JPH01233346A - 散乱透過光の測定装置 - Google Patents
散乱透過光の測定装置Info
- Publication number
- JPH01233346A JPH01233346A JP6132088A JP6132088A JPH01233346A JP H01233346 A JPH01233346 A JP H01233346A JP 6132088 A JP6132088 A JP 6132088A JP 6132088 A JP6132088 A JP 6132088A JP H01233346 A JPH01233346 A JP H01233346A
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Links
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Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は光散乱性試料の透過光測定装置に関する。
（従来の技術）
光散乱性を有する試料では光散乱強度は光の波長の４乗
に逆比例して増大する。このため光散乱性試料の光透過
率は短波長側では見掛上小さ（観測される。従来赤外分
光光度計で半透明試料の測定を行う場合、特別な装置構
成をとっていないので、短波長側では散乱による光のロ
スが起きる。
に逆比例して増大する。このため光散乱性試料の光透過
率は短波長側では見掛上小さ（観測される。従来赤外分
光光度計で半透明試料の測定を行う場合、特別な装置構
成をとっていないので、短波長側では散乱による光のロ
スが起きる。
このため短波長側で透過光スペクトルのピークが不明瞭
になる。従来はこの対策としてデータ処理により短波長
側のスペクトルの光散乱による光ロス分の補正を行う方
法が用いられている。
になる。従来はこの対策としてデータ処理により短波長
側のスペクトルの光散乱による光ロス分の補正を行う方
法が用いられている。
（発明が解決しようとする課題）
上述したデータ処理による光散乱に対する補正は要する
に短波長側で機械的に測定値を拡大するものであるから
、ノイズも一緒に拡大されてしまい、測定結果のＳ／Ｎ
比は改善されない。即ち短波長側では散乱による光ロス
の分だけ光量が減っているので、長波長側より測定のＳ
／Ｎ比が低下しているのに、Ｓ／Ｎ比の低下は補償され
ない。
に短波長側で機械的に測定値を拡大するものであるから
、ノイズも一緒に拡大されてしまい、測定結果のＳ／Ｎ
比は改善されない。即ち短波長側では散乱による光ロス
の分だけ光量が減っているので、長波長側より測定のＳ
／Ｎ比が低下しているのに、Ｓ／Ｎ比の低下は補償され
ない。
本発明は光学的な方法を用いることにより、散乱による
光ロスのデータ処理による補正におけるＳ／Ｎ比低下の
問題を解消しようとするものである。（課題を解決する
ための手段） 試料透過光を試料に対して張る立体角の大きな集光光学
素子により測光装置の入口開口に集光させるようにした
。
光ロスのデータ処理による補正におけるＳ／Ｎ比低下の
問題を解消しようとするものである。（課題を解決する
ための手段） 試料透過光を試料に対して張る立体角の大きな集光光学
素子により測光装置の入口開口に集光させるようにした
。
（作 用）
光散乱性試料による散乱光強度は試料を直進透遇した非
散乱光と同じ方向で最大であり、非散乱透過光からの離
角が大となる弱くなる。試料に対して張る立体角の大き
な集光素子を用いると、試料を透過した非散乱透過光と
、それに近い方向の強い散乱光の大部分とが共に測光系
に入射せしめられ、散乱光エネルギーの大部分を測光系
に入射させることができる。従って短波長側で光の散乱
が増大しても測光系への光の入射効率は長波長側の光の
場合に比し余り低下せず、短波長側でＳ／Ｎ比の低下な
しに透過光を測定することができる。
散乱光と同じ方向で最大であり、非散乱透過光からの離
角が大となる弱くなる。試料に対して張る立体角の大き
な集光素子を用いると、試料を透過した非散乱透過光と
、それに近い方向の強い散乱光の大部分とが共に測光系
に入射せしめられ、散乱光エネルギーの大部分を測光系
に入射させることができる。従って短波長側で光の散乱
が増大しても測光系への光の入射効率は長波長側の光の
場合に比し余り低下せず、短波長側でＳ／Ｎ比の低下な
しに透過光を測定することができる。
（実施例）
図は本発明の一実施例を示す。ｌは光源、２は集光鏡で
３は測光装置であり、分光器Ｍと光検出器りと測光回路
Ａとよりなっており、４は測光装置の入口開口である分
光器Ｍの入口スリットである。集光鏡２はその反射光を
直進させた場合光源１の光を入口スリット４上に集光す
るようにしである。５，６は平面鏡で、集光ｊ！２で反
射された光源１の光を凹面鏡７上の一点Ｏに集光させる
。
３は測光装置であり、分光器Ｍと光検出器りと測光回路
Ａとよりなっており、４は測光装置の入口開口である分
光器Ｍの入口スリットである。集光鏡２はその反射光を
直進させた場合光源１の光を入口スリット４上に集光す
るようにしである。５，６は平面鏡で、集光ｊ！２で反
射された光源１の光を凹面鏡７上の一点Ｏに集光させる
。
鏡６と７との間に試料Ｓが置かれる。凹面鏡７で反射さ
れた光は平面鏡８で反射され、分光器Ｍの入口スリット
４に入射せしめられる。凹面鏡７は試料Ｓ上の一点ｐか
ら発散する光を入口スリット４上に集光するようにした
楕円面鏡である。集光鏡２．平面鏡５，６．凹面鏡７．
平面鏡８および試料Ｓの位置決め装置９は一つの基板１
０上に取付けられ、全体として図の位置に着脱可能であ
り、非光散乱性の試料或は特に光散乱を問題にしな（で
もよい試料の測定の場合、上記した鏡２から８までの装
置は取除いて、図の鎖線位置に試料を置いて測定を行う
ことができる。
れた光は平面鏡８で反射され、分光器Ｍの入口スリット
４に入射せしめられる。凹面鏡７は試料Ｓ上の一点ｐか
ら発散する光を入口スリット４上に集光するようにした
楕円面鏡である。集光鏡２．平面鏡５，６．凹面鏡７．
平面鏡８および試料Ｓの位置決め装置９は一つの基板１
０上に取付けられ、全体として図の位置に着脱可能であ
り、非光散乱性の試料或は特に光散乱を問題にしな（で
もよい試料の測定の場合、上記した鏡２から８までの装
置は取除いて、図の鎖線位置に試料を置いて測定を行う
ことができる。
図の構成で試料Ｓを透過した非散乱光は凹面鏡７上の一
点Ｏに集光した後、集光角θと同じ発散角θで反射され
て入口スリット４を含む領域Ｒ上に分布する。他方凹面
鏡７は試料上の中心点ｐの像を入口スリット４上に形成
しているので、入口スリット４を含む領域Ｒに試料Ｓの
光照射領域ｒの像を形成し、この像は試料から立体角ω
内に発散される散乱光によるものであるから、立体角ω
内に発散された散乱光が領域Ｒ内に集光されたことにな
る。
点Ｏに集光した後、集光角θと同じ発散角θで反射され
て入口スリット４を含む領域Ｒ上に分布する。他方凹面
鏡７は試料上の中心点ｐの像を入口スリット４上に形成
しているので、入口スリット４を含む領域Ｒに試料Ｓの
光照射領域ｒの像を形成し、この像は試料から立体角ω
内に発散される散乱光によるものであるから、立体角ω
内に発散された散乱光が領域Ｒ内に集光されたことにな
る。
試料Ｓ上に光源の光を集光させることによって試料が熱
的な影響を受けるおそれがない場合、平面鏡５或は６の
何れかを凹面鏡にして光源の光を試料Ｓ上に集光させる
ようにすると、試料を透過した非散乱光も散乱光も共に
入口スリット４上に集光されるので、光の利用効率は上
側より向上する。
的な影響を受けるおそれがない場合、平面鏡５或は６の
何れかを凹面鏡にして光源の光を試料Ｓ上に集光させる
ようにすると、試料を透過した非散乱光も散乱光も共に
入口スリット４上に集光されるので、光の利用効率は上
側より向上する。
（発明の効果）
従来装置は図で鏡５．６．７．８がなくて試料を鎖線位
置に置く構成で光散乱性の試料の測定も行っていたので
、光散乱分だけ測光系への入射光が減って短波長域での
測定でＳ／Ｎ比が低下していたから、仮に散乱の補正を
行っても測定精度および感度の向上は得られなかったが
、本発明によれば、上述したように、試料を透過した散
乱光は集光素子によって測光系の入口開口上に集められ
ているので、光散乱による見掛の透過率の低下が補償さ
れてデータ処理による補正が不要となり、従ってデータ
処理による補正機能のない装置でも、測定可能であり、
散乱光も加えて測光しているので、測光系への入射エネ
ルギーが従来例より増加して散乱性試料測定時のＳ／Ｎ
比が向上し、測定感度、精度の向上が得られる。
置に置く構成で光散乱性の試料の測定も行っていたので
、光散乱分だけ測光系への入射光が減って短波長域での
測定でＳ／Ｎ比が低下していたから、仮に散乱の補正を
行っても測定精度および感度の向上は得られなかったが
、本発明によれば、上述したように、試料を透過した散
乱光は集光素子によって測光系の入口開口上に集められ
ているので、光散乱による見掛の透過率の低下が補償さ
れてデータ処理による補正が不要となり、従ってデータ
処理による補正機能のない装置でも、測定可能であり、
散乱光も加えて測光しているので、測光系への入射エネ
ルギーが従来例より増加して散乱性試料測定時のＳ／Ｎ
比が向上し、測定感度、精度の向上が得られる。
図面は本発明の一実施例装置の平面図である。
１・・・光源、２・・・集光鏡、３・・・測光装置、４
・・・入口スリット、５，６．８・・・平面鏡、７・・
・凹面鏡、Ｍ・・・分光器、Ａ・・・測光回路、Ｄ・・
・光検出器。 代理人 弁理士 縣 浩 介
・・・入口スリット、５，６．８・・・平面鏡、７・・
・凹面鏡、Ｍ・・・分光器、Ａ・・・測光回路、Ｄ・・
・光検出器。 代理人 弁理士 縣 浩 介
Claims (1)
- 試料と測光装置の入口開口との間に、試料において散乱
された光を入口開口上に集光させる集光光学素子を配置
したことを特徴とする散乱透過光測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6132088A JPH01233346A (ja) | 1988-03-15 | 1988-03-15 | 散乱透過光の測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6132088A JPH01233346A (ja) | 1988-03-15 | 1988-03-15 | 散乱透過光の測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01233346A true JPH01233346A (ja) | 1989-09-19 |
Family
ID=13167731
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6132088A Pending JPH01233346A (ja) | 1988-03-15 | 1988-03-15 | 散乱透過光の測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01233346A (ja) |
-
1988
- 1988-03-15 JP JP6132088A patent/JPH01233346A/ja active Pending
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