JPH01213932A - 電子管用陰極 - Google Patents
電子管用陰極Info
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- JPH01213932A JPH01213932A JP63040318A JP4031888A JPH01213932A JP H01213932 A JPH01213932 A JP H01213932A JP 63040318 A JP63040318 A JP 63040318A JP 4031888 A JP4031888 A JP 4031888A JP H01213932 A JPH01213932 A JP H01213932A
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- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 25
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 17
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 17
- 229910052706 scandium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 11
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims abstract description 10
- SIXSYDAISGFNSX-UHFFFAOYSA-N scandium atom Chemical compound [Sc] SIXSYDAISGFNSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 10
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims abstract description 8
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 32
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 26
- 229910000287 alkaline earth metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 238000001994 activation Methods 0.000 abstract description 10
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 abstract description 9
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 abstract description 9
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 abstract description 6
- 150000003326 scandium compounds Chemical class 0.000 abstract description 4
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 abstract description 3
- 150000002909 rare earth metal compounds Chemical class 0.000 abstract description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 3
- 239000002585 base Substances 0.000 abstract 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 40
- QVQLCTNNEUAWMS-UHFFFAOYSA-N barium oxide Chemical group [Ba]=O QVQLCTNNEUAWMS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- HYXGAEYDKFCVMU-UHFFFAOYSA-N scandium oxide Chemical compound O=[Sc]O[Sc]=O HYXGAEYDKFCVMU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 229910001404 rare earth metal oxide Inorganic materials 0.000 description 7
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 6
- PLDDOISOJJCEMH-UHFFFAOYSA-N neodymium(3+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Nd+3].[Nd+3] PLDDOISOJJCEMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 4
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 4
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 description 4
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 4
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 4
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 4
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- -1 alkaline earth metal carbonate Chemical class 0.000 description 3
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 3
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 3
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-L Carbonate Chemical compound [O-]C([O-])=O BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052772 Samarium Inorganic materials 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 238000010494 dissociation reaction Methods 0.000 description 2
- 208000018459 dissociative disease Diseases 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- MRELNEQAGSRDBK-UHFFFAOYSA-N lanthanum(3+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[La+3].[La+3] MRELNEQAGSRDBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011572 manganese Substances 0.000 description 2
- 239000010955 niobium Substances 0.000 description 2
- 229910052762 osmium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 description 2
- 229910001954 samarium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 229940075630 samarium oxide Drugs 0.000 description 2
- FKTOIHSPIPYAPE-UHFFFAOYSA-N samarium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Sm+3].[Sm+3] FKTOIHSPIPYAPE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N Manganese Chemical compound [Mn] PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Chemical class [O-2].[Ca+2] BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000012255 calcium oxide Nutrition 0.000 description 1
- 150000004649 carbonic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 229910000420 cerium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 229910003440 dysprosium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- NLQFUUYNQFMIJW-UHFFFAOYSA-N dysprosium(iii) oxide Chemical compound O=[Dy]O[Dy]=O NLQFUUYNQFMIJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001940 europium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- AEBZCFFCDTZXHP-UHFFFAOYSA-N europium(3+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Eu+3].[Eu+3] AEBZCFFCDTZXHP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 229910001938 gadolinium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229940075613 gadolinium oxide Drugs 0.000 description 1
- CMIHHWBVHJVIGI-UHFFFAOYSA-N gadolinium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Gd+3].[Gd+3] CMIHHWBVHJVIGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 1
- VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N hafnium atom Chemical compound [Hf] VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 1
- GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N iridium atom Chemical compound [Ir] GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 1
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N osmium atom Chemical compound [Os] SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoceriooxy)cerium Chemical compound [Ce]=O.O=[Ce]=O BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoyttriooxy)yttrium Chemical compound O=[Y]O[Y]=O SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- UZLYXNNZYFBAQO-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);ytterbium(3+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Yb+3].[Yb+3] UZLYXNNZYFBAQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 150000002910 rare earth metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000006722 reduction reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052702 rhenium Inorganic materials 0.000 description 1
- WUAPFZMCVAUBPE-UHFFFAOYSA-N rhenium atom Chemical compound [Re] WUAPFZMCVAUBPE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VSZWPYCFIRKVQL-UHFFFAOYSA-N selanylidenegallium;selenium Chemical compound [Se].[Se]=[Ga].[Se]=[Ga] VSZWPYCFIRKVQL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N tellanylidenegermanium Chemical compound [Te]=[Ge] JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 1
- LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N vanadium atom Chemical compound [V] LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910003454 ytterbium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229940075624 ytterbium oxide Drugs 0.000 description 1
Landscapes
- Solid Thermionic Cathode (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、TV用ジブラウン管どに用いられる電子管
用陰極に関するものである。
用陰極に関するものである。
第2図は従来のTV用ジブラウン管撮像管に用いられて
いる陰極を示すものであり、図において、1はシリコン
(Si)、マグネシウム(Mg)などの還元性元素を微
量含む主成分がニッケルからなる有底筒状の基体、2は
この基体1の底部上面に被着され、少なくともバリウム
(Ba)を含み、他にストロンチウム(Sr)あるいは
/及びカルシウム(Ca)を含むアルカリ土類金属酸化
物からなる電子放射物質層、3は上記基体1内に配設さ
れたヒータであり、加熱により上記電子放射物質層2か
ら熱電子を放出させるためのものである。
いる陰極を示すものであり、図において、1はシリコン
(Si)、マグネシウム(Mg)などの還元性元素を微
量含む主成分がニッケルからなる有底筒状の基体、2は
この基体1の底部上面に被着され、少なくともバリウム
(Ba)を含み、他にストロンチウム(Sr)あるいは
/及びカルシウム(Ca)を含むアルカリ土類金属酸化
物からなる電子放射物質層、3は上記基体1内に配設さ
れたヒータであり、加熱により上記電子放射物質層2か
ら熱電子を放出させるためのものである。
このように構成された電子管用陰極において、基体1へ
の電子放射物質層2の被着は次のようにして行われる。
の電子放射物質層2の被着は次のようにして行われる。
まず、アルカリ土類金属(Ba。
Sr、Ca)の三元炭酸塩からなる懸濁液を基体1の底
部上面に塗布し、真空排気工程中にヒータ3によって加
熱する。この時、アルカリ土類金属の炭酸塩はアルカリ
土類金属の酸化物に変わる。
部上面に塗布し、真空排気工程中にヒータ3によって加
熱する。この時、アルカリ土類金属の炭酸塩はアルカリ
土類金属の酸化物に変わる。
その後、アルカリ土類金属の酸化物の一部を還元して半
導体的性質を有するように活性化を行うことにより、基
体1上にアルカリ土類金属の酸化物からなる電子放射物
質層2を被着形成している。
導体的性質を有するように活性化を行うことにより、基
体1上にアルカリ土類金属の酸化物からなる電子放射物
質層2を被着形成している。
この活性化工程において、アルカリ土類金属の酸化物の
一部は次のように反応する。つまり、基体1内に含有さ
れたシリコン、マグネシウム等の還元性元素は拡散によ
りアルカリ土類金属の酸化物と基体1との界面に移動し
、アルカリ土類金属酸化物と反応する0例えば、アルカ
リ土類金属酸化物が酸化バリウム(B a O)であれ
ば、次式(1)。
一部は次のように反応する。つまり、基体1内に含有さ
れたシリコン、マグネシウム等の還元性元素は拡散によ
りアルカリ土類金属の酸化物と基体1との界面に移動し
、アルカリ土類金属酸化物と反応する0例えば、アルカ
リ土類金属酸化物が酸化バリウム(B a O)であれ
ば、次式(1)。
(2)のように反応する。
B a O,+ %S i =B a +%S i O
l・・・(1)BaO+Mg =Ba+MgO・・・
(2)この反応の結果、基体l上に被着形成されたアル
カリ土類金属酸化物の一部が還元され、酸素欠乏型の半
導体となり、陰極温度700〜800℃の動作温度で0
.5〜0.8 A/cdの電子放射が得られることにな
る。
l・・・(1)BaO+Mg =Ba+MgO・・・
(2)この反応の結果、基体l上に被着形成されたアル
カリ土類金属酸化物の一部が還元され、酸素欠乏型の半
導体となり、陰極温度700〜800℃の動作温度で0
.5〜0.8 A/cdの電子放射が得られることにな
る。
ところが、上記電子管用陰極では、電子放射が0.5〜
0.8 A/−以上の電流密度は取り出せない。
0.8 A/−以上の電流密度は取り出せない。
その理由として、アルカリ土類金属酸化物の一部を還元
反応させた場合、上記(11,(21式からも明らかな
ように、基体1とアルカリ土類金属酸化物層との界面ニ
S iOt 、 M g OあるいはBaO−3iQ、
などの複合酸化物層(中間層)が形成され、この中間層
が高抵抗層となって電流の流れを妨げること、及び上記
中間層が基体1中の還元性元素(St、Mg)が電子放
射物質層2の表面側へ拡散するのを妨げるため十分な量
のバリウム(Ba)が生成されないことが考えられてい
る。つまり、電子管動作中に基体1と電子放射物質層2
との界面近傍、特に基体1表面近傍のニッケル結晶粒界
と上記界面よりlOμI程度電子放射物質層2内側の位
置に上記中間層が偏析するため、電流の流れ及び電子放
射物質層2表面側への還元性元素の拡散が妨げられ、高
電流密度下の十分な電子放出特性が得られないという問
題があった。
反応させた場合、上記(11,(21式からも明らかな
ように、基体1とアルカリ土類金属酸化物層との界面ニ
S iOt 、 M g OあるいはBaO−3iQ、
などの複合酸化物層(中間層)が形成され、この中間層
が高抵抗層となって電流の流れを妨げること、及び上記
中間層が基体1中の還元性元素(St、Mg)が電子放
射物質層2の表面側へ拡散するのを妨げるため十分な量
のバリウム(Ba)が生成されないことが考えられてい
る。つまり、電子管動作中に基体1と電子放射物質層2
との界面近傍、特に基体1表面近傍のニッケル結晶粒界
と上記界面よりlOμI程度電子放射物質層2内側の位
置に上記中間層が偏析するため、電流の流れ及び電子放
射物質層2表面側への還元性元素の拡散が妨げられ、高
電流密度下の十分な電子放出特性が得られないという問
題があった。
これに対して、特願昭60−229303号の出願には
、基体に0.01〜0.5重量%の希土類金属を含有さ
せることによって、電子放射物質層を基体に被着形成す
る際の活性化時にアルカリ土類金属の炭酸塩が分解する
際、あるいは陰極としての動作中に酸化バリウムが解離
反応を起こす際に基体が酸化する反応を防止するととも
に、電子放射物質層中ぺの基体に含有された還元性元素
の拡散を適度に制御し、還元性元素による複合酸化物か
らなる中間層が基体と電子放射物質層との界面近傍に集
中的に形成されることを防止し、中間層を電子放射物f
N内に分散させるという技術が示されている。
、基体に0.01〜0.5重量%の希土類金属を含有さ
せることによって、電子放射物質層を基体に被着形成す
る際の活性化時にアルカリ土類金属の炭酸塩が分解する
際、あるいは陰極としての動作中に酸化バリウムが解離
反応を起こす際に基体が酸化する反応を防止するととも
に、電子放射物質層中ぺの基体に含有された還元性元素
の拡散を適度に制御し、還元性元素による複合酸化物か
らなる中間層が基体と電子放射物質層との界面近傍に集
中的に形成されることを防止し、中間層を電子放射物f
N内に分散させるという技術が示されている。
つまり、この第2の従来例の電子管用陰極は、中間層が
分散されるために、1〜3 A/cj程度の高電流密度
動作でのエミッション劣化が少ないという優れた特性を
有するものである。ところが、このものにおいても、3
A/−を越える、例えば4 A/cdの高電流密度動作
ではエミッション劣化が大きいという問題がある。さら
に、特願昭60−160851号の出願には、電子放射
物質層に0.1〜20重量%の希土類金属酸化物を含有
させることにより、第2の従来例と同様、基体の酸化を
防止するとともに中間層を分散させるという技術が示さ
れている。
分散されるために、1〜3 A/cj程度の高電流密度
動作でのエミッション劣化が少ないという優れた特性を
有するものである。ところが、このものにおいても、3
A/−を越える、例えば4 A/cdの高電流密度動作
ではエミッション劣化が大きいという問題がある。さら
に、特願昭60−160851号の出願には、電子放射
物質層に0.1〜20重量%の希土類金属酸化物を含有
させることにより、第2の従来例と同様、基体の酸化を
防止するとともに中間層を分散させるという技術が示さ
れている。
この場合においては、4A/−以上の高電流密度動作で
も、エミッションの劣化を少なくできる。この理由は、
後に詳述するように、4A/−以上の高電流密度動作に
おいては電子放射物質層を流れる電流によるジュール熱
でバリウムの蒸発が顕著になるが、電子放射物質層に希
土類酸化物が所定量台まれるとバリウムの蒸発が抑えら
れることであると考えられる。
も、エミッションの劣化を少なくできる。この理由は、
後に詳述するように、4A/−以上の高電流密度動作に
おいては電子放射物質層を流れる電流によるジュール熱
でバリウムの蒸発が顕著になるが、電子放射物質層に希
土類酸化物が所定量台まれるとバリウムの蒸発が抑えら
れることであると考えられる。
しかしながら、このような従来の電子管用陰極において
は、通常の活性化工程を経た後4A/−以上の高電流密
度動作をさせると、バリウムの蒸発を抑える効果が十分
でないことがあり、このためエミッションの劣化が大き
い場合があり、活性化の時間を長くしなければならない
という問題点があった・ この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、通常の活性化工程のままでも4A/cd以上
の高電流密度動作において、バリウムの蒸発を抑える効
果が常にあり、長時間にわたって安定したエミッション
特性を有する電子管用陰極を得ることを目的とする。
は、通常の活性化工程を経た後4A/−以上の高電流密
度動作をさせると、バリウムの蒸発を抑える効果が十分
でないことがあり、このためエミッションの劣化が大き
い場合があり、活性化の時間を長くしなければならない
という問題点があった・ この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、通常の活性化工程のままでも4A/cd以上
の高電流密度動作において、バリウムの蒸発を抑える効
果が常にあり、長時間にわたって安定したエミッション
特性を有する電子管用陰極を得ることを目的とする。
この発明に係る電子管用陰極は、主成分がニッケルから
なる基体上に、少なくともバリウムを含むアルカリ土類
金属酸化物を主成分とし、これにスカンジウムの化合物
と、スカンジウム以外の希土類元素のうちの少なくとも
1種の元素の化合物とを含んだ電子放射物質層を被着さ
せたものである。
なる基体上に、少なくともバリウムを含むアルカリ土類
金属酸化物を主成分とし、これにスカンジウムの化合物
と、スカンジウム以外の希土類元素のうちの少なくとも
1種の元素の化合物とを含んだ電子放射物質層を被着さ
せたものである。
この発明においては、電子放射物質層中に合−有された
スカンジウム化合物が、電子放射物質層を基体に被着形
成する際の活性化時にアルカリ土類金属の炭酸塩が分解
する際、あるいは陰極としての動作中に酸化バリウムが
解離反応を起こす際に基体が酸化する反応を防止すると
ともに、電子放射物質層中への基体に含有された還元性
元素の拡散を適度に制御し、還元性元素による複合酸化
物からなる中間層が基体と電子放射物質層との界面近傍
に集中的に形成されることを防止し、中間層を電子放射
物質層内に分散させ、又、上記電子放射物質層中に含有
されたスカンジウム以外の他の希土類金属化合物が、バ
リウムの蒸発を抑制する。
スカンジウム化合物が、電子放射物質層を基体に被着形
成する際の活性化時にアルカリ土類金属の炭酸塩が分解
する際、あるいは陰極としての動作中に酸化バリウムが
解離反応を起こす際に基体が酸化する反応を防止すると
ともに、電子放射物質層中への基体に含有された還元性
元素の拡散を適度に制御し、還元性元素による複合酸化
物からなる中間層が基体と電子放射物質層との界面近傍
に集中的に形成されることを防止し、中間層を電子放射
物質層内に分散させ、又、上記電子放射物質層中に含有
されたスカンジウム以外の他の希土類金属化合物が、バ
リウムの蒸発を抑制する。
以下に、この発明の一実施例を第1図に基づいて説明す
る。この図において、1は主成分がニッケルからなる基
体であり、この基体1中にはS itMgなどの還元剤
が含有されている。2aは基体1の底部上面に被着され
た電子放射物質層であり、具体的にはバリウム、ストロ
ンチウム、カルシウムの三元酸化物に酸化スカンジウム
粉末と酸化ネオジムを0.01〜20重量%含み、かつ
ニッケル粉末を10重量%以下含んだものである。上記
バリウムなどのアルカリ土類金属酸化物は、はじめ炭酸
塩で混合し、従来と同様に、炭酸塩から酸化物への分解
過程及び酸化物の一部を還元する活性化過程を経る。
る。この図において、1は主成分がニッケルからなる基
体であり、この基体1中にはS itMgなどの還元剤
が含有されている。2aは基体1の底部上面に被着され
た電子放射物質層であり、具体的にはバリウム、ストロ
ンチウム、カルシウムの三元酸化物に酸化スカンジウム
粉末と酸化ネオジムを0.01〜20重量%含み、かつ
ニッケル粉末を10重量%以下含んだものである。上記
バリウムなどのアルカリ土類金属酸化物は、はじめ炭酸
塩で混合し、従来と同様に、炭酸塩から酸化物への分解
過程及び酸化物の一部を還元する活性化過程を経る。
第3図は、第1の具体例としてバリウム、ストロンチウ
ム、カルシウムの酸化物に酸化スカンジウム(SC10
3)を4重量%、酸化ネオジム(Nd*Os)を3重量
%、ニッケル(Ni)を1重量%含むもの(a)、第2
の具体例として酸化スカンジウム(SCtOs)を4重
量%、酸化サマリウム(3m、02 )を3重量%、ニ
ッケル(Ni)を1重量%含むもの(b)の電子管用陰
極を上記の方法で作成し、この電子管用陰極を用いて2
極真空管を作成し、4.3A/−の電流密度で動作させ
て寿命試験を行った場合のエミッション劣化の変化を調
べた結果を示したものである。なお、図中には酸化スカ
ンジウム(SC103)を含有しないもの(d)、及び
酸化スカンジウム(Sc80、)を4重量%含むもの(
C)をあわせて示しである。
ム、カルシウムの酸化物に酸化スカンジウム(SC10
3)を4重量%、酸化ネオジム(Nd*Os)を3重量
%、ニッケル(Ni)を1重量%含むもの(a)、第2
の具体例として酸化スカンジウム(SCtOs)を4重
量%、酸化サマリウム(3m、02 )を3重量%、ニ
ッケル(Ni)を1重量%含むもの(b)の電子管用陰
極を上記の方法で作成し、この電子管用陰極を用いて2
極真空管を作成し、4.3A/−の電流密度で動作させ
て寿命試験を行った場合のエミッション劣化の変化を調
べた結果を示したものである。なお、図中には酸化スカ
ンジウム(SC103)を含有しないもの(d)、及び
酸化スカンジウム(Sc80、)を4重量%含むもの(
C)をあわせて示しである。
5Ct03を含有しないも(D (d)、Sc、O。
のみ4重量%含むもの(C)に比較して、Sc。
0、に加えてNa、03あるいはSm、O,、及びNi
を添加したもの(a、b)はエミッション劣化が少ない
。添加するSc、O,、Nd80315m、Os *及
びNiの量に関して種々実験を行った結果、添加する希
土類酸化物の総量は0.1〜20重量%がよく、なかで
もNdm Os + Sm!03は0.05〜10重
量%がよい、又、Nlは10重量%以下であればよい、
さらに、酸化スカンジウム(SCtOs)以外に添加す
る希土類酸化物としては、酸化ネオジム(Ndx o、
)や酸化サマリウム(Sm、Os )以外に、酸化ガド
リニウム(Gdよ0、)、酸化ジスプロシウム(Dyt
o、)、酸化ランタン(Lag Os )、酸化イツ
トリウム(Y*Os)、酸化セリウム(Ce!O,)、
酸化ユウロピウム(Euz 03 )、酸化イッテルビ
ウム(YbzOs)などが適当である。
を添加したもの(a、b)はエミッション劣化が少ない
。添加するSc、O,、Nd80315m、Os *及
びNiの量に関して種々実験を行った結果、添加する希
土類酸化物の総量は0.1〜20重量%がよく、なかで
もNdm Os + Sm!03は0.05〜10重
量%がよい、又、Nlは10重量%以下であればよい、
さらに、酸化スカンジウム(SCtOs)以外に添加す
る希土類酸化物としては、酸化ネオジム(Ndx o、
)や酸化サマリウム(Sm、Os )以外に、酸化ガド
リニウム(Gdよ0、)、酸化ジスプロシウム(Dyt
o、)、酸化ランタン(Lag Os )、酸化イツ
トリウム(Y*Os)、酸化セリウム(Ce!O,)、
酸化ユウロピウム(Euz 03 )、酸化イッテルビ
ウム(YbzOs)などが適当である。
上述のように、Sc、O,に加えて他の希土類酸化物及
びNiを添加した場合、従来に比較して優れた特性が得
られるのは、以下の理由によると考えられる。Sc、O
,は、電子管用陰極の動作とともに、その一部が解離し
て基体1の表面から約20趨の深さまで拡散する。一方
、基体1内の還元剤31.MgはScとは逆に表面へ拡
散し、表面でBaOと反応し、遊離Baをつくるが、又
Ba5losを生成する。このBa5ic、は中間層と
呼ばれ、還元剤のBaOとの反応を阻害する。
びNiを添加した場合、従来に比較して優れた特性が得
られるのは、以下の理由によると考えられる。Sc、O
,は、電子管用陰極の動作とともに、その一部が解離し
て基体1の表面から約20趨の深さまで拡散する。一方
、基体1内の還元剤31.MgはScとは逆に表面へ拡
散し、表面でBaOと反応し、遊離Baをつくるが、又
Ba5losを生成する。このBa5ic、は中間層と
呼ばれ、還元剤のBaOとの反応を阻害する。
しかし、この発明では、基体1の表層に存在するScに
よって上記中間層を分解するので、還元剤Stは電子放
射物質層2a内へさらに移動でき、電子放射に寄与する
。添加したNd2O2やSm80、などの希土類酸化物
はBaの蒸発を抑制するものと考えられる。この電子管
用陰極の表面をオージェ分光分析装置で観察したところ
、N d zO8やSmt 03粒子の上にBaが十分
に存在していることがわかった。すなわち、電子放射物
質層2aを高電流が流れると、ジュール熱により電子放
射物質層2aの温度上昇をひきおこし、その結果Baの
蒸発が増加することになる。!3aの蒸発増大は必然的
に短寿命につながるので避けなければならない。本実施
例では、NdzOsやSm803などの希土類酸化物が
、Baを吸着する機能を有するものと思われる。Nt粉
末は電子放射物質層2aの酸化物の導電性をよくするた
めに添加される。酸化物粒子間あるいは粒子の内部に入
り、電流が流れやすい状態にする。ニッケル(Ni)以
外に、コバルト(Co)、鉄(Fe)、アルミニウム(
AI)、チタン(Ti)、ジルコニウム(Zr)、ハフ
ニウム(Hf)、ニオブ(Nb)、タンタル(Ta)、
モリブデン(Mo)。
よって上記中間層を分解するので、還元剤Stは電子放
射物質層2a内へさらに移動でき、電子放射に寄与する
。添加したNd2O2やSm80、などの希土類酸化物
はBaの蒸発を抑制するものと考えられる。この電子管
用陰極の表面をオージェ分光分析装置で観察したところ
、N d zO8やSmt 03粒子の上にBaが十分
に存在していることがわかった。すなわち、電子放射物
質層2aを高電流が流れると、ジュール熱により電子放
射物質層2aの温度上昇をひきおこし、その結果Baの
蒸発が増加することになる。!3aの蒸発増大は必然的
に短寿命につながるので避けなければならない。本実施
例では、NdzOsやSm803などの希土類酸化物が
、Baを吸着する機能を有するものと思われる。Nt粉
末は電子放射物質層2aの酸化物の導電性をよくするた
めに添加される。酸化物粒子間あるいは粒子の内部に入
り、電流が流れやすい状態にする。ニッケル(Ni)以
外に、コバルト(Co)、鉄(Fe)、アルミニウム(
AI)、チタン(Ti)、ジルコニウム(Zr)、ハフ
ニウム(Hf)、ニオブ(Nb)、タンタル(Ta)、
モリブデン(Mo)。
タングステン(W)、マグネシウム(Mg)、シリコン
(St)、 レニウム(Re)、オスミウム(Os)
、イリジウム(I r) 、白金(Pt)。
(St)、 レニウム(Re)、オスミウム(Os)
、イリジウム(I r) 、白金(Pt)。
パラジウム(Pd)、ロジウム(Rh)、金(Au)t
バナジウム(■)、クロム(Cr)、マンガン(Mn)
、銅(Cu)、亜鉛(Zn)、ビスマス(Bl)が有効
である。
バナジウム(■)、クロム(Cr)、マンガン(Mn)
、銅(Cu)、亜鉛(Zn)、ビスマス(Bl)が有効
である。
なお、希土類酸化物の総量が20重景%を越えると、初
期電子放射量が低く、又この量が0.1%以下であると
、中間層形成の抑制およびBa蒸発の抑制に効果的でな
い。
期電子放射量が低く、又この量が0.1%以下であると
、中間層形成の抑制およびBa蒸発の抑制に効果的でな
い。
又、添加するNlなどの金属粉末の量は10重量%以下
が良い、この量が10重量%を越えると、電子放射物質
層の焼結状態が進み、電子放射特性が低下する。又、こ
の量は微量でも効果があるが、0.01重量%以上が望
ましい。
が良い、この量が10重量%を越えると、電子放射物質
層の焼結状態が進み、電子放射特性が低下する。又、こ
の量は微量でも効果があるが、0.01重量%以上が望
ましい。
この発明に係る電子管用陰極は以上述べたように、ニッ
ケルからなる基体上に、少なくともバリウムを含むアル
カリ土類金属酸化物を主成分とし、これにスカンジウム
の化合物と、スカンジウム以外の希土類元素の化合物を
含ませた電子放射物質層を被着したので、通常の活性化
工程のみで、4A/cd以上の高電流密度による動作の
下での長寿命を確実に実現できるという効果を有する。
ケルからなる基体上に、少なくともバリウムを含むアル
カリ土類金属酸化物を主成分とし、これにスカンジウム
の化合物と、スカンジウム以外の希土類元素の化合物を
含ませた電子放射物質層を被着したので、通常の活性化
工程のみで、4A/cd以上の高電流密度による動作の
下での長寿命を確実に実現できるという効果を有する。
第1図はこの発明の一実施例による電子管用陰極を示す
断面図、第2図は従来の電子管用陰極を示す断面図、第
3図ば電子管用陰極を用いた2極真空管の寿命試験時間
とエミッシッン電流との関係を示す図である。 図において、1は基体、2aは電子放射物質層である。 なお各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。
断面図、第2図は従来の電子管用陰極を示す断面図、第
3図ば電子管用陰極を用いた2極真空管の寿命試験時間
とエミッシッン電流との関係を示す図である。 図において、1は基体、2aは電子放射物質層である。 なお各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (1)
- (1)主成分がニッケルからなる基体上に、少なくとも
バリウムを含むアルカリ土類金属酸化物を主成分とし、
スカンジウムの化合物とスカンジウム以外の希土類元素
から選ばれた少なくとも1種の元素の化合物とを含んだ
電子放射物質層を被着したことを特徴とする電子管用陰
極。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4031888A JPH0787070B2 (ja) | 1988-02-23 | 1988-02-23 | 電子管用陰極 |
KR1019880016941A KR910009660B1 (ko) | 1988-02-23 | 1988-12-19 | 전자관용 산화물피복음극 |
US07/307,709 US4924137A (en) | 1988-02-23 | 1989-02-08 | Cathode for electron tube |
DE68917174T DE68917174T2 (de) | 1988-02-23 | 1989-02-13 | Kathode für eine Elektronenröhre. |
EP89301345A EP0330355B1 (en) | 1988-02-23 | 1989-02-13 | Cathode for electron tube |
CA000591597A CA1327145C (en) | 1988-02-23 | 1989-02-21 | Cathode for electron tube |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4031888A JPH0787070B2 (ja) | 1988-02-23 | 1988-02-23 | 電子管用陰極 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01213932A true JPH01213932A (ja) | 1989-08-28 |
JPH0787070B2 JPH0787070B2 (ja) | 1995-09-20 |
Family
ID=12577263
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4031888A Expired - Lifetime JPH0787070B2 (ja) | 1988-02-23 | 1988-02-23 | 電子管用陰極 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0787070B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105788996A (zh) * | 2014-12-22 | 2016-07-20 | 中国电子科技集团公司第十二研究所 | 一种亚微米薄膜钪钨阴极及其制备方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62193032A (ja) * | 1986-02-19 | 1987-08-24 | Mitsubishi Electric Corp | 電子管陰極 |
-
1988
- 1988-02-23 JP JP4031888A patent/JPH0787070B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62193032A (ja) * | 1986-02-19 | 1987-08-24 | Mitsubishi Electric Corp | 電子管陰極 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105788996A (zh) * | 2014-12-22 | 2016-07-20 | 中国电子科技集团公司第十二研究所 | 一种亚微米薄膜钪钨阴极及其制备方法 |
CN105788996B (zh) * | 2014-12-22 | 2018-02-06 | 中国电子科技集团公司第十二研究所 | 一种亚微米薄膜钪钨阴极及其制备方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0787070B2 (ja) | 1995-09-20 |
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