉末として銀粉95重量部、パラジウム粉
5重量部を用い、PbO:B2O3:SiO2−60:10:
30(重量比)のガラス粉1、2.5、5、10、20及び
25重量部、ジルコニア粉0、1、5、10及び12重
量部の全ての組合せについてペーストを作製し、
焼成後の特性を測定した。有機質ビヒクルはエチ
ルセルローズを20重量%含有するターピネオール
溶液を用い、上記すべての組合せについて各々40
重量部を適用した。 作製したペーストは1インチ角のアルミナ基板
にライン幅625ミクロン、全長312.5mmのジグザグ
パターンでスクリーン印刷し、約130℃で10分間
乾燥後600℃で焼成し、焼成した試料について下
記の均一メツキ性及び耐酸性の試験を行なつた。 (1) メツキ性:ワツト浴(硫酸ニツケル、塩化ニ
ツケル、硼酸を含有する)を用いてメツキ処理
し、焼成膜表面に均一にニツケルが電着してい
るかどうかを調べた。メツキが一部分でも付い
ていない場合は不可(×印)とし、一応全面に
メツキが付いていれば可(○印)、特に良好な
ものは優(◎印)とした。 (2) 耐酸性:試料を3.5%塩酸水溶液に40℃にて
5分間浸漬後水洗し、垂直に立てたステンレス
針に100gの荷重をかけながら試料面をこすり、
皮膜が基板から剥離するかどうかを調べた。 針が通過した跡に皮膜の割れ、剥離が認められ
たもの、皮膜が全く接着していないものは不可
(×印)とした。接着力が維持されているものは
皮膜面に針の条痕が残るだけである。条痕が光沢
を有し、硬度が充分保たれていると認められるも
のは優(◎)とした。ペースト組成と試験結果を
表にまとめて示した。 上記試験結果から、貴金属粉末100重量部当り
ガラス粉末2〜20重量部でかつジルコニア粉末1
〜10重量部のとき、均一メツキ性、耐酸性いずれ
も良好であることが分る。 実験No.31〜33 実験No.31は貴金属粉末として銀粉95重量部、白
金粉5重量部、実験No.32は銀粉95重量部、金粉5
重量部、実験No.33は銀粉を100重量部とし、それ
ぞれガラス粉5重量部、ジルコニア粉5重量部、
ビヒクル40重量部としてペーストを作製し、実験
No.1〜30と同様に塗布焼成してメツキ性、耐酸性
を調べた。ペースト組成と試験結果を表に示す。
いずれの場合も均一メツキ性、耐酸性共に満足す
べき結果が得られた。
【表】
Claims (1)
- 1 貴金属粉末100重量部、PbO−B2O3−SiO2系
ガラス粉末2.5〜20重量部、ジルコニア粉末1〜
10重量部からなる基材を有機質ビヒクルに分散せ
しめてなる導電ペースト。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16958481A JPS5871507A (ja) | 1981-10-23 | 1981-10-23 | 導電ペ−スト |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16958481A JPS5871507A (ja) | 1981-10-23 | 1981-10-23 | 導電ペ−スト |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5871507A JPS5871507A (ja) | 1983-04-28 |
JPH0143965B2 true JPH0143965B2 (ja) | 1989-09-25 |
Family
ID=15889183
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16958481A Granted JPS5871507A (ja) | 1981-10-23 | 1981-10-23 | 導電ペ−スト |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5871507A (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6355807A (ja) * | 1986-08-27 | 1988-03-10 | 古河電気工業株式会社 | 導電性ペ−スト |
JP3230394B2 (ja) * | 1994-06-01 | 2001-11-19 | 株式会社村田製作所 | 磁器コンデンサ |
US20130026425A1 (en) * | 2011-07-29 | 2013-01-31 | Giga Solar Materials Corporation | Conductive Composition and Method for Manufacturing |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5251413A (en) * | 1975-10-23 | 1977-04-25 | Okuno Chem Ind Co | Composite of enameled glass |
-
1981
- 1981-10-23 JP JP16958481A patent/JPS5871507A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5251413A (en) * | 1975-10-23 | 1977-04-25 | Okuno Chem Ind Co | Composite of enameled glass |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5871507A (ja) | 1983-04-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4172919A (en) | Copper conductor compositions containing copper oxide and Bi2 O3 | |
JP5426241B2 (ja) | チップ抵抗器の表電極および裏電極 | |
JPH05136566A (ja) | 多層電子回路の製造方法 | |
US4414143A (en) | Conductor compositions | |
JPH0817671A (ja) | 導電性ペースト | |
JPH0423308A (ja) | セラミックコンデンサ | |
JPH0143965B2 (ja) | ||
JP3257036B2 (ja) | チップ型電子部品用導電性ペースト | |
JPH0143403B2 (ja) | ||
JP2589433B2 (ja) | メッキ付け可能な厚膜銅導体ペースト組成物 | |
JPH0834168B2 (ja) | セラミックコンデンサ端子電極用導電性組成物 | |
JPH0239410A (ja) | セラミックコンデンサ端子電極用導電性組成物 | |
JPS621662B2 (ja) | ||
JPH0440803B2 (ja) | ||
JPH10106346A (ja) | 銀系導体ペースト | |
JPH08298018A (ja) | 導電性ペースト | |
JPS62259302A (ja) | 導電ペ−スト組成物 | |
JP3318299B2 (ja) | Pbフリー低温焼成型導電塗料 | |
JP2931450B2 (ja) | 導体ペースト | |
JPS6127003A (ja) | 導電性ペ−スト組成物 | |
JPH10340621A (ja) | 導体ペースト | |
JP2968316B2 (ja) | 積層型セラミックコンデンサ | |
JP3216323B2 (ja) | 厚膜導体形成用組成物 | |
JPH0817136B2 (ja) | セラミックコンデンサ端子電極用導電性組成物 | |
JPS63245809A (ja) | 微粉砕粒子及びこれを含む厚膜電子材料組成物 |