JPH01288181A - 半導体イメージセンサ装置 - Google Patents
半導体イメージセンサ装置Info
- Publication number
- JPH01288181A JPH01288181A JP63118782A JP11878288A JPH01288181A JP H01288181 A JPH01288181 A JP H01288181A JP 63118782 A JP63118782 A JP 63118782A JP 11878288 A JP11878288 A JP 11878288A JP H01288181 A JPH01288181 A JP H01288181A
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- Japan
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- current
- hfe
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- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 8
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 abstract description 4
- 230000003321 amplification Effects 0.000 abstract description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光照射された原稿から反射光を受けて電気信号
に変換する半導体イメージセンサ装置に関する。
に変換する半導体イメージセンサ装置に関する。
従来の半導体イメージセンサ装置の等価回路を第2図に
示す、第2図においてバイポーラ型フォトトランジスタ
P1はアナログスイッチ5INSn及びSC2で時分割
選択された時点で反射光2でベース・コレクタ間に蓄積
された電荷が等測的にベース電流となり、これの直流電
流増幅率(以降hFEと称する)倍された電流■。が流
れコンデンサC2へ蓄積される。このM積された電荷が
出力v、2に電圧として出力される。
示す、第2図においてバイポーラ型フォトトランジスタ
P1はアナログスイッチ5INSn及びSC2で時分割
選択された時点で反射光2でベース・コレクタ間に蓄積
された電荷が等測的にベース電流となり、これの直流電
流増幅率(以降hFEと称する)倍された電流■。が流
れコンデンサC2へ蓄積される。このM積された電荷が
出力v、2に電圧として出力される。
(発明が解決しようとする課題〕
しかし、前記のような回路構成ではバイポーラトランジ
スタP2のhFEは最大でも1000程度までしか上げ
られず、通常500前後の使用となるが出力v@8の電
圧を所望の値まで上げることができなかった。そのため
、オペアンプなどを介在させる等の方策がとられるが、
S/N比が悪くなる、回路構成が複雑になるなどの欠点
があった。
スタP2のhFEは最大でも1000程度までしか上げ
られず、通常500前後の使用となるが出力v@8の電
圧を所望の値まで上げることができなかった。そのため
、オペアンプなどを介在させる等の方策がとられるが、
S/N比が悪くなる、回路構成が複雑になるなどの欠点
があった。
前記課題を解決するため本発明ではバイポーラ型フォト
トランジスタを2段以上の従属接続(以降ダーリントン
接続と称する)とする。
トランジスタを2段以上の従属接続(以降ダーリントン
接続と称する)とする。
フォトトランジスタをダーリントン接続とすることで反
射光で蓄積された電荷は初段のトランジスタでhFE倍
された後、次段のトランジスタでさらにhFF(i’t
された電荷が出力される。
射光で蓄積された電荷は初段のトランジスタでhFE倍
された後、次段のトランジスタでさらにhFF(i’t
された電荷が出力される。
以下、本発明を図面に基づいて詳細に説明する。
第1図は本発明の半導体イメージセンサ装置の等価回路
図の一例でコモンのコレクタは高い一定電圧に接続され
、初段のヘースはフローティングで初段のエミッタが後
段の−・−スヘ接続され、後段のエミッタはM OSの
駆動回路側へ接続されたダーリントン接続の複数のフォ
トトランジスタQ。
図の一例でコモンのコレクタは高い一定電圧に接続され
、初段のヘースはフローティングで初段のエミッタが後
段の−・−スヘ接続され、後段のエミッタはM OSの
駆動回路側へ接続されたダーリントン接続の複数のフォ
トトランジスタQ。
Q、、−Q、とMOSのアナログスイッチSW、、SW
2.−8W、lとSC2とで構成されている。本発明の
半導体イメージセンサ装置の構成はダーリントン接続さ
れた複数のフォトトランジスタQ、、Q、、−Q、、ア
ナログスイッチs w、、 s w、、−s w、lを
少なくとも含むものである、。
2.−8W、lとSC2とで構成されている。本発明の
半導体イメージセンサ装置の構成はダーリントン接続さ
れた複数のフォトトランジスタQ、、Q、、−Q、、ア
ナログスイッチs w、、 s w、、−s w、lを
少なくとも含むものである、。
さて第1図において、配列されたフォトトランジスタの
1ユニツトはダーリントン接続されている。各フォトト
ランジスタの切替はアナログスイッチSW、及びSC1
で行われ光が入った場合の出力は時分割的に出力■。1
へ出力される。まず反射光1でトランジスタQ1の初段
のベース・コレツク間に蓄えられた電荷はこのユニット
がSWl及びS01で選択された時点でベース電流へと
状態変化しhFE倍されたコレクタ電流ICIが流れる
。
1ユニツトはダーリントン接続されている。各フォトト
ランジスタの切替はアナログスイッチSW、及びSC1
で行われ光が入った場合の出力は時分割的に出力■。1
へ出力される。まず反射光1でトランジスタQ1の初段
のベース・コレツク間に蓄えられた電荷はこのユニット
がSWl及びS01で選択された時点でベース電流へと
状態変化しhFE倍されたコレクタ電流ICIが流れる
。
次にこの+CIは次段のトランジスタのベース電流とな
る。このベース電流がさらにhrc倍されたコレクタ電
流1,2が流れコンデンサC1へ蓄えられる。CIへ蓄
えられた電荷が電圧としてV、tへ出力される。この実
施例の場合、2段の従属接続をしているため、同じ光量
に対しての出力電圧は単独のトランジスタの場合のhF
Eの2乗倍に比例した出力が得られることがわかる。
る。このベース電流がさらにhrc倍されたコレクタ電
流1,2が流れコンデンサC1へ蓄えられる。CIへ蓄
えられた電荷が電圧としてV、tへ出力される。この実
施例の場合、2段の従属接続をしているため、同じ光量
に対しての出力電圧は単独のトランジスタの場合のhF
Eの2乗倍に比例した出力が得られることがわかる。
…■記のように初段のトランジスタの電荷がさらにhF
E倍されるため1000程度のhFEを使用する場合、
トランジスタ単体のり。とじては100程度で良く耐圧
等のマージンも充分とれる。又、hFEの製造工程上の
バラツキも公知のとおりh□の絶対値が低ければ低いほ
ど少ないためバラウキの少ない良好な特性が得られる。
E倍されるため1000程度のhFEを使用する場合、
トランジスタ単体のり。とじては100程度で良く耐圧
等のマージンも充分とれる。又、hFEの製造工程上の
バラツキも公知のとおりh□の絶対値が低ければ低いほ
ど少ないためバラウキの少ない良好な特性が得られる。
又、ダーリントン接続するトランジスタは原理的には何
段でも良く、所望のゲインが得られる接続が可能のため
、出力にオペアンプを付加する等の工程増コスト増が避
けられる。
段でも良く、所望のゲインが得られる接続が可能のため
、出力にオペアンプを付加する等の工程増コスト増が避
けられる。
第1図は本発明の半導体イメージセンサ装置を説明する
ための等価回路図である。 第2図は従来の半導体イメージセンサ装置の等価回路図
である。 1・・・反射光 Q 1.Qz、 ””、Q、l−・・・配列されたダー
リントン接続のフォトトランジスタ S W + 、 S W z−−”’ S W n
・・・配列されたMOSのアナログスイッチ SCI ・・・MOSアナログスイッチC1・・・・コ
ンデンサ ■ol・・・・出力電圧 以上 −1−準イ本イメージ:’t yゴロIρ等1ライコヌ
50第1図 1モ÷の÷躊1て・イ)′−ジ゛乙寸名]L二耳1′ツ
1ミ2にヨ不2図
ための等価回路図である。 第2図は従来の半導体イメージセンサ装置の等価回路図
である。 1・・・反射光 Q 1.Qz、 ””、Q、l−・・・配列されたダー
リントン接続のフォトトランジスタ S W + 、 S W z−−”’ S W n
・・・配列されたMOSのアナログスイッチ SCI ・・・MOSアナログスイッチC1・・・・コ
ンデンサ ■ol・・・・出力電圧 以上 −1−準イ本イメージ:’t yゴロIρ等1ライコヌ
50第1図 1モ÷の÷躊1て・イ)′−ジ゛乙寸名]L二耳1′ツ
1ミ2にヨ不2図
Claims (1)
- 配列されたフォトトランジスタが少なくとも2段以上
の従属接続を有することを特徴とする半導体イメージセ
ンサ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63118782A JPH01288181A (ja) | 1988-05-16 | 1988-05-16 | 半導体イメージセンサ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63118782A JPH01288181A (ja) | 1988-05-16 | 1988-05-16 | 半導体イメージセンサ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01288181A true JPH01288181A (ja) | 1989-11-20 |
Family
ID=14744951
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63118782A Pending JPH01288181A (ja) | 1988-05-16 | 1988-05-16 | 半導体イメージセンサ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01288181A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03162183A (ja) * | 1989-11-21 | 1991-07-12 | Canon Inc | 光電変換装置 |
KR20020084428A (ko) * | 2001-05-02 | 2002-11-09 | 송정근 | 이종접합 광트랜지스터와 이종접합 쌍극자 트랜지스터로구성된 광전소자 및 그 제조방법 |
WO2012011585A1 (ja) | 2010-07-22 | 2012-01-26 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 光電変換セル及びアレイとその読み出し方法と回路 |
WO2012124760A1 (ja) | 2011-03-17 | 2012-09-20 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | ゲイン可変方法、ゲイン可変光電変換素子、ゲイン可変光電変換セル、ゲイン可変光電変換アレイ、読み出し方法、および、回路 |
US9059065B2 (en) | 2012-03-19 | 2015-06-16 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Method of varying gain of amplifying photoelectric conversion device and variable gain photoelectric conversion device |
US9337234B2 (en) | 2011-10-06 | 2016-05-10 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Photoelectric converter, photoelectric converter array and imaging device |
-
1988
- 1988-05-16 JP JP63118782A patent/JPH01288181A/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03162183A (ja) * | 1989-11-21 | 1991-07-12 | Canon Inc | 光電変換装置 |
KR20020084428A (ko) * | 2001-05-02 | 2002-11-09 | 송정근 | 이종접합 광트랜지스터와 이종접합 쌍극자 트랜지스터로구성된 광전소자 및 그 제조방법 |
WO2012011585A1 (ja) | 2010-07-22 | 2012-01-26 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 光電変換セル及びアレイとその読み出し方法と回路 |
US9142579B2 (en) | 2010-07-22 | 2015-09-22 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Photoelectric conversion cell and array, reset circuit and electrical signal sense control circuit therefor |
WO2012124760A1 (ja) | 2011-03-17 | 2012-09-20 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | ゲイン可変方法、ゲイン可変光電変換素子、ゲイン可変光電変換セル、ゲイン可変光電変換アレイ、読み出し方法、および、回路 |
US9641782B2 (en) | 2011-03-17 | 2017-05-02 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Method of varying gain, variable gain photoelectric conversion device, variable gain photoelectric conversion cell, variable gain photoelectric conversion array, method of reading out thereof, and circuit thereof |
US9337234B2 (en) | 2011-10-06 | 2016-05-10 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Photoelectric converter, photoelectric converter array and imaging device |
US9059065B2 (en) | 2012-03-19 | 2015-06-16 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Method of varying gain of amplifying photoelectric conversion device and variable gain photoelectric conversion device |
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