JPH01217259A - バックグランド除去装置 - Google Patents

バックグランド除去装置

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JPH01217259A
JPH01217259A JP4367888A JP4367888A JPH01217259A JP H01217259 A JPH01217259 A JP H01217259A JP 4367888 A JP4367888 A JP 4367888A JP 4367888 A JP4367888 A JP 4367888A JP H01217259 A JPH01217259 A JP H01217259A
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Takeshi Murayama
健 村山
Yoshinori Inoue
嘉則 井上
Mitsuhide Ueno
上野 満秀
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Yokogawa Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、被測定液中の陽イオンを分析する陽イオン分
析装置に装着され、分離カラムからの溶出液あるいは試
料溶液自身の導電率バックグランドを減少させるバック
グランド除去装置に関する。
〈従来の技術〉 一般に、被測定液中の陽イオンを分析するには、低イオ
ン交換容量の陽イオン交換樹脂か充填された分離カラム
に、希薄な酸でなる移動相でもって一定量の被測定液を
搬送し該被測定液中の陽イオンをクロマトグラフィツク
に分離させて分析を行う。被測定液中の陽イオンの検出
は、分離力ラムよりの溶出液を直接検出器(例えは導電
率検出器)で検出して上記分析結果たるタロマドグラム
を得ることができるが、分離カラムと検出器の間に叶−
型の陰イオン交換樹脂を充填したサプレッサカラムを置
き、該サプレッサカラムに上記移動相(カラムからの溶
出液)を通すことによって酸から水に変換すると共に被
測定液中の陽イオンの対イオンを水酸イオンに変えるこ
とにより、移動相の導電率を低下させてS/N比を向上
させながら被測定液中の陽イオンを測定することか行わ
れる。
この場合、酸型の陰イオン交換樹脂を充填したサプレッ
サカラムに代えて陰イオン交換膜を利用したものか利用
できれば、該陰イオン交換膜を介して連続的に水に変換
できるため、陽イオン分析装置を利用する上できわめて
好都合となる。
〈発明か解決しようとする問題点〉 然るに、陰イオン交換膜を利用したサプレッサの従来例
としては、二重管構造の陰イオン交換チューブでなるサ
プレッサがある。これは、ステンレスあるいはテフロン
チューブの中にこれらのチューブの内径より細い外径を
持つ中空の陰イオン交換チューブを入れた二重管構造に
なっている。
カラムからの溶出液は中空の陰イオン交換チューブの中
を流れ、除去液はその外側を移動相の流れに対して向流
で流れるようになっており、連続的にバックグランドを
除去できるようになっている。
また、シート状のイオン交換膜を利用した例としては2
枚のイオン交換膜と球状充填物(例えばイオン交換樹脂
)が充填された長溝を有する3枚のスペーサを積層し、
上記二重管構造のサプレッサと同様の効果を得るように
したものかある。
然しなから、上記二重管構造のサプレッサは中空の陰イ
オン交換チューブを利用しているためイオン交換効率は
あまり高くなく高効率でバックグランドを減少させるこ
とは難しい。そのため、十分なサブレスト効果を得るな
めにはかなりの長さが必要となり、結果として内容積が
増加し余剰の分析時間を費やし、分離カラムで分離した
成分の広がりを生じてしまうという問題点がある。これ
の問題点の改善策として内径の小さいイオン交換チュー
ブを使用することやイオン交換効率の高いイオン交換チ
ューブを利用することが考えられるが、このようなチュ
ーブは入手が非常に困難である。また、製作・加工があ
まり容易ではないという問題もある。また、イオン交換
膜を利用した充填型イオン交換膜サプレッサは上記二重
管構造のサプレッサの欠点を改良するものであるが、イ
オン交換膜とスペーサで形成される3つの空間に球状物
質(例えばイオン交換樹脂)を充填するため製作・加工
の課程でイオン交換膜の変形・破損か生ずるという問題
がある。
本発明は、かかる従来例の欠点に鑑みてなされたもので
あり、その目的は、入手か容易なシート状の陰イオン交
換膜と球状充填物(例えば、陰イオン交換樹脂、ポリマ
ービーズ、ガラス球、金属球等)及び平板状の連続気孔
を持つフィルター状物質(例えば焼結金属板、ガラスフ
ィルター、多孔性セラミック、多孔性プラスチック板等
)を用いた簡単な構成(構造)のバックグランド除去装
置を提供することにある。
く問題点を解決するための手段〉 上述のような問題点を解決する本発明の特徴は、バック
グランド除去装置において、連続気孔を持つフィルター
状物質か挿入された長い溝を有する第1シートと、陰イ
オン交換膜でなる第2シートと、球状物質が充填された
長い溝を有する第3シートと、陰イオン交換膜でなる第
4シートと、連続気孔を持つフィルター状物質か挿入さ
れた長い溝を有する第5シートを積層してその上下を第
1及び第2の基板で狭着し、前記第2及び第4のシート
(陰イオン交換M、)に挟まれた第3シートの間隙流路
に移動相を流すと共に前記第2及び第4シートの外側に
形成される(第2シートと第1基板及び第4シートと第
2基板に挟まれた)第1及び第5シートの間隙流路に前
記移動相と向流方向に除去液を流ずことにある。
〈実施例〉 以下、本発明について図を用いて詳細に説明する。第1
図は本発明に係わる導電率バックグランド減少(除去)
の原理を詳しく示す概念図である。
この図において、2枚の陰イオン交換膜Mで仕切られた
3つの部預ち被測定成分か通過するC2には例えば陰イ
オン交換樹脂のような球状物質が充填されており、無駄
体積は少なくなっている。
また、除去液か通過する部屋C1及びC3には連続気孔
を持つフィルター状物質Fか挿入されており、流路抵抗
を余り大きくすることなくイオン交換膜Mを介したイオ
ン交換効率を改善するようになっている。部屋C2には
被測定試料(例えばNa1イオン)を含む分離カラムか
ら溶出された溶離液や被測定溶液(例えばNaNO3を
含むHNO3)か流れ、部屋C1、C3には該溶離液と
向流方向に除去液(例えばNa叶)か流れている。この
状態で、部屋C2内の分離カラムからの溶離液や被測定
溶液(例えばNaNO3を含むHNO3)に含まれてい
るNO3−イオンは、部屋CI 、C3内の除去液(例
えばNaOH)に含まれている叶−イオンと陰イオン交
換膜Mを介してイオン交換する。この時分離カラムから
の溶離液や被測定溶液中の被測定成分(例えばNa” 
)は各部屋を仕切るイオン交換膜Mと同一の電荷を持つ
ためイオン交換されずに部屋C2中に残る。このため、
部屋C2から溶出する液体は、イオン交換されて対イオ
ンが叶−型となった被測定成分(例えばNaNO3では
NaO旧を含む導電率のバックグランドの除去された液
体(例えばH2O)となり、部屋C1及びC3から溶出
する液体は、溶離液や被測定溶液中の陰イオンとイオン
交換して例えはNO3−型になった除去液(例えばNa
N03)と余剰の除去液(例えばNa叶)を含む導電率
の高い液体となる6 一方、第2図は本発明実施例の分解構成斜視図であり、
図中、1は例えはアクリル板でなる第1基板、1a、1
〜1a10は第1基板に設けられた貫通穴、1bは貫通
穴1alに挿入されるボルト、ICは溶離液用の導入口
、1dは除去液用の第1導入口、1eは溶離液用の導出
口、1fは除去液用の第1導出口、2は中央部に溝2a
が設けられた例えばゴム製の第1シート、3はシート状
の陰イオン交換膜でなる第2シート、4は中央部に溝4
aが設けられた例えはゴム製の第3シート、5はシート
状の陰イオン交換膜でなる第4シート、6は中央部に溝
6aか設けられた例えばゴム製の第5シート、7は例え
はアクリル板でなる第2基板、7a1〜7a10は第2
基板に設けられた貫通穴、7cは除去液用の第2導入口
、7dは除去液用の第2導出口、8 a、 1はワッシ
ャ、8b1はボルトlblのネジ部と合うナツトである
。尚、第1シートの溝2a及び第5シートの溝6aには
、いずれも連続気孔を持つフィルター状物質例えば多孔
性ポリエチレンシートが挿入されており、第3シートの
渭4aには、球状物質例えば陰イオン交換樹脂が埋め込
まれて(充填されて)いる。
上述のような分解構成からなる本発明の実施例は、第1
〜第5のシート2〜6か積層されてのち該シート2〜6
か第1及び第2の基板1及び7で挟まれ、その後ボルト
1b1 (及び図示しないボルト1b2〜1b10)が
貫通穴19(及び1a、2〜1a10)と貫通穴7a1
 (及び7a2〜7a10)の貫通されてのちワッシャ
8a1 (及び図示しないワッシャ8a2〜8a、10
)が入れられ、最後にボルト1b1 (及び1b2〜1
b10)のネジ部にナツト8b1 (及び図示しないナ
ツト8b2〜8b10)がねじ込まれることによって、
本発明実施例たるバックグランド除去装置の組立が完成
する。
このようにして組み立てられたバックグランド除去装置
は第3図に示すような陰イオン分析装置に装着されて使
用される。即ち、第3図は本発明実施例の使用例構成説
明図であり、図中、分離カラム12、サプレッサ13、
及び検出器14は恒温槽15内に収容されて一定温度(
例えば45℃)に保たれている。また、ポンプ10aか
駆動すると槽9a内の溶離液が、例えば11/llIn
の流量で、ポンプ10a→切り換え弁11の第1及び第
2の接続口11a、llb→分離カラム12→バックグ
ランド除去装置13の内室13bの導入ロIC→バック
グランド除去装置13の内室13b→バツクグランド除
去装W13の内室13bの導出口1e→検出器14を経
て廃液槽9Cへと流れ、ポンプ10bが駆動すると槽9
b内の除去液が、例えは1ml/11inの流量で、ポ
ンプ10b→バックグランド除去装置13の外室13c
の第1導入ロ1d→バツクグランド除去装置13の外室
13c→バツクグランド除去装置13の外室13cの第
1導出ロ1f→バツクグランド除去装置13の外室13
cの第2導入ロアc→バツクグランド除去装置13の外
室13c→バツクグランド除去装置13の外室13cの
第2導出ロアdを経て廃液槽9dへと流れる。このため
、バックグランド除去装置13の内室13b(第2図の
溝4a)内を流れる液体に含まれている陰イオンは陰イ
オン交換膜13a(第2図の第2シート3及び第4シー
ト5)を介してバックグランド除去装置13の外室13
C(第2図の溝2a及び溝6a)内を流れる液体に含ま
れている陰イオンと交換し究極的に導電率のバックグラ
ンドを低下させることかできるようになる。
〈発明の効果〉 以上詳しく説明したような本発明の実施例によれば、入
手が容易なシート状の陰イオン交換膜と球状物質(例え
ば、陰イオン交換樹脂、ポリマービーズ、ガラス球、金
属球等)及び連続気孔を持つフィルター状物質(例えは
焼結金属板、ガラスフィルター、多孔性セラミック、多
孔性プラスチック板等)を用い、クロマトグラムにおけ
るピーク形状を損ねることのないデッドポリウムの小さ
な簡単な構成(構造〉のバックグランド除去装置が実現
する。また、陰イオン交換膜とスペーサ(第1〜第5の
シート2〜6)で形成されている空間(具体的には長溝
2a、6a)に例えは多孔性ポリエチレンシートのよう
な連続気孔を持つフィルター状物質か充填されているな
め、該フィルター状物質か陰イオン交換膜をバッファラ
ダして溶離液が流れる流通系の耐圧を高めているため、
被測定液の流れる空間(具体的には長溝4a)に球状物
質を高圧・高密度で充填できるイオン交換膜の変形・破
損か起きないという利点もある。更に、陰イオン交換膜
とスペーサで形成される3つの空間(具体的には長i2
a、4a、6a)全てに充填する必要がなく、1つの空
間(具体的には長溝4a)にのみ充填するなめ製造が容
易となる。
=  11 − ラス球若しくは金属球であっても同様の効果が現れて有
効である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明実施例の分解構成斜視図、第2図は本発
明実施例の使用例構成説明図、第3図は導電率バックグ
ランド除去の原理を詳しく示す概念図である6

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被測定液中の陽イオンを分析する陽イオン分析装
    置に装着され分離カラムから溶出する液体の導電率バッ
    クグランドを減少させるバックグランド除去装置におい
    て、連続気孔を持つフィルター状物質が挿入された長い
    溝を有する第1シートと、陰イオン交換膜でなる第2シ
    ートと、球状物質が充填された長い溝を有する第3シー
    トと、陰イオン交換膜でなる第4シートと、連続気孔を
    持つフィルター状物質が挿入された長い溝を有する第5
    シートを積層してその上下を第1及び第2の基板で狭着
    し、前記第2及び第4のシートに挟まれた第3シートの
    間隙流路に移動相を流すと共に前記第2及び第4シート
    の外側に形成される第1及び第5シートの間隙流路に除
    去液を流すことを特徴とするバックグランド除去装置。
  2. (2)前記第1シート及び第5シートに挿入されるもの
    が平板状の連続気孔を持つフィルター状物質でなる前記
    特許請求範囲第(1)項のバックグランド除去装置。
  3. (3)前記第3シートに充填されるものが陰イオン交換
    樹脂、ポリマービーズ、ガラス球、金属球でなる前記特
    許請求範囲第(1)項のバックグランド除去装置。
JP4367888A 1988-02-26 1988-02-26 バックグランド除去装置 Expired - Lifetime JPH0778496B2 (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03125967A (ja) * 1989-10-09 1991-05-29 Nikkiso Co Ltd イオンクロマトグラフ分析法および装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH03125967A (ja) * 1989-10-09 1991-05-29 Nikkiso Co Ltd イオンクロマトグラフ分析法および装置

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