JPH01220421A - 積層磁器コンデンサ - Google Patents

積層磁器コンデンサ

Info

Publication number
JPH01220421A
JPH01220421A JP63043332A JP4333288A JPH01220421A JP H01220421 A JPH01220421 A JP H01220421A JP 63043332 A JP63043332 A JP 63043332A JP 4333288 A JP4333288 A JP 4333288A JP H01220421 A JPH01220421 A JP H01220421A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
dielectric
capacitor
electrodes
breakdown voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63043332A
Other languages
English (en)
Inventor
Isao Ishiguchi
石口 功
Hitoshi Kashiwagi
仁 柏木
Hiroaki Yadokoro
谷所 博明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Mining and Cement Co Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Mining and Cement Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Mining and Cement Co Ltd filed Critical Mitsubishi Mining and Cement Co Ltd
Priority to JP63043332A priority Critical patent/JPH01220421A/ja
Publication of JPH01220421A publication Critical patent/JPH01220421A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/30Stacked capacitors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
  • Ceramic Capacitors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、積層磁器コンデンサに閏する。更に、詳しく
は、耐電圧を高めることのできる積層磁器:」ンデンナ
に関する。
[従来の技術] 最近、電T′機器の小型化に伴い、積層磁器コンデンサ
の小型化が進んでいるために、多くの技法により積層磁
器:Iンデンサが作製されている。
従来の積層磁器−1ンデンサは、誘電体層と導電体層と
を積層し、誘電体層の高誘電率を利用して、コンデンサ
とするものである。このようなコンデンサの耐電圧は、
その誘電体層の間隔と、tl電休体特性により決まる。
従って、積層コンデンサの絶縁破壊電圧を高めるために
は、コンデンナの内部電極の間隔を広げることしかでき
なかった。
[発明が解決しようとする問題点] 本発明の11的は、積層磁器コンデンサの内部電極の間
隔を増大せずに、その耐電圧、即ち、絶縁破壊゛1[圧
を高めることができる積層磁器−lンデンサの構造を提
供することである。従って、本発明は、:Iンデンサ耐
電圧性能を向上させ、小型で絶縁破壊電圧の高い積層磁
器コンデンサを提供することを目的とする。
[発明の構成] [問題点を解決するための手段] 本発明の要旨と4“るものは、誘電体層と導電体?lt
極層を積層した積層磁器ユjンデンサにおいて、該積A
”l磁器コンデンサの内部電極間にある誘電体層中に、
外部電極とは接続されていないフLJ−)電極層を少な
くとも1層、該:コンデンサ内部電極間に設けてなるこ
とを特徴とVる積J15磁器コンデンサである。
本発明の積層磁器コンデンサの構造は、磁器誘電体層、
内部電極層及び外部電極で構成され、その内部電極層の
間に、他のいかなる電極、導電体にも接続していない”
フn−ト’ii極”を設けたものである。
一般的に云えば、積層磁器コンデンサの内部電極構造と
絶縁4tL壊電圧の関係は、次のようなものである。
第1図に積層磁器コンデンサの代表的なものの構造を示
す、1は誘電体であり、2.2°は内部電極層であり、
3は外部電極層である。このような構造において、内部
電極層間隔、即ち、電極2と2°の間の距離をd、誘電
体の絶縁破壊電界強度をE、絶縁破壊電圧をVとすれば
、−船釣に、V −E d = A d ”’・=−・
・(1)が成立4る。ここでA、nは誘電体の有4゛る
定数であり、n−−0,7〜0゜0の範囲であることが
知られている。
この式(1)により、dが大きくなれば絶縁破壊電圧は
高くなる。従って、絶縁破壊電圧を高めるための最も簡
単な方法は内部電極間隔を大きく4ることである。
亦、このような構造において、絶縁破壊は、内部電極構
造の電極末端部に電荷が集中し、不・F等゛1ト界が誘
電体層中に生じるために、その電極末端部で生しること
が多い。
このような構造の内部電極では、内部電極間隔をdを大
きくvるほど、内部電極末端部に′電荷が集中するよう
になり、内部電極末端部とこれに対向す−る内部電極と
の間で絶縁破壊が生じ易い。
このような積層コンデンサにおいて、絶縁破壊電圧を高
めようとして、内部電極間隔をa倍にしたとしても、絶
縁破壊電圧は、式(1)により増加するために、a倍と
はならなく、それより低い値となる。そのために、所定
の耐電圧性能を得るためには更に内部電極間隔を広げな
ければならない。
一方、内部電極間隔を広げるほどに、容量に対する誘電
体の体積比率が大きくなる。従って、内部電極構造では
絶縁破壊電圧を高くするためには、コンデンサ寸法は著
しく大きくならざるを得ない。
本発明では、外部電極とは全く接続されない内部電極(
これを”フロート電極”と名ずける)を誘電体層内の、
コンデンサ内部電極の間に挿入設置することにより、次
に説明1−るようにコンデンサ絶縁破壊電圧を高めるこ
とができる。
積層コンデンサの2つの内部電極の間隔dの誘電体層を
t個の”フロート電極”を挿入設置すると仮定する0、
そうすると、式(υより、V =AtX (d/l)”
’−tX(1/l>”’Ad”’が成立する。
従って、”フロート電極”を挿入することにより絶縁破
壊電圧は、tX (1/ t)”’倍になるが、n=−
0,7〜0であるから、 tx(1/l) 1′□> 1となり、絶縁破壊電圧を
内部電極間隔を広げることなく、高めることができる。
史に、′フロート電極”を挿入することにより内部電極
末端部での不γ等電界を緩和することがii)能である
本発明に用いられ誘電体材料としては、好適には、アル
ミナ、ノ、ライト、ステアタイト、フォルスプライト、
ベリリア、チタニア、窒化アルミニウム、ブ・タン酸バ
リウムに代表されるペロプスカイト構造を有する物質な
どを用いる。
フロート電極層形成に用いる材料としては、金、銀、鋼
、ニッケル、白金、パラジウム又はその組合わせなど導
電性金属であり、そのペーストをスクリーン印刷法など
により磁器基板表面上に或いは磁器形成のときにその中
に形成することができる。
本発明により得られる積層磁器7Jンデンナは、例えば
、電子!lR器等に使用される混成集積回路用、その他
に使用され得る。
次に、本発明の積層磁器コンデンサについて実施例によ
り説明4″るが、本発明は、次の実施例のものに限定さ
れるものではない。
[実施例] 本発明による”フロート電極”を用いた積層磁器コンデ
ンサの内部構造を、第2図に示ぜ、1は誘電体、2.2
′は内部電極、3は外部電極、4は”フロート電極”で
ある、電極層2と2°との間隔を46μmで、諷電体層
をPLZT系誘電体で作製した。第2図のように、内部
電極間に1層の”フロート電極”を挿入設置した場合と
、第1図のように、′フロート電極”を設けない場合に
ついて、その静電容量(nF)と誘電正接(%)、絶縁
抵抗(XIOIIΩ)と絶縁破壊電圧(V)を測定した
”フロート電極”がない場合は、静電界量2゜32nF
で、誘’4f+l二接が0.08%、絶縁抵抗が7.2
X10”Ωで、絶縁破壊電圧はtooovであった。こ
れに対して、第2図のように、′フIノー) ’+r;
、極”4を電極層2.2°間のほぼ真ん中に挿入した場
合は、静電容量2.41nFで、誘電正接が0.07%
、絶縁抵抗が8.7X10日Ωで、絶縁破壊電圧はta
sovであった。
更に、この内部電極2と2°の間隔が100μmのPL
ZT系誘電体層の中に1層以−トの”フ【コート電極”
4を挿入した場合の絶縁破に!!主電圧測定した。
各々の絶縁破壊電圧は、′フi」−ト電極”なしのとき
、1300Vで、”フロート電極”1層のとき、210
0Vで、”フ「コート電極”2層挿入のとさ、2800
Vで、′フロート電極”3層挿入のときに3400Vで
あった。
以上の測定結果から5本発明の積層磁器コンデンサによ
る”フロート電極”構造を用いることにより、絶縁a壊
電圧が著しく向上したものであることが認められる。
[発明の効果] 本発明の積層磁器:1ンデンサは、上記のような構成を
とることにより、 第1に、′フ[1−ト電極”を用いるので、内部電極層
間の間隔を変えることなく、絶′I&破壊電圧を高め、
電気的な弱点を強化する効果が得られた。
第2に、更に、”フロート電極”を挿入する枚数を増や
すことで高耐電圧が得られる積層磁器コンデンサの製造
が可能になったこと、 などの技術的効果が得られた。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来の積層磁器コンデンサの構造を示す平面
図、断面図及び端面図である。 第2図は、本発明の積層磁器コンデンサの構造を示す平
面図、断面図及び端面図である。 [主要部分の符号の説明] 1、、、.3重体 2.2°10.、内部電極層 3、、、、端面にある外部電極 4、、、、”フロート電極” 特許出願人  三菱鉱業セメント株式会社代理人 弁理
士  倉 持  裕(外1名)第2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 誘電体層と導電体電極層を積層した積層磁器コンデンサ
    において、 該積層磁器コンデンサの内部電極間にある請電体層中に
    、外部電極とは接続されていないフロート電極層を少な
    くとも1層、該コンデンサ内部電極間に設けてなること
    を特徴とする積層磁器コンデンサ。
JP63043332A 1988-02-27 1988-02-27 積層磁器コンデンサ Pending JPH01220421A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63043332A JPH01220421A (ja) 1988-02-27 1988-02-27 積層磁器コンデンサ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63043332A JPH01220421A (ja) 1988-02-27 1988-02-27 積層磁器コンデンサ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01220421A true JPH01220421A (ja) 1989-09-04

Family

ID=12660879

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63043332A Pending JPH01220421A (ja) 1988-02-27 1988-02-27 積層磁器コンデンサ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01220421A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013162013A (ja) * 2012-02-07 2013-08-19 Tdk Corp 積層コンデンサ
US20130335882A1 (en) * 2012-06-14 2013-12-19 Uchicago Argonne, Llc. Method of making dielectric capacitors with increased dielectric breakdown strength
US20150371778A1 (en) * 2013-03-07 2015-12-24 Epcos Ag Capacitor Arrangement
US10170243B2 (en) 2016-09-13 2019-01-01 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer ceramic capacitor
JP2021197458A (ja) * 2020-06-15 2021-12-27 株式会社村田製作所 積層セラミックコンデンサ

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS545755B2 (ja) * 1975-10-07 1979-03-20

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS545755B2 (ja) * 1975-10-07 1979-03-20

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013162013A (ja) * 2012-02-07 2013-08-19 Tdk Corp 積層コンデンサ
US20130335882A1 (en) * 2012-06-14 2013-12-19 Uchicago Argonne, Llc. Method of making dielectric capacitors with increased dielectric breakdown strength
US9646766B2 (en) * 2012-06-14 2017-05-09 Uchicago Argonne, Llc Method of making dielectric capacitors with increased dielectric breakdown strength
US20150371778A1 (en) * 2013-03-07 2015-12-24 Epcos Ag Capacitor Arrangement
US9905363B2 (en) * 2013-03-07 2018-02-27 Epcos Ag Capacitor arrangement
US10170243B2 (en) 2016-09-13 2019-01-01 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer ceramic capacitor
JP2021197458A (ja) * 2020-06-15 2021-12-27 株式会社村田製作所 積層セラミックコンデンサ

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3863777B2 (ja) 低容量多層バリスタ
US3686535A (en) Electrolytic capacitor with separate interconnected anode bodies
US6760215B2 (en) Capacitor with high voltage breakdown threshold
JPS631724B2 (ja)
JPH05166668A (ja) 埋設キャパシタを含んでいる低温共焼成構造
EP0380639A1 (en) High dielectric constant flexible sheet material and method of making
US4853827A (en) High dielectric multilayer capacitor
JP6373247B2 (ja) 積層セラミック電子部品及びその製造方法
US7012501B2 (en) Electrical multi-layer component
US7535694B2 (en) Feedthrough multilayer capacitor
JP2590357B2 (ja) 積層磁器コンデンサ
JPH01220421A (ja) 積層磁器コンデンサ
US5051542A (en) Low impedance bus bar
JPH025019B2 (ja)
JP2003309021A (ja) 表面実装型素子
JPH08273977A (ja) 積層コンデンサ
JPH03283581A (ja) 積層圧電アクチュエータ素子
JPS6211257A (ja) マイクロ波集積回路
JP3064676B2 (ja) 積層セラミック磁器素子
JP2009038333A (ja) 貫通型積層コンデンサ
JPS58180093A (ja) 多層回路板の製造方法
JPS6141223Y2 (ja)
JPH0342488B2 (ja)
JPH0566951U (ja) 積層セラミックコンデンサ
KR20230095214A (ko) 세라믹 커패시터 및 그 제조방법