JPH0129426B2 - - Google Patents
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- JPH0129426B2 JPH0129426B2 JP58021612A JP2161283A JPH0129426B2 JP H0129426 B2 JPH0129426 B2 JP H0129426B2 JP 58021612 A JP58021612 A JP 58021612A JP 2161283 A JP2161283 A JP 2161283A JP H0129426 B2 JPH0129426 B2 JP H0129426B2
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- JP
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
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Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58021612A JPS59147278A (ja) | 1983-02-14 | 1983-02-14 | 電子部品の負荷試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58021612A JPS59147278A (ja) | 1983-02-14 | 1983-02-14 | 電子部品の負荷試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59147278A JPS59147278A (ja) | 1984-08-23 |
| JPH0129426B2 true JPH0129426B2 (enExample) | 1989-06-09 |
Family
ID=12059861
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58021612A Granted JPS59147278A (ja) | 1983-02-14 | 1983-02-14 | 電子部品の負荷試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59147278A (enExample) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61203372U (enExample) * | 1985-06-12 | 1986-12-20 | ||
| JPH0522868Y2 (enExample) * | 1986-06-09 | 1993-06-11 | ||
| CN109444593B (zh) * | 2018-11-21 | 2021-04-06 | 科大智能电气技术有限公司 | 一种配电终端带载性能的自动化测试系统和方法 |
| CN114740391B (zh) * | 2022-03-18 | 2024-08-09 | 成都飞机工业(集团)有限责任公司 | 一种飞机电源瞬变信号测试装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55101062A (en) * | 1979-01-29 | 1980-08-01 | Toshiba Corp | Method and device for testing environment of electronic equipment |
-
1983
- 1983-02-14 JP JP58021612A patent/JPS59147278A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59147278A (ja) | 1984-08-23 |
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