JPH01312413A - センサの補償回路 - Google Patents
センサの補償回路Info
- Publication number
- JPH01312413A JPH01312413A JP63143627A JP14362788A JPH01312413A JP H01312413 A JPH01312413 A JP H01312413A JP 63143627 A JP63143627 A JP 63143627A JP 14362788 A JP14362788 A JP 14362788A JP H01312413 A JPH01312413 A JP H01312413A
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- Japan
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- sensor
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- pressure sensor
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- 238000012937 correction Methods 0.000 claims 1
- 101100521334 Mus musculus Prom1 gene Proteins 0.000 abstract description 16
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000011017 operating method Methods 0.000 description 1
- 235000015170 shellfish Nutrition 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は複数センサの温度によるドリフトおよびセンサ
特性の非直線性を補償する回路に関する。
特性の非直線性を補償する回路に関する。
多くのセンサの出力特性は温度により変化し、また非直
線性を有する。例えば、センナとして圧力センサを考え
ると、次式により圧力センサ出力を補正することが知ら
れている。
線性を有する。例えば、センナとして圧力センサを考え
ると、次式により圧力センサ出力を補正することが知ら
れている。
ここで％ ＡＯ〜＾。、８０〜Ｂｎ、 Ｃ，〜ｃｎ・・
・は圧力センサにより定まる定数である。Ｔは温度セン
サ出力。
・は圧力センサにより定まる定数である。Ｔは温度セン
サ出力。
■は圧力センサ出力、Ｐが真値である。上記（１）式に
基づいて圧力センサ出力を補償する従来方式の構成を第
２図に示す。
基づいて圧力センサ出力を補償する従来方式の構成を第
２図に示す。
第２図において、１は、圧力センサ群λの付近の温度を
検出する温度センサである。圧力センサ群ｌは２５６個
の圧力センサ２−１〜２−２５６からなる。３は温度セ
ンサ１の出力と圧カセンサ群主の出力の中のいずれか１
つを選択するマルチプレクサである。４はマルチプレク
サ３の出力を８ビツトのデジタル値にアナログデジタル
変ｔ！！！（へ／Ｄ変換）する＾／Ｄコンバータである
。
検出する温度センサである。圧力センサ群ｌは２５６個
の圧力センサ２−１〜２−２５６からなる。３は温度セ
ンサ１の出力と圧カセンサ群主の出力の中のいずれか１
つを選択するマルチプレクサである。４はマルチプレク
サ３の出力を８ビツトのデジタル値にアナログデジタル
変ｔ！！！（へ／Ｄ変換）する＾／Ｄコンバータである
。
５はへ／Ｄコンバータ４から出力された温度センサ出力
Ｔをラッチ（保持）するラッチ回路である。６は０〜２
５６のアドレスを発生するカウンタなどを用いたアドレ
ス発生器である。７は各センサにおける温度センサ出力
Ｔおよび圧力センサ出力Ｖがとり得る値に対応して、予
め（１）式により真値Ｐを記憶しであるプログラマブル
リードオンリメモリ（ＦＲＯＭ）である。ＦＲＯＭ ７
の下位８ビツトアドレスは温度センサ出力Ｔにより定ま
り、中位８ビツトアドレスは各圧力センサの圧力センサ
出力Ｖにより定まる。そして上位８ビツトアドレスはア
ドレス発生器６の発生するアドレスすなわち、各圧力セ
ンサのナンバにより定まる。
Ｔをラッチ（保持）するラッチ回路である。６は０〜２
５６のアドレスを発生するカウンタなどを用いたアドレ
ス発生器である。７は各センサにおける温度センサ出力
Ｔおよび圧力センサ出力Ｖがとり得る値に対応して、予
め（１）式により真値Ｐを記憶しであるプログラマブル
リードオンリメモリ（ＦＲＯＭ）である。ＦＲＯＭ ７
の下位８ビツトアドレスは温度センサ出力Ｔにより定ま
り、中位８ビツトアドレスは各圧力センサの圧力センサ
出力Ｖにより定まる。そして上位８ビツトアドレスはア
ドレス発生器６の発生するアドレスすなわち、各圧力セ
ンサのナンバにより定まる。
次にこのような構成における動作を説明する。
アドレス発生器６がアドレス“０”を発生すると、マル
チプレクサ３により、温度センサ１の出力が選択される
。この出力はＡ／Ｄコンパ〜り４により＾１０変換され
、ラッチ回路５によりラッチされる。このラッチ回路５
の８ビツトのラッチ出力はＦＲＯＭ７の下位アドレスと
なる。次に、アドレス発生器６がアドレス“１”を発生
すると、圧力センサ２−１の出力がマルチプレクサ３に
より選択され、＾／Ｄコンバータ４を介してＦＲＯＭ７
の中位アドレスを構成する。したがって、アドレス発生
器６の出力値が指示する圧力センサのナンバ８ビツト、
圧力センサ出力■８ビットおよびラッチ回路５によりラ
ッチされている温度センサ出力Ｔ８ビットから定まるＦ
ＲＯＭ７のアドレスに格納されている真値がＦＲＯＭ７
のデータ端子から圧力信号として出力される。
チプレクサ３により、温度センサ１の出力が選択される
。この出力はＡ／Ｄコンパ〜り４により＾１０変換され
、ラッチ回路５によりラッチされる。このラッチ回路５
の８ビツトのラッチ出力はＦＲＯＭ７の下位アドレスと
なる。次に、アドレス発生器６がアドレス“１”を発生
すると、圧力センサ２−１の出力がマルチプレクサ３に
より選択され、＾／Ｄコンバータ４を介してＦＲＯＭ７
の中位アドレスを構成する。したがって、アドレス発生
器６の出力値が指示する圧力センサのナンバ８ビツト、
圧力センサ出力■８ビットおよびラッチ回路５によりラ
ッチされている温度センサ出力Ｔ８ビットから定まるＦ
ＲＯＭ７のアドレスに格納されている真値がＦＲＯＭ７
のデータ端子から圧力信号として出力される。
次に、アドレス発生器６がアドレス“２”を出力すると
、この出力８ビット圧カセンサ２−２の出力ｖ８ビット
および温度センサ出力Ｔ８ビットがＦＲＯＭ ７のアド
レス端子に人力され、圧力センサ２−２の圧力真価がＦ
ＲＯＭ７から圧力信号として出力される。
、この出力８ビット圧カセンサ２−２の出力ｖ８ビット
および温度センサ出力Ｔ８ビットがＦＲＯＭ ７のアド
レス端子に人力され、圧力センサ２−２の圧力真価がＦ
ＲＯＭ７から圧力信号として出力される。
以下、同様のアドレス発生器６のアドレス信号の更新毎
に各圧力センサ２−３・・・２−２５８の出力■が補正
され正しい圧力値としてＦＲＯＭ ７から出力される。
に各圧力センサ２−３・・・２−２５８の出力■が補正
され正しい圧力値としてＦＲＯＭ ７から出力される。
そして圧力センサ２−２５６の圧力信号の出力を終了す
ると、アドレス発生器６はアドレス“０”を再び発生す
る。このアドレス“Ｏ”の発生に伴い、再び温度センサ
１の出力Ｔがラッチ回路５にラッチされ、以下、上述の
動作手順を繰り返す。
ると、アドレス発生器６はアドレス“０”を再び発生す
る。このアドレス“Ｏ”の発生に伴い、再び温度センサ
１の出力Ｔがラッチ回路５にラッチされ、以下、上述の
動作手順を繰り返す。
ところが従来この種のセンサの非直線性および温度ドリ
フトを補償する方式においては第２図に示す例では、前
記したように圧力センサのナンバ８ビツト、圧カセンサ
出力ｖ８ビットおよび温度センサ出力Ｔ８ビットの２４
ビツトのアドレスバスが必要であり、ＦＲＯＭ７に汎用
のＦＲＯＭ （アドレス１６ビツト、データ８ビツト）
を用いると、２５６個のＦＲＯＭチップが必要となる。
フトを補償する方式においては第２図に示す例では、前
記したように圧力センサのナンバ８ビツト、圧カセンサ
出力ｖ８ビットおよび温度センサ出力Ｔ８ビットの２４
ビツトのアドレスバスが必要であり、ＦＲＯＭ７に汎用
のＦＲＯＭ （アドレス１６ビツト、データ８ビツト）
を用いると、２５６個のＦＲＯＭチップが必要となる。
したがって従来この種の方式において多数のセンサの特
性を補償しなければならないときは、ＦＲＯＭチップの
数、およびアドレスバスのビット数が多くなるという問
題点があった。
性を補償しなければならないときは、ＦＲＯＭチップの
数、およびアドレスバスのビット数が多くなるという問
題点があった。
そこで、本発明の目的は、このような問題点を解決し、
補償のための演算を行うＦＲＯＭチップの数を減少する
ことができるセンサのドリフトおよび非直線性に対して
可能なセンサの補償回路を提供することにある。
補償のための演算を行うＦＲＯＭチップの数を減少する
ことができるセンサのドリフトおよび非直線性に対して
可能なセンサの補償回路を提供することにある。
Ｃ問題点を解決するための手段）
このような目的を達成するために、本発明は、センサ出
力Ｖと温度センサ出力Ｔの値に基づいて、センサの出力
特性の非直線性および温度変化の影響に対してセンサが
測定すべき真値Ｐを式Ｐ＝ｆ （Ｖ、Ｔ）により補償す
るセンサの補償回路において、式ｆ （Ｖ、Ｔ）をセン
サ出力Ｖに関する高次多項式に予め展開し、展開された
高次多項式における各項の係数を演算する第１の演算手
段と、演算された高次多項式における各項の係数および
センサ出力Ｖに基づいて、高次多項式によリセンサが測
定すべき真価を演算する第２の演算手段とを具えたこと
とする。
力Ｖと温度センサ出力Ｔの値に基づいて、センサの出力
特性の非直線性および温度変化の影響に対してセンサが
測定すべき真値Ｐを式Ｐ＝ｆ （Ｖ、Ｔ）により補償す
るセンサの補償回路において、式ｆ （Ｖ、Ｔ）をセン
サ出力Ｖに関する高次多項式に予め展開し、展開された
高次多項式における各項の係数を演算する第１の演算手
段と、演算された高次多項式における各項の係数および
センサ出力Ｖに基づいて、高次多項式によリセンサが測
定すべき真価を演算する第２の演算手段とを具えたこと
とする。
（作用）
本発明は、センサ出力を補償する式をセンサ出力に関す
る高次多項式に展開し、第１の演算手段により高次多項
式の各項の係数を最初に計算し、この計算結果およびセ
ンサ出力に基づいて第２の演算手段により高次多項式に
沿った演算を行うようにしたので、第１の演算手段およ
び第２の演算手段に人力する情報の次元数が減少し、以
って補償回路の信号線の本数や第１および第２の演算手
段に用いられるＦＲＯＭチップの数を減少することがで
きる。
る高次多項式に展開し、第１の演算手段により高次多項
式の各項の係数を最初に計算し、この計算結果およびセ
ンサ出力に基づいて第２の演算手段により高次多項式に
沿った演算を行うようにしたので、第１の演算手段およ
び第２の演算手段に人力する情報の次元数が減少し、以
って補償回路の信号線の本数や第１および第２の演算手
段に用いられるＦＲＯＭチップの数を減少することがで
きる。
（実施例〕
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に示す。
第１図は本発明実施例の回路構成の一例を示す。なお、
第１図において第２図と同一の箇所には同一番号を付し
ている。
第１図において第２図と同一の箇所には同一番号を付し
ている。
本実施例は、従来例において述べた補償値を求める（１
）式（ｎ＝２に設定） ＋ （’：ＣＩＴ’） ｙ２ す出力Ｔのみにより定まり、圧力センサ出力■に無関係
な演算であることに着目し、上記各係数を演算する演算
装置と、当該演算された結果に基づいて上記（１）式を
演算する演算装置とにより補償演算処理を分割して行う
ようにしたものである。
）式（ｎ＝２に設定） ＋ （’：ＣＩＴ’） ｙ２ す出力Ｔのみにより定まり、圧力センサ出力■に無関係
な演算であることに着目し、上記各係数を演算する演算
装置と、当該演算された結果に基づいて上記（１）式を
演算する演算装置とにより補償演算処理を分割して行う
ようにしたものである。
第１図において、破線で囲む部分は本発明に係わる補償
回路旦を示す。
回路旦を示す。
２１〜２７はＦＲＯＭである。各圧力センサ２−１〜２
−２５６が持つ定数＾。、 Ａ、、 Ａ２の値を基に温
度センサ出力Ｔが取り得る値の範囲内でＡ。＋＾、Ｔ
＋へ２Ｔ”の値が予め計算され、ＦＲＯＭ２Ｊに記憶さ
れている。
−２５６が持つ定数＾。、 Ａ、、 Ａ２の値を基に温
度センサ出力Ｔが取り得る値の範囲内でＡ。＋＾、Ｔ
＋へ２Ｔ”の値が予め計算され、ＦＲＯＭ２Ｊに記憶さ
れている。
＋・Ｂ、Ｔ’の値が記憶され、ＰＲＯＭ２３には各圧力
センサに対応するＣ０＋ Ｃ，Ｔ＋Ｃ，Ｔ’の値が記憶
されている。
センサに対応するＣ０＋ Ｃ，Ｔ＋Ｃ，Ｔ’の値が記憶
されている。
さらに、ＰＲＯＭ２２および２３のアドレス構成はＰＲ
ＯＭ２１−と同一である。ＰＲＯＭ２４は（Ｂｏ＋ Ｂ
ｔＴ ＋ Ｂ２Ｔ’） Ｖ （７）値がやはりＣ０＋ｎ
、Ｔ＋Ｂ、Ｔ’の値とＶの値から定まるアドレスに対応
して予め記憶されており、ＰＲＯＭ２４の下位８ビツト
アドレスをＰＲＯＭ２２のデータ出力に割り当てている
。ＰＲＯＭ２４の上位８ビツトアドレスはＡ／Ｄコンバ
ータ４の出力８ビツトに割り当てられている。ＰＲＯＭ
２５には（ｃｏ＋ ｃ、ｒ ＋ Ｃ２Ｔ’） Ｖ’の値
が予め記憶され、ＰＲＯＭ２５の下位８ビツトアドレス
はＰＲＯＭ２３のデータ出力に割り当てられ、ＰＲＯＭ
２５の上位８ビツトアドレスが＾／Ｄコンバータ４の出
力８ビツトに割り当てられている。同様にＦＲＯＭ２Ｂ
はＰＲＯＭ２４およびＰＲＯＭ２５の出力に基づいて、
（Ｂｏ＋Ｂ、Ｔ ＋Ｂ、Ｔ’） Ｖ ＋ （Ｇｏ＋Ｃ，
Ｔ ＋Ｃ２Ｔ’） Ｖ２を演算し、ＰＲＯＭ２７がＰＲ
ＯＭ２６およびＰＲＯＭ２１の出力に基づいてＡ０＋Ａ
、Ｔ ＋Ａ、Ｔ２＋ （ＢＯ＋Ｂ、Ｔ ＋Ｂ２Ｔ”）
Ｖ ＋ （Ｃ０＋Ｃ，Ｔ ＋Ｃ，Ｔ”） Ｖ２を演算す
る。
ＯＭ２１−と同一である。ＰＲＯＭ２４は（Ｂｏ＋ Ｂ
ｔＴ ＋ Ｂ２Ｔ’） Ｖ （７）値がやはりＣ０＋ｎ
、Ｔ＋Ｂ、Ｔ’の値とＶの値から定まるアドレスに対応
して予め記憶されており、ＰＲＯＭ２４の下位８ビツト
アドレスをＰＲＯＭ２２のデータ出力に割り当てている
。ＰＲＯＭ２４の上位８ビツトアドレスはＡ／Ｄコンバ
ータ４の出力８ビツトに割り当てられている。ＰＲＯＭ
２５には（ｃｏ＋ ｃ、ｒ ＋ Ｃ２Ｔ’） Ｖ’の値
が予め記憶され、ＰＲＯＭ２５の下位８ビツトアドレス
はＰＲＯＭ２３のデータ出力に割り当てられ、ＰＲＯＭ
２５の上位８ビツトアドレスが＾／Ｄコンバータ４の出
力８ビツトに割り当てられている。同様にＦＲＯＭ２Ｂ
はＰＲＯＭ２４およびＰＲＯＭ２５の出力に基づいて、
（Ｂｏ＋Ｂ、Ｔ ＋Ｂ、Ｔ’） Ｖ ＋ （Ｇｏ＋Ｃ，
Ｔ ＋Ｃ２Ｔ’） Ｖ２を演算し、ＰＲＯＭ２７がＰＲ
ＯＭ２６およびＰＲＯＭ２１の出力に基づいてＡ０＋Ａ
、Ｔ ＋Ａ、Ｔ２＋ （ＢＯ＋Ｂ、Ｔ ＋Ｂ２Ｔ”）
Ｖ ＋ （Ｃ０＋Ｃ，Ｔ ＋Ｃ，Ｔ”） Ｖ２を演算す
る。
このような構成における本実施例の動作を説明する。
アドレス発生器６がアドレス“Ｏ”を発生すると、温度
センサ１の出力がマルチプレクサ３およびＡＤＤコンバ
ータ４を介してラッチ回路５にラッチされる。このラッ
チ出力は、アドレス信号が“１“〜“２５６″を指示す
る間ＦＲＯＭ２１〜２３の各々の下位アドレスに供給さ
れる。なお、アドレス発生器６のアドレス信号″０”は
ＰＲＯＭ２１〜２３の上位アドレスに供給される。した
がって、温度センサ１の出力をマルチプレクサ３が選択
するときに、ＰＲＯＭ２１〜２７の出力を行なわないよ
うにしてもよいし、もしくはマルチプレクサ３の温度セ
ンサ１の出力選択に対して定まるＰＲＯＭ２１〜２７の
各アドレスに“０″又は最大値を格納しておき、圧力セ
ンサ出力に対する補償値と区別してもよい。
センサ１の出力がマルチプレクサ３およびＡＤＤコンバ
ータ４を介してラッチ回路５にラッチされる。このラッ
チ出力は、アドレス信号が“１“〜“２５６″を指示す
る間ＦＲＯＭ２１〜２３の各々の下位アドレスに供給さ
れる。なお、アドレス発生器６のアドレス信号″０”は
ＰＲＯＭ２１〜２３の上位アドレスに供給される。した
がって、温度センサ１の出力をマルチプレクサ３が選択
するときに、ＰＲＯＭ２１〜２７の出力を行なわないよ
うにしてもよいし、もしくはマルチプレクサ３の温度セ
ンサ１の出力選択に対して定まるＰＲＯＭ２１〜２７の
各アドレスに“０″又は最大値を格納しておき、圧力セ
ンサ出力に対する補償値と区別してもよい。
次に、アドレス発生器６がアドレス”１°゛を発生する
と、圧力センサ２−１の出力Ｖがマルチプレクサ３に選
択され、ラッチ回路５にラッチされている温度センサ出
力Ｔ、圧カセンサ２−１の出力■および圧力センサのナ
ンバから定まるアドレスに応じて、ＦＲＯＭ２１〜ＦＲ
ＯＭ２７により圧力センサ出力■の補償演算が行なわれ
、ＰＲＯＭ２７からは上述（１）式に応じて演算処理さ
れた結果が圧力信号Ｐとして出力される。
と、圧力センサ２−１の出力Ｖがマルチプレクサ３に選
択され、ラッチ回路５にラッチされている温度センサ出
力Ｔ、圧カセンサ２−１の出力■および圧力センサのナ
ンバから定まるアドレスに応じて、ＦＲＯＭ２１〜ＦＲ
ＯＭ２７により圧力センサ出力■の補償演算が行なわれ
、ＰＲＯＭ２７からは上述（１）式に応じて演算処理さ
れた結果が圧力信号Ｐとして出力される。
以下、アドレス発生器６がアドレス”２５６”を発生す
るまで上述の動作手順が繰り返され、各圧力センサ２−
１〜２−２５６の出力の補正が行なわれる。アドレス発
生器６がアドレス“２５６”を発生した後、アドレス発
生器６はアドレス“Ｏ”に戻る。
るまで上述の動作手順が繰り返され、各圧力センサ２−
１〜２−２５６の出力の補正が行なわれる。アドレス発
生器６がアドレス“２５６”を発生した後、アドレス発
生器６はアドレス“Ｏ”に戻る。
本実施例においては、圧力センサについて説明したが圧
力センサに限らず他のセンサに対しても本実施例を適用
可能である。さらに本実施例においては圧力センサ２５
６個に対して１個の温度センサを設けて、圧力センサの
非直線性及び温度ドリフトを補償するようにしているが
、各圧力センサ１個に対応して温度センサ１個、ざらに
は、複数個の圧力センサに対して温度センサ１個、さら
にまた、所望の圧力センサ群に対して１個の温度センサ
というように種々の組み合わせに対して本実施例を適用
できることは言うまでもない。
力センサに限らず他のセンサに対しても本実施例を適用
可能である。さらに本実施例においては圧力センサ２５
６個に対して１個の温度センサを設けて、圧力センサの
非直線性及び温度ドリフトを補償するようにしているが
、各圧力センサ１個に対応して温度センサ１個、ざらに
は、複数個の圧力センサに対して温度センサ１個、さら
にまた、所望の圧力センサ群に対して１個の温度センサ
というように種々の組み合わせに対して本実施例を適用
できることは言うまでもない。
なお、本実施例ではＦＲＯＭを用いて説明したが、ＦＲ
ＯＭの代りにマスクＲＯＭなど他の方式のＲＯＭを用い
てもよいことは明らかである。
ＯＭの代りにマスクＲＯＭなど他の方式のＲＯＭを用い
てもよいことは明らかである。
以上、説明したように本発明によれば、本実施例におい
ては従来例では２５６個のＦＲＯＭを必要としたのに対
し、アドレス１６ビツト、データ８ビツトの汎用のＦＲ
ＯＭを７個を使用すればよく、大幅にＦＲＯＭチップの
削減が可能であり、以って、廉価な補償回路が得られる
という効果が得られる。
ては従来例では２５６個のＦＲＯＭを必要としたのに対
し、アドレス１６ビツト、データ８ビツトの汎用のＦＲ
ＯＭを７個を使用すればよく、大幅にＦＲＯＭチップの
削減が可能であり、以って、廉価な補償回路が得られる
という効果が得られる。
第１図は本発明実施例の構成を示すブロック図、第２図
は従来例の構成を示すブロック図である。 １・・・温度センサ、 ヱ・・・圧力センサ群 ２−１〜２−２５６・・・圧力センサ、３・・・マルチ
プレクサ、 ４・・・＾１０コンバータ、 ５・・・ラッチ回路、 ６・・・アドレス発生器、 ７ 、２１〜２７・ＰＲＯＭ。 貝、 ２０・・・補償回路。
は従来例の構成を示すブロック図である。 １・・・温度センサ、 ヱ・・・圧力センサ群 ２−１〜２−２５６・・・圧力センサ、３・・・マルチ
プレクサ、 ４・・・＾１０コンバータ、 ５・・・ラッチ回路、 ６・・・アドレス発生器、 ７ 、２１〜２７・ＰＲＯＭ。 貝、 ２０・・・補償回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １） センサ出力Ｖと温度センサ出力Ｔの値に基づいて
、前記センサの出力特性の非直線性および温度変化の影
響に対して前記センサが測定すべき真値Ｐを式Ｐ：ｆ（
Ｖ，Ｔ）により補償するセンサの補償回路において、 前記式ｆ（Ｖ，Ｔ）を前記センサ出力Ｖに関する高次多
項式に予め展開し、当該展開された高次多項式における
各項の係数を演算する第１の演算手段と、 当該演算された前記高次多項式における各項の係数およ
び前記センサ出力Ｖに基づいて、前記高次多項式により
前記センサが測定すべき真値を演算する第２の演算手段
と を具えたことを特徴とするセンサの補償回路。 ２） 特許請求の範囲第１項に記載のセンサの補償回路
において、 前記センサは複数個であって、前記第１の演算手段およ
び前記第２の演算手段により、前記複数のセンサ各々の
出力を補正するようにしたこと特徴とするセンサの補償
回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63143627A JPH061199B2 (ja) | 1988-06-13 | 1988-06-13 | センサの補償回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63143627A JPH061199B2 (ja) | 1988-06-13 | 1988-06-13 | センサの補償回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01312413A true JPH01312413A (ja) | 1989-12-18 |
| JPH061199B2 JPH061199B2 (ja) | 1994-01-05 |
Family
ID=15343154
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63143627A Expired - Lifetime JPH061199B2 (ja) | 1988-06-13 | 1988-06-13 | センサの補償回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH061199B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006252216A (ja) * | 2005-03-11 | 2006-09-21 | Tdk Corp | 無線センサ装置 |
| JP2019113384A (ja) * | 2017-12-22 | 2019-07-11 | オムロン株式会社 | センサ管理装置とその方法およびプログラム |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5326151A (en) * | 1976-08-23 | 1978-03-10 | Hewlett Packard Yokogawa | Automatic compensating system |
| JPS5882130A (ja) * | 1981-11-10 | 1983-05-17 | Ishida Scales Mfg Co Ltd | 電子秤に於ける温度誤差補正方法及び装置 |
| JPS62274419A (ja) * | 1986-05-23 | 1987-11-28 | Hitachi Ltd | アナログ入力装置 |
-
1988
- 1988-06-13 JP JP63143627A patent/JPH061199B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH061199B2 (ja) | 1994-01-05 |
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