JPH01233312A - 光学式変位測定装置 - Google Patents
光学式変位測定装置Info
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- JPH01233312A JPH01233312A JP6143588A JP6143588A JPH01233312A JP H01233312 A JPH01233312 A JP H01233312A JP 6143588 A JP6143588 A JP 6143588A JP 6143588 A JP6143588 A JP 6143588A JP H01233312 A JPH01233312 A JP H01233312A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 13
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 11
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、光ビームを被測定物体へ向けて照射しこの
被測定物体からの反射光を一次元位置検出素子（Ｐ Ｓ
Ｄ： Ｐｏ５ｆｔｉｏｎ ５ｅｎｓｉｔｉｖｅ Ｄｅ
ｔｅｃｔｏｒ）にて検出して被測定物体までの距離もし
くは被測定物体の変位を非接触にて測定する光学式変位
測定装置に関するものである。
被測定物体からの反射光を一次元位置検出素子（Ｐ Ｓ
Ｄ： Ｐｏ５ｆｔｉｏｎ ５ｅｎｓｉｔｉｖｅ Ｄｅ
ｔｅｃｔｏｒ）にて検出して被測定物体までの距離もし
くは被測定物体の変位を非接触にて測定する光学式変位
測定装置に関するものである。
［従来の技術］
第２図は例えばｒｏ Ｐｌｕｓ Ｅ、 Ｎａ８２（１９
８６年９月）：レーザ距離センシング」に示された従来
の光学式変位測定装置を示す回路構成図であり、図にお
いて、１は被測定物体（図示せず）にて反射された光ビ
ームからの正反射光および散乱光の光信号を電気信号に
変換する一次元位置検出素子（以下ＰＳＤという）、２
，２はＰＳＤＩの両端から得られる電流信号Ｉ０． Ｉ
、をそれぞれ電圧変換して増幅するプリアンプ（電流／
電圧変換器）、３はプリアンプ２，２の２系統の電圧信
号Ｖ、、 Ｖ２を時分割にて出力し１系統の出力信号と
するためのアナログスイッチ、４はアナログスイッチ３
からの信号を受けるバッファアンプ、５はサンプルホー
ルド、６はアナログ信号をディジタル信号に変換するＡ
／Ｄコンバータ、７は以上の回路機器類を通過してきた
ＰＳＤＩからの信号に基づいて被測定物体の位置や変位
を測定・演算するためのＣＰＵである。
８６年９月）：レーザ距離センシング」に示された従来
の光学式変位測定装置を示す回路構成図であり、図にお
いて、１は被測定物体（図示せず）にて反射された光ビ
ームからの正反射光および散乱光の光信号を電気信号に
変換する一次元位置検出素子（以下ＰＳＤという）、２
，２はＰＳＤＩの両端から得られる電流信号Ｉ０． Ｉ
、をそれぞれ電圧変換して増幅するプリアンプ（電流／
電圧変換器）、３はプリアンプ２，２の２系統の電圧信
号Ｖ、、 Ｖ２を時分割にて出力し１系統の出力信号と
するためのアナログスイッチ、４はアナログスイッチ３
からの信号を受けるバッファアンプ、５はサンプルホー
ルド、６はアナログ信号をディジタル信号に変換するＡ
／Ｄコンバータ、７は以上の回路機器類を通過してきた
ＰＳＤＩからの信号に基づいて被測定物体の位置や変位
を測定・演算するためのＣＰＵである。
次に動作について説明する。レーザダイオード（ＬＤ）
もしくはＬＥＤ等の光源から被測定物体へ向けて照射さ
れた光ビームは、被測定物体表面にて正反射または散乱
され、図示しないレンズによって集光されて小さい光ビ
ームとされてから、変位に対応したＰＳＤＩ上の１点に
結像される。
もしくはＬＥＤ等の光源から被測定物体へ向けて照射さ
れた光ビームは、被測定物体表面にて正反射または散乱
され、図示しないレンズによって集光されて小さい光ビ
ームとされてから、変位に対応したＰＳＤＩ上の１点に
結像される。
ＰＳＤＩに結像された光ビームは、その強度に応じて電
流信号工に変換される。そして、ＰＳＤＩ上の結像位置
に対応してＰＳＤＩの両端からそれぞれ電流信号Ｉ０．
Ｉ、（Ｉ、＋ｌ２＝Ｉ）が出力される１例えば、第３，
４図に示すように、光ビームが、ＰＳＤＩの有効面９上
の点１０（ＰＳＤＩの一端電極１ａから距ｍΩ□でＰＳ
ＤＩの他端電極１ｂから距離Ｑ２の位置； ｎ、＋ ｎ
２＝ ｕ、）に結像したとすると、ＰＳＤＩの両端電極
１ａ、ｌｂから取り出される電流信号Ｉ、、Ｉ２は、次
式（１）。
流信号工に変換される。そして、ＰＳＤＩ上の結像位置
に対応してＰＳＤＩの両端からそれぞれ電流信号Ｉ０．
Ｉ、（Ｉ、＋ｌ２＝Ｉ）が出力される１例えば、第３，
４図に示すように、光ビームが、ＰＳＤＩの有効面９上
の点１０（ＰＳＤＩの一端電極１ａから距ｍΩ□でＰＳ
ＤＩの他端電極１ｂから距離Ｑ２の位置； ｎ、＋ ｎ
２＝ ｕ、）に結像したとすると、ＰＳＤＩの両端電極
１ａ、ｌｂから取り出される電流信号Ｉ、、Ｉ２は、次
式（１）。
（２）のようになる。
ｌ１＝（Ｌ／（ｌｏ）・工 ・・・（１）
Ｉｚ ＝ （（ｌ Ｌ ／ ｎ ＊ ）・Ｉ
・・・（２）ただし、Ｏ≦エエｔ ｌ２＝工であ
る。
Ｉｚ ＝ （（ｌ Ｌ ／ ｎ ＊ ）・Ｉ
・・・（２）ただし、Ｏ≦エエｔ ｌ２＝工であ
る。
ＰＳＤＩにより得られた電流信号Ｉ、、Ｉ２は、プリア
ンプ２，２てそれぞれ電圧信号Ｖ□、■２に変換されて
増幅された後、アナログスイッチ３で時分割で１系統化
され、サンプルホールド５でＡ／Ｄコンバータ６のコン
バージョンの間ホールドされてから、Ａ／Ｄコンバータ
６によりアナログ信号Ｖ０． Ｖ、に対応したディジタ
ル信号り、、 Ｄ２が得られる。
ンプ２，２てそれぞれ電圧信号Ｖ□、■２に変換されて
増幅された後、アナログスイッチ３で時分割で１系統化
され、サンプルホールド５でＡ／Ｄコンバータ６のコン
バージョンの間ホールドされてから、Ａ／Ｄコンバータ
６によりアナログ信号Ｖ０． Ｖ、に対応したディジタ
ル信号り、、 Ｄ２が得られる。
そして、これらのディジタル化された値Ｄ□。
Ｄ２をＣＰＵ７へ取り込んで、（Ｄ□−Ｄ ２ ） ／
（Ｄよ＋Ｄ２）の値を演算して求め、その演算値を補
正したものを変位測定信号として出力する。
（Ｄよ＋Ｄ２）の値を演算して求め、その演算値を補
正したものを変位測定信号として出力する。
なお、第２図において、Ａ／Ｄコンバータ６の取込みを
、ＰＳＤＩがらの出力信号０〜工の範囲に対応させて設
定しておけば、Ａ／Ｄコンバータ６のダイナミックレン
ジは全範囲使用できる。
、ＰＳＤＩがらの出力信号０〜工の範囲に対応させて設
定しておけば、Ａ／Ｄコンバータ６のダイナミックレン
ジは全範囲使用できる。
［発明が解決しようとする課題］
しかしながら、第２図に示すような従来の光学式変位測
定装置を実際に使用する場合においては、ＰＳＤＩ上に
結像する光ビームの強度は一定ではなく、且つ、ＰＳＤ
Ｉの有効面９を全て使用することは希有であり１例えば
、第４図に示すように、光ビームの結像点が、点１０ａ
のように両端電極ｌａ、ｌｂからの距ｍ Ｑ３よりも内
側のみを使用する場合が多い。このような場合、電流信
号工□。
定装置を実際に使用する場合においては、ＰＳＤＩ上に
結像する光ビームの強度は一定ではなく、且つ、ＰＳＤ
Ｉの有効面９を全て使用することは希有であり１例えば
、第４図に示すように、光ビームの結像点が、点１０ａ
のように両端電極ｌａ、ｌｂからの距ｍ Ｑ３よりも内
側のみを使用する場合が多い。このような場合、電流信
号工□。
Ｉ２の出力範囲は、Ｏ≦Ｉ８．Ｉ、≦■ではなく、（ｍ
ｓ／ｎｏ）・Ｉ≦Ｉ□ｔ Ｉ、≦（（Ｌ−Ｌ）／ｆｌ
、）・工になってしまう。
ｓ／ｎｏ）・Ｉ≦Ｉ□ｔ Ｉ、≦（（Ｌ−Ｌ）／ｆｌ
、）・工になってしまう。
従って、従来の装置では、上述のような条件（光ビーム
の強度変動やＰＳＤＩの使用範囲）では。
の強度変動やＰＳＤＩの使用範囲）では。
Ａ／Ｄコンバータ６のダイナミックレンジが狭まつてし
まうなどの問題点があった。
まうなどの問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、結像する光ビームの強度が変動した場合や、
ＰＳＤの有効面上を全て使用できない場合でも、Ａ／Ｄ
コンバータのダイナミックレンジを損なうことなく信号
を取り込めるようにした光学式変位測定装置を得ること
を目的とする。
たもので、結像する光ビームの強度が変動した場合や、
ＰＳＤの有効面上を全て使用できない場合でも、Ａ／Ｄ
コンバータのダイナミックレンジを損なうことなく信号
を取り込めるようにした光学式変位測定装置を得ること
を目的とする。
［課題を解決するための手段］
この発明に係る光学式変位測定装置は、電流／電圧変換
器からの２系統の電圧信号をアナログ加算する加算器と
、同加算器からの出力に基づき前記電流／電圧変換器か
らの２系統の電圧信号をそれぞれ差動増幅してＡ／Ｄコ
ンバータへ出力する差動増幅器とをそなえ、前記加算器
からの出力に基づいて前記Ａ／Ｄコンバータのレファレ
ンス入力電圧を制御するものである。
器からの２系統の電圧信号をアナログ加算する加算器と
、同加算器からの出力に基づき前記電流／電圧変換器か
らの２系統の電圧信号をそれぞれ差動増幅してＡ／Ｄコ
ンバータへ出力する差動増幅器とをそなえ、前記加算器
からの出力に基づいて前記Ａ／Ｄコンバータのレファレ
ンス入力電圧を制御するものである。
［作 用］
この発明における光学式変位測定装置では、一次元位置
検出素子両端からの２系統の電流信号をそれぞれ電流／
ｆ！！圧変換器により電圧信号に変換した後、これらの
電圧信号を加算器によりアナログ加算する。そして、こ
の２系統の電圧信号の加算値に基づいて、前記ｆｆｉ流
／流圧電圧変換器の２系統の電圧信号をそれぞれ差動増
幅器により差動増幅してＡ／Ｄコンバータへ出力するこ
とで、一次元位置検出素子の有効面上を全て使用できな
い場合でも、前記Ａ／Ｄコンバータのダイナミックレン
ジを損なうことなく信号がＣＰＵに取り込まれる。一方
、前記加算値に基づいて、前記Ａ／Ｄコンバータのレフ
ァレンス入力電圧を制御することで、前記一次元位置検
出素子上に結像する光ビームの強度が変動した場合でも
、前記Ａ／Ｄコンバータのダイナミックレンジを損なう
ことなく信号が前記ＣＰＵに取り込まれる。
検出素子両端からの２系統の電流信号をそれぞれ電流／
ｆ！！圧変換器により電圧信号に変換した後、これらの
電圧信号を加算器によりアナログ加算する。そして、こ
の２系統の電圧信号の加算値に基づいて、前記ｆｆｉ流
／流圧電圧変換器の２系統の電圧信号をそれぞれ差動増
幅器により差動増幅してＡ／Ｄコンバータへ出力するこ
とで、一次元位置検出素子の有効面上を全て使用できな
い場合でも、前記Ａ／Ｄコンバータのダイナミックレン
ジを損なうことなく信号がＣＰＵに取り込まれる。一方
、前記加算値に基づいて、前記Ａ／Ｄコンバータのレフ
ァレンス入力電圧を制御することで、前記一次元位置検
出素子上に結像する光ビームの強度が変動した場合でも
、前記Ａ／Ｄコンバータのダイナミックレンジを損なう
ことなく信号が前記ＣＰＵに取り込まれる。
［発明の実施例］
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図において、１は被測定物体（図示せず）にて反射され
た光ビームからの正反射光および散乱光の光信号を電気
信号に変換する一次元位置検出素子（以下ＰＳＤという
）であり、結像した前記光ビームの強度および結像位置
に応じて両端電極（第３図のｌａ、ｌｂ参照）から２系
統の電流信号Ｉ、、Ｉ２を出力するものである。また、
７は下記の回路機器類にて処理されたＰＳＤＩからの信
号に基づいて被測定物体の位置や変位を測定・演算する
ためのＣＰＵ、８，８はＰＳＤＩからの２系統の電流信
号Ｉ０． Ｉ、をそれぞれ電圧信号Ｖｌｌｖつに変換す
る電流／電圧変換器、１１は電流／電圧変換器８，８か
らの２系統の電圧信号Ｖ工。
図において、１は被測定物体（図示せず）にて反射され
た光ビームからの正反射光および散乱光の光信号を電気
信号に変換する一次元位置検出素子（以下ＰＳＤという
）であり、結像した前記光ビームの強度および結像位置
に応じて両端電極（第３図のｌａ、ｌｂ参照）から２系
統の電流信号Ｉ、、Ｉ２を出力するものである。また、
７は下記の回路機器類にて処理されたＰＳＤＩからの信
号に基づいて被測定物体の位置や変位を測定・演算する
ためのＣＰＵ、８，８はＰＳＤＩからの２系統の電流信
号Ｉ０． Ｉ、をそれぞれ電圧信号Ｖｌｌｖつに変換す
る電流／電圧変換器、１１は電流／電圧変換器８，８か
らの２系統の電圧信号Ｖ工。
ｖ２をアナログ加算し電圧信号Ｖ□＋ｖ２として出力す
る加算器、１２．１２は加算器１１からの出力Ｖ、 ＋
Ｖ、に基づき各電流／電圧変換器８，８からの電圧信
号Ｖ工、ｖ２をそれぞれ適当なゲインにより差動増幅す
る差動増幅器、１３．１３は差動増幅器１２．１２から
の信号をそれぞれディジタル変換するＡ／Ｄコンバータ
で、それぞれ加算器１１からの出力Ｖ工＋ｖ２に基づい
てレファレンス入力電圧を制御されるようになっている
。
る加算器、１２．１２は加算器１１からの出力Ｖ、 ＋
Ｖ、に基づき各電流／電圧変換器８，８からの電圧信
号Ｖ工、ｖ２をそれぞれ適当なゲインにより差動増幅す
る差動増幅器、１３．１３は差動増幅器１２．１２から
の信号をそれぞれディジタル変換するＡ／Ｄコンバータ
で、それぞれ加算器１１からの出力Ｖ工＋ｖ２に基づい
てレファレンス入力電圧を制御されるようになっている
。
次に上記実施例の装置の動作について説明する。
例えば、第４図に示したものと同様に、ＰＳＤｌを両端
電極１ａ、ｌｂから距離Ｑ３を残した範囲で使用する場
合、前述したように１両端電極１ａ、ｌｂから出力され
る電流信号Ｉ０．Ｉ、は、（Ｑ ３ ／ Ｑ Ｏ）・工
≦１１． Ｉ、≦（（ｕ、−ｇ、）／ｉ、）・■の範囲
で出力されることになる。
電極１ａ、ｌｂから距離Ｑ３を残した範囲で使用する場
合、前述したように１両端電極１ａ、ｌｂから出力され
る電流信号Ｉ０．Ｉ、は、（Ｑ ３ ／ Ｑ Ｏ）・工
≦１１． Ｉ、≦（（ｕ、−ｇ、）／ｉ、）・■の範囲
で出力されることになる。
このとき、第１図に示す本実施例の装置では、差動増幅
器１２．１２において、それぞれ電流／電圧変換器８，
８からの２系統の電圧信号Ｖよ。
器１２．１２において、それぞれ電流／電圧変換器８，
８からの２系統の電圧信号Ｖよ。
ｖ２のうち、（Ｌ／ｌ。）・Ｉに対応する電圧分との差
動増幅が加算器１１からの出力Ｖ工＋Ｖ、に基づいて行
なわれ、そのゲインを適当に選択することにより、各差
動増幅器１２．１２からの出力は。
動増幅が加算器１１からの出力Ｖ工＋Ｖ、に基づいて行
なわれ、そのゲインを適当に選択することにより、各差
動増幅器１２．１２からの出力は。
０≦Ｉ、、Ｉ、≦Ｉの範囲に対応するようになる。
また、ＰＳＤｌ上に結像される光ビームの強度が変動し
た場合でも１本実施例の装置では、光ビームの強度に対
応する加算器１１からの出力Ｖ工＋Ｖ、に基づイテ、各
Ａ／Ｄ＝ｌンバータ１３，１３のレファレンス入力電圧
を制御することで、Ａ／Ｄコンバータ１３，１３は常に
最高の分解能を得ることができ、光強度が低い場合でも
演算精度を落すことなく処理できる。
た場合でも１本実施例の装置では、光ビームの強度に対
応する加算器１１からの出力Ｖ工＋Ｖ、に基づイテ、各
Ａ／Ｄ＝ｌンバータ１３，１３のレファレンス入力電圧
を制御することで、Ａ／Ｄコンバータ１３，１３は常に
最高の分解能を得ることができ、光強度が低い場合でも
演算精度を落すことなく処理できる。
なお、従来と同様に、ＰＳＤＩにより得られた電流信号
Ｉ、、Ｉよは、最終的には、ディジタル信号Ｄユ、Ｄ２
となり、ＣＰＵ７において、（Ｄよ−Ｄ、）／＜ ｏ
ｔ ＋ ｏ ｚ ）の値を演算して求めることで、その
演算値を補正したものが変位測定信号として出力される
。
Ｉ、、Ｉよは、最終的には、ディジタル信号Ｄユ、Ｄ２
となり、ＣＰＵ７において、（Ｄよ−Ｄ、）／＜ ｏ
ｔ ＋ ｏ ｚ ）の値を演算して求めることで、その
演算値を補正したものが変位測定信号として出力される
。
このように、本実施例の装置によれば、ＰＳＤｌの有効
面上を全て使用できない場合でも、また。
面上を全て使用できない場合でも、また。
ＰＳＤｌ上に結像する光ビームの強度が変動した場合で
も、Ａ／Ｄコンバータ１３．１３のダイナミックレンジ
を損なうことなく信号がＣＰＵ７に取り込まれるのであ
る。
も、Ａ／Ｄコンバータ１３．１３のダイナミックレンジ
を損なうことなく信号がＣＰＵ７に取り込まれるのであ
る。
［発明の効果］
以上のように、この発明によれば、一次元位置検出素子
から得られる２系統の電圧信号の加算値をパラメータと
して、差動増幅およびＡ／Ｄコンバータのレファレンス
入力電圧の制御を行なうことで、Ａ／Ｄコンバータのダ
イナミックレンジを、一次元位置検出素子の使用範囲や
結像ビームの強度変動に対して狭めることなく使用でき
る効果がある。
から得られる２系統の電圧信号の加算値をパラメータと
して、差動増幅およびＡ／Ｄコンバータのレファレンス
入力電圧の制御を行なうことで、Ａ／Ｄコンバータのダ
イナミックレンジを、一次元位置検出素子の使用範囲や
結像ビームの強度変動に対して狭めることなく使用でき
る効果がある。
第１図はこの発明の一実施例による光学式変位測定装置
を示す回路構成図、第２図は従来の光学式変位測定装置
を示す回路構成図、第３，４図はいずれも一次元位置検
出素子の動作を説明するための平面図である。 図において、１−一次元位置検出素子（ＰＳＤ）。 ｌａ、１ｂ＝−両端電極、７−ＣＰＵ、８−・・電流／
電圧変換器、１１・・−加算器、１２−差動増幅器。 １３・・〜Ａ／Ｄコンバータ。 なお、図中、同一の符号は同一、又は相当部分を示して
いる。
を示す回路構成図、第２図は従来の光学式変位測定装置
を示す回路構成図、第３，４図はいずれも一次元位置検
出素子の動作を説明するための平面図である。 図において、１−一次元位置検出素子（ＰＳＤ）。 ｌａ、１ｂ＝−両端電極、７−ＣＰＵ、８−・・電流／
電圧変換器、１１・・−加算器、１２−差動増幅器。 １３・・〜Ａ／Ｄコンバータ。 なお、図中、同一の符号は同一、又は相当部分を示して
いる。
Claims (1)
- 光ビームを被測定物体へ向けて照射し、前記被測定物体
からの反射光を一次元位置検出素子上に結像させ、結像
した前記光ビームの強度および結像位置に応じて前記一
次元位置検出素子の両端電極から出力される２系統の電
流信号を、それぞれ電流／電圧変換器により電圧信号に
変換しＡ／Ｄコンバータによりディジタル信号に変換し
てから、得られたディジタル信号に基づきＣＰＵにより
前記被測定物体の変位に対応した値を求める光学式変位
測定装置において、前記電流／電圧変換器からの２系統
の電圧信号をアナログ加算する加算器と、同加算器から
の出力に基づき前記電流／電圧変換器からの２系統の電
圧信号をそれぞれ差動増幅して前記Ａ／Ｄコンバータへ
出力する差動増幅器とがそなえられ、前記加算器からの
出力に基づいて前記Ａ／Ｄコンバータのレファレンス入
力電圧が制御されることを特徴とする光学式変位測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6143588A JPH01233312A (ja) | 1988-03-14 | 1988-03-14 | 光学式変位測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6143588A JPH01233312A (ja) | 1988-03-14 | 1988-03-14 | 光学式変位測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01233312A true JPH01233312A (ja) | 1989-09-19 |
Family
ID=13170987
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6143588A Pending JPH01233312A (ja) | 1988-03-14 | 1988-03-14 | 光学式変位測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01233312A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01265108A (ja) * | 1988-04-15 | 1989-10-23 | Matsushita Electric Works Ltd | 光学式変位測定装置 |
| JPH0462403A (ja) * | 1990-06-29 | 1992-02-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 実装部品の高さ測定装置 |
-
1988
- 1988-03-14 JP JP6143588A patent/JPH01233312A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01265108A (ja) * | 1988-04-15 | 1989-10-23 | Matsushita Electric Works Ltd | 光学式変位測定装置 |
| JPH0462403A (ja) * | 1990-06-29 | 1992-02-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 実装部品の高さ測定装置 |
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