JPH01250856A

JPH01250856A - 材料の検査記録装置

Info

Publication number: JPH01250856A
Application number: JP63080341A
Authority: JP
Inventors: Yasuichi Kudo; 工藤　保一
Original assignee: Sanyo Special Steel Co Ltd
Current assignee: Sanyo Special Steel Co Ltd
Priority date: 1988-03-31
Filing date: 1988-03-31
Publication date: 1989-10-05
Anticipated expiration: 2009-08-22
Also published as: JPH0664025B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〈産業上の利用分野〉この発明は、長尺の材料や連続した線材などを、磁気的
、光学的、電気的など適宜の手段によってその長さ方向
に連続的に検査し、その検査波形を記録紙上に画く装置
に関する。

〈従来の技術〉従来の磁気探傷装置の例を第４図に基いて説明すると、
矢印方向に移動する材料１を囲んで、矢印方向に回転す
る回転体２か設けられ、回転体２に支持されたヘッド３
．３によって材料１は螺旋状に探傷される。その探傷信
号は、ブラシ４によって取出されて、探傷回路５に供給
され、その出力はシンクロスコープ６及び波形記録器７
に供給される。

検査に先立ち、感度調整を行う。そのためには、材料１
の代りに既知の幅及び深さの人工傷を有する試験片を回
転体２内に置き、回転体２を回転させ、その際に得られ
る高速度広帯域（例えば帯域１＠４ＫＨｚ）の標準信号
をシンクロスコープ６に供給して、その波形を静止して
表示させ、これを観察しながら感度を調整する。

検査に際しては、記録器７の応答速度が５０〜６０１１
ｚ程度の低いものであるため、検査信号は記録器が応答
できる時間だけピークホールドされて記録器７に供給し
て、検査信号の波形を画かせる。

〈発明が解決しようとする課題〉検査結果の記録図形は、不良品の不良箇所を除去したり
材料の廃棄を決めたりする上で必要である。しかし、通
常不良率は′３％以下であるので、記録図形のうちの実
際に必要なのは３％以下で、残りの９７％以上は不要と
なる。そのために膨大な量の記録紙か無駄になるばかり
でなく、記録器自体の彦耗などの損耗も大きい。従って
、この発明は、記録紙の使用を必要な限度だけに抑えよ
うとするものである。

また、検査に先立って行う感度調整の際の表示画像は、
不良品についての検査記録図形を検討する際に参照でき
ると便利であるが、通常の波形記録器は極めて応答速度
が遅いために、そのままではこれを記録することかでき
ない。よって、この発明は、このような感度調整の際の
標準信号の波形も、検査記録図形に併せて同一記録紙上
に記録しようとするものである。

〈課題を解決するための手段〉この発明による装置は、長尺または連続した材料を、そ
の長さ方向に連続的に検査する検査手段と、この検査信
号を処理する電子計算機と、この電子計算機が保有する
検査信号に基いて信号波形を記録する記録器とからなる
。

上記電子計算機は、検査信号を一旦メモリに記憶し、上
記長尺材料の１本または連続材料の１区間の検査を終る
ごとに、上記記憶に基いて材料の良否を判別する。そし
て、材料が良品と判断された場合には、当該材料または
区間の検査信号の記憶を上記メモリから廃棄し、材料が
不良品と判断された場合にのみ、当該材料または区間の
検査信号を引続き保存する。材料のロット全体または線
材の全長についての検査が終了した時点で、上記メモリ
に記憶されている全検査信号を読出して上記記録器に供
給する。

〈作用〉較正に際しては、試験片の検査によって得た高速広帯域
の標準信号であっても、メモリは支障なくこれを記憶す
ることができる。そして、その読出しは低速で行われる
ために、上記標準信号は記録器においてて支障なく波形
図として画かれる。

検査に際しては、材料は１本ごと或は区間ごとに良否の
判定を受け、不良品の検査信号の記憶だけがメモリに残
されて行く。従って、これを読出して記録した記録紙上
には、前述の較正用の標準信号の波形と、不良品或は不
良区間の検査信号の波形とだけが表示される。

そのために、記録紙の使用量が僅かで足り、しかも標準
信号の波形と検査信号との対比が極めて容易になる。

〈実施例〉第１図において、矢印方向に走行する長尺材料１は、矢
印方向に回転する回転体２に設けたベツド３．３により
螺旋状に探傷され、その探傷信号はブラシ４によって探
傷回路５へ送られる。探傷回路５の出力は、シンクロス
コープ６へ送うれると同時に、ＡＤ変換器８を経て、電
子計算機９の中央演算装置１０へ送られる。また、材料
ｌの移動径路に設けたセンサｌｌの材料検出信号はカウ
ンタ１２で計数され、この計数信号も中央演算装置１０
へ送られる。

電子計算ａ９内では、カウンタ１２から送られて来る材
料番号信号とＡＤ変換器８から送られて来る広帯域信号
を逐次メモリ１３に記憶し、１本の材料の探傷を終った
時点て傷の有無を判別し、傷が発見されればアドレスを
付して当該記憶を保存し、傷か発見されなければ上記記
憶を抹消する。

なお、検査中は、探傷信号の波形か中央演算装置ＩＯか
らブラウン管表示器１５へ送られ、リアルタイムて表示
される。

１０ツトの検査を終了すると、メモリ１３に残っている
記憶を低速て読出し、ＤＡ変換器１６を経て記録器７に
供給し、１０ツト中の傷が発見された材料の探傷波形だ
けを、材料番号と共に記録器７で記録紙に画かせる。或
は、１０ツトの検査終了時にメモリ１３か保有するデー
タを、フロッピーディスク或は磁気テープなどに、不揮
発記憶器１丁において転写する。

なお、シンクロスコープ６は、従来の装置と同様に、検
査に先立つ較正のために、試験片の標準波形を静止させ
て表示するものであるが、試験片の標準信号をメモリ１
３に記憶させ、これを反覆して読出してブラウン管表示
器１５で表示させれば、やはり静止画像を得ることがで
きるので、このようにすればシンクロスコープ６を省略
することがてきる。

次に、上述の装置の動作をフローチャートに基いて説明
する。

装置の較正時の標準波形を記録器７において画かせるに
は、第２図に示すフローチャートに従って動作が行われ
る。ステップ２０で動作を開始すると、試験片の標準信
号はステップ２１でＡＤ変換器８によりデジタル化され
、ステップ２２でメモリ１３に記憶される。回転体２が
１回転して、この標準信号の記憶が終ると、ステップ２
３からステップ２４へ移り、ここでメモリ１３から成る
時刻の波高値を示す１語分の情報か読出されステップ２
５を経てステップ２６においてＤＡ変換器１６によりア
ナログ化され、ステップ２７で記録器７により、成る時
刻の波高か記録される。次にステップ２８で、例えばク
ロックパルス１００個分の遅延が行われ、この遅延後に
ステップ２４へ戻り、次の時刻の波高値を示す情報が読
出され、ステップ２７で記録される。そして、標準信号
全体の記録が完了したら、ステップ２５からステップ２
９へ移って・動作か終わる・このようにして、リアルタ
イムでメモリＩ３に記憶された高速の例えば４　Ｋ　Ｉ
Ｉ　ｚといった広帯域の標準信号は、ステップ２８にお
ける遅延の結果、例えば１００分の１の４０　Ｉｔ　ｚ
といった低速狭帯域の信号に変換されるため、５０〜６
叶Ｚ程度の応答能力しかない機械式記録器７で、十分こ
れを記録することかてきる。

材料の検査結果の記録は、第３図に示すフローチャート
に従って行われる。ステップ３０て動作を開始すると、
探傷回路５からは、記録器７で記録できる例えば５０〜
６０　Ｈｚの低速狭帯域の探傷信号が送り出され、ステ
ップ３１てＡＤ変換器８によりデジタル化され、ステッ
プ３２でメモリ１３に記憶される。また、その探傷信号
は、ステップ３３でブラウン管表示器１５で表示される
。

ステップ３４において、検査中の材料に傷が発見される
と、ステップ３５においてフラグ信号が発生され、探傷
信号に附加される。１本の材料の検査が縛ると、ステッ
プ３６を経てステップ３７においてフラグ信号の有無が
調べられ、フラグ信号が存在していればステップ３８に
おいてアドレス信号を附して検査データを保存し、フラ
グ信号が存在しなければ、ステップ３９てその回の検査
データを廃棄する。そして、１０ツトの材料の検査が終
ると、カウンタ１２の計数値によってステップ４０で検
査の終了が検出される。

ステップ４１で記録の指示が与えられると、ステップ４
２においてメモリ１３から情報が読出され、ステップ４
４でＤＡ変換され、ステップ４４で記録され、ステップ
４６で遅延が行われた後にステップ４２に戻って再び読
出しか行われるか、このステップ４２〜４６の循環動作
は、第２図におけるステップ２４〜２８と全く同様であ
る。メモリ１３が保有する全情報の記録が終れば、ステ
ップ４７へ移行して動作が終わる。

従って記録器７は記録紙上に先ず標準信号の波形を画き
、次に傷が存在する材料の探傷波形だけを、材料番号を
附して画くことになる。

なお、材料が線材のような連続材料であるときは、セン
サ１１として材料ｌに接触する滑車を備えた測長装置を
使用し、材料ｌの一定長ごとに区間を設定し、その区間
ごとに良否の判定を行う。

〈発明の効果〉以上のように、この発明によるときは、較正時の標準信
号波形と、不良材料または不良区間の検査波形とだけを
記録紙に画かせ得るので、記録紙の消費量を従来の３％
以下に減らすことがてきると共に、標準信号波形と検査
信号との対照を容易にすることかできる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明を実施した磁気探傷装置のブロック図
、第２図は同実施例における較正時の標準信号記録動作
のフローチャート、第３図は同実施例における検査信号
記録動作のフローチャート、第４図は従来の磁気探傷装
置のブロック図である。 ■・・・・材料、２・・・・回転体（検査手段の一部）
、３・・・・磁気ヘット（検査手段の一部）、５・・・
・探傷回路（検査手段の一部）、７・・・・記録器、９
・・・・電子計算機、１３・・・・メモリ。特許出願人　山陽特殊製鋼株式会社代　　理　　人　　清　　水　　　哲　　ほか２名画１
０蔦２肥第４０纂３回手続？Ｆ１１正書（自発）昭和６３年４月路日１　事件の表示特願昭６３−８０３４１号２　発明の名称材料の検査記録装置３　補正をする者事件との関係　特許出願人住所　神戸市中央区雲井通７丁目１番１号５　補正の対
象明細書の「発明の詳細な説明」の欄及び図面。６　補正の内容（１）明細書第２頁第１９行の「標準信号を」の次に「
高周波出力線路５ａより」を挿入する。（２）同書第３頁第３行の「検査信号は」の次に、「探
傷回路５内で」を挿入する。（３）同書第３頁第４行の「ピークホールドされて」を
「ピークホールドした上で低周波出力線路５ｂより」と
訂正する。（４）同書第６頁第１〜９行を下記のように訂正する。記回路５の高速度広帯域の出力は、高周波出力線路５ａよ
りシンクロスコープ６へ送られると同時に、ＡＤ変換器
８を経て、電子計算機９の中央演算装置１０へ送られ、
かつピークホールドされた出力は、低周波出力線路５ｂ
よりＡＤ変換器１４を経て中央演算装置１０へ送られる
。また、材料１の移動径路に設けたセンサ１１の材料検
出信号は、中央演算装置１０へ送られると同時に、カウ
ンタ１２で計数され、この計数信号も中央演算装置１０
へ送られる。電子計算機９内では、較正時には、ＡＤ変換器８から送
られてくる試験片の標準信号を、メモリ１３に記憶する
。次に、検査時には、カウンタ１２から送られてくる材
料の番号信号と、ＡＤ変換器１４から逐次送られてくる
ピークホールドされた探傷信号とをメモリＩ３に記憶し
、１本の材（５）同書第６頁第１８行の「供給し、」の
次に「較正用の標準信号波形と、」を挿入する。（６）同書第７頁第１７行の「試験片の標準信号は」を
［探傷回路５の高周波出力線路５ａから送られる試験片
の標準信号は、］と訂正する。（７）同書第８頁第２０行の「探傷回路５」の次に［の
低周波出力線路５ｂＪを挿入する。（８）同書第９頁第１行の「低速狭帯域の」の次に「ピ
ークホールドされた」を挿入する。（９）同書第９頁第２行のｒＡ／Ｄ変換器８」をｒＡ／
Ｄ変換器１４」と訂正する。（１０）同書第９頁第３行の「ステップ３２で」の次に
「材料番号と共に」を挿入する。（１１）同書第９頁第９行の「が終ると、」を「の終り
がセンサ１１によって検出されると、」と訂正する。（１２）同書第９頁第１４行の冒頭の「する。」の次に
下記を挿入する。記後続する材料の前端がセンサ１１によって検出されると
、ステップ３１に戻って、上述の動作が反覆される。（“１３）図面第１図及び第４図を別紙のように訂正す
る。添付書類図面（第１図、第４図）以　　上

Claims

【特許請求の範囲】

（１）長尺または連続した材料をその長さ方向に連続的
に検査する検査手段と、この検査信号を処理する電子計
算機と、この電子計算機が保有する検査信号に基いて信
号波形を記録する記録器とよりなり、上記電子計算機は
、上記検査信号をメモリに記憶し、上記材料の１本また
は１区間の検査終了ごとに上記記憶に基いて材料の良、
不良を判別し、判別結果が良の場合は当該材料または区
間の検査信号の上記メモリにおける記憶を廃棄して、不
良の場合にのみ当該材料または区間の検査信号の上記メ
モリにおける記憶を保存し、全体の検査を終了した時点
で上記メモリに記憶されている検査信号を低速で読出し
て、上記記録器に供給するよう構成されていることを特
徴とする材料の検査記録装置。