JPH01281762A - Semiconductor device - Google Patents

Semiconductor device

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JPH01281762A
JPH01281762A JP63111244A JP11124488A JPH01281762A JP H01281762 A JPH01281762 A JP H01281762A JP 63111244 A JP63111244 A JP 63111244A JP 11124488 A JP11124488 A JP 11124488A JP H01281762 A JPH01281762 A JP H01281762A
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diode
speed
connection terminal
internal connection
diode chips
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Noriyoshi Arai
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Abstract

PURPOSE:To decrease the required number of internal connection terminals and miniaturize a semiconductor device by mounting two diode chips on a common internal connection terminal, while making the vertical relations to the anode and cathode in respective diode chips have the opposite directions each other with respect to a pair of the diode chips which are adjacent each other in the same direction and in a sequential connection. CONSTITUTION:Out of three speed-up diode chips D1-D3 which are used for increasing a response rate, a diode chip D1 connects its cathode side to an electrode terminal for signals 4 and a diode chip D2 connects its anode side to an internal connection terminal 5 and then, a diode chip D3 connects its cathode side onto the internal connection terminal 5. In other words, the internal connection terminal 5 is used in common for a connection terminal in two diode chips D2 and D3 and then, the vertical relations to the anode and cathode in respective a pair of diode chips D2 and D3 have the opposite directions each other. Thus, the diode chips D2 and D3 have reverse characteristics each other in the state of these configurations. In this way, it is enough for this device to have only one internal connection terminal 5.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、多段ダーリントン・トランジスタを含む半
導体チップと、多段ダーリントン・トランジスタの応答
速度を上げるために半導体チップのそれぞれのベース間
に同方向かつ順次に接続されたスピードアップ用ダイオ
ードチップとを備えた半導体装置に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention relates to a semiconductor chip including a multi-stage Darlington transistor, and a structure in which the bases of the semiconductor chip are connected in the same direction and in order to increase the response speed of the multi-stage Darlington transistor. The present invention relates to a semiconductor device including speed-up diode chips connected in sequence.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第3図は、この種の半導体装置の従来例の1つである電
力用トランジスタ・モジュールの内部結線構造を示す平
面図であり、第4図はその電力用トランジスタ・モジュ
ールの等価回路を示す回路図である。第3図において、
絶縁基板1は図示しない放熱ベース板上に接合されてい
て、その絶縁基板1上には半導体チップ2と、モジュー
ルの外部に向けて延設される主電流用電極端子3および
信号用電極端子4と、モジュール内に限られる内部結線
端子5,6とが接合されている。半導体チップ2の詳細
内部構造は図示していないが、この半導体チップ2によ
って、第4図に示す4つのトランジスタQ1.Q2.Q
3.Q4からなる4段ダーリントン・トランジスタが形
成されている。
FIG. 3 is a plan view showing the internal wiring structure of a power transistor module, which is one of the conventional examples of this type of semiconductor device, and FIG. 4 is a circuit showing an equivalent circuit of the power transistor module. It is a diagram. In Figure 3,
The insulating substrate 1 is bonded to a heat dissipation base plate (not shown), and on the insulating substrate 1 are a semiconductor chip 2, a main current electrode terminal 3 and a signal electrode terminal 4 extending toward the outside of the module. and internal connection terminals 5 and 6, which are limited within the module, are joined. Although the detailed internal structure of the semiconductor chip 2 is not shown, this semiconductor chip 2 allows the four transistors Q1 . Q2. Q
3. A four-stage Darlington transistor consisting of Q4 is formed.

また、隣り合う各トランジスタのベース間に接続され、
4段ダーリントン・トランジスタの応答速度を上げるの
に用いられる3つのスピードアップ用ダイオードチップ
[)1.02.D3が、各々のカソード側を信号用電極
端子4.内部結線端子5a、5bにそれぞれ半田付けし
て接続されている。
It is also connected between the bases of adjacent transistors,
Three speed-up diode chips used to increase the response speed of a four-stage Darlington transistor [)1.02. D3 connects each cathode side to a signal electrode terminal 4. They are connected to internal connection terminals 5a and 5b by soldering, respectively.

半導体チップ2上には各トランジスタQ1〜Q4のベー
スB1.B2.83.84に対応する4つのパッド領域
b1.b2.b3.b4が形成され、パッド領域b1は
アルミワイヤからなる内部リード線7aによって信号用
電極端子4に、パッド領域b2は内部リード線7bによ
ってスピードアップ用ダイオードD1のアノード側に、
パッド領域b3は内部リード線7cによってスピードア
ップ用ダイオードD2のアノード側に、パッド領域b4
は内部リード線7dによってスピードアップ用ダイオー
ドD3のアノード側にそれぞれ接続され、さらにスピー
ドアップ用ダイオードD1のアノードは内部リード線7
eによって内部リード線5に、スピードアップ用ダイオ
ードD2のアノードは内部リード線7fによって内部リ
ード[16に接続されている。また、半導体チップ2上
の一部分8は第4図におけるトランジスタQ4のエミッ
タEに相当しており、この部分8に形成されたパッド領
域eは内部リード線7gによって主電流用電極端子3に
接続されている。第4図における各トランジスタQ1〜
Q4のコレクタCに相当する半導体チップ2の一部も、
別の図示しない主電流用電極端子に電気的に接続されて
いる。
On the semiconductor chip 2 are bases B1 . Four pad areas b1.corresponding to B2.83.84. b2. b3. b4 is formed, the pad region b1 is connected to the signal electrode terminal 4 by the internal lead wire 7a made of aluminum wire, and the pad region b2 is connected to the anode side of the speed-up diode D1 by the internal lead wire 7b.
The pad region b3 is connected to the anode side of the speed-up diode D2 by the internal lead wire 7c.
are connected to the anode side of the speed-up diode D3 by the internal lead wire 7d, and the anode of the speed-up diode D1 is connected to the internal lead wire 7.
The anode of the speed-up diode D2 is connected to the internal lead 5 by e, and the anode of the speed-up diode D2 is connected to the internal lead [16 by internal lead 7f. Further, a portion 8 on the semiconductor chip 2 corresponds to the emitter E of the transistor Q4 in FIG. 4, and a pad region e formed in this portion 8 is connected to the main current electrode terminal 3 by an internal lead wire 7g. ing. Each transistor Q1~ in FIG.
A part of the semiconductor chip 2 corresponding to the collector C of Q4 is also
It is electrically connected to another main current electrode terminal (not shown).

放熱ベース板上に設けられた以上の各部材は、放熱ベー
ス板上に別に設けられる図示しない樹脂ケースによって
全体を囲まれ、その樹脂ケース内にエポキシ系樹脂を注
入固形化して封止され電力用トランジスタ・モジュール
とされる。
Each of the above-mentioned members provided on the heat dissipation base plate is entirely surrounded by a resin case (not shown) provided separately on the heat dissipation base plate, and is sealed by injecting and solidifying epoxy resin into the resin case. Considered to be a transistor module.

上記した電力用トランジスタ・モジュールの内部結線構
造において、パッド領域b4は内部リード線7dを介し
てスピードアップ用ダイオードD3のアノードに接続さ
れ、そのダイオードD3のカソードは内部結線端子6.
内部リード線7f。
In the internal wiring structure of the power transistor module described above, the pad region b4 is connected to the anode of the speed-up diode D3 via the internal lead wire 7d, and the cathode of the diode D3 is connected to the internal wiring terminal 6.
Internal lead wire 7f.

7Cを介してパッド領域b3に接続されるため、第4図
に示すようにトランジスタQ4.Q3のベース84.B
3fllにスピードアップ用ダイオードDが介挿された
ことになる。またパッド領域b3は内部リード線7Cを
介してスピードアップ用ダイオードD2のアノードに接
続され、そのダイオードD2のカソードは内部結線端子
5.内部リード線7e、7bを介してパッド領域b2に
接続されるため、第4図に示すようにトランジスタQ3
゜Q2のベース83.82間にスピードアップ用ダイオ
ードD2が介挿されたことになる。さらにパッド領域b
2は内部リード線7bを介してスピードアップ用ダイオ
ードD1のアノードに接続され、そのダイオードD1の
カソードは信号用電極端子4、内部リード線7aを介し
てパッド領域b1に接続されるため、第4図に示すよう
にトランジスタQ2.Qlのベース82.81間にスピ
ードアップ用ダイオードD1が介挿されたことになる。
7C to pad region b3, transistor Q4.7C is connected to pad region b3 as shown in FIG. Q3 base 84. B
This means that the speed-up diode D is inserted at 3fll. Further, the pad region b3 is connected to the anode of the speed-up diode D2 via the internal lead wire 7C, and the cathode of the diode D2 is connected to the internal connection terminal 5. Since it is connected to the pad region b2 via the internal lead wires 7e and 7b, the transistor Q3
This means that the speed-up diode D2 is inserted between the bases 83 and 82 of Q2. Furthermore, pad area b
2 is connected to the anode of the speed-up diode D1 via the internal lead wire 7b, and the cathode of the diode D1 is connected to the signal electrode terminal 4 and the pad area b1 via the internal lead wire 7a. As shown in the figure, transistor Q2. This means that the speed-up diode D1 is inserted between the bases 82 and 81 of Ql.

一方、スピードアップ用ダイオードD3のカソードは内
部結線端子6.内部リード線7fを介してスピードアッ
プ用ダイオードD2のアノードに接続され、またダイオ
ードD2のカソードは内部結線端子5.内部リード線7
eを介してスピードアップ用ダイオードD1のアノード
に接続されるため、第4図に示すように3つのスピード
アップ用ダイオードD1〜D3は互いに同方向に直列に
接続されたことにもなる。
On the other hand, the cathode of the speed-up diode D3 is connected to the internal connection terminal 6. It is connected to the anode of the speed-up diode D2 via the internal lead wire 7f, and the cathode of the diode D2 is connected to the internal connection terminal 5. Internal lead wire 7
Since it is connected to the anode of the speed-up diode D1 through E, the three speed-up diodes D1 to D3 are also connected in series in the same direction as shown in FIG.

したがって、第4図に示す4段ダーリントン・トランジ
スタでは、各トランジスタ01〜Q4のオフ動作におい
て、トランジスタQ4のベースB4に蓄積された電荷は
スピードアップ用ダイオードD3を通じて′ri流i流
上3て、トランジスタQ3のベースB3に蓄積された電
荷はスピードアップ用ダイオードD2を通じて電流12
として、トランジスタQ2のベースB2に蓄積された電
荷はスピードアップ用ダイオードD1を通じて電流11
としてそれぞれ信号用電極端子4へと引き扱かれ、応答
速度が早められる。
Therefore, in the four-stage Darlington transistor shown in FIG. 4, when each of the transistors 01 to Q4 is turned off, the charge accumulated in the base B4 of the transistor Q4 flows up through the speed-up diode D3 as follows: The charge stored in the base B3 of the transistor Q3 flows through the speed-up diode D2 to a current of 12
, the charge accumulated on the base B2 of transistor Q2 flows through the speed-up diode D1 to a current 11
The signals are respectively handled as signal electrode terminals 4, and the response speed is increased.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかしながら、上記構成の半導体装置では、4段ダーリ
ントン・トランジスタに3つのスピードアップ用ダイオ
ードD1〜D3を接続するために、信号用電極端子4の
ほかに2つの内部結線端子5゜6が必要で、H置が大形
化するという問題点があった。
However, in the semiconductor device having the above configuration, in order to connect the three speed-up diodes D1 to D3 to the four-stage Darlington transistor, two internal connection terminals 5 and 6 are required in addition to the signal electrode terminal 4. There was a problem in that the H position became large.

この発明は、このような問題点を解消するためになされ
たもので、多段ダーリントン・トランジスタにスピード
アップ用等のダイオードを接続するための内部結線端子
の数を少なくして装置を小形化できる半導体装置を得る
ことを目的とする。
This invention was made in order to solve these problems, and it is a semiconductor that can miniaturize the device by reducing the number of internal connection terminals for connecting speed-up diodes to multi-stage Darlington transistors. The purpose is to obtain equipment.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

この発明に係る半導体装置は、段数が3段以上の多段ダ
ーリントン・トランジスタを含む半導体チップと、前記
多段ダーリントン・トランジスタのそれぞれのベース電
極間に同方向かつ順次に接続された複数のダイオードと
を備えた半導体装置であって、前記複数のダイオードチ
ップのうち、前記順次の接続において互いに隣接するダ
イオードチップ対を、それらのアノードとカソードとの
関係を互いに逆向きとしつつ共通の内部結線端子上に設
けることにより、前記ダイオードチップ対の間の電気的
接続が行なわれている。
A semiconductor device according to the present invention includes a semiconductor chip including a multi-stage Darlington transistor having three or more stages, and a plurality of diodes sequentially connected in the same direction between base electrodes of each of the multi-stage Darlington transistors. In the semiconductor device, among the plurality of diode chips, pairs of diode chips adjacent to each other in the sequential connection are provided on a common internal connection terminal with their anodes and cathodes in opposite directions. This provides an electrical connection between the pair of diode chips.

〔作用〕[Effect]

この発明においては、順次の接続において互いに隣接す
るダイオードチップ間の相互接続が共通の内部結線単位
を介してなされることにより、内部結線端子の必要個数
が少なくなる。
In the present invention, the required number of internal wiring terminals is reduced by interconnecting adjacent diode chips in the sequential connection through a common internal wiring unit.

(実施例) 第1図はこの発明による半導体装置の一実施例である電
力用トランジスタ・モジュールの内部結線構造を示す平
面図であり、第2図はその電力用トランジスタ・モジュ
ールの等価回路を示す回路図である。第1図において、
1〜5.7Q、8゜b1〜b3.eは上記従来装置と全
く同一のものであり、半導体チップ2に形成されている
4段ダーリントン・トランジスタも第2図に示すように
従来装置と全く同一である。
(Embodiment) FIG. 1 is a plan view showing the internal wiring structure of a power transistor module which is an embodiment of the semiconductor device according to the present invention, and FIG. 2 shows an equivalent circuit of the power transistor module. It is a circuit diagram. In Figure 1,
1-5.7Q, 8°b1-b3. e is exactly the same as the conventional device, and the four-stage Darlington transistor formed on the semiconductor chip 2 is also exactly the same as the conventional device as shown in FIG.

このモジュールでは、4段ダーリントンφトランジスタ
の隣り合う各トランジスタのベース間に接続され、その
応答速度を上げるのに用いられる3つのスピードアップ
用ダイオードチップD1゜D2.D3のうち、ダイオー
ドD1はそのカソード側を信号用電極端子4に、ダイオ
ードD2はそのアノード側を内部結線端子5に、またダ
イオードD3はそのカソード側を内部結線端子5上にそ
れぞれ半田付けして接続されている。すなわち、内部結
線端子5は2つのダイオードD2.D3の結線端子に共
用されており、このダイオードチップ対D2.D3のそ
れぞれにおけるアノードとカソードとの上下関係は互い
に逆向きとなっている。
In this module, three speed-up diode chips D1, D2, . Among the diode D3, the cathode side of the diode D1 is soldered to the signal electrode terminal 4, the anode side of the diode D2 is soldered to the internal connection terminal 5, and the cathode side of the diode D3 is soldered to the internal connection terminal 5. It is connected. That is, the internal connection terminal 5 has two diodes D2. This diode chip pair D2. The vertical relationship between the anode and cathode in each of D3 is opposite to each other.

換言すれば、ダイオードチップD2.D3は、それらの
配置状態において、互いに逆特性となっている。したが
って、内部結線端子5は1つで足りることになる。
In other words, diode chip D2. D3 have opposite characteristics to each other in their arrangement state. Therefore, one internal connection terminal 5 is sufficient.

そして、4段ダーリントン・トランジスタの4つのトラ
ンジスタQ1.Q2.Q3.Q4のベース81.82.
83.B4に対応する半導体チップ2上の各々のパッド
領域b1.b2.b3.b4のうち、パッド領域b1は
アルミワイヤからなる内部リード線9aによって信号用
電極端子4に、パッド領域b2は内部リード線9bによ
ってスピードアップ用ダイオードD1のアノード側に、
パッド領域b3は内部リード線9Cによって内部結線端
子5に、パッド領域b4は内部リード線9dによってス
ピードアップ用ダイオードD3のアノード側にそれぞれ
接続されている。さらにスピードアップ用ダイオードD
1のアノードは内部リード線9eによってスピードアッ
プ用ダイオードD2のカソードに接続されている。その
他の構成は従来装置の場合と同様であり、ここではその
説明を省略する。
Then, four transistors Q1. of the four-stage Darlington transistor. Q2. Q3. Q4 base 81.82.
83. Each pad region b1. on the semiconductor chip 2 corresponding to B4. b2. b3. Of b4, the pad region b1 is connected to the signal electrode terminal 4 by an internal lead wire 9a made of aluminum wire, and the pad region b2 is connected to the anode side of the speed-up diode D1 by an internal lead wire 9b.
The pad region b3 is connected to the internal connection terminal 5 by an internal lead wire 9C, and the pad region b4 is connected to the anode side of the speed-up diode D3 by an internal lead wire 9d. Further speed-up diode D
The anode of No. 1 is connected to the cathode of the speed-up diode D2 by an internal lead wire 9e. The rest of the configuration is the same as that of the conventional device, and the explanation thereof will be omitted here.

上記した電力用トランジスタ・モジュールの内部結線構
造において、パッド領域b4は内部リード線9dを介し
てスピードアップ用ダイオードD3のアノードに接続さ
れ、そのダイオードD3のカソードは内部結線端子5.
内部リード線9Cを介してパッド領域b3に接続される
ため、第2図に示すように、トランジスタQ4.Q3の
ベース84.83間にスピードアップ用ダイオードD3
が介挿されたことになる。またパッド領域b3は内部リ
ード線9G、内部結線端子5を介してスピードアップ用
ダイオードD2のアノードに接続され、そのダイオード
D2のカソードは内部リード線9e、9bを介してパッ
ド領域b2に接続されるため、第2図に示すようにトラ
ンジスタQ3゜Q2のベース83,82間にスピードア
ップ用ダイオードD2が介挿されたことになる。さらに
パッド領域b2は内部リード線9bを介してスピードア
ップ用ダイオードD1のアノードに接続され、そのダイ
オードD1のカソードは信号用電極端子4.内部リード
線9aを介してパッド領域b1に接続されるため、第2
図に示すようにトランジスタQ2.Q1のベースB2.
81間にスピードアップ用ダイオードD1が介挿された
ことになる。
In the internal wiring structure of the power transistor module described above, the pad region b4 is connected to the anode of the speed-up diode D3 via the internal lead wire 9d, and the cathode of the diode D3 is connected to the internal wiring terminal 5.
Since it is connected to the pad region b3 via the internal lead wire 9C, as shown in FIG. Speed-up diode D3 between bases 84 and 83 of Q3
has been inserted. Further, the pad region b3 is connected to the anode of the speed-up diode D2 via the internal lead wire 9G and the internal connection terminal 5, and the cathode of the diode D2 is connected to the pad region b2 via the internal lead wires 9e and 9b. Therefore, as shown in FIG. 2, a speed-up diode D2 is inserted between the bases 83 and 82 of the transistor Q3°Q2. Further, the pad region b2 is connected to the anode of the speed-up diode D1 via the internal lead wire 9b, and the cathode of the diode D1 is connected to the signal electrode terminal 4. Since it is connected to the pad area b1 via the internal lead wire 9a, the second
As shown in the figure, transistor Q2. Base of Q1 B2.
This means that the speed-up diode D1 is inserted between 81 and 81.

一方、スピードアップ用ダイオードD3のカソードは内
部結線端子5を介してスピードアップ用ダイオードD2
のアノードに接続され、またダイオードD2のカソード
は内部リード線9eを介してスピードアップ用ダイオー
ドD1のアノードに接続されるため、第2図に示すよう
に3つのスピードアップ用ダイオードD1〜D3は互い
に同方向かつ直列に接続されたことにもなる。
On the other hand, the cathode of the speed-up diode D3 is connected to the speed-up diode D2 via the internal connection terminal 5.
Since the cathode of the diode D2 is connected to the anode of the speed-up diode D1 via the internal lead wire 9e, the three speed-up diodes D1 to D3 are connected to each other as shown in FIG. This also means that they are connected in the same direction and in series.

したがって、第2図に示す4段ダーリントン・トランジ
スタでは、各トランジスタ01〜Q4のオフ動作におい
て、従来装置の場合と同様にして、トランジスタQ4の
ベースB4に蓄積された電荷がダイオードD3を通じて
電流i3として、トランジスタQ3のベースB3に蓄積
された電荷はダイオードD2を通じて電流12として、
トランジスタQ2のベースB2に蓄積された電荷はダイ
オードD1を通じて電流11としてそれぞれ信号用電極
端子4へと引き抜かれ、応答速度が早められる。トラン
ジスタQ1のベースB1に蓄積された電荷は第1図に示
す内部リード線9aを流れる電!ioとして信号用電極
端子4側へ引き抜かれる。
Therefore, in the four-stage Darlington transistor shown in FIG. 2, when each of the transistors 01 to Q4 turns off, the charge accumulated in the base B4 of the transistor Q4 flows through the diode D3 as a current i3, as in the case of the conventional device. , the charge accumulated in the base B3 of the transistor Q3 flows as a current 12 through the diode D2,
The charge accumulated in the base B2 of the transistor Q2 is drawn out as a current 11 to the signal electrode terminal 4 through the diode D1, thereby increasing the response speed. The charge accumulated in the base B1 of the transistor Q1 is the electric charge flowing through the internal lead wire 9a shown in FIG. io and is pulled out to the signal electrode terminal 4 side.

つまり、動作としては第3図の従来例と同様の動作を維
持しつつ、内部結線端子の数を減少させたことになる。
In other words, while maintaining the same operation as the conventional example shown in FIG. 3, the number of internal connection terminals has been reduced.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のように、この発明によれば、同方向かつ順次の接
続において互いに隣接するダイオードチップ対につき、
それぞれのアノードとカソードとの関係を互いに逆向き
としつつそれらを共通の内部結線端子上に設けているた
め、内部結線端子の必要個数が少なくなり、半導体装置
を小形化できる。
As described above, according to the present invention, for pairs of diode chips adjacent to each other in the same direction and sequential connection,
Since the anodes and cathodes are arranged in opposite directions and are provided on a common internal connection terminal, the number of internal connection terminals required is reduced, and the semiconductor device can be made smaller.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明による半導体装置の一実施例の内部結
線構造を示す平面図、第2図はその半導体装置の等価回
路を示す回路図、第3図は従来の半導体装置の内部結線
構造を示す平面図、第4図はその半導体装置の等価回路
を示す回路図である。 図において、2は半導体チップ、4は信号用電極端子、
5,6は内部結線端子、9a〜9eは内部リード線、D
1〜D3はスピードアップ用ダイオード(ダイオードチ
ップ)、01〜Q4は4段ダーリントン・トランジスタ
の各段のトランジスタである。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。 第1図 第2図
FIG. 1 is a plan view showing an internal wiring structure of an embodiment of a semiconductor device according to the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram showing an equivalent circuit of the semiconductor device, and FIG. 3 is a plan view showing an internal wiring structure of a conventional semiconductor device. The plan view shown in FIG. 4 is a circuit diagram showing an equivalent circuit of the semiconductor device. In the figure, 2 is a semiconductor chip, 4 is a signal electrode terminal,
5 and 6 are internal connection terminals, 9a to 9e are internal lead wires, D
1 to D3 are speed-up diodes (diode chips), and 01 to Q4 are transistors at each stage of the four-stage Darlington transistor. Note that the same reference numerals in each figure indicate the same or corresponding parts. Figure 1 Figure 2

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)段数が3段以上の多段ダーリントン・トランジス
タを含む半導体チップと、前記多段ダーリントン・トラ
ンジスタのそれぞれのベース電極間に同方向かつ順次に
接続された複数のダイオードとを備えた半導体装置にお
いて、 前記複数のダイオードチップのうち、前記順次の接続に
おいて互いに隣接するダイオードチップ対を、それらの
アノードとカソードとの関係を互いに逆向きとしつつ共
通の内部結線端子上に設けることにより、前記ダイオー
ドチップ対の間の電気的接続が行なわれていることを特
徴とする半導体装置。
(1) A semiconductor device comprising a semiconductor chip including a multi-stage Darlington transistor having three or more stages, and a plurality of diodes sequentially connected in the same direction between the base electrodes of each of the multi-stage Darlington transistors, Among the plurality of diode chips, pairs of diode chips that are adjacent to each other in the sequential connection are provided on a common internal connection terminal with their anodes and cathodes in opposite directions. A semiconductor device characterized in that an electrical connection is made between the two.
JP63111244A 1988-05-06 1988-05-06 Semiconductor device Expired - Lifetime JPH07120712B2 (en)

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JP63111244A JPH07120712B2 (en) 1988-05-06 1988-05-06 Semiconductor device

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JP63111244A JPH07120712B2 (en) 1988-05-06 1988-05-06 Semiconductor device

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS61152071A (en) * 1984-12-26 1986-07-10 Toshiba Corp Multistage darlington semiconductor device

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