JPH01294589A - 単結晶の引き上げ方法 - Google Patents
単結晶の引き上げ方法Info
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- JPH01294589A JPH01294589A JP1025191A JP2519189A JPH01294589A JP H01294589 A JPH01294589 A JP H01294589A JP 1025191 A JP1025191 A JP 1025191A JP 2519189 A JP2519189 A JP 2519189A JP H01294589 A JPH01294589 A JP H01294589A
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Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、単結晶の引き上げ方法に関し、特に、引き
上げ初期におけるドーパント濃度の不均一な部分の量を
最小限に抑えることができるような単結晶の引き上げ方
法に関する。
上げ初期におけるドーパント濃度の不均一な部分の量を
最小限に抑えることができるような単結晶の引き上げ方
法に関する。
[従来の技術とその課題]
チョクラルスキー法によって、ルツボ内の溶融液から半
導体などの単結晶を引き上げ、成長させる場合に、第1
図に示すような、相互に連通する外側ルツボ及び内側ル
ツボからなる二重ルツボが用いられる場合がある。この
ような二重ルツボにより単結晶の引き上げを行う場合に
は、内側ルツ曝ボの溶液表面から結晶の引き上げを行い
つつ、外側ルツボに原料とドーパントを供給して減少量
を補うことにより、連続的な結晶引き上げが行える。
導体などの単結晶を引き上げ、成長させる場合に、第1
図に示すような、相互に連通する外側ルツボ及び内側ル
ツボからなる二重ルツボが用いられる場合がある。この
ような二重ルツボにより単結晶の引き上げを行う場合に
は、内側ルツ曝ボの溶液表面から結晶の引き上げを行い
つつ、外側ルツボに原料とドーパントを供給して減少量
を補うことにより、連続的な結晶引き上げが行える。
この場合、両ルツボの液の流れは内側ルツボの連通孔を
通して行われるため、原料添加に起因する温度変動や液
面の振動が結晶引き上げ面に直接伝わらず、安定した操
業と良好な品質が得られるという利点がある。
通して行われるため、原料添加に起因する温度変動や液
面の振動が結晶引き上げ面に直接伝わらず、安定した操
業と良好な品質が得られるという利点がある。
ところで、引き上げられた単結晶のドーパント濃度は、
溶融原料中の濃度をCとすればkCとなる(kは偏析係
数で、通常lより小さい値である)ので、引き上げに伴
い溶融原料が供給されない場合には、溶融原料中のドー
パントが漸次濃化し、結晶中のドーパントも濃化するこ
とになる(第4図参照)。しかし、上記の二重ルツボを
用いる連続引き上げの場合には、逐次供給する原料のド
ーパント濃度を引き上げられる結晶のドーパント濃度と
同じにするとともに、単位時間当たりの結晶引き上げ量
と原料供給量を同一にCることによって、ドーパントの
出入り量をバランスさせ、内側ルツボと外側ルツボの濃
度比を常にC:kCに保つことができ(第5図参照)、
溶融原料の濃化を防ぎ濃度を一定にすることができる。
溶融原料中の濃度をCとすればkCとなる(kは偏析係
数で、通常lより小さい値である)ので、引き上げに伴
い溶融原料が供給されない場合には、溶融原料中のドー
パントが漸次濃化し、結晶中のドーパントも濃化するこ
とになる(第4図参照)。しかし、上記の二重ルツボを
用いる連続引き上げの場合には、逐次供給する原料のド
ーパント濃度を引き上げられる結晶のドーパント濃度と
同じにするとともに、単位時間当たりの結晶引き上げ量
と原料供給量を同一にCることによって、ドーパントの
出入り量をバランスさせ、内側ルツボと外側ルツボの濃
度比を常にC:kCに保つことができ(第5図参照)、
溶融原料の濃化を防ぎ濃度を一定にすることができる。
従って、成長方向に濃度偏析のない単結晶を製造するこ
とが可能となる。
とが可能となる。
しかしながら、このような装置を用いた場合でも、引き
上げ開始の直後の部分においては、濃度の偏析が起こっ
てしまい、かなりの部分が不良品として廃棄されること
になった。すなわち、二重ルツボを用いて連続引き上げ
をする場合、外側ルツボ内への単位時間当たりの原料供
給量を結晶の単位時間当たりの引き上げ川と等しくし、
融液全体量を変化させないようにしているが、こうする
と、引き上げ当初の濃度を、内外ルツボともにC1後か
ら供給する原料の6度をkCとしても、引き上げの初期
に内側ルツボ内で濃化が起き、製品の長さ方向に、第6
図に示すような「やま」ができてしまうことが判ってい
る。そして、この「やま」が結晶の直胴部にしかなり及
び、濃度の不良な部分が多くなってしまう。このような
部分を少なくするためには、引き上げ開始後早期に第5
図に示すようなa!f比の状態を作ってしまう必要があ
る。
上げ開始の直後の部分においては、濃度の偏析が起こっ
てしまい、かなりの部分が不良品として廃棄されること
になった。すなわち、二重ルツボを用いて連続引き上げ
をする場合、外側ルツボ内への単位時間当たりの原料供
給量を結晶の単位時間当たりの引き上げ川と等しくし、
融液全体量を変化させないようにしているが、こうする
と、引き上げ当初の濃度を、内外ルツボともにC1後か
ら供給する原料の6度をkCとしても、引き上げの初期
に内側ルツボ内で濃化が起き、製品の長さ方向に、第6
図に示すような「やま」ができてしまうことが判ってい
る。そして、この「やま」が結晶の直胴部にしかなり及
び、濃度の不良な部分が多くなってしまう。このような
部分を少なくするためには、引き上げ開始後早期に第5
図に示すようなa!f比の状態を作ってしまう必要があ
る。
[課題を解決するための手段]
上記のような課題を解決するために、この発明は、引き
上げの初期に外側ルツボに定常状態において供給する原
料より低濃度のドーパントを有する原料を、引き上げに
伴う減少量よりも多く供給して、外側ルツボ及び内側ル
ツボのドーバンha度比を目標値に速く到達せしめるよ
うにしたものである。
上げの初期に外側ルツボに定常状態において供給する原
料より低濃度のドーパントを有する原料を、引き上げに
伴う減少量よりも多く供給して、外側ルツボ及び内側ル
ツボのドーバンha度比を目標値に速く到達せしめるよ
うにしたものである。
[作用 ]
このような単結晶の引き上げ方法においては、内外ルツ
ボ内の溶融原料のドーパント濃度を、引き上げ当初にお
いては、定常状態における濃度Cより高くしておき、引
き上げ開始とともに低ドーパント濃度(濃度Oでよい)
の原料を外側ルツボに供給する。これにより、引き、]
二げ開始直後の凝固部(いわゆる肩部)におけるドーパ
ントの濃化もほとんどなく、外側ルツボの溶融原料が内
側ルツボ内に流入するに従って内側ルツボ内の濃度が低
下して定常濃度Cに近付き、一方、外側ルツボには低濃
度の原料が供給されるために内側ルツボよりさらに定常
濃度kCに近付く。常に外側から内側への流れが形成さ
れているため逆流が生じず、内側から外側へのドーパン
ト拡散による濃度の均一化は起きない。ドーパントの高
濃度部を少なくするためには、内外ルツボの濃度比を早
い時期にl二重に設定してしまえば良く、そのために、
当初の溶融原料の量を比較的少なくしておき、引き七げ
の初期において低濃度原料を引き上げによる減少量より
多く供給してルツボ内の液面レベル自体を上界するよう
にする。融液量全体が増加するほど低濃度原料を加える
ので、内外ルツボの濃度比が速く目的値に近付くのであ
る。Inkの内外濃度比が得られた後に定常引き上げに
なり、供給する原料中のドーパント濃度を、引き上げら
れる結晶中の濃度kCと等しいものとすれば、その後は
」”つと一定濃度の結晶が引き上げられることとなる。
ボ内の溶融原料のドーパント濃度を、引き上げ当初にお
いては、定常状態における濃度Cより高くしておき、引
き上げ開始とともに低ドーパント濃度(濃度Oでよい)
の原料を外側ルツボに供給する。これにより、引き、]
二げ開始直後の凝固部(いわゆる肩部)におけるドーパ
ントの濃化もほとんどなく、外側ルツボの溶融原料が内
側ルツボ内に流入するに従って内側ルツボ内の濃度が低
下して定常濃度Cに近付き、一方、外側ルツボには低濃
度の原料が供給されるために内側ルツボよりさらに定常
濃度kCに近付く。常に外側から内側への流れが形成さ
れているため逆流が生じず、内側から外側へのドーパン
ト拡散による濃度の均一化は起きない。ドーパントの高
濃度部を少なくするためには、内外ルツボの濃度比を早
い時期にl二重に設定してしまえば良く、そのために、
当初の溶融原料の量を比較的少なくしておき、引き七げ
の初期において低濃度原料を引き上げによる減少量より
多く供給してルツボ内の液面レベル自体を上界するよう
にする。融液量全体が増加するほど低濃度原料を加える
ので、内外ルツボの濃度比が速く目的値に近付くのであ
る。Inkの内外濃度比が得られた後に定常引き上げに
なり、供給する原料中のドーパント濃度を、引き上げら
れる結晶中の濃度kCと等しいものとすれば、その後は
」”つと一定濃度の結晶が引き上げられることとなる。
[実施例]
以下、図面を参照してこの発明の詳細な説明する。
第1図は、結晶育成装置の一実施例を示す縦断面図であ
り、符号lは炉体、2は断熱材、3は加熱ヒータ、4は
回転軸5の上端に固定された黒鉛サセプタ、6は黒鉛サ
セプタ4に嵌め込まれた石英からなる二重ルツボ、7は
下端にシニドSを固定した引上軸である。上記二重ルツ
ボ6は、底部近傍に互いに対向する一対の連通孔8を有
する円筒状の隔壁9により外側ルツボlOと内側ルツボ
I+に分けられている。ルツボ6の上方には、上記引上
軸7を回転させながら昇降させる引上機構(図示路)が
設けられており、また、半導体原料及びドーパントを外
側ルツボ10に投入するためのシュート12が設けられ
ている。
り、符号lは炉体、2は断熱材、3は加熱ヒータ、4は
回転軸5の上端に固定された黒鉛サセプタ、6は黒鉛サ
セプタ4に嵌め込まれた石英からなる二重ルツボ、7は
下端にシニドSを固定した引上軸である。上記二重ルツ
ボ6は、底部近傍に互いに対向する一対の連通孔8を有
する円筒状の隔壁9により外側ルツボlOと内側ルツボ
I+に分けられている。ルツボ6の上方には、上記引上
軸7を回転させながら昇降させる引上機構(図示路)が
設けられており、また、半導体原料及びドーパントを外
側ルツボ10に投入するためのシュート12が設けられ
ている。
上記のような結晶育成装置により、本発明の実施をする
場合について、第2図の略図及び第3図のグラフを用い
て述べる。なお、以下の実施例においては、結晶中の目
標ドーパント濃度をkC。
場合について、第2図の略図及び第3図のグラフを用い
て述べる。なお、以下の実施例においては、結晶中の目
標ドーパント濃度をkC。
定常引き上げ状態でのルツボ内の溶融原料の虫をW、内
側ルツボの容量の全ルツボの容量に対する比率をαとし
、初期状態においては、内側ルツボと外側ルツボ内の濃
度は等しくなっているとする。
側ルツボの容量の全ルツボの容量に対する比率をαとし
、初期状態においては、内側ルツボと外側ルツボ内の濃
度は等しくなっているとする。
この場合、上述したように、定常引き上げ時における内
外ルツボ内の濃度は、C及びkCである。
外ルツボ内の濃度は、C及びkCである。
以下、引き−Lげ開始から定常状態に至る過程を述べる
。
。
(1)初期状態ニルツボに原料とドーパントを投入し、
溶解して、Wより少ない量、Cより高い濃度の溶融液と
する(I段階)。
溶解して、Wより少ない量、Cより高い濃度の溶融液と
する(I段階)。
(2)肩部引き上げ:引上軸を」―昇させて結晶の引き
上げを開始するとともに、シュートより、ドーパントを
含まない原料を連続的に供給する(■段階)。原料の供
給速度は、引き上げによる減少速度より多く設定してお
き、肩部の引き上げが終了するときには溶融液がWとな
るようにする(m段階)。この場合、シードSの引き上
げ速度よりも液面の上昇速度が大きくなるので、シード
Sと液面との相対速度が適正な値となるように、ルツボ
を降下させるか、あるいはシードSの上昇速度を大きく
する。
上げを開始するとともに、シュートより、ドーパントを
含まない原料を連続的に供給する(■段階)。原料の供
給速度は、引き上げによる減少速度より多く設定してお
き、肩部の引き上げが終了するときには溶融液がWとな
るようにする(m段階)。この場合、シードSの引き上
げ速度よりも液面の上昇速度が大きくなるので、シード
Sと液面との相対速度が適正な値となるように、ルツボ
を降下させるか、あるいはシードSの上昇速度を大きく
する。
(3)定常引き上げ:肩部の引き上げが終了した時点に
おいて、溶融液1w、内側ルツボ内の溶融液a度C1外
側ルツボ内の溶融液濃度kCとなっており、以後直胴部
の引き上げ工程が定常的に行われる。シュートから供給
される原料のドーパント濃度はkCとされ、結晶引き上
げによる減少量に見合う量が添加される(■段階)。
おいて、溶融液1w、内側ルツボ内の溶融液a度C1外
側ルツボ内の溶融液濃度kCとなっており、以後直胴部
の引き上げ工程が定常的に行われる。シュートから供給
される原料のドーパント濃度はkCとされ、結晶引き上
げによる減少量に見合う量が添加される(■段階)。
以ド、さらに、モデル計算を用いて上記の過程を詳述す
る。上記の初期状態における全溶融液増をW゛、外側ル
ツボの溶融液量をwb、内側ルツボの溶融液量をWc、
外側ルツボ内のドーパントaをB、初期状態から肩部引
き上げ中のある時点までに供給されたドーパントなしの
原料の量をXlその時点での外側ルツボ内のドーパント
濃度をb(x)、内側ルツボ内のドーパント濃度をc(
x)とすると、b(x)、c(x)は■、■式で与えら
れる。ただし、以下の計算においては、次の仮定を置い
ている。
る。上記の初期状態における全溶融液増をW゛、外側ル
ツボの溶融液量をwb、内側ルツボの溶融液量をWc、
外側ルツボ内のドーパントaをB、初期状態から肩部引
き上げ中のある時点までに供給されたドーパントなしの
原料の量をXlその時点での外側ルツボ内のドーパント
濃度をb(x)、内側ルツボ内のドーパント濃度をc(
x)とすると、b(x)、c(x)は■、■式で与えら
れる。ただし、以下の計算においては、次の仮定を置い
ている。
(イ)外側ルツボ及び内側ルツボのそれぞれの内部では
、対流によりドーパント濃度が均一になっている。
、対流によりドーパント濃度が均一になっている。
(ロ)外側ルツボと内側ルツボの間の連通孔を通しての
ドーパントの拡散の影響は無視できる(後述)。
ドーパントの拡散の影響は無視できる(後述)。
(ハ)肩部の引き上げによる溶融液の減少量は、原料及
びドーパントともに少ないので無視できる。
びドーパントともに少ないので無視できる。
肩部引き上げの終了時点での原料供給量をxlとすると
、 c(x、):b(x、)= 1 :k
■であるので、0〜0式より、 ■式において、X=O1及びX = X +と置き、両
者の比をとると、 となる。ここで、 b(x、)= kC であるから、初期ドーパント濃度は となる。また、 W −x + + W b + W c
■W c = W b・α/(i−α)
■W ’ −W b + W c
■であるから、これらの式から l−α すなわち、初期のルツボ内の原料の量を[相]式で示す
ように減量しておけばよい。
、 c(x、):b(x、)= 1 :k
■であるので、0〜0式より、 ■式において、X=O1及びX = X +と置き、両
者の比をとると、 となる。ここで、 b(x、)= kC であるから、初期ドーパント濃度は となる。また、 W −x + + W b + W c
■W c = W b・α/(i−α)
■W ’ −W b + W c
■であるから、これらの式から l−α すなわち、初期のルツボ内の原料の量を[相]式で示す
ように減量しておけばよい。
以下、実際の数値を入れて検討する。ルツボ全体に対す
る内側ルツボの底面積の比率をα−273とし、原料と
してシリコンを用い、ドーパントとしてリンを使用する
と、k=o、35である。
る内側ルツボの底面積の比率をα−273とし、原料と
してシリコンを用い、ドーパントとしてリンを使用する
と、k=o、35である。
これを、■、[相]式に代入すると、
b(0)= 3.3kC= 1.16c 、 W’/
W = 0.67となる。すなわち、原料の量を定常状
態より173減らし、初期ドーパント6度を定常状態の
内側ルツボの濃度の1.16倍にすればよいことになる
。例えば、内側ルツボ内径200mmφ、外側ルツボ内
径240m1Iφ、隔壁厚さ10IIlffl、連通孔
径5mmφの二重ルツボにおいて、定常状態において1
5Kgの溶融液をルツボに収容し、目標ドーパント(リ
ン)a度kG= 1.0OXlO”ate/Cm’、直
径3inchのシリコン単結晶を、1mm/winの速
度で引き上げる場合には、初期(1) m1Aailヲ
10Kg、 F −ハン) aK’c 3.34XlO
”at111/cm’とし、肩部の引き上げ完了時点ま
でに、5Kgのドーパントを含まない原料を外側ルツボ
に供給すればよい。このような設定条件(ドーパント初
期濃度= 3.:(4XlO15atm/am3)によ
り引き上げを行った場合について、得られた単結晶の長
さ方向の濃度の実測値を第3図に○印で示し、内側ルツ
ボ、外側ルツボ内の溶融液及び単結晶における濃度のモ
デル計算値をそれぞれ実線で対比して示す。
W = 0.67となる。すなわち、原料の量を定常状
態より173減らし、初期ドーパント6度を定常状態の
内側ルツボの濃度の1.16倍にすればよいことになる
。例えば、内側ルツボ内径200mmφ、外側ルツボ内
径240m1Iφ、隔壁厚さ10IIlffl、連通孔
径5mmφの二重ルツボにおいて、定常状態において1
5Kgの溶融液をルツボに収容し、目標ドーパント(リ
ン)a度kG= 1.0OXlO”ate/Cm’、直
径3inchのシリコン単結晶を、1mm/winの速
度で引き上げる場合には、初期(1) m1Aailヲ
10Kg、 F −ハン) aK’c 3.34XlO
”at111/cm’とし、肩部の引き上げ完了時点ま
でに、5Kgのドーパントを含まない原料を外側ルツボ
に供給すればよい。このような設定条件(ドーパント初
期濃度= 3.:(4XlO15atm/am3)によ
り引き上げを行った場合について、得られた単結晶の長
さ方向の濃度の実測値を第3図に○印で示し、内側ルツ
ボ、外側ルツボ内の溶融液及び単結晶における濃度のモ
デル計算値をそれぞれ実線で対比して示す。
また、同図に、比較例として、従来の方法で引き上げを
行な−)た場合、すなわち、上記と同じ二重ルツボを用
い、初期の溶融液の総量を15Kg、溶融液のドーパン
ト濃度をC= 2.HXIO1′atm/cm3とし、
kC= 1.nOXlOI5atm/cI113のドー
パント含有比率を持つ原料を引き上げ量と同量づつ外側
ルツボに供給した場合に得られた単結晶の濃度の実測値
をΔ印で示す。この場合は、濃度の上昇による「やま」
が、肩部の引き上げの終了点(■段階)以後に延びて直
胴部にわたっており、この部分が不良品となってしまう
。
行な−)た場合、すなわち、上記と同じ二重ルツボを用
い、初期の溶融液の総量を15Kg、溶融液のドーパン
ト濃度をC= 2.HXIO1′atm/cm3とし、
kC= 1.nOXlOI5atm/cI113のドー
パント含有比率を持つ原料を引き上げ量と同量づつ外側
ルツボに供給した場合に得られた単結晶の濃度の実測値
をΔ印で示す。この場合は、濃度の上昇による「やま」
が、肩部の引き上げの終了点(■段階)以後に延びて直
胴部にわたっており、この部分が不良品となってしまう
。
なお、肩部引き上げ時、または定常引き上げ時において
、連通孔からの拡散の程度をフィックの法則を用いて概
算したところ、連通孔におけるドーパントの拡散速度は
、およそ9.5x to−’(cm/5ec)であるの
に対し、溶融液の流入速度は、肩部引き」二げ時におい
て0.93(cm/5ec)、定常引き上げ時において
0.17(cm/5ec)であり、自己拡散によるドー
パント6度の均一化はほとんど問題にならないことが推
定された。
、連通孔からの拡散の程度をフィックの法則を用いて概
算したところ、連通孔におけるドーパントの拡散速度は
、およそ9.5x to−’(cm/5ec)であるの
に対し、溶融液の流入速度は、肩部引き」二げ時におい
て0.93(cm/5ec)、定常引き上げ時において
0.17(cm/5ec)であり、自己拡散によるドー
パント6度の均一化はほとんど問題にならないことが推
定された。
[発明の効果]
以上詳述し7たように、この発明は、引き上げの初期に
外側ルツボに引き上げられる結晶より低、@度のドーパ
ントを有する原料を引き上げに伴う減少量よりも多く供
給して、外側から内側への溶融原料の流れを作りつつ外
側ルツボ及び内側ルツホのドーパント濃度比を目標値に
速く到達せしめるようにしたものであるので、単結晶の
肩部の引き上げ終了時に定常状態への移行が行え、結晶
引き上げに伴う溶融原料中のドーパントの層化を最小限
に抑え、ドーパント濃度の偏析による不良部分を肩部の
みに止どめて、歩留りの向上を図ることができるもので
ある。
外側ルツボに引き上げられる結晶より低、@度のドーパ
ントを有する原料を引き上げに伴う減少量よりも多く供
給して、外側から内側への溶融原料の流れを作りつつ外
側ルツボ及び内側ルツホのドーパント濃度比を目標値に
速く到達せしめるようにしたものであるので、単結晶の
肩部の引き上げ終了時に定常状態への移行が行え、結晶
引き上げに伴う溶融原料中のドーパントの層化を最小限
に抑え、ドーパント濃度の偏析による不良部分を肩部の
みに止どめて、歩留りの向上を図ることができるもので
ある。
第1図はこの発明に用いる装置を示す断面図、第2図は
この発明の工程を示す略図、第3図は噴結晶中の濃度変
化の測定値を計算値と対比して示す図、第4図は従来の
方法における引き−にげ初期の内側ルツボ内の濃度変化
のグラフ、第5図は定常引き上げ時の内外ルツボの濃度
を示す模式図、第6図は従来の方法における内外ルツボ
及び製品の濃度変化のグラフである。
この発明の工程を示す略図、第3図は噴結晶中の濃度変
化の測定値を計算値と対比して示す図、第4図は従来の
方法における引き−にげ初期の内側ルツボ内の濃度変化
のグラフ、第5図は定常引き上げ時の内外ルツボの濃度
を示す模式図、第6図は従来の方法における内外ルツボ
及び製品の濃度変化のグラフである。
Claims (2)
- (1)相互に連通する外側ルツボと内側ルツボとを備え
た二重ルツボに溶融原料を装入し、定常状態において内
側ルツボの溶液面よりドーパント濃度がkC±0.1k
C(ただし、kは偏析係数)であるような単結晶を引き
上げる単結晶の引き上げ方法において、 引き上げ前の内側ルツボ内の溶液のドーパント濃度をC
(定常状態における内側ルツボ内の溶液濃度)より高く
しておき、 引き上げの初期に、ドーパント含有比率がkC以下であ
るような原料を引き上げに伴う内側ルツボ内の溶融原料
の減少量よりも多く外側ルツボに供給して、内側ルツボ
と外側ルツボのドーパント濃度比を目標値に到達せしめ
た後、 ドーパントの含有比率がkCであるような原料を引き上
げに伴う溶液の減少量に等しく外側ルツボに供給しつつ
結晶を引き上げることを特徴とする単結晶の引き上げ方
法。 - (2)上記溶融原料はドーパントとしてリンを含むシリ
コンであり、 結晶中の定常状態におけるドーパント濃度が1.0×1
0^1^4〜1.0×10^1^6atoms/cm^
3であることを特徴とする請求項1に記載の単結晶の引
き上げ方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2519189A JP2615968B2 (ja) | 1988-02-04 | 1989-02-03 | 単結晶の引き上げ方法 |
DE89108388T DE68908872T2 (de) | 1989-02-03 | 1989-05-10 | Verfahren zum Ziehen von Einkristallen. |
EP89108388A EP0388503B1 (en) | 1989-02-03 | 1989-05-10 | Method for pulling single crystals |
US07/360,126 US4980015A (en) | 1989-02-03 | 1989-06-01 | Method for pulling single crystals |
KR1019890010960A KR940009938B1 (ko) | 1989-02-03 | 1989-08-01 | 단결정의 인상(引上)방법 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2482188 | 1988-02-04 | ||
JP63-24821 | 1988-02-04 | ||
JP2519189A JP2615968B2 (ja) | 1988-02-04 | 1989-02-03 | 単結晶の引き上げ方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01294589A true JPH01294589A (ja) | 1989-11-28 |
JP2615968B2 JP2615968B2 (ja) | 1997-06-04 |
Family
ID=26362390
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2519189A Expired - Lifetime JP2615968B2 (ja) | 1988-02-04 | 1989-02-03 | 単結晶の引き上げ方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2615968B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014511146A (ja) * | 2011-04-14 | 2014-05-12 | ジーティー アドヴァンスト シーズィー, エルエルシー | 均一な複数のドーパントを有するシリコンインゴット並びにそれを生成するための方法及び装置 |
-
1989
- 1989-02-03 JP JP2519189A patent/JP2615968B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014511146A (ja) * | 2011-04-14 | 2014-05-12 | ジーティー アドヴァンスト シーズィー, エルエルシー | 均一な複数のドーパントを有するシリコンインゴット並びにそれを生成するための方法及び装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2615968B2 (ja) | 1997-06-04 |
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