JPH01260314A - データ処理装置 - Google Patents

データ処理装置

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JPH01260314A
JPH01260314A JP63087299A JP8729988A JPH01260314A JP H01260314 A JPH01260314 A JP H01260314A JP 63087299 A JP63087299 A JP 63087299A JP 8729988 A JP8729988 A JP 8729988A JP H01260314 A JPH01260314 A JP H01260314A
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Shinichi Nakajima
信一 中島
Mitsuhiro Nozawa
野沢 充広
Yasukazu Sano
安一 佐野
Nobuo Hirata
平田 伸生
Juichi Mitani
三谷 重一
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は計測値や信号データ等の入力データの補正を行
うデータ処理装置に関する。
〔従来の技術〕
従来、計測結果を例えばA/D変換器によりデジタル値
に変換して出力する計測器がある。このような計測器に
おいては周囲の影響によりノイズが発生し、上記デジタ
ル値に微少な変動が生じ、例えばミクロン単位のシート
の厚みを計測する場合には、特にノイズによるデジタル
値の変動を除去する必要にせまられている。
このため、従来の計測器は上記ノイズの影響を考慮して
、順次にサンプリングした計測結果を記憶しておき、あ
る時点Tでサンプリングした計測結果とサンプリング時
点Tより前にサンプリングした所定個数の計測結果の平
均をデータ処理装置により求め、この平均値をサンプリ
ング時点Tの計測結果に対する補正値として用いている
ところが、計測データの精度を上げるために、平均演算
に用いる計測結果の数を増やすと、データ処理装置にお
ける計測結果を記憶するメモリの容量が大幅に増大して
しまうという解決すべき課題があった。この点について
詳しく説明する。
従来のデータ処理装置において、ある時点での補正値は
次式により算出される。
X、=On≦N(2) ここで肛は補正後の計測結果、Xnはn回目にサンプリ
ングされた計測結果、Nは平均演算処理に用いる計測結
果の個数(ピックアップ個数)であり、固定設定され、
n−N回目からn回目のデータが用いられる。
データ処理装置は計測結果を記憶するN個のメ回の計測
結果のサンプリング時におけるN個の計測結果の合計を
記憶するメモリを設けている。
これらのメモリを用いた(1)式の演算処理手順を第4
図および第5図を参照して具体的に説明する。
ここで、(1)式においてピックアップ個数Nを“3”
に設定し、メモリMl−M3を計測結果X、の格納用に
、メモリM4を計測結果の合計値X−x、のun−N 格納用に、さらにメモリM5を計測結果Xn−Hの格納
用に割り当てるものとする。
第4図に示すように、第1回目の計測結果Xlが得られ
るとデータ処理装置はメモリ旧に計測結果X、をメモリ
Mlに格納する。この時点では“3”個の計測結果が得
られないのでメモリM2〜M5には“0”が記憶されて
いる。次に、第2回目の計測結果×、が得られると、デ
ータ処理装置は、メモリM2の記憶内容をメモリM3へ
、メモリMlの記憶内容X、をメモリM2にシフト記憶
し、メモリMlには第2回目の計測結果x2を記憶する
。このようにしてデータ処理装置は得られる計測結果を
順次メモリMl〜M3にシフト記憶する。第2回目の計
測結果が得られると、データ処理装置は(1)式におけ
るΣ−X、としてX、をメモリM4に格納す、る。以下
、以下、データ処理装置は得られる計測結果をメモリM
1〜M3にシフト記憶する。第4回目の計測結果x4が
得られたとき、メモリMl−13にはそれぞれX4+ 
X3+ x=が記憶され、これまでメモリM3に記憶さ
れていたX、がXn−Hの値としてメモリM5にシフト
記憶される。また、メモリ旧には、x、+ X2 +X
3の合計値が記憶されるoxn−sの値としてX、が、
格納されるので、データ処理装置は(1)式に基いて(
メモリ旧の値+メモリM4の値−メモリM5の値)/3
を演算する。この演算結果x4が第4回目の計測値x4
に対する補正値としてデータ処理装置から出力される。
データ処理装置は以下、順次新しい計測結果得られる毎
にメモリ1〜M3、メモリM4、メモリM5の値をシフ
ト記憶し、これらのメモリの値に基いて演算処理を行っ
ている。
このような補正演算は計測結果が新しく得られる毎に、
平均演算に用いるデータが第5図に示すように次々と移
動するので移動平均とも呼ばれている。
(発明が解決しようとする課題) 以上説明した移動平均をデータ処理装置により求める場
合には、移動平均に用いる計測結果の個分だけメモリを
用意する必要があり、特に、出力データの精度を良くす
るために指定平均回数(ピックアップ個数)を125回
とか256回、512回などと多数回を指定すると、指
定平均回数に応じて平均すべき計測結果を記憶しておく
データメモリの数も多数となる。
この結果、データメモリの増加に伴ってデータ処理時間
も長くなる。例えば、データサンプリング速度が1ms
以下で行い、512回の移動平均処理を行ったとき、1
回の移動平均処理時間は約0.5秒となる。連続して流
れるシート材の厚みや幅を測定する場合には、指定平均
回数を512回とじてもデータ精度的には不足の場合も
あるといわれている。
ちなみに、2バイト長のデータ512個を移動平均する
場合、約1にバイトのメモリを必要とする。
測定器の小型化のために1チツプの中央演算処理装置(
cpu)を利用して測定データの補正処理を行なおうと
すると、現在市販されている1チツプCPIJの内蔵メ
モリでは、メモリ容量が不足し、外部にメモリを増設し
なければならず、測定器を小型化できないという不具合
につながる。
また、 CPt1がアクセスすべきメモリが多くなる程
演算時間も長くなるので、データサンプリング速度に制
限を受けるという不具合も生じる。
そこで、本発明の目的は、上述の問題点を解決し、測定
結果の移動平均補正を行う際に用意すべきデータメモリ
数を減少させ、かつ高速で近似的な移動平均値を求める
ことができるデータ処理装置を提供することにある。
(課題を解決するための手段〕 このような目的を達成するために、本発明は、2以上の
整数である所定値Nと変数nとがn>Nとして、前回ま
でサンプリングされて入力されたn−N回目の入力デー
タX。−8から、、−1回目の入力データ、Xn−1の
N個の入力データを用いて今回のn回目にサンプリング
された入力データXnに対してノイズ補正を行フた移動
平均値xnを求めるデータ処理装置において、前回のn
−1回目の入力データX。−1に対する移動平均値をX
n−1とすると、次式を用いて、今回のn回目の入力デ
ータxnに対する移動平均値xllを求め、今回求めた
xnの値を次回の演算の際にはXn−1として上記式に
代入することにより上記×7を順次演算して、出力する
演算手段を具備したことを特徴とする。
〔作 用〕
本発明は、高速でサンプリングされるデータ値に大きい
誤差がないことに着目し、移動平均値を求める際に最新
の入力データ値Xnをこれまでにサンプリングした移動
平均に求いる入力データの合計値に加え、前回求められ
た移動平均値を減じて移動平均の補正演算を行うように
したので、移動平均に用いるサンプリングデータを全て
記憶しておく必要がなくなり、従来のデータ処理装置に
比べ、補正演算は使用するメモリの数を大幅に減するこ
とができる。
〔実施例〕
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明実施例の具体的構成を示す。
第1図において、200は2以上の整数である所定値N
と変数nとがn>Nとして、入力装置io。
から前回までサンプリングされて入力されたn−N回目
の入力データXn−Nからn−1回目の入力データ、X
n−1のN個の入力データを用いて今回のn回目にサン
プリングされた入力データ×。に対してノイズ補正を行
った移動平均値X。を求めるデータ処理装置である。
300は前回のn−1回目の入力データX1−1に対す
る移動平均値を口とすると、次式 を用いて、今回のn回目の入力データXnに対する8i
i11平均値πを求め、今回求めたL−の値を次回の演
算の際には扁として上記式に代入することにより上記[
を順次演算して、出力する演算手段である。
第2図は本発明の実施例の具体的な回路構成を示す。第
2図において1は被測定物の測定、例えばシートの厚み
を測定し、その測定結果をアナログ信号で出力するセン
サである。2はセンサ1より得られたアナログ信号を後
処理可能なレベルまでアナログ信号を増幅するアンプで
ある。4はアンプ2より得られた増幅信号をアナログ値
からデジタル値に変換するアナログ−デジタル(A/D
)変換器である。
4は中央演算処理装置(cpu)であり、3図(^)。
(B)に示すプログラムを実行し、測定データの補正を
行う。なおA/D変換器3がCPII4に内蔵されてい
る場合もある。
CPU4はA/D変換器3からの測定データを記憶する
ランダムアクセスメモリ(RAM)を内部に有し、同じ
く第3図(8)に示す移動平均を求めるプログラムを予
め記憶するり一ドオンリメモリ(ROM)を有する。C
PU4により補正演算された結果が補正後の測定結果と
してデジタル信号で外部出力される。
また、CPU4(7) RAM内には第3図(A) 〜
(B) (7)制御手順の基にCPU4が実行する補正
演算の演算データを記憶するメモリMll NM13 
、カウンタ等が設けられている。
次に、本実施例の動作を第3図(^)〜(C)のフロー
チャートを参照して説明する。第3図(A)は第2図に
示す(:PI3により実行される計測データの補正処理
に関する主制御手順を示す。
第3図(B)は第3図(A)の主制御手順におけるイニ
シャル処理(ステップ510)の詳細な制御手順を示す
。第3図(C)は第3図(A)の主制御手順における計
測結果の補正処理の詳細な制御手順を示す。
本例において移動平均のための演算式は、n≦Nの場合 n≧N+1の場合 なる式を用いる。
第3図(八)において、CPU4に電源が投入されると
、CPU4はステップ51GにおいてCPt14内の各
メモリのイニシャライズ処理を行う。CPU4は第3図
(B)に示す従手順に穆り、CPt14のROMに予め
記憶しである平均演算のためのデータ個数(ピックアッ
プ個数)NをRAMに記憶する。本例はこのデータ個数
を固定値としているが、任意に設定したい場合には、キ
ーボードからデータ個数Nを入力するようにしてもよい
次に、CPU4はカウンタに初期値″O”を設定する。
カウンタはサンプリングデータのサンプリング個数を計
数し、サンプリングデータの個数nがN個に達したか否
かを判定するために用いるカウンタであり、本例におい
てはRAM内に設けている。
CPt14はその他、補正処理に用いるデータの初期値
の設定を終了し、次の手順に進む(ステップSll〜5
13)。
CPIJ4は、一定周期でA/D変換器3から送られて
くる計測結果を入力(データサンプリング)し、その計
測結果の移動平均を算出するための補正処理を行う(ス
テップ520〜530)。
ここで、n回目の計測結果X。が得られたとすると、C
Pt14は入力された値xnをRAM内のメモリMll
に記憶する(第3図(C)ステップ531)。
次に、CPLI4の内部カウンタの値を“1′°加算し
てサンプリング回数を計数する。カウンタ値≦サンプリ
ングデータ個数Nと判定したときは上述の(3)式を用
いた演算処理を行う。また、カウンタが計数したサンプ
リング回数n≧N+1を判定したときは、(4)式を用
いた演算を行う(ステップ532〜533)。
ステップ534〜53Bは(2)式の演算処理過程を示
す、 CPII4はRAM内に設けられたメモリM12
からこれまでのサンプリングデータの合計値、を読み出
すと、最新のデータ値xnを合計値に加算し、x。
が加算された合計値をメモリM12に再記憶する。
次に、この合計値をカウンタ値nで除しく2)式に基づ
く演算処理を行う。この計算結果はメモリM13に記憶
され、次のサンプリングデータの補正演算処理に用いら
れる(ステップ534〜536)。
一方、カウンタ値が示すサンプリング回数n≧N+1の
ときは、メモリMllに記憶された最新の計測結果Xn
をメモリ12に記憶されたN個の計測値れた前回計算さ
れた移動平均値り百を減算し、その演算結果をメモリ1
2に記憶する(ステップ540〜541)。
次にメモリ12の値をN値で除して、n回目における移
動平均値を計算する。この計算結果はメモリ13に記憶
され、次回の移動平均演算に用いられる。このように計
算された移動平均値がサンプリングされた計測値に対す
る補正値として外部出力される(ステップS42〜S4
8→537)。
次に、従来例との比較を行うために、従来技術において
説明した演算例と同一条件での具体的演算過程を簡単に
説明する。
ここで、移動平均に用いるデータ個数をN=3に設定す
る。第1回目(n=1)の計測結果ス−が得られると、
計測結果かメモリ11に記憶され、カウンタの値は“I
Hに設定される(ステップS31→532)。
次に、カウンタ値(1)≦N(3)なのでメモリM12
にはN個の計測結果の合計値とてxlが記憶され、移動
平均の計算の結果x1がメモリM13に記憶されると共
に、外部出力される(ステップ533〜537)。
以下順次、第2回目から第3回目まで同様の手順で移動
平均の演算が行なわれ、第3回目の移動平均演算の終了
時にはメモリMllには計測結果X5、メモリM12に
はx、+x2+x、の合計値、メモリxl+x2+x3 M13は□の計算値が格納されている。
第4回目の計測値X が得られると、手順はステップ5
31−4532→534→540と進み、これまでの合
計値に最新の計測値X が加えられ、前回の移動平均値
L1■■ が減算され、この計算結果、X+*Xz+X
3*X4−”二X2+X3がメモリM12に記憶される
(ステップ540〜541)。
次に、移動平均の演算が行なわれ、移動平均処理される
。以下同様の手順で、5回目以降の演算処理が行なわれ
る。なお、計測値が高速でサンプリングされる場合、上
述の例でX、は□と近似的に等しく、結果としては従来
技術の説明で行った4回目の移動平均処理2扛狂とほぼ
同じ値を得ることができる(ステップ542〜548)
また、本実施例における移動平均処理ではサンプリング
回数を記憶するカウンタメモリ1個、加算結果を格納す
るメモリ1個(M12)、平均値を格納するメモリ(M
13)  1個、平均値指定個数Nを記憶するメモリ1
個および最新の計測結果を記憶するメモリ(Mll) 
 1個の合計5個だけを用意すれば移動平均値を求める
ことができる。
また、平均値指定個数Nが数百個となっても必要なメモ
リ個数は5個でよく、従来のように平均値回数分だけデ
ータを記憶するメモリを用意する必要がないので、デー
タ処理装置のメモリ容二を大幅に減することができる。
さらにCPU4がアクセスするメモリの数が少ないので
、移動平均に関する処理時間を短縮することも可能とな
る。本実施例においては、サンプリング回数n≦Nのと
きは上記(3)式を用いたがピックアップ個数Nを用い
もよい。
また、本実施例は計測サンプリングデータなノイズ補正
する例について説明したが、画像処理データなど高速、
かつ大多数のデータに対して移動平均処理する場合に本
発明を適用できることは言うまでもない。
〔発明の効果〕 以上、説明したように、本発明によれば、移動平均値を
求める際に最新の入力データ値Xnをこれまでにサンプ
リングした移動平均に求いる入力データの合計値に加え
、前回求められた移動平均値を減じて移動平均の補正演
算を行うようにしたので、移動平均に用いるサンプリン
グデータを全て記憶しておく必要がなくなり、従来のデ
ータ処理装置に比べ、補正演算は使用するメモリの数を
大幅に減することができる。
また、メモリ数の減少に伴って、1チツプのCPUをも
使用することができ装置の小型化に寄与すると共に、演
算手段がメモリとアクセスする時間が短縮され、その結
果、演算処理時間も短縮されるので、より高速に計測値
をサンプリングすることかできるので、計測値の精度を
向上することができるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明実施例の基本構成を示すブロック図、 第2図は本発明実施例の具体的構成を示すブロック図、 第3図(A)〜(C) は本発明実施例のCPU4が実
行する制御手順を示すフローチャート、 第4図は従来例の移動平均の演算過程を示す説明図、 第5図は従来例の移動平均演算を示す説明図である。 1・・・センサ、 2・・・アンプ、 3・・・^/D変換器3. 4・・・cpu 。 奮をP月釈5〃邑イ列0フ゛ロブクm 第1図 市→6日月デ12jイ列のイニシャライス’zt埋手4
要θフロー斗ヤード第3図(B) ”す“ンブル4虻 j疋米0栃1す平均を示す説明図 第5図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)2以上の整数である所定値Nと変数nとがn>Nと
    して、 前回までサンプリングされて入力されたn−N回目の入
    力データXn−Nからn−1回目の入力データ、x_n
    _−_1のN個の入力データを用いて今回のn回目にサ
    ンプリングされた入力データx_nに対してノイズ補正
    を行った移動平均値@X_n@を求めるデータ処理装置
    において、 前回のn−1回目の入力データx_n_−_1に対する
    移動平均値を@X_n_−_1@とすると、次式▲数式
    、化学式、表等があります▼ を用いて、今回のn回目の入力データx_nに対する移
    動平均値@X_n@を求め、今回求めた@X_n@の値
    を次回の演算の際には@X_n_−_1@として上記式
    に代入することにより上記@X_n@を順次演算して、
    出力する演算手段を具備したことを特徴とするデータ処
    理装置。 2)請求項1に記載のデータ処理装置において、前記演
    算手段は、n≦Nのときは前記移動平均値@X_n@円
    として次式 ▲数式、化学式、表等があります▼ を用いて演算し、n=Nのときに得られた ▲数式、化学式、表等があります▼の演算値を前記@X
    _n_−_1@の初期値としてx_n_+_1の入力デ
    ータを処理するときに代入することを特徴とするデータ
    処理装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH05273018A (ja) * 1992-03-30 1993-10-22 Shimadzu Corp 電磁流量計
JP2006065497A (ja) * 2004-08-25 2006-03-09 Sanyo Electric Co Ltd データ処理装置、データ処理方法、データ処理プログラム

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