JPH01257979A - 画像形成装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、複写機等の画像形成装置に関し、特に帯電手
段の異常検出に関する。

〔従来の技術〕

従来の画像形成ｖｔ＠には、−船釣に、感光体表面を帯
電する帯電装ばの異常動作を検出する異常検出装置が具
えられている。

第５図は、従来の画像形成装置における帯電装置および
異常検出装置の概略構成を示したものである。同図にお
いて、帯電装置１は、直流型ｒＡ２に一端が接続された
放電ワイヤー３と、この放電ワイヤー３を覆うように配
設され、抵抗４を介して接地されたシールド５とから構
成されている。

一方、異常検出装置６は、比較器７と、比較器８と、Ｏ
Ｒ回路９と、出力端子１０とを有している。

上記帯電装Ｗ１１の抵抗４には、放電ワイヤー３に印加
された直流電源２の電圧に応じた電圧が発生する。この
抵抗４に発生した電圧は、異常検出装置６の比較器７お
よび比較器８のそれぞれの一方の端子に印加される。ま
た比較器７および比較器８のそれぞれの他方の端子には
、最大許容電圧Ｖ　ＨＡＸおよび最小許容電圧Ｖ　ＨＩ
Ｍが印加される。

そして比較器７は、一方の端子に印加された電圧（以下
、検出電圧という）と、他方の端子に印加された最大許
容電圧Ｖ　１４ＡＸとを比較し、当該検出電圧が最大許
容電圧Ｖ　１４ＡＸより大きい場合には、ローレベル（
以下、“Ｌ″という）からハイレベル（以下、１１　Ｈ
ｎという）に変化した信号を出力する。また比較器８は
、一方の端子に印加された電圧（以下、検出電圧という
）と、他方の端子に印加された最小許容電圧ＶＨＩＮと
を比較し、当該検出電圧が最小許容電圧ＶＨＩＮより小
さい場合には、シ”から“Ｈ″に変化した信号を出力す
る。

ＯＲ回路９は、比較器７あるいは比較器８から出力され
たｒ　Ｈｎの信号を入力すると、“Ｌ”から１１　ＨＨ
に変化した信号を出力端子１０に出力する。

そして異常検出装置６では、出力端子１０から送出され
るＨ”の信号にもとづいて、帯電装置１の動作が異常で
あると判断させるようにしている。

〔発明が解決しようとする課題〕 ところで、上記従来の画像形成装置では、帯電装置１の
放電ワイヤー３にトナー等が付着すると、当該放電ワイ
ヤー３のトナー等が付着している部分とシールド５間に
放電が生じることがある。このように放電ワイヤー３と
シールド５間に放電が生じることにより、抵抗４には、
過大な電流が流れ上記比較器７に印加されている最大許
容電圧ＶＨＡＸより大きい電圧が発生することがある。

これによって、異常検出装置６は、放電ワイヤー３とシ
ールド５間に生じた放電により抵抗４に発生した電圧が
、最大許容電圧Ｖ　ＭＡＸより大きいため、出力端子１
０からＨ″の信号を送出し、感光体表面には帯電ムラ等
がなく、帯電装置１が正常であるにもかかわらず、該帯
電装置１が異常であると判断させてしまうこととになる
。

したがって、従来の画像形成装置における異常検出装置
６では、帯電装置１の異常動作を正確に検出することが
できないとともに、帯電装置１の異常動作を解消するた
めの点検作業が必要となるので作業効率が悪いという欠
点があった。

本発明は上記欠点を解消し、帯電装置の異常動作を正確
に検出することができるとともに、作業効率を向上させ
ることのできる画像形成装置を提供することを課題とす
る。

〔課題を解決するための手段および作用〕本発明は、静
電潜像を形成する感光体と、前記感光体表面を帯電する
帯電手段と、前記帯電手段によって帯電された前記感光
体表面の電位を測定する測定手段とを有し、前記測定手
段によって測定された測定値と前記感光体表面における
電位の基準値とを比較し、帯電手段によって帯電された
感光体表面の電位が、該感光体表面における電位の基準
値に対する所定の許容範囲内に該当しない場合には帯電
手段が異常であると判断するものである。

〔実施例〕

本発明に係る画像形成装置の実施例を第１図乃至第４図
の図面にもとづき説明する。

第１図は本発明に係る画像形成＠置の一実施例を示した
要部断面図である。同図において、画像形成装置は、感
光体１の表面を帯電する帯電部２と、帯電部２によって
帯電された感光体１の表面電位を検出する検出部３と、
感光体１に静電潜像を形成させる露光部４と、静電潜像
をトナーを用いて現像する現像部５と、感光体１に形成
されたトナー像を用紙に転写させる転写部６と、感光体
１の表面に付着している残留トナーを除去するクリーニ
ング部７と、感光体１の表面の帯電を除去する除電部８
とを有している。

第２図は第１図の画像形成装置における帯電部２と検出
部３を示した要部概念図である。第２図において、帯電
部２は、放電ワイヤー２０と、その放電ワイヤー２０を
取囲むシールド２１と、放電ワイヤー２０の一端に電圧
を印加する直流電源２２とを有している。帯電部２は、
放電ワイヤー２０に、直流電源２２の所定電圧が印加さ
れることにより、放電ワイヤー２０の近傍に発生するコ
ロナ放電によって感光体１の表面を帯電する。

一方、検出部３は、電位計２３と、入力部・２４と、制
御部２５と、出力端子２６とを有している。

電位計２３は、帯電部２によって帯電された感光体１の
表面電位を測定し、該測定された表面電位の値に対応し
たアナログ信号を入力部２４へ送出する。入力部２４は
、電位計２３から入力したアナログ信号のアナログ値を
、適宜なアナログ値に変換した後制御部２５へ送出する
。

第３図は上記制御部２５のブロック図を示したものであ
り、同図において、サンプル／ホールド回路（以下、Ｓ
／８回路という＞３０は、入力部２４から入力したアナ
ログ信号を所定期間毎にサンプリングし、該所定期間毎
にサンプリングしたアナログ信号のアナログ値をアナロ
グ−デジタル変換器（以下、Ａ／Ｄコンバータという）
３１に送出する。Ａ／Ｄコンバータ３１は、Ｓ／ｌ−（
回路３０から入力したアナログ信号のアナログ値を、該
アナログ値に対応するデジタル値に変換し、さらに、該
デジタル値を示すデータを出力する。Ａ／Ｄコンバータ
３１から出力されたデータは、入出力ボート３２を経て
ＲＡＭ３３に格納される。

ＲＯＭ３４は、所定のプログラム、データ等を格納する
。ＣＰＵ３５は、上記所定のプログラムにもとづいて、
所定の演算、処理等を実行する。

次に、上述した画像形成装置における制御部２５が、帯
電部２の動作が正常か否かを判断する動作を第４図にも
とづいて説明する。

第４図において、Ｖｆは感光体の表面電位、■１ａＸは
予め設定された感光体における表面電位の最大値、Ｖ　
ｌｉｎは予め設定された感光体における表面電位の最小
値をそれぞれ示しており、またｎは感光体の表面電位の
予め設定された測定回数、すなわちＳ／ｌ−（回１３０
のサンプリング回数を示している。

電位計２３は、帯電部２によって帯電された感光体１の
表面電位を測定する。電位計２３によって測定された感
光体１の表面電位の値を示すアナログ信号は、入力部２
４を経て制御部２５のＳ／１」回路３０に入力される。

Ｓ／Ｈ回路３０は、入力部２４から入力された表面電位
の値を示すアナログ信号を所定期間内に０回サンプリン
グし、該所定期間内にサンプリングしたアナログ信号の
アナログ値をＡ／Ｄコンバータ３１に送出る。Ｓ／Ｈ回
路３ｏから出力された信号は、Ａ／Ｄコンバータ３１に
よってデジタル値を示すデータに変換された復、入出力
ボート３２を経てＲＡＭ３３に格納される。

すると、ＣＰＵ３５は、ＲＡＭ３３に格納されたｎ回分
（サンプリング回数分）の各表面電位の値を順次読み出
すとともに（ステップ１００．１０１）、ＲＡＭ３３か
ら上記表面電位の値を読み出した回数を図示しないカウ
ンタにカウントさせる。またＣＰＵ３５は、前記カウン
タに対し当該カウンタがカウントしたカウント値を積篩
させ、その積算値Ｎを読み出す（ステップ１０２）。ざ
らにＣＰＵ３５は、ステップ１０２において積算値Ｎが
予め設定された回数ｎ（回）に達したか否かを判断しく
ステップ１０３）、積算値Ｎが予め設定された回数ｎ（
回）に達してない場合には、上記ステップ１０１および
１０２を実行する。

ステップ１０３において、積算値Ｎが予め設定された回
数口（回）に達したと判断したＣＰＬ１３５は、ＲＡＭ
３３から読み出した各表面電位の値のうち、表面電位の
値の最大値および最小値をそれぞれ除外し、さらに表面
電位の値の最大値および最小値をそれぞれ除外した表面
電位の値にもとづいて、表面電位の値の平均値Ｖ＾を算
出するステップ１０４）。

例えば、ＣＰＵ３５が、ＲＡＭ３３から読み出したｎｌ
、ｎ２、ｎ３、ｎ４、・・・ｎｎ回における各表面電位
の値のうち、ＲＡＭ３３から読み出したｎ２回目の表面
電位の値が最大値であり、ｎ４回目の表面電位の値が最
小値であるとすると、ＣＰＵ３５は、ｎ２およびｎ４に
おける表面電位の値を除外した残りのｎｌ、ｎ３、・・
・ｎｎにおける各表面電位の値にもとづいて表面電位の
値の平均値ＶＡを算出する。

なお、上述したように、表面電位の値のうち最大値およ
び最小値をそれぞれ除外するのは、電位計の表面電位の
検出誤差による、表面電位の値の平均値ＶＡの誤差を減
少させるとともに、放電ワイヤー２０にトナー等のゴミ
が付着した際に発生することがあるコロナ放電による、
感光体１の表面電位の偶発的な上昇によって帯電部２の
動作が異常検出されるのを防止するためである。

ところで、ＣＰＵ３５は、上記表面電位の平均値Ｖ＾が
、感光体の表面電位の最大値Ｖ　ｎａｘ以上か否かを判
断するとともに（ステップ１０５）、この判断結果、平
均値ＶＡが、上記最大値Ｖ　ｎａｘに達していない場合
には、続いて、表面電位の値の平均値■＾が感光体の表
面電位の最小値ＶＩｉｎ以下か否かを判断する（ステッ
プ１０６）。

ステップ１０６において表面電位の値の平均値■＾が上
記最小値Ｖ　ｎｉｎ以下になっていない場合には、ＣＰ
Ｕ３５は、帯電部２の動作が正常であると判断する。

モしてＣＰＵ３５は、ステップ１０５において表面電位
の値の平均値ＶＡが、上記最大値Ｖ　ｎａｘに達した場
合、あるいはステップ１０６において表面電位の値の平
均値■＾が、上記最小値■ｎｉｎ以下になった場合には
、帯電部２の動作が異常であると判断しくステップ１０
７．１０８）、帯電部２の動作が異常である旨の信号を
入出力ボート３２を介して出力端子２６に出力する。

画像形成装置は、出力端子２６に送出された帯電部２の
動作が異常である旨の信号にもとづいて、当該画像形成
装置に配設された保護手段を作動させることができる。

例えば、画像形成装置は、帯電部２の動作を停止させる
とともに、帯電部２の動作が異常である旨を外部に表示
させ、当該画像形成装置の両件形成サイクルを停止させ
る。

上述した実施例によると、検出部３は、電位計２３によ
って測定された感光体１の表面電位にもとづいて、帯電
部２の異常動作を検出するようにしたので、感光体１の
表面に帯電ムラ等が発生した際には、帯電部２の動作が
異常であると判断することとなる。

〔発明の効果］ 本発明は、判断手段は、帯電手段によって帯電された感
光体の表面電位が、該感光体表面における電位の基準値
に対する所定の許容範囲内に該当しない場合には、帯電
手段が異常であると判断するので、感光体表面に帯電ム
ラ等が発生した際には、帯電手段が異常であると判断さ
れることとなり、帯電手段の異常を正確に検出すること
ができる。また前記帯電手段の異常を正確に検出するこ
とができることにより、従来の如く、帯電手段の偶発的
なコロナ放電による帯電手段の異常検出が削減され、こ
のため帯電手段の異常を解消すべく点検作業が削減され
ることとなるので、作業効率を向上させることのできる
画像形成装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る画像形成装置の一実施例を示した
要部断面図、第２図は第１図の画像形成装置における帯
電部および検出部を示した要部概念図、第３図は第１図
の画像形成装置における制御部を示したブロック図、第
４図は第１図の画像形成装置における検出部の動作を示
したフローチャート、第５図は従来の画像形成装置を示
した概略構成図である。 ７・・・感光体、２・・・帯電部、３・・・検出部、２
３・・・電位計、２４・・・入力部、２５・・・制御部
、２６・・・出力端子、３０・・・サンプル／ホールド
回路、３１・・・Ａ／Ｄコンバータ、３２・・・入出力
ボート、３３・・・ＲＡＭ、３４・・・ＲＯＭ、３５・
・・ｃｐｕ。 第１図　　　　ス

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 静電潜像を形成する感光体と、該感光体を帯電する帯電
   手段とを有する画像形成装置において、前記帯電手段に
   よって帯電された前記感光体表面の電位を測定する測定
   手段と、 前記測定手段によつて測定された測定値と前記感光体表
   面における電位の基準値とを比較し、該比較した結果に
   基づいて、前記帯電手段の異常を判断する判断手段と を具えたことを特徴とする画像形成装置。