JPH01256215A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

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JPH01256215A
JPH01256215A JP63084319A JP8431988A JPH01256215A JP H01256215 A JPH01256215 A JP H01256215A JP 63084319 A JP63084319 A JP 63084319A JP 8431988 A JP8431988 A JP 8431988A JP H01256215 A JPH01256215 A JP H01256215A
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JP
Japan
Prior art keywords
transistor
base
whose
npn
bipolar transistor
Prior art date
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Pending
Application number
JP63084319A
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English (en)
Inventor
Minoru Kamata
稔 鎌田
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Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の利用分野] 本発明は半導体集積回路装置に係り、特に、CMOSト
ランジスタ及びバイポーラトランジスタから成る高速で
低消費電力の半導体集積回路装置に関する。
[従来の技術1 従来のCMOSトランジスタ及びバイポーラトランジス
タを使用した論理回路を第2図に示す。
ここではインバータについて示す。
このインバータ回路は2つの負荷抵抗104゜105と
PMOSトランジスタ100とNMOSトランジスタ1
01と2つのNPNバイポーラトランジスタ(以下NP
NI−ランジスタと略す)102.103から構成され
る。入力106が“l”レベルであると、NMOSトラ
ンジスタlO1がオン状態になり、PMOS)ランジス
タ100がオフ状態になる。この結果NPNトランジス
タ102のベース電流供給経路が遮断されNPNトラン
ジスタ102がオフ状態になるとともに、出力107及
びNPNI−ランジスタ102のベースに蓄積された電
荷を電荷供給源とするNPNトランジスタ103のベー
ス電流供給経路が導通しNPNトランジスタ103がオ
ン状態となり、出力107は急速に“0”レベルに変化
する。
また入力106が“0“レベルであると、PMOSトラ
ンジスタ100はオン状態になり、NMn5トランジス
タ101はオフ状態になる。この結果、NPNトランジ
スタ103のベース電流供給経路が遮断されNPN)ラ
ンジスタ103がオフ状態になるとともに、NPNI−
ランジスク102のベース電流供給経路が導通しNPN
I−ランジスク102はオン状態となり、出力107は
急速に”l”レベルに変化する。この動作で判るように
CMOSトランジスタ及びバイポーラトランジスタを使
用した論理回路では、論理を入力インピーダンスの高い
CMOSトランジスタで採り、負荷の駆動を伝達コンダ
クタンスの大きなバイポーラトランジスタで行なうため
、高速かつ低消費電力という特徴を有している。
[発明が解決しようとする課題] しかし、前述の従来技術では、抵抗素子をバイポーラト
ランジスタのバイパス回路として使用しており、抵抗・
MOS!−ランジスタ・バイポーラトランジスタの3種
類のデバイスを製造管理する必要があり、工程が複雑に
なると共に、製造ばらつきにより、消費電力が大きく変
動し、歩留りを低下させてしまうという課題を有してい
た。
そこで本発明はこのような課題を解決するもので、その
目的とするところは、製造管理が容易で製造ばらつきの
少ない安価な高速かつ低消費電力の半導体集積回路装置
を提供するものである。
[課題を解決するための手段] 本発明の半導体集積回路装置は、 ■ コレクタが電源端子に、エミッタが出力端子に接続
される第1のNPNバイポーラトランジスタと、コレク
タが上記出力端子に、エミッタが固定電位端子に接続さ
れる第2のNPNバイポーラトランジスタと、ゲートが
入力端子に、ソース及びドレインがそれぞれ上記第1の
NPNバイポーラトランジスタのコレクタとベースとに
接続されるP型電界効果トランジスタと、ゲートが上記
入力端子に、ドレイン及びソースがそれぞれ上記第2の
NPNバイポーラトランジスタのコレクタとベースに接
続される第1のN型電界効果トランジスタと、ゲート及
びソースが上記第1のNPNバイポーラトランジスタの
ベースに接続され、ドレインが上記出力端子に接続され
る第2の電界効果トランジスタと、ゲートが抵抗を介し
電源端子に接続され、ドレイン及びソースがそれぞれ上
記第2のNPNバイポーラトランジスタのベースとエミ
ッタとに接続される第3のN型電界効果トランジスタを
具備することを特徴とする。
■ コレクタが電源端子に、エミッタが出力端子に接続
される第1のNPNバイポーラトランジスタと、コレク
タが上記出力端子に、エミッタが固定電子端子に接続さ
れる第2のNPNバイポーラトランジスタと、K個(K
≧2)の入力端子と、各ゲートがそれぞれ異なる上記入
力端子に、各ソース及び各ドレインが上記第1のNPN
バイポーラトランジスタのコレクタとベースの間に並列
にそれぞれ接続されるに個のP型電界効果トランジスタ
と、各ゲートがそれぞれ異なる上記入力端子に、各ドレ
イン及び各ソースが上記第2のNPNバイポーラトラン
ジスタのコレクタとベースとの間に直列にそれぞれ接続
されるに個のN型電界効果トランジスタと、ゲート及び
ソースが上記第1のNPNバイポーラトランジスタのベ
ースに接続され、ドレインが上記出力端子に接続される
他のN型電界効果トランジスタと、ゲートが抵抗を介し
電源端子に接続され、ドレイン及びソースがそれぞれ上
記第2のNPNバイポーラトランジスタのベースとエミ
ッタとに接続される更に他のN型電界効果トランジスタ
を具備することを特徴とする。
■ コレクタが電源端子に、エミッタが出力端子に接続
される第1のNPNバイポーラトランジスタと、コレク
タが上記出力端子に、エミッタが固定電位端子に接続さ
れる第2のNPNバイポーラトランジスタと、K個(K
≧2)の入力端子と、各ゲートがそれぞれ異なる上記入
力端子に、各ソース及び各ドレインが上記第1のNPN
バイポーラトランジスタのコレクタとベースの間に直列
にそれぞれ接続されるに個のP型電界効果トランジスタ
と、各ゲートがそれぞれ異なる上記入力端子に、各ドレ
イン及び各ソースが上記第2のNPNバイポーラトラン
ジスタのコレクタとベースとの間に並列にそれぞれ接続
されるに個のN型電界効果トランジスタと、ゲート及び
ソースが上記第1のNPNバイポーラトランジスタのベ
ースに接続され、ドレインが上記出力端子に接続される
他のN型電界効果トランジスタと、ゲートが抵抗を介し
電源端子に接続され、ドレイン及びソースがそれぞれ上
記第2のNPNバイポーラトランジスタのベースとエミ
ッタとに接続される更に他のN型電界効果トランジスタ
を具備することを特徴とする。
[作 用] 本発明の上記の構成によれば、出力段を形成するNPN
I−ランジスタのバイパス回路を、電圧特性を有するN
MOSトランジスタで作成できるため、スイッチング動
作で発生するNPNトランジスタ間での慣通電流を著し
く低減することができる。
〔実 施 例] 以下、本発明を実施例により詳細に説明する。
(実施例1) 第1図にトーテムポール出力形インバータを示す。
第1図に於いて、14はコレクタが電源端子lに、エミ
ッタが出力端子18に接続される第1のNPNバイポー
ラトランジスタ(以下単にNPNトランジスタと称す)
、15はコレクタが出力端子18に、エミッタが固定電
位端子2に接続される第2のNPN トランジスタ、l
Oはゲートが入力端子17に、ソース及びドレインがそ
れぞれ第1のNPNトランジスタのコレクタとベースと
に接続されるP型電界効果トランジスタ(以下単にPM
OSトランジスタと称す)、11はゲートが入力端子1
7に、ドレイン及びソースがそれぞれ第2のNPNトラ
ンジスタのコレクタとベースとに接続される第1のN型
電界効果トランジスタ(以下単にNMOSトランジスタ
と称す)、12はゲート及びソースが第1のNPNトラ
ンジスタのベースに接続され、ドレインが出力端子18
に接続される第2のNMOSトランジスタ、13はゲー
トが抵抗16を介し電源端子lに、ドレイン及びソース
がそれぞれ第2のNPN)−ランジスタのベースとエミ
ッタとに接続される第3のNMOSトランジスタである
人力16が“0“レベルの時、PMOSI−ランジスタ
lOがオンとなり、第1のNMOSl−ランジスタ11
がオフとなる。また第2のNMOSトランジスタ12は
ダイオードとして、第3のNMOSトランジスタ13は
可変抵抗として動作する。したがって第1のNPN)ラ
ンジスタ14のベース電位が上昇し、第1のNPN)ラ
ンジスタ14はオンとなる。一方、第2のNPNトラン
ジスタ15は非飽和領域にある第3のNMOSトランジ
スタ13を介してベース、エミッタ間が短絡されオフと
なる。この結果、第1のNPNI−ランジスタ14のエ
ミッタ電流は負荷を充電し出力18は“l”レベルとな
る。
入力16が“1”レベルの時、PMOSI−ランジスタ
lOがオフとなり、第1のNMOSトランジスタ11が
オンとなる。したがって第1のNPNトランジスタ14
のベース電位は、ダイオードとして動作する第2のNM
OSトランジスタ12により、エミッタ電位に対しNM
OSトランジスタのゲートしきい値電圧骨高い電位にま
で低下する。NMO3のゲートしきい値電圧をバイポー
ラトランジスタのオン電圧より小さい値に設定すること
により第1のNPNトランジスタ14はオフする。一方
、第2のNPNトランジスタ15のベース、コレクタ間
は第1のNMOSl−ランジスタ11を介して短絡され
るので、第2のNPN l−ランジスタ15のベースに
は出力18からベース電流が供給され、第2のNPNト
ランジスタ15はオンとなり、出力17は“0”レベル
となる。ここで第3のNMOSトランジスタ13は抵抗
を介しゲートが電源端子1に接続されており、電源変動
によるゲート膜破壊を防止する。また電圧特性を有する
為、動作時には電流リミッタとして働き、出力電流を安
定させると共に、静止時には高抵抗として働き、漏れ電
流の低減を実現できる。
本実施例によれば、CMOSトランジスタとバイポーラ
トランジスタの最小構成の高速かつコンパクトなインパ
ーク回路が実現できる。
また本実施例によれば、高レベル出力側NPNバイポー
ラトランジスタのバイパス回路にNMOSトランジスタ
を用いたダイオードを使用しているため、高速スイッチ
ングが可能である。
更に本実施例によれば、スイッチング動作を行なう素子
に抵抗等の補助素子を用いる必要がないため、回路安定
性及び回路パフォーマンスを高(することができ、LS
I化に適した回路構成が実現できる。
(実施例2) 第3図にトーテムポール形2人力NOR回路を示す。
第3図に於いて、2Gはコレクタが電源端子lに、エミ
ッタが出力端子30に接続される第1のNPN l−ラ
ンジスタ、27はコレクタが出力端子30に、エミッタ
が固定電位端子2に接続される第2のNPNトランジス
タ、29は2個の入力端子、20及び21は、各ゲート
がそれぞれ異なる入力端子29に、各ソース及び各ドレ
インが、第1のNPNt−ランジスタ26のコレクタと
ベースとの間に直列にそれぞれ接続される第1及び第2
のPMO5I−ランジスタ、22及び23は、各ゲート
がそれぞれ異なる入力端子29に、各ソース及び各ドレ
インが、第2のNPNトランジスタ27のコレクタとベ
ースとの間に並列にそれぞれ接続される第1及び第2の
NMOS)ランジスタ、24はゲート及びソースが第1
のNPNトランジスタのベースに接続され、ドレインが
出力端子30に接続される第3のNMOSトランジスタ
、25はゲートが抵抗28を介し電源端子lに、ドレイ
ン及びソースがそれぞれ第2のNPNトランジスタのベ
ースとエミッタとに接続される第4のNMOSトランジ
スタである。
まず入力29両方が“0”レベルの時、第1、第2のP
MO5t−ランジスタ20.21の両方がオンとなり、
第1、第2のNMOSトランジスタ22.23の両方が
オフとなる。また第3のNMOSトランジスタ24はダ
イオードとして、第4のNMOSl−ランジスタ25は
可変抵抗として動作する。したがって第1のNPN)ラ
ンジスタ26のベース電位が上昇し、第1のNPNトラ
ンジスタ26はオンとなる。一方、第2のNPNトラン
ジスタ27は非飽和領域にある第4のNMOSトランジ
スタ25を介してベース、エミッタ間が短絡されオフと
なる。この結果、第1のNPNトランジスタ26のエミ
ッタ電流は負荷を充電し、出力30は”1”レベルとな
る。
入力29の少なくとも一方が“1”レベルにある時、第
1.第2のPMOSトランジスタ2o、21の少なくと
も一方がオフし、PMOSトランジスタの直列接続では
オフとなる、また第1、第2のNMOSトランジスタ2
2.23の少な(とも一方がオンし、NMOSトランジ
スタの並列接続ではオンとなる。したがって第1のNP
Nトランジスタ26のベース電位は、ダイオードとして
動作する第3のNMOS)ランジスタ24により、エミ
ッタ電位に対しNMOSトランジスタのゲートしきい値
電圧骨高い電位にまで低下する。
NMOSl−ランジスタのゲートしきい値電圧をバイポ
ーラトランジスタのオン電圧より小さい値に設定するこ
とにより第1のNPN t−ランジスタ26はオフする
。一方、第2のNPNトランジスタ27のベース、コレ
ツク間は第1、第2のNMOSトランジスタ22.23
の少なくとも一方を介して短絡されるので、第2のNP
Nトランジスタ27はオンとなり、出力30は“0”レ
ベルとなる。
本実施例においても、第1の実施例と同様な効果が達成
できる。また本実施例によれば、高速かつコンパクトな
NOR回路を構成できるので、LSI化のための論理設
計が容易となる。
なお、本実施例では2人力NOR回路を例にとって説明
したが、3人力NOR14人力NOR等の一般の多入力
NOR回路にも本発明は容易に拡張し得るものである。
(実施例3) 第4図にトーテムポール形2人力NAND回路を示す。
第4図に於いて、46はコレクタが電源端子lに、エミ
ッタが出力端子50に接続される第1のNPN)ランジ
スタ、47はコレクタが出力端子50に、エミッタが固
定電位端子2に接続される第2のNPN l−ランジス
タ、49は2個の入力端子、40及び41は、各ゲート
がそれぞれ異なる入力端子49に、各ソース及び各ドレ
インが、第1のNPNトランジスタ46のコレクタとベ
ースとの間に並列にそれぞれ接続される第1及び第2の
PMOSトランジスタ、42及び43は、各ゲ−トがそ
れぞれ異なる入力端子49に、各ソース及び各ドレイン
が、第2のNPNI−ランジスタ47のコレクタとベー
スとの間に直列にそれぞれ接続される第1及び第2のN
MOSl−ランジスタ、44はゲート及びソースが第1
のNPN)ランジスタのベースに接続され、ドレインが
出力端子50に接続される第3のNMOSトランジスタ
、47はゲートが抵抗48を介し電源端子1に、ドレイ
ン及びソースがそれぞれ第2のNPNトランジスタのベ
ースとエミッタとに接続される第4のNMOSトランジ
スタである。
まず入力49の少なくとも一方が“0”レベルの時、第
1、第2のPMOSトランジスタ40.41の少なくと
も一方がオンし、PMOSトランジスタの並列接続では
オンとなる。また第1、第2のNMOS)ランジスタ4
2.43の少なくとも一方がオフし、NMOSトランジ
スタの直列接続ではオフとなる。また第3のNMOSト
ランジスタ44はタイオードとして、第4のNMOSト
ランジスタ45は可変抵抗として動作する。したがって
第1のNPNトランジスタ46のベース電位が上昇し、
第1のNPNI−ランジスタ46はオンとなる。一方第
2のNPNトランジスタ47は非飽和領域にある第4の
NMOSトランジスタ45を介してベース、エミッタ間
が短絡されオフとなる。この結果、第1のNPNトラン
ジスタ4Gのエミッタ電流は負荷を充電し、出力5oは
“l”レベルとなる。
入力49両方が“l”レベルの時、第1、第2のPMO
S)ランジスク40.41の両方がオフし、PMOS)
−ランジスタの並列接続ではオフとなる。また第1、第
2のNMOSトランジスタ42.43の両方がオンし、
NMOSl−ランジスタの直列接続ではオンとなる。し
たがって第1のNPNI−ランジスタ46のベース電位
は、ダイオードとして動作する第3のNMOSl−ラン
ジスク44により、エミッタ電位に対しNMOSl−ラ
ンジスタのゲートしきい値電圧分高い電位にまで低下す
る。NMOSトランジスタのゲートしきい値電圧をバイ
ポーラトランジスタのオン電圧より小さい値に設定する
ことにより第1のNPN l−ランジスタ46はオフす
る。一方、第2のNPN I−ランジスタ47のベース
、コレクタ間は第1及び第2のNMOSl−ランジスタ
42.43を介して短絡されるので、第2のNPN)ラ
ンジスタ47はオンとなり、出力50は“0”レベルと
なる。
本実施例においても、第1の実施例と同様な効果が達成
できる。また本実施例によれば高速かつコンパクトなN
AND回路を構成できるので、LSI化のための論理設
計が容易となる。
なお、本実施例では2人力NAND回路を例にとって説
明したが、3人力NAND、4人力NAND等の一般の
多大力NAND回路にも本発明は容易に拡張し得るもの
である。
【発明の効果1 以上述べた様に本発明によれば、バイポーラトランジス
タ回路の高駆動能力とCMOS回路の低消費電力特性を
兼ね備^た回路を最小段数で構成し、高速、低消費電力
、高集積密度かつ高回路パフォーマンスの半導体集積回
路装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の半導体集積回路装置の一実施例を示す
インバータ回路図。 第2図は従来の半導体集積回路装置を示すインバータ回
路図。 第3図は本発明の他の実施例を示す2人力NOR回路図
。 第4図は本発明の更に他の実施例を示す2人力NAND
回路図。 l・・・・・・・・・電源端子 2・・・・・・・・・固定電位端子 lO・・・・・・・・・PMO3I−ランジスタ11.
12.13・・・NMOS)ランジスタ14.15・・
・・・・NPNバイポーラトランジスタ 17・・・・・・・・・入力端子 18・・・・・・・・・出力端子 16・・・・・・・・・抵抗素子 100・・・・・・・・・PMO5I−ランジスタ10
1・・・・・・・・・NMOSトランジスタ102.1
03・・・・・NPNバイポーラトランジスタ 106・・・・・・・・・入力端子 107・・・・・・・・・出力端子 104.105・・・・・抵抗素子 20.21・・・・・・PMOSトランジスタ22.2
3.24.25 ・・・NMOSトランジスタ 26.27・・・・・・NPNバイポーラトランジスタ 29・・・・・・・・・入力端子 30・・・・・・・・・出力端子 28・・・・・・・・・抵抗素子 40.41・・・・・・PMOSトランジスタ42.4
3.44.45 ・・・NMOSl−ランジスク 46.47・・・・・・NPNバイポーラトランジスタ 49・・・・・・・・・人力端子 50・・・・・・・・・出力端子 48・・・・・・・・・抵抗素子 以上 出願人 セイコーエプソン株式会社 代理人 弁理士 上柳 雑音(他1名)第1図 第2図 第3図 ■ 第4図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)コレクタが電源端子に、エミッタが出力端子に接
    続される第1のNPNバイポーラトランジスタと、コレ
    クタが上記出力端子に、エミッタが固定電位端子に接続
    される第2のNPNバイポーラトランジスタと、ゲート
    が入力端子に、ソース及びドレインがそれぞれ上記第1
    のNPNバイポーラトランジスタのコレクタとベースと
    に接続されるP型電界効果トランジスタと、ゲートが上
    記入力端子に、ドレイン及びソースがそれぞれ上記第2
    のNPNバイポーラトランジスタのコレクタとベースに
    接続される第1のN型電界効果トランジスタと、ゲート
    及びソースが上記第1のNPNバイポーラトランジスタ
    のベースに接続され、ドレインが上記出力端子に接続さ
    れる第2の電界効果トランジスタと、ゲートが抵抗を介
    し電源端子に接続され、ドレイン及びソースがそれぞれ
    上記第2のNPNバイポーラトランジスタのベースとエ
    ミッタとに接続される第3のN型電界効果トランジスタ
    を具備することを特徴とする半導体集積回路装置。
  2. (2)コレクタが電源端子に、エミッタが出力端子に接
    続される第1のNPNバイポーラトランジスタと、コレ
    クタが上記出力端子に、エミッタが固定電子端子に接続
    される第2のNPNバイポーラトランジスタと、K個(
    K≧2)の入力端子と、各ゲートがそれぞれ異なる上記
    入力端子に、各ソース及び各ドレインが上記第1のNP
    Nバイポーラトランジスタのコレクタとベースの間に並
    列にそれぞれ接続されるK個のP型電界効果トランジス
    タと、各ゲートがそれぞれ異なる上記入力端子に、各ド
    レイン及び各ソースが上記第2のNPNバイポーラトラ
    ンジスタのコレクタとベースとの間に直列にそれぞれ接
    続されるK個のN型電界効果トランジスタと、ゲート及
    びソースが上記第1のNPNバイポーラトランジスタの
    ベースに接続され、ドレインが上記出力端子に接続され
    る他のN型電界効果トランジスタと、ゲートが抵抗を介
    し電源端子に接続され、ドレイン及びソースがそれぞれ
    上記第2のNPNバイポーラトランジスタのベースとエ
    ミッタとに接続される更に他のN型電界効果トランジス
    タを具備することを特徴とする半導体集積回路装置。
  3. (3)コレクタが電源端子に、エミッタが出力端子に接
    続される第1のNPNバイポーラトランジスタと、コレ
    クタが上記出力端子に、エミッタが固定電位端子に接続
    される第2のNPNバイポーラトランジスタと、K個(
    K≧2)の入力端子と、各ゲートがそれぞれ異なる上記
    入力端子に、各ソース及び各ドレインが上記第1のNP
    Nバイポーラトランジスタのコレクタとベースの間に直
    列にそれぞれ接続されるK個のP型電界効果トランジス
    タと、各ゲートがそれぞれ異なる上記入力端子に、各ド
    レイン及び各ソースが上記第2のNPNバイポーラトラ
    ンジスタのコレクタとベースとの間に並列にそれぞれ接
    続されるK個のN型電界効果トランジスタと、ゲート及
    びソースが上記第1のNPNバイポーラトランジスタの
    ベースに接続され、ドレインが上記出力端子に接続され
    る他のN型電界効果トランジスタと、ゲートが抵抗を介
    し電源端子に接続され、ドレイン及びソースがそれぞれ
    上記第2のNPNバイポーラトランジスタのベースとエ
    ミッタとに接続される更に他のN型電界効果トランジス
    タを具備することを特徴とする半導体集積回路装置。
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