JPH01283576A

JPH01283576A - 画像形成装置

Info

Publication number: JPH01283576A
Application number: JP63112620A
Authority: JP
Inventors: Takashi Mama; 真間　孝; Masaaki Kogure; 小暮　雅明; Kenichiro Asada; 朝田　賢一郎; Naokatsu Fujioka; 藤岡　尚亘; Yoshio Kaneko; 金子　良雄
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 1988-05-11
Filing date: 1988-05-11
Publication date: 1989-11-15
Anticipated expiration: 2012-12-03
Also published as: JP2685799B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔技術分野〕本発明は、多値化パルス幅変調された画像形成信号によ
り駆動されるレーザービームによって、中間調画像を形
成する複写機、レーザープリンタ等の画像形成装置に関
する。

〔従来技術〕

まず、本発明の前提となる画像形成装置について述べる
。

第７図は、半導体レーザーを用いた書込光学系の一例を
示す斜視図である。１は半導体レーザー、２はポリゴン
ミラー、３は感光体ドラム、４はｆθレンズ、５は集光
レンズ、６はシリンドリカルレンズ、７はミラー、８は
書き出し位置を一定にするための光検知器である。

このような構成において、半導体レーザー１から出射さ
れたビームは集光レンズ５において平行ビームにされ、
この平行ビームはシリンドリカルレンズ６によりポリゴ
ンミラー２上に線状に集光される。ポリゴンミラー２で
反射されたビームはｆθレンズ４によって感光体ドラム
３上に結像させられ、ビームはポリゴンミラー２の回転
により感光体ドラム３上を走査する。

第８図は、第７図に示した書込光学系を備えた画像形成
装置の全体構成を説明する概略断面図である。図におい
て、１１は第７図に示した書込光学系をユニットとして
示す書込光学系ユニットであり、ユニットのビーム出射
部には防塵ガラス１７が備えられており、ユニットは密
閉構造になっている。１２は第７図に感光体ドラム３と
して示した感光体ドラム、１３は帯電器、１４は現像手
段、１５は転写紙、１６はクリーニング手段である。感
光体ドラム１２は図示されていない駆動手段により矢印
方向に回転させられ、帯電器１３により帯電される。そ
の後、書込光学系ユニット１１からのレーザービームに
より走査露光されて潜像が形成される。そして現像手段
１４により顕像化され、転写点において転写紙１５上に
像を転写する。また感光体ドラム１２上に残されたトナ
ーはクリーニング手段１６により除去される。

次に、レーザービームを変調するためのパルス幅変調方
式について説明する。

このパルス幅変調方式は、画像処理部より階調信号が入
力されると、予め用意された階調に対応するパルス幅の
変調信号により、半導体レーザーからレーザービームが
出射されるようにしたものである。

第９図は、２ビット並列信号線を階調信号に割り当て、
２ビツトにより４階調の出力を得る構成のブロック図で
ある。Ｄ１〜Ｄ４はデイレイライン、Ｇ１．、Ｇ２はＡ
ＮＤゲート、Ｇ３．Ｇ４はＯＲゲート、Ｓはセレクタ、
Ｄは半導体レーザー（Ｌ　Ｄ）駆動回路、１は半導体レ
ーザー（ＬＤ）である。

同図に示したパルス幅変調方式は、画素クロックＣＬ　
Ｋと、この画素クロックＣＬＫをデイレイラインで任意
時間遅延させたものの論理積または論理和をとる構成を
階調数（ここでは４種Ｍ）用意し、セレクタＳにより階
調信号に応じたパルス幅の出力を得、これをＬＤ駆動回
路りに与え、半導体レーザー（ＬＤ）１を駆動するもの
である。

第１０図、第１１図は、デイレイラインとＡＮＤゲート
、ＯＲゲートにより画素クロックＣＬＫから任意のパル
ス幅出力を得るための説明図で、第１Ｏ図（ａｌはデイ
レイラインとＡＮＤゲートによる構成図、同図（ｂ）は
その動作波形図、第１１図（ａｌはデイレイラインＤと
ＯＲゲートによる構成図、同図（ｂｌはその動作波形図
である。

第１０図において１、画素クロックＣＬＫ■とデイレイ
ラインＤ（遅延時間：ΔＴＩ）を通した遅延信号■をＡ
ＮＤゲートＧに入力することにより、（Ｔ−ΔＴＩ）の
パルス幅を持った信号◎を得ることが出来る。したがっ
て、ΔＴ１を任意に選ぶことにより、任意のパルス幅（
Ｔ−ΔＴ、）の信号◎を得ることが出来る。

第１１図において、画素クロックＣＬＫ■とデイレイラ
インＤ（遅延時間：ΔＴよ）を通した遅延信号■をＯＲ
ゲートＧに入力することにより、（Ｔ＋ΔＴｚ）のパル
ス幅を持った信号■を得ることが出来る。第１０図と同
様に、ΔＴ２を任意に選ぶことにより任意のパルス幅（
Ｔ＋ΔＴ２）の信号■を得ることが出来る。

上記した第１０図（ａ）、第１１図（ａ）に示した構成
を階調数に対応した数だけ持ち、これらの信号をセレク
タに入力、画像処理部から指示された階調信号により、
階調に応じたパルス幅の信号出力を得ることが出来る。

尚、第９図においては４階調の出力例を示したが、上記
回路構成及び階調信号のビット数を増やすことにより、
さらに高階調の出力が可能となる（例えば、８種類のパ
ルス幅を設定する設定回路及び３ビツトの階調信号を用
意することにより、８階調の出力が可能となる）。

次に感光体の経時変化について説明する。−例として、
ＯＰＣ感光体を使用し、ネガ−ポジ現像方式（露光部に
トナー像を形成する方式）を採用した場合について述べ
る。

第１２図は、感光体上の帯電電位Ｖ０が画像形成回数の
増加に伴って変化する様子を示したものであり、帯電電
位Ｖ。は画像形成回数の増加に伴って減少する。また、
第１２図にはパルス幅Ｔｌ。

Ｔ２．Ｔ３　（ＴＩ＜Ｔ２＜７３）で感光体上をビーム
露光したときの露光後電位ＶＴＩ＋　　ＶＴＺ＋　　Ｖ
Ｆ３の経時変化についても示しである。第１２図を見て
わかるように露光後電位Ｖ、、、Ｖア２＋　　ＶＦ３の
変化量は、帯電電位Ｖ。の変化量と異なる。すなわち、
短いパルス幅Ｔｌ、Ｔ２で露光したときの露光後電位ｖ
ｔ＋、　　ｖｔ□の変化量は、帯電電位■。の変化量よ
り大きい（但し、Ｖア、に比べるとＶＦ６の変化量の方
が大きい）。また、長いパルス幅Ｔ３で露光したときの
露光後電位ＶＴ３はあるところからほぼ一定となる。そ
の結果、各パルス幅で露光された部分の画像の濃度は、
初期と画像形成回数を重ねたときで第１３図に示すよう
に変化する。

図中のａは経時特性、ｂは初期特性である。すなわち、
これは経時的に画像の濃度上昇、画像の階調再現性の低
下となり、画質を低下させることになる。

この不具合を解消するため、従来、画像形成回数や感光
体の疲労を検出し、その値に応じ現像バイアス電圧を制
御する方式があった。

しかし、この方式では全体の（濃度の低いところから高
いところまでの）濃度を一様に変化させることは出来る
が、階調性を変化させることは出来なかった。

また、レーザービーム出力を変化させて、画像濃度を変
える方式も知られている。この方式においても常に良好
な画像品質を得るという訳には行かないが、経時的に画
像の濃度が上がったいった場合、ビームの出力を下げる
ことにより画像の濃度を下げる方が感光体の疲労を緩和
することになり、現像バイアスを変えるよりも有効であ
る。

〔目的〕

本発明はこのような背景に基づいてなされたものであり
、レーザービームの出力及びパルス幅の設定値（ビーム
点灯時間）を変更することにより、階調性や濃度の変化
を防止し、良好な画質を得ることが出来る画像形成装置
を提供することを目的とする。

〔構成〕

この目的のために本発明は、感光体の疲労度を検出し、
その検出出力信号によりレーザービームの出力及びパル
ス幅設定値を制御することを特徴とするものである。

本発明の詳細な説明する前に、まず感光体の疲労度を検
出する方法について説明する。

第４図は画像形成装置内に感光体ドラム１２の表面電位
を検出する表面電位検出器１８を備えた例を示したもの
である。図において、表面電位検出器１８は感光体ドラ
ム１２上のビーム照射点Ｐ。

と帯電器１３の間に設けられており、表面電位検出器１
８により帯電電位■。を検出でき、第１２図に示した帯
電電位Ｖ０の変化、すなわち感光体の疲労度を知ること
が出来る。

第５図は、第４図とは別の感光体の疲労度を検出する方
法について説明するための図である。図において１９は
反射濃度検出器であり、現像点Ｐ２と転写点Ｐ、との間
の位置に感光体ドラム１２に近接して配置されている。

そしてこの反射濃度検出器Ｉ９によりビーム非露光部（
地肌部）の反射濃度を検出し、感光体の疲労を知ること
が出来る。

この点につき、以下詳述する。

感光体は、長時間の使用（感光体の経時の疲労、感光体
の膜けずれ等が原因である）により帯電電位■。が低下
してくる。その結果、現像バイアスを初期と同一の値に
設定していた場合、帯電電位Ｖ０がある値以下になると
、ビーム露光しない部分（地肌部）にもトナーが付着し
てくる。

第６図は、感光体の電位と感光体上に付着するトナー量
との関係を示したものである（反射濃度検出器１９は、
検出器より出射された光の反射光量を検出するものであ
り、トナー付着量が増えた場合、反射光量は低下してく
る）、すなわち、感光体の長時間の使用により帯電電位
がほぼ現像バイアスと同じ値またはそれ以下になると、
感光体上のトナー付着量が増大してくる。よってＩ・ナ
ー付着Ｍ（反射濃度）を検出することより、帯電電位の
低下、すなわち、感光体の疲労を知ることが出来る。

第１図は、本発明の一実施例を説明するための画像形成
装置全体の系統図である。

第４図で説明した表面電位検出器１８．電位検出回路２
０により、帯電電位Ｖゆを検出する。そして、初期の帯
電電位Ｖ０に対し経時的に帯電電位がＶｏ　′に下がっ
たとすると、その下がり幅ΔＶ、（＝Ｖ。−ｖｏ　′）
に応じ、低濃度部（パルス幅の短い範囲）における画像
濃度が初期の画像濃度の同じになるように、レーザービ
ーム出力変更回路２１によりレーザービームの出力を下
げる。

そのときの画像濃度の階調特性を第２図のａ（破線）に
示す。ｂ（実線）は初期特性である。

第２図かられかるように、レーザービームの出力を下げ
ることにより、全体的に（低濃度部から高濃度部にかけ
て）濃度が下がる。そして低濃度部における階調特性は
、初期の階調特性とほぼ同じとすることは出来るが、し
かし高濃度部における階調特性は初期の階調特性とは一
致しない。

そこでさらに高濃度部（パルス幅の長いところ）におけ
るパルス幅を、パルス幅設定回路２２゜セレクタＳ、Ｌ
Ｄ駆動回路りを通じて初期よりも短くすることにより、
濃度の高い領域における階調特性も初期の階調特性とほ
ぼ同じに出来る。

−例として、初期の帯電電位ニーａｏｏｖが経時的に一
７００Ｖに低下したときの半導体レーザー　（ＬＤ）の
出力とパルス幅の変化を表に示す。

表但し、画素密度；１６本／　ｍ　ｍ感光体線速；９０ｍｍ／ｓ有効走査期間率；７１．５％画素クロック；１０ＭＨｚ１画素点灯幅；１００ｍ５が条件となる。

ここで感光体の地肌部の状態を検出する検出手段からの
出力に応じてビームの出力を変更する方法について以下
に補足説明する。

尚、第７図、第８図等と共通の装置であっても別符号を
付しである。

まず、第１４図に本発明が適用されるレーザープリンタ
の構成の一例を示す。半導体レーザー１０１より出射さ
れたレーザービームはコリメートレンズ１０２によりコ
リメートされ、回転多面鏡よりなる光走査装置１０３で
偏向され、ｆθレンズ４により感光体１０５の帯電され
た表面に結像される。この結像スポットが光走査装置１
０３の回転に従い、矢印×方向なる主走査方向に反復し
て移動すると同時に、感光体１０５が回転して副走査す
る。光検出器１０６は感光体１０５の軸心方向において
情報書込み領域外に設けられ、光走査装置１０３で偏向
されたレーザービームを検出して同期信号（ライン同期
信号ＬＳＹＮＣ）を発生させる。信号処理回路１０７は
情報信号（ビデオデータ）を半導体レーザー駆動回路１
０８に印加するが、そのタイミングを光検出器１０６か
らの同期信号により制御する。

一方、半導体レーザー駆動回路１０８は信号処理回路１
０７からの情報信号に応じて半導体レーザー１０１を駆
動する。従って、情報信号で変調されたレーザービーム
が感光体１０５上に照射されて静電潜像が形成される。

この静電潜像は現像器（図示せず）により現像され、転
写器（図示せず）により祇になど転写される。

また、半導体レーザー１０１から後方に出射されるレー
ザービームは光検出手段としての光検出器１０９に入射
し、その光強度が検出される。この光検出器】０９の出
力信号に応じて制御手段としての制御回路１１０が半導
体レーザー駆動回路１０８を制御して半導体レーザー１
０１の出力光量が一定となるように制御する。ここに、
半導体レーザー１０１から後方に出射されるレーザービ
ームを光検出器１０９に入射させて、その光強度を検出
させるようにしている。この方式によれば、前方に出射
されるレーザービームの一部を光検出器に導く光強度検
出方式のように実際に利用出来るレーザービームの光強
度を低下させることがなく、有利である。

次に、制御回路１１０の詳細な構成を第１５図のブロッ
ク図に示す。まず、出力制御動作を開始させるためのタ
イミング信号Ｔ、が入力されると、ＪＫフリップフロッ
プ１１６がクリアされ、その出力信号がＬレベルになる
ことによりアップダウンカウンタ１１７のカウント動作
を許可する。比較手段としての比較器１１２の出力信号
はＤフリップフロップ１１３で発振器１１８からのクロ
ック信号によりラッチされ、このＤフリップフロップ１
１３の出力信号はアップダウンカウンタ１１７に計数モ
ード信号として加えられ、この計数モードを制御すると
同時にＤフリップフロップ１１４で発振器１１８からの
クロック信号によりラッチされる。Ｄフリップフロップ
１１３の非反転出力及びＤフリップフロップ１１４の反
転出力はノア回路１１５に入力され、このノア回路１１
５の出力信号によりＪＫフリップフロップＩ工６がセッ
トされる。

光検出器１０９により検出され増幅器１１１でｉｒＩ幅
されたレーザービームの強度に比例した出力は、比較器
１１２で基準電圧Ｖｒｅｆと比較され、その比較結果に
応じて比較器１１２からは高レベルまたは低レベルの信
号が出力される。例えば、比較器１１２の出力が高レベ
ル（すなわち、半導体レーザー１０１の光出力が基準電
圧Ｖｒｅｆより大）の場合に、タイミング信号Ｔ１によ
りアップダウンカウンタ１１７のカウント動作が許可さ
れると、アップダウンカウンタ１１７はＤフリップフロ
ップ１１３の高レベル出力によりダウンカウンタとして
動作する。そして、アップダウンカウンタ１１７の出力
はデジタルアナログ変換器１１９でアナログ出力に変換
され、その出力に応じて半導体レーザー駆動回路１０５
から半導体レーザー１０１への電流が変化する。よって
、この場合は半導体レーザー１０１の駆動電流が減少し
、増幅器１１１の出力電圧が低下する。そして、比較器
１１２の出力が高レベルから低レベルに反転すると、Ｄ
フリップフロップ１１３の出力が低レベルになってノア
回路１１５の出力が高レベルになり、ＪＫフリップフロ
ップ１１６がセットされてアップダウンカウンタ１１７
のカウント動作を禁止する。

一方、比較器１１２の出力が低レベル（すなわち、半導
体レーザー１０１の光出力が基準電圧Ｖｒｅｆより小）
の場合に、タイミング信号Ｔ＋によりアップダウンカウ
ンタ１１７のカウント動作が許可されると、アップダウ
ンカウンタ１１７はＤフリップフロップ１１３の低レベ
ル出力によりアップカウンタとして動作する。そして、
アップダウンカウンタ１１７の出力はデジタルアナログ
変換器１１９でアナログ出力に変換され、その出力に応
じて半導体レーザー駆動回路１０８から半導体レーザー
１０１への電流が変化する。よって、この場合は半導体
レーザー１０１の駆動電流が増加し、増幅器１１１の出
力電圧が上昇する。そして、比較器１１２の出力が低レ
ベルから高レベルに反転すると、Ｄフ、リップフロップ
１１３の出力が高レベルとなる。これにより、アップダ
ウンカウンタ１１７がダウンカウンタとして動作するよ
うになる。このときノア回路１１５の出力は低レベルの
ままで、ＪＫフリップフロップ１１６がリセットされず
、アップダウンカウンタ１１７はカウント動作が許可さ
れたままである。すなわち、アップダウンカウンタ１１
７は半導体レーザー１０１の光出力が増加して基準電圧
Ｖｒｅｆを越えたときにはカウント動作禁止とはならず
、半導体レーザー１０１の光出力が減少して基準電圧Ｖ
ｒｅｆを越えたときに初めてカウント動作禁止となる。

したがって、半導体レーザー１０１の保持電流は常に一
定となる。

上側とは逆に、アップダウンカウンタ１１７は半導体レ
ーザー１０１の光出力が減少して基準電圧Ｖｒｅｆを越
えたときには、カウント動作禁止とはならず、半導体レ
ーザー１０１の光出力が増加し基準電圧Ｖ　ｒｅｆを越
えたときにカウント動作禁止となるように設定しても半
導体レーザー１０１の保持電流は常に一定に維持される
。

すなわち、第１５図において枠１２０で囲んで示す部分
は、比較器１１２からの出力の変わり目を検出し、アッ
プダウンカウンタ１１７のカウント動作を許可しまたは
禁止するエツジ検出回路に相当する。上述のように増幅
器１１１の出力電圧が基準電圧Ｖｒｅｆを基準として一
定値となるように半導体レーザー１０１からの光出力を
制御する（光出力は常に一定値に保持される）。

このように例えばカウンタとＤ／Ａコンバータを利用し
てなり、このような出力制御手段は、例えば特開昭６０
−１７１．８６３号公報、特開昭６１−１７４７８６号
公報、特開昭６１−１７４７８７号公報等に開示されて
いるものである。

あるいは、上記回路構成とは別の方式でビーム出力を安
定化する方法を次に例示する。

第１６図に示すように、すべてをアナログ回路により構
成したものであっても同様に適用出来る。

すなわち、半導体レーザー１２１から射出されたレーザ
ービームは光検出手段としての光検出器１２２により受
光されてその光強度が検出される。

この光検出器１２２の検出信号は増幅器１２３により増
幅され、比較手段としての比較器１２４により基準電圧
Ｖｒｅｆと比較され、比較結果として誤差信号が出力さ
れる。制御手段としてのサンプルホールド回路１２５は
パワーチエツクを指示するタイミング信号Ｔ、により比
較器１２４からの誤差信号を保持し、レーザー駆動回路
１２６に出力する。このレーザー駆動回路１２６はサン
プルホールド回路１２５からの信号に応じて半導体レー
ザー１２１に与える電流値を増減して光強度を一定にす
るものである。

以上、第１５図および第１６図で説明した例では、光ビ
ーム強度はいずれも増幅器（１１１および１３１）から
の出力がＶ　ｒｅｆに一致するよう制御されることによ
り、設定された光ビーム強度に一定化される。したがっ
て、Ｖｒｅｆを変化させると、その値に応じて制御され
る光ビーム強度も変化する。

本発明においては、感光体の地肌部の状態を検出する検
出手段からの出力に応じて、上記Ｖｒｅｆを調整するこ
とにより、感光体の地肌部の状態の変化による画像変化
の補正をすることが可能である。

例えば、簡単には第１７図に示すように、セレクタ１３
４に複数の設定電圧を入力し、このうちの１つを感光体
の地肌部の状態を検出する検出手段からの検出信号に応
じてＶ　ｒｅｆとして選択出力する方法でも良い。

あるいは、さらに検出手段からの検出出力を演算手段に
入力し、演算処理した出力信号により、セレクタ１３４
の出力を選択するようにすれば、より感光体の状態変化
に細かく対応した光ビーム強度の補正が可能となる。

例えば、第１８図（ａｌの例は、検出信号をＡ／Ｄ変換
器１３５でデジタルデータとし、セレクタ１３６に入力
する。セレクタデータは、電圧設定回路１３７により、
予め準備された複数の電圧とし、Ａ／Ｄ出力に応じて、
そのうちの１つの電圧がＶｒｅｆとして出力される。

この場合、上記複数の電圧出力は、各々独立に設定が可
能であっても良い。

あるいは、第１８図（ｂ）に例示する構成では、検出信
号をＡ／Ｄ変換器１３８でデジタルデータに変換する。

この出力は、例えば、記憶手段（ＲＯＭ１３９など）に
入力される。その記憶手段１３９には入力データに対す
る出力データ、感光体の悟性などに応じて決まったデー
タが記憶されており、Ａ／Ｄからの出力によりアドレシ
ングされ、新たなデータを出力する（補正曲線に応じた
データを出力する）。これはさらにＤ／Ａ変換器１４０
でアナログ信号に変換される。この出力をＶｒｅｆとし
て使う。

このような構成は第１７図に比べて多少複雑であるが、
感光体の特性などに柔軟に対応することが出来るため、
より忠実な画像再現が可能となる。

次に、第３図にパルス幅の設定値を変えるパルス幅設定
回路のブロック図を示す。第９図に示したブロック図と
異なる点は、パルス幅Ｔ３．Ｔ４を得る回路の途中に遅
延時間変更回路を設けたところである。電位検出信号を
遅延時間変更回路ｄ３、ｄ４に入力し、デイレイライン
Ｄ３．Ｄ４の遅延時間を変更することにより、パルス幅
Ｔ３゜Ｔ４を変えることが出来る。

〔効果〕

以上、本発明によれば、感光体の長期間使用による感度
劣化等に伴う形成画像の階調性や濃度の変化を防止し、
あるいは低減することが出来る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例に係る画像形成装置全体の系
統図、第２図は同、画像濃度の階調特性図、第３図は同
、パルス幅設定回路のブロック図、第４図、第５図は感
光体の疲労度を検出する異なる構成を示す図７．第６図
は感光体の電位とトナー量との関係を示す図、第７図は
レーザー書込光学系の斜視図、第８図は従来例に係る画
像形成装置の概略図、第９図はレーザービームのパルス
幅変調方式の一例を示すブロック図、第１０図、第１１
図はその詳細を示す図であり、（ａ）はブロック図、（
ｂｌはタイムチャート、第１２図は感光体表面電位の経
時劣化特性を示す図、第１３図は従来例に係る画像濃度
の階調特性図、第１４図以下はレーザービーム出力を変
更する方式を補足説明するための図であり、第１４図は
レーザープリンタ構成図、第１５図はその制御回路図、
第１６図はビーム出力安定化ブロック図、第１７図、第
１８図ｆａｔ、　（ｂ）はビーム強度の基準値を選択す
る方式の各側を示す図である。１８・・・表面電位検出器、１９・・・反射濃度検出器
、２０・・・電位検出回路、２１・・・レーザービーム
出力変更回路、２２・・・パルス幅設定回路、ｄ３．ｄ
４・・・遅延時間変更回路。第　１　図第２図／ｌ’ｌレスＴ昌シヨ第４図第５図Ｐ＋　ＰＩＰ２第６図ム枢を体電征第７図第８図第１０図（Ｑ）（ｂ）Ｔ−ΔＴ１第１１Σ （ａ）（ｂ）第１２図面４ｊ、Ｙ／ｎ口叔　− ／ｌ’ルス↑１第１４図第１６図第１８図（ＣＩ）１キ５泄治信号

Claims

【特許請求の範囲】

（１）画像信号を多値化パルス幅変調して画像形成信号
を生成し、前記画像形成信号に対応して駆動されたレー
ザービームを感光体上に照射して、この感光体上に静電
潜像を形成し、この静電潜像を現像手段により顕像化し
、さらにこの顕像を転写紙に転写する電子写真方式の画
像形成装置において、感光体上の地肌部の状態を検出す
る検出手段、該検出手段の出力信号によりレーザービー
ムの出力を変化させるレーザービーム出力変更手段、及
び同じく前記検出手段の出力信号により前記多値化パル
ス幅変調のパルス幅の設定値を変更するパルス幅変更手
段とを備えたことを特徴とする画像形成装置。
（２）前記検出手段が、感光体上の帯電電位を検出する
電位検出手段であることを特徴とする請求項（１）記載
の画像形成装置。
（３）前記検出手段が、感光体上の地肌部の濃度を検出
する反射濃度検出手段であることを特徴とする請求項（
１）記載の画像形成装置。