JPH01286148A - 現像モニタ装置 - Google Patents

現像モニタ装置

Info

Publication number
JPH01286148A
JPH01286148A JP11614688A JP11614688A JPH01286148A JP H01286148 A JPH01286148 A JP H01286148A JP 11614688 A JP11614688 A JP 11614688A JP 11614688 A JP11614688 A JP 11614688A JP H01286148 A JPH01286148 A JP H01286148A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
diffracted light
laser beam
order
order diffracted
pattern
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP11614688A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2536056B2 (ja
Inventor
Yukio Tomizawa
富沢 幸雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP63116146A priority Critical patent/JP2536056B2/ja
Publication of JPH01286148A publication Critical patent/JPH01286148A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2536056B2 publication Critical patent/JP2536056B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、現像モニタ装置、特に、光ディスク原盤の現
像の進行をモニタする現像モニタ装置に関する。
〔従来の技術〕
従来の現像モニタ装置は、第4図に示すようにチャック
テーブル2に固着されスピンドル3により回転さh現像
されている光ディスク原盤1のパターン面にレーザ光a
を垂直に照射することにより得られる0次回折光すと1
次回針元Cとを検出する一対の検出器4,5と一対の検
出器4,5の電圧信号d、eを増幅して0次回折光強度
信号fと1次回折光強度信号gとする一対の増幅器8゜
9と、回折光比演算部11とを含んで構成されている。
回折光比演算部11は0次回折光強度信号fと、1次回
折光強度信号gとから回折光比g/fを演算し回折光比
信号りとして端子200に出方する。
端子200に出力さhる回折光比信号りが所望の回折光
比となったとき現像液の滴下を停止し、現像を終了する
。また、回折光比とグループ幅とは比例関係にあること
が公知でありモニタ位置でのグループ幅を一定とするこ
とができる。
しかしながら実際の露光においてはパターンの半径方向
で単位面積あたりの露光量に差が生じるために前記モニ
タ半径以外でグループ幅に差が生じることになる。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、このような上述した従来の現像モニタ装
置は、光ディスク原盤上の半径方向の−、点にレーザ光
を照射することにより、現像の進行に伴って得られる0
次回折光と1次回折光とを一対の検出器と増幅器とを用
いて光強度検出する構成となっているため、光ディスク
原盤上のパターン半径方向において単位面積あたりの露
光量が変化し回折光比信号が変化しても前記パターンの
半径方向の回折光比信号のモニタができないという欠点
があった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明や現像モニタ装置は、回転する光ディスク原盤の
パターン面上の半径方向に順次レーザビームを走査する
走査手段と、現像の進行に伴って前記パターン面から得
られる前記レーザビームの0次回折光と1次回折光とを
サンプリングする1対の検出器と、前記検出器を前記レ
ーザビームの走査と一致させて移動する移動ステージと
、前記検出器から得られる電圧信号を増幅する一対の増
幅器と、前記増幅器から得られる0次回折光強度信号と
一次回折光強度信号とから回折光比を演算する回折光比
演算部とを含んで構成される。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について、図面を参照して説明す
る。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
第1図に示す現像モニタ装置において、光ディスク原盤
1はチャックテーブル2に固着されスピンドル3により
回転されている。レーザビームa、〜anを光ディスク
原盤10半径方向に走査手段4により順次に走査しレー
ザビームaとしてレーザビームal、am、 a3.〜
.anを光ディスク原盤1のパターン面上に照射すhば
、これに応じた0次回折光すと1次回針元Cが得られる
ことになる。
また、0次回折光すは検出器5により、1次回針元Cは
検出器6によりそれぞれ検出される。検出器5,6は移
動ステージ8に固定され、レーザビームのa1〜a、の
走査手段4に一致して光ディスク原盤lの半径方向にモ
ータ7により順次移動される。
したがって、0次回折光すは検出器5によりサンプリン
グ検出され電圧信号dとして出力さh11次回折光0は
検出器6によりサンプリング検出され電圧信号eとして
出力される。
増幅器9は電圧信号dを増幅して0次回折光強度信号f
七して出力し、増幅器10は電圧信号eを増幅して1次
回折光強度信号gとして出力する。
回折光比演算部11は前記0次回折光強度信号fと、1
次回折光強度信号gとから回折光比を演算して回折光比
信号りとして端子200に出力される。
第2図は第1図に示す走査手段の一例を示す斜視図であ
る。
第2図に示す走査手段は、モータ21により回転される
ポリゴンミラー20にレーザビームaを照射しfθレン
ズ22と長尺ミラー23を介することによりレーザビー
ムaは順次走査されレーザビームal+ FLtp &
!+〜a、として光ディスク原盤1に照射される。
第3図は第1図に示す回折光比演算部から出力される回
折光比信号と光ディスク原盤のパターン半径との関係を
示すグラフであり、半径方向の内周γ2から外周γ、に
かけて単位面積あたりの露光量が一定の場合は、内周γ
2.中周γ1.外周γ3の回折光比信号りは一定値h1
となり直線30となるが、内周γ1の露光量が外周γ、
の露光量よりも小さいときは直線31となり、内周γ1
の露光量が外周γ、の露光量よりも大きいときは直線3
2となる。
したがって、本発明の現像モニタ装置を使用してパター
ン半径方向の回折光比信号を検出し、パターンの内周の
回折光比信号が外周の回折光比信号より大きいときは、
例えば現像液の滴下を外周に移動させてパターン内周の
現像進行をおされることにより、また、パターンの内周
の回折光比信号が外周の回折光比信号より小さいときは
、例えば純水の滴下を外周において行ない、パターン外
周の現像進行をおさえることによりパターン内外周にお
いて均一なグループ幅を作ることが可能となる。
〔発明の効果〕
本発明の現像モニタ装置は、光ディスク原盤のパターン
面上の同一半径方向にレーザビームを順次走査し、得ら
れる0次回折光と一次回折光とから回折光比を順次検出
することにより、光ディスク原盤上のパターン半径方向
において単位面積あたりの露光量が変化した場合にパタ
ーンの半径方向の回折光比信号の変化をモニタできると
いう効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
第1図に示す走査手段の一例を示す斜視図、第3図は第
1図に示す実施例における回折光比信号とパターン半径
との関係を示すグラフ、第4図は従来の一例を示すブロ
ック図である。 1・・・・・・光ディスク原盤、2・・・・・・チャッ
クテーブル、3・・・・・・スピンドル、4・・・・・
・走査手段、5,6・・・・・・検出器、7・・・・・
・モータ、8・・・・・・移動ステージ、9.10・・
・・・・増幅器、11・・・・・・回折光比演算部、2
0・・・・・・ポリゴンミラー、21・・・・・・モー
タ、22・・・・・・fθレンズ、23・・・・・・長
尺ミラー、30゜31.32・・・・・・直線、 Lr &l+ 62e a3+〜、a、”””レーザビ
ーム、b・・・・・・0次回折光、C・・・・・・1次
回折光、d。 e・・・・・・電圧信号、f・・・・・・0次回折光強
度信号、g・・・・・・1次回折光強度信号、h、h、
・・・・・・回折光比信号、γ、γ1.γ2.γ、・・
・・・・半径。 代理人 弁理士  内 原   音 てジ1町シ  ブ  1(?] こ−一フ 革任才 −

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  回転する光ディスク原盤のパターン面上の半径方向に
    順次レーザビームを走査する走査手段と、現像の進行に
    伴って前記パターン面から得られる前記レーザビームの
    0次回折光と1次回折光とをサンプリングする1対の検
    出器と、前記検出器を前記レーザビームの走査と一致さ
    せて移動する移動ステージと、前記検出器から得られる
    電圧信号を増幅する一対の増幅器と、前記増幅器から得
    られる0次回折光強度信号と1次回折光強度信号とから
    回折光比を演算する回折光比演算部とを含むことを特徴
    とする現像モニタ装置。
JP63116146A 1988-05-12 1988-05-12 現像モニタ装置 Expired - Fee Related JP2536056B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63116146A JP2536056B2 (ja) 1988-05-12 1988-05-12 現像モニタ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63116146A JP2536056B2 (ja) 1988-05-12 1988-05-12 現像モニタ装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01286148A true JPH01286148A (ja) 1989-11-17
JP2536056B2 JP2536056B2 (ja) 1996-09-18

Family

ID=14679884

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63116146A Expired - Fee Related JP2536056B2 (ja) 1988-05-12 1988-05-12 現像モニタ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2536056B2 (ja)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60212832A (ja) * 1984-04-09 1985-10-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd 円盤状記録担体現像モニタ−方法
JPS6198231U (ja) * 1984-12-01 1986-06-24
JPS61130032U (ja) * 1985-01-25 1986-08-14

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60212832A (ja) * 1984-04-09 1985-10-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd 円盤状記録担体現像モニタ−方法
JPS6198231U (ja) * 1984-12-01 1986-06-24
JPS61130032U (ja) * 1985-01-25 1986-08-14

Also Published As

Publication number Publication date
JP2536056B2 (ja) 1996-09-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3161891B2 (ja) ディスクチルト検出装置およびディスクチルト補正装置
JPH0315124B2 (ja)
JP2635608B2 (ja) 光学的情報記憶媒体検査装置
JPH01286148A (ja) 現像モニタ装置
JPH0242403B2 (ja)
JP2536055B2 (ja) 現像モニタ方法
JP2810121B2 (ja) 光ディスク用スタンパー検査装置
JPS6071903A (ja) 光ディスク検査装置
JP2674128B2 (ja) 粒度分布測定装置
JP3258904B2 (ja) 散乱光検出器
JP2734292B2 (ja) 現像モニタ装置
JPS62235511A (ja) 表面状態検査装置
JPS63196807A (ja) 光学式変位計測方法
JP2001108877A (ja) 光学ユニットの調整方法、光学ユニットの調整装置
JPH0338646Y2 (ja)
JPS62118243A (ja) 表面欠陥検査装置
JPS6217607A (ja) 光学式傾き検出装置
JPS63144428A (ja) 光デイスク記録再生装置のサ−ボ装置
JPH01286142A (ja) 現像モニタ方法
JPS62238403A (ja) 表面形状測定装置
JPS62219334A (ja) 光デイスクのトラツキング装置
JP2007018650A (ja) 光ディスク装置および光ディスク装置の制御方法
JPS60219644A (ja) 光デイスク芯振れ量測定装置
JPS62137541A (ja) 拡散反射測定方法
JPH0944978A (ja) 光デイスク検査装置及び光デイスク検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees