JPH01286289A - 直流駆動エレクトロルミネッセント・デバイス - Google Patents
直流駆動エレクトロルミネッセント・デバイスInfo
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- JPH01286289A JPH01286289A JP63115458A JP11545888A JPH01286289A JP H01286289 A JPH01286289 A JP H01286289A JP 63115458 A JP63115458 A JP 63115458A JP 11545888 A JP11545888 A JP 11545888A JP H01286289 A JPH01286289 A JP H01286289A
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Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
主粟上虫且且光■
本発明は、エレクトロルミネッセント・デバイス(以下
、ELデバイスという)に関する。更に詳しくは、透明
基板上に、透明電極と、発光膜と絶縁膜および背面電極
からなるELディスプレイにおいて、絶縁膜として高比
抵抗の第1の絶縁膜に厚みが500Å以下好ましくは3
00人更に好ましくは200Å以下で、絶縁破壊強度が
1xlO’V/e1m以上でかつ耐熱性が300℃以上
好ましくは400℃以上更に好ましくは500℃以上で
ある耐熱性高分子LBliと低比抵抗の第2の絶縁膜と
を用いたーことを特徴とする直流駆動エレクトロルミネ
ッセント・デバイスに関する。
、ELデバイスという)に関する。更に詳しくは、透明
基板上に、透明電極と、発光膜と絶縁膜および背面電極
からなるELディスプレイにおいて、絶縁膜として高比
抵抗の第1の絶縁膜に厚みが500Å以下好ましくは3
00人更に好ましくは200Å以下で、絶縁破壊強度が
1xlO’V/e1m以上でかつ耐熱性が300℃以上
好ましくは400℃以上更に好ましくは500℃以上で
ある耐熱性高分子LBliと低比抵抗の第2の絶縁膜と
を用いたーことを特徴とする直流駆動エレクトロルミネ
ッセント・デバイスに関する。
′ の ′ ・ (°シよ゛と るい δ型子機器
の軽薄短小化や表示品質の向上などの社会的要請のもと
、ELデバイスの研究が盛んに行われている。
の軽薄短小化や表示品質の向上などの社会的要請のもと
、ELデバイスの研究が盛んに行われている。
最近、MnをドープしたZnS発光層の両側を絶縁層(
誘電体層)でサンドインチした高輝度で寿命の長い、い
わゆる二重絶縁構造の薄膜ELデバイスが開発され、実
用化されてきている。
誘電体層)でサンドインチした高輝度で寿命の長い、い
わゆる二重絶縁構造の薄膜ELデバイスが開発され、実
用化されてきている。
しかしながら、二重絶縁構造の薄膜ELデバイスは20
0部程度の高い交流電圧を必要とするため、専用の高耐
圧ICを用いなければならず、これがコストを引上げ、
広い実用化が妨げられているという問題がある。
0部程度の高い交流電圧を必要とするため、専用の高耐
圧ICを用いなければならず、これがコストを引上げ、
広い実用化が妨げられているという問題がある。
このような問題を解決して駆動回路を単純化するため、
低電圧で駆動しうる薄膜ELデバイスの開発が望まれて
おり、チタン酸鉛のような強誘電体を使用することによ
って60V程度まで動作電圧を下げうろことが報告され
ているが、十分な誘電率を得るためには、基板を高温度
に加熱しなければならないなど実用上は問題がある。
低電圧で駆動しうる薄膜ELデバイスの開発が望まれて
おり、チタン酸鉛のような強誘電体を使用することによ
って60V程度まで動作電圧を下げうろことが報告され
ているが、十分な誘電率を得るためには、基板を高温度
に加熱しなければならないなど実用上は問題がある。
そこで本発明者らは、耐熱性高分子LB膜を利用した低
電圧で駆動させることができる直流駆動ELデバイスを
すでに提案しているが、安定性に問題があった。
電圧で駆動させることができる直流駆動ELデバイスを
すでに提案しているが、安定性に問題があった。
口 占 ゛ るための
そこで本発明者らは、上記のごとき実情に鑑み、低電圧
で駆動させることができ、しかも安定性の向上した直流
駆動ELデバイスを得るために検討し、透明基板上に、
透明電極と、発光膜と耐熱性高分子LB膜と背面電極と
からなるELディスプレイに低比抵抗の第2の絶縁膜を
挿入することによって解決できることを見出した。ここ
において、高比抵抗の第1の絶縁膜は厚みが5000Å
以下で好ましくは300人更に好ましくは200人であ
り、絶縁破壊強度がlX106V/cm以上でかつ耐熱
性が300℃以上好ましくは400℃以上更に好ましく
は500℃以上である耐熱性高分子LB膜であり低抵抗
の第2の絶縁膜として、比抵抗が106〈ρく109好
ましくは105〈ρ〈107Ω・備で膜厚が500−1
0000人好ましくは3000〜10000人である。
で駆動させることができ、しかも安定性の向上した直流
駆動ELデバイスを得るために検討し、透明基板上に、
透明電極と、発光膜と耐熱性高分子LB膜と背面電極と
からなるELディスプレイに低比抵抗の第2の絶縁膜を
挿入することによって解決できることを見出した。ここ
において、高比抵抗の第1の絶縁膜は厚みが5000Å
以下で好ましくは300人更に好ましくは200人であ
り、絶縁破壊強度がlX106V/cm以上でかつ耐熱
性が300℃以上好ましくは400℃以上更に好ましく
は500℃以上である耐熱性高分子LB膜であり低抵抗
の第2の絶縁膜として、比抵抗が106〈ρく109好
ましくは105〈ρ〈107Ω・備で膜厚が500−1
0000人好ましくは3000〜10000人である。
実施例
本発明に用いる発光膜とは、周期律表1)A族またはn
B族に属する元素とVIB族に属する元素から選ばれた
少なくとも1種ずつの元素の組合せによってできるII
−Vl族化合物からなる多結晶薄膜のことである。前記
、n−vt族化合物は固溶体として存在し得るので、上
記化合物の元素を他の元素で置き換えた固溶体も本発明
に用いうる。たとえば、Zn(7)1部をCd”i?置
き換えたZnxCdl−xS (0<x<1)やSの1
部をSeで置き換えたZn5xSe 1− x(Q<x
<l)など、さらにはZnzCdl−zSy 5e1−
y(0<y<1、O<z<1)などである、また、これ
らII−Vl族化合物には非化学量論的組成のずれが存
在しうるので、■族元素1:■族元素の比が必ずしもl
:1ではないようなものも本発明に使用し得る。
B族に属する元素とVIB族に属する元素から選ばれた
少なくとも1種ずつの元素の組合せによってできるII
−Vl族化合物からなる多結晶薄膜のことである。前記
、n−vt族化合物は固溶体として存在し得るので、上
記化合物の元素を他の元素で置き換えた固溶体も本発明
に用いうる。たとえば、Zn(7)1部をCd”i?置
き換えたZnxCdl−xS (0<x<1)やSの1
部をSeで置き換えたZn5xSe 1− x(Q<x
<l)など、さらにはZnzCdl−zSy 5e1−
y(0<y<1、O<z<1)などである、また、これ
らII−Vl族化合物には非化学量論的組成のずれが存
在しうるので、■族元素1:■族元素の比が必ずしもl
:1ではないようなものも本発明に使用し得る。
通常、II−Vl族化合物多結晶薄膜は、Mn、Cu。
AgなどやTb、Sm、Er、Ho、Pr、Tmなどの
ような希土類金属、TbFa 、SmFs 。
ような希土類金属、TbFa 、SmFs 。
ErFa 、HoFa 、PrFa 、TmFsなどの
ような希土類ぶつ化物からなる賦活剤でドープされてお
り、さらに要すればハロゲンイオンやA1などの3価金
属の塩のような共賦活剤を含有していても良い。
ような希土類ぶつ化物からなる賦活剤でドープされてお
り、さらに要すればハロゲンイオンやA1などの3価金
属の塩のような共賦活剤を含有していても良い。
このようにII−VI族化合物多結晶薄膜に賦活剤をド
ープすることによって、赤、緑、青、黄、黄橙などの種
々の発光をうろことができる。このとき、マトリックス
である■−■族化合物は可視光領域の光を吸収しないよ
うに、n−vt族化合物としてバンドギャップの大きい
、できよば2.5e■以上のものを選択することが好適
である。このようなII−Vl族化合物としては、たと
えばZnS。
ープすることによって、赤、緑、青、黄、黄橙などの種
々の発光をうろことができる。このとき、マトリックス
である■−■族化合物は可視光領域の光を吸収しないよ
うに、n−vt族化合物としてバンドギャップの大きい
、できよば2.5e■以上のものを選択することが好適
である。このようなII−Vl族化合物としては、たと
えばZnS。
Zn5eのほか、ZnO,CaS、SrSなどがあげら
れるが、発光効率が高いという点からするとZnS、
Zn5eが好ましい。
れるが、発光効率が高いという点からするとZnS、
Zn5eが好ましい。
ドープする賦活剤の量はII−V[族化合物多結晶薄膜
100部(重量部、以下同様)当り0.01〜7部、好
ましくは0.2〜3部であり、共賦活剤は好ましくは0
.01〜3部より好ましくは0.05〜1部である。前
記賦活剤の量が0.01部未満になると発光に寄与する
活性点の濃度が低く、有効な発光が得られず、7部をこ
えると活性点の濃度が高すぎ飽和現象がおこったり、n
−vt族化合物多結晶薄膜の結晶性の低下を生じる傾向
があり、いずれも好ましくない。また、共賦活剤の量も
上記の範囲をこえると、賦活剤の場合とおなし理由で望
ましくない。
100部(重量部、以下同様)当り0.01〜7部、好
ましくは0.2〜3部であり、共賦活剤は好ましくは0
.01〜3部より好ましくは0.05〜1部である。前
記賦活剤の量が0.01部未満になると発光に寄与する
活性点の濃度が低く、有効な発光が得られず、7部をこ
えると活性点の濃度が高すぎ飽和現象がおこったり、n
−vt族化合物多結晶薄膜の結晶性の低下を生じる傾向
があり、いずれも好ましくない。また、共賦活剤の量も
上記の範囲をこえると、賦活剤の場合とおなし理由で望
ましくない。
このような賦活剤や共賦活剤をドーピングする方法につ
いては特に制限はなく、通常の方法が採用されうる。
いては特に制限はなく、通常の方法が採用されうる。
本発明におけるIt−Vl族化合物の薄膜の形成法には
特に制限はなく、たとえば蒸着法、スパッタ法、スプレ
ーパイロリシス法、塗布法、CVD法(化学的気相成長
法) 、MOCVD法(有機金属気相成長法)、MB2
法(分子線エピタキシ法)、ALE法(原子層エピタキ
シ法)などを利用した薄膜形成法によって基板上に形成
される。
特に制限はなく、たとえば蒸着法、スパッタ法、スプレ
ーパイロリシス法、塗布法、CVD法(化学的気相成長
法) 、MOCVD法(有機金属気相成長法)、MB2
法(分子線エピタキシ法)、ALE法(原子層エピタキ
シ法)などを利用した薄膜形成法によって基板上に形成
される。
本発明に用いるII−Vl族化合物の結晶系は、六方晶
系、立方晶系、あるいはそれらが混合した形などで存在
するが、いずれの場合も使用しうる。
系、立方晶系、あるいはそれらが混合した形などで存在
するが、いずれの場合も使用しうる。
さらに前記多結晶薄膜は、各種雰囲気で熱処理すること
によって結晶性などの物性が改善されることが知られて
いるので、薄膜形成後に熱処理して使用しても良い。
によって結晶性などの物性が改善されることが知られて
いるので、薄膜形成後に熱処理して使用しても良い。
本発明に用いる多結晶薄膜は多数の小結晶がいろいろの
方位をもって集合してできた結晶質の薄膜であるが、小
結晶の方位の分布に規則性があり、繊維構造や柱状構造
をもっていることが望ましい。
方位をもって集合してできた結晶質の薄膜であるが、小
結晶の方位の分布に規則性があり、繊維構造や柱状構造
をもっていることが望ましい。
多結晶薄膜の厚さについては特に限定はないが、通常1
00人〜10μm程度、さらに0.1〜1.0μm程度
が好適である。
00人〜10μm程度、さらに0.1〜1.0μm程度
が好適である。
つぎに、基板および電極について説明する。基板につい
ては特に限定はなく、ガラス、アルミナ、石英などの一
般的な基板材料からなる基板のほか、金属板、金属製ホ
イル、プラスチック基板、プラスチックフィルム、■族
半導体、■−■族化合物半導体、多結晶ウェハーなどが
使用される。
ては特に限定はなく、ガラス、アルミナ、石英などの一
般的な基板材料からなる基板のほか、金属板、金属製ホ
イル、プラスチック基板、プラスチックフィルム、■族
半導体、■−■族化合物半導体、多結晶ウェハーなどが
使用される。
電極としては、アルミニウム、金、銀、白金、パラジウ
ム、インジウム、In−Flg、In−Gaなどのほか
、酸化スズや酸化スズ・インジウム(ITO)などの透
明電極などを使用しうるが、発光を取り出すために少な
くとも一方の電極は半透明または透明な電極であること
が必要である。実用上はネサガラスやITOガラスなど
透明電極つき基板をもちい、背面電極としてAl、’l
’i、 Nt−Crなどからなる金属電極を用いること
が好ましい。もちろん両側の電極とも透明電極でも良い
。
ム、インジウム、In−Flg、In−Gaなどのほか
、酸化スズや酸化スズ・インジウム(ITO)などの透
明電極などを使用しうるが、発光を取り出すために少な
くとも一方の電極は半透明または透明な電極であること
が必要である。実用上はネサガラスやITOガラスなど
透明電極つき基板をもちい、背面電極としてAl、’l
’i、 Nt−Crなどからなる金属電極を用いること
が好ましい。もちろん両側の電極とも透明電極でも良い
。
また、デバイスを表示デバイスとして使用する場合には
、一般に行われているようにこれら2つの電極(透明電
極および背面電極)をパターン化して用いても良い。
、一般に行われているようにこれら2つの電極(透明電
極および背面電極)をパターン化して用いても良い。
つぎに絶縁膜について述べる。まず、低抵抗絶縁膜であ
るが、この絶縁膜は比抵抗が106<ρ〈109好まし
くは105くρく107Ω・値で膜厚が500〜100
00人好ましくは3000〜10000人である。絶縁
膜としては、TazOaが好適てあり、電子ビーム蒸着
法で好ましく作製される。
るが、この絶縁膜は比抵抗が106<ρ〈109好まし
くは105くρく107Ω・値で膜厚が500〜100
00人好ましくは3000〜10000人である。絶縁
膜としては、TazOaが好適てあり、電子ビーム蒸着
法で好ましく作製される。
つぎに本発明にもちいる第1の高抵抗絶縁膜である耐熱
性LB膜について説明する。
性LB膜について説明する。
実用的な直流駆動エレクトロルミネッセンスデバイスに
使用できるためには、LB膜の耐熱性が300℃以上好
ましくは400℃以上更に好ましくは500℃以上であ
り、絶縁破壊強度が1xlO6V / cm以上である
ことが望ましい。LB膜の上に発光層が形成される場合
には耐熱性が300℃以上あることが望まれる。なぜな
ら、発光層が蒸着される時は、200℃程度の温度でな
されるが、形成後300℃以上好ましくは400℃以上
更に好ましくは500℃以上でアニールして結晶性を改
善させる方法が取られるからである。LB膜が、発光膜
の上に形成される時には、耐熱性は必要ではないが、デ
バイス動作時の発熱に耐えればよい。
使用できるためには、LB膜の耐熱性が300℃以上好
ましくは400℃以上更に好ましくは500℃以上であ
り、絶縁破壊強度が1xlO6V / cm以上である
ことが望ましい。LB膜の上に発光層が形成される場合
には耐熱性が300℃以上あることが望まれる。なぜな
ら、発光層が蒸着される時は、200℃程度の温度でな
されるが、形成後300℃以上好ましくは400℃以上
更に好ましくは500℃以上でアニールして結晶性を改
善させる方法が取られるからである。LB膜が、発光膜
の上に形成される時には、耐熱性は必要ではないが、デ
バイス動作時の発熱に耐えればよい。
この場合は300℃以上あればよい。厚みについては、
出来るだけ低電圧駆動にする要請とともに厚いLB膜を
使用することはコスト的にメリットがないので500Å
以下が好ましい。300Å以下更には200人が好まし
い。このような300℃以上の耐熱性とI X I O
6V/cm以上の絶縁破壊強度かえられるLB膜は、我
々が特願昭61−1)6390に提案した高分子薄膜の
中から選ぶことが出来る。ペテロ環を含む耐熱性高分子
の前駆体構造をもち、これをLB法で累積したのち環構
造を形成させた耐熱性高分子の薄膜が好ましい。
出来るだけ低電圧駆動にする要請とともに厚いLB膜を
使用することはコスト的にメリットがないので500Å
以下が好ましい。300Å以下更には200人が好まし
い。このような300℃以上の耐熱性とI X I O
6V/cm以上の絶縁破壊強度かえられるLB膜は、我
々が特願昭61−1)6390に提案した高分子薄膜の
中から選ぶことが出来る。ペテロ環を含む耐熱性高分子
の前駆体構造をもち、これをLB法で累積したのち環構
造を形成させた耐熱性高分子の薄膜が好ましい。
全芳香族ポリイミド系の薄膜が特に望ましい。
つぎにLB膜の製法について説明する。
LB膜は膜を形成する物質を水面上に展開し、水面上に
展開された物質を一定の表面圧で圧縮した単分子膜を形
成し、その膜を基板上に移し取る方法(ラングミュア・
ブロジェット法)で作製しうる。このほかの水平付着法
、回転円筒法などの方法(新実験化学講座第18巻、界
面とコロイド、498−508ページ)などでも作製し
うる。このような通常おこなわれている方法であれば特
に限定されることなく通用しうる。
展開された物質を一定の表面圧で圧縮した単分子膜を形
成し、その膜を基板上に移し取る方法(ラングミュア・
ブロジェット法)で作製しうる。このほかの水平付着法
、回転円筒法などの方法(新実験化学講座第18巻、界
面とコロイド、498−508ページ)などでも作製し
うる。このような通常おこなわれている方法であれば特
に限定されることなく通用しうる。
つぎに、本発明のELデバイスを実施例に基づき、さら
に詳しく説明する。
に詳しく説明する。
実施例1
パターン化したITOガラス上に、EB蒸着法で発光層
Z n S : M nを約1000人形成し、熱処理
しこの上に低抵抗絶縁膜としての酸化タンタルを200
0人製I臭した。つづいて、ピロメリット酸ジステアリ
ルエステルの酸クロリドとジアミノジフェニルエーテル
とから合成されたポリイミド前駆体とステアリルアルコ
ールの1:1混合しB膜を、21層累積し、これを40
0℃で1時間キュアーしてイミド化した。最後に、アル
ミニウム電極をつけてELデバイスとした。
Z n S : M nを約1000人形成し、熱処理
しこの上に低抵抗絶縁膜としての酸化タンタルを200
0人製I臭した。つづいて、ピロメリット酸ジステアリ
ルエステルの酸クロリドとジアミノジフェニルエーテル
とから合成されたポリイミド前駆体とステアリルアルコ
ールの1:1混合しB膜を、21層累積し、これを40
0℃で1時間キュアーしてイミド化した。最後に、アル
ミニウム電極をつけてELデバイスとした。
しきい値電圧は15V、最高輝度15 f L (at
23v)で黄橙色の発光が得られた。酸化タンタルを含
まないデバイスより安定的な発光が続いた。
23v)で黄橙色の発光が得られた。酸化タンタルを含
まないデバイスより安定的な発光が続いた。
実施例2
実施例1と同様に発光層厚4000人のデバイスを作製
した。50Vより立上がり70Vで25fLの最高輝度
かえられ、安定的な発光が続いた。
した。50Vより立上がり70Vで25fLの最高輝度
かえられ、安定的な発光が続いた。
実施例3
パターン化したITOガラス上に、ピロメリット酸ジス
テアリルエステルの酸クロリドとジアミノジフェニルエ
ーテルとがら合成されたポリイミド前駆体とステアリル
アルコールの1 : 1a合LB膜を、21層累積し、
これを400”Cで1時間キュアーしてイミド化した。
テアリルエステルの酸クロリドとジアミノジフェニルエ
ーテルとがら合成されたポリイミド前駆体とステアリル
アルコールの1 : 1a合LB膜を、21層累積し、
これを400”Cで1時間キュアーしてイミド化した。
この上に、2000人の発光層ZnS:Mnと2000
人の酸化タンタルをすべてEB蒸着法で製膜した。最後
に、アルミニウム電極をっけてELデバイスとした。
人の酸化タンタルをすべてEB蒸着法で製膜した。最後
に、アルミニウム電極をっけてELデバイスとした。
しきい値電圧は30V、最高輝度は20fLであった。
発明の効果
賦活剤でドープされているn−vt族化合物多結晶1)
jlの少なくとも1方に厚みが500Å以下で、絶縁破
壊強度が1x106V/cm以上でかつ耐熱性が300
℃以上である耐熱性高分子LB膜と低抵抗絶縁膜を設け
ることにより低電圧で駆動させることができ、安定な高
輝度の1l−VI族化合物多結晶薄膜交流駆動ELデバ
イスが得られる。
jlの少なくとも1方に厚みが500Å以下で、絶縁破
壊強度が1x106V/cm以上でかつ耐熱性が300
℃以上である耐熱性高分子LB膜と低抵抗絶縁膜を設け
ることにより低電圧で駆動させることができ、安定な高
輝度の1l−VI族化合物多結晶薄膜交流駆動ELデバ
イスが得られる。
Claims (2)
- (1) 透明基板上に、透明電極と、発光膜と絶縁膜お
よび背面電極からなるELディスプレイにおいて、絶縁
膜として高比抵抗の第1の絶縁膜に厚みが500Å以下
で、絶縁破壊強度が1×10^6V/cm以上でかつ耐
熱性が300℃以上である耐熱性高分子LB膜と低比抵
抗の第2の絶縁膜とを用いたことを特徴とする直流駆動
エレクトロルミネッセント・デバイス。 - (2) 耐熱性高分子LB膜が、全芳香族ポリイミド系
LB膜であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載の直流駆動エレクトロルミネッセント・デバイス。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63115458A JPH01286289A (ja) | 1988-05-12 | 1988-05-12 | 直流駆動エレクトロルミネッセント・デバイス |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63115458A JPH01286289A (ja) | 1988-05-12 | 1988-05-12 | 直流駆動エレクトロルミネッセント・デバイス |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01286289A true JPH01286289A (ja) | 1989-11-17 |
Family
ID=14663052
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63115458A Pending JPH01286289A (ja) | 1988-05-12 | 1988-05-12 | 直流駆動エレクトロルミネッセント・デバイス |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01286289A (ja) |
-
1988
- 1988-05-12 JP JP63115458A patent/JPH01286289A/ja active Pending
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