JPH01212428A - アルミ電解コンデンサ用電極箔の製造方法 - Google Patents

アルミ電解コンデンサ用電極箔の製造方法

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JPH01212428A
JPH01212428A JP3814188A JP3814188A JPH01212428A JP H01212428 A JPH01212428 A JP H01212428A JP 3814188 A JP3814188 A JP 3814188A JP 3814188 A JP3814188 A JP 3814188A JP H01212428 A JPH01212428 A JP H01212428A
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園田 哲夫
Katsunori Suzuki
克典 鈴木
Takao Kawaguchi
川口 隆雄
Ryoichi Shimatani
島谷 涼一
Nobuyoshi Kanzaki
神崎 信義
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はアルミ電解コンデンサ用電誕箔の製造方法に関
するものである。
従来の技術 従来、アルミ電解コンデンサ用電極箔は、コンデンサの
小形化、低j皿格化を図る為に、電極体となるアルミニ
ウム箔を電気化学的、あるいは化学的にエツチング処理
して表面積を拡大したものを使用している。
発明が解決し゛ようとする課題 このアルミニウム電原箔の表面積を拡大する為忙種々の
方法が研究されているが、アルミニウム電原箔の機械的
強度を保持したまま表面積を拡大することは非常に困難
であった。すなわち、従来のエツチング技術では、−S
的に表面積を拡大するためてエツチング孔の密度を増大
させようとすると、同時にアルミニウム電極箔の表面溶
解も進行して期待出来る和衷面積が増大しないばかりか
、アルミニウム電極箔の機械的強度も損なわれるという
問題があった。
本発明は上記の問題点を解決するもので、アルミニウム
電極箔の機械的強度を保持しつつ、エツチング孔の密度
を増大させ、表面積を拡大出来るアルミニウム電解コン
デンサ用電極箔の製造方法を提供するものである。
課題を解決するための手段 本発明はこのような従来の問題点を解決するものであり
、塩化カリウム、塩化ナトリウム、塩化アンモニウムの
うち少なくとも1種0.1〜10%を含む水溶液中で直
流エツチングする第1段エツチング工程と、塩酸2〜1
6イに硫酸、蓚酸、リン酸からなる多孔質皮膜生成酸の
うち少なくとも1種6〜35%を添加した水溶液中で直
流エツチングする第2段エツチング工程と、塩a2〜1
6イもしくはそれに硫酸、蓚酸、リン酸からなる多孔質
皮膜生成酸のうち少なくとも1種を3%以下添加した水
溶液中で直流エツチングするか、または浸漬処理をする
第3段エツチング工程を有するものである。
作用 この様な本発明の構成によれば、第1段エツチングに塩
化カリウム、塩化ナトリウム、塩化アンモニウムの中性
塩のうち少なくとも1種類を含む水溶液を用いているた
め、アルミニウム箔表面の化学的に活性な部分、すなわ
ち表面酸化皮膜に多数存在する欠陥部等からまずエツチ
ング孔が発生する。続いて行なう第2役エツチングでは
塩酸に硫酸、蓚酸、リン酸からなる多孔質皮膜生成酸の
うち少なくとも1種類を添加した水溶液を用いているた
め、第1段エツチングではエツチング孔が発生しなかっ
た比較的欠陥部の少ない表面にまず多孔質皮膜が生成し
、その孔の部分を塩素イオンが浸食して、更に多数のエ
ツチング孔が発生する。
そして、第3段エツチングでは塩酸または塩酸に硫酸、
蓚酸、リン酸からなる多孔質皮膜生成酸のうち少なくと
も1種類を添加した水溶液中で比較的低電流密度でエツ
チングするか、または浸漬処理をするため、第1没およ
び第2段エツチングで発生したエツチング孔が効果的に
拡大される。
そのため、表面溶解が少なく機械的強度を保持したまま
、高密度で充分な太さの径をもったエツチング孔を均一
な分布で発生させることが出来る。
実施例 以下に本発明の第1役エツチング工程、第2段エツチン
グ工程、第3段エツチング工程につき、それぞれ具体的
にエツチング条件を説明する。
■ 第1段エツチング工程 エツチング孔を高密度かつ均一に生成させるために塩化
カリウム、塩化ナトリウム、塩化アンモニウムのうちの
少なくとも1種類を含む水溶液を用いた直流エツチング
が必要である。
前述のい°ずれの中性塩の水溶液の場合でも、その濃度
が0.1に未満ではエツチング効果が小さく、1oにを
超えると表面の全面溶解が起こる。従って0.1〜10
%の範囲内で、特に1〜5にが好ましroこの様な好適
範囲内では、表面溶解をほとんど起こすことなく高密度
かつ均一なエツチング孔を発生させることが出来る。
エツチング液温も重要な影響を及ぼし、60℃未満では
エツチング効果が小さく、100℃を超えると表面の全
面溶解が超こる。従って6oN1■℃の範囲内で特に7
0〜90πが好ましい。
また、電流密度は6ム/d♂未満ではエツチング効果が
小さく、70ム/d♂を超えると表面の全面溶解が起こ
る。従ってS〜70ム/diの範囲内特に8〜30ム/
d♂ が好ましい。
■ 第2段エツチング工程 表面溶解を抑制しながら、更にエツチング孔を発生、増
加させる為に、塩酸に硫酸、蓚酸、リン酸からなる多孔
質皮膜生成酸のうち少なくとも1種類を添加した水溶液
を用いた直流エツチングが必要である。塩酸濃度は2%
未満であるとエツチング効果が小さく、15tXを超え
ると表面の全面溶解が起こる。従って2〜15にの範囲
内で、特1/(3〜8にが好ましい。多孔質皮膜を生成
し得る酸の添加敬については、硫酸、蓚酸、リン酸のh
ずれの場合も6%未満であると多孔質皮膜の生成が不充
分であり、36%を超えると皮膜生成反応よりむしろ溶
解反応が強くなって表面の全面溶解が起こる。
従って5〜35にの範囲内で、特に16〜26%が好ま
しい。この様な好適範囲内では高密度かつ均一な孔を持
つ多孔質皮膜がアルミ箔表面知生成し、その孔の部分を
塩素イオンが浸食してエツチング孔が形成されるが、一
方孔以外の部分は皮膜で覆われているから表面溶解が抑
制され、結果的に第1没エツチングで出来たエツチング
孔を破壊することなしに新たな均一なエツチング孔を発
生させることが出来る。
第1投エツチングと同様の理由から、液温は60〜10
0℃の範囲が良く、特に70〜90℃が好ましい。また
電流密度てついても、第1段エツチングと同様、6〜7
0ムZatrI の範囲が良いが、特に10〜4oム/
dm” が好ましい。
■ 第3段エツチング工程 第1段および第22段エツチングで発生したエツチング
孔を効果的に拡大するために、塩酸のみかまたは塩酸に
硫酸、蓚酸、リン酸からなる多孔質皮膜生成酸のうち少
なくとも1種類を少量添加した水溶液中で直流エツチン
グするか、または浸漬処理をすることが必要である。塩
酸濃度は2に未満であるとエツチング効果が小さく、1
5%を超えると表面の全面溶解が起こる。
従って2〜16πの範囲内で、特に3〜8%が好ましい
。多孔質皮膜を生成し得る酸の添加知ついては、無くて
も良いが、添加する場合は、硫酸。
蓚酸、リン酸のいずれの場合も3%を超えると皮膜生成
反応によシ溶解反応がおさえられ、エツチング効果が小
さくなる。
従って0〜3イの範囲内で、特にQO1〜0.55%が
好ましい。
この様な好適範囲内では第1段および第2段エツチング
で発生したエツチング孔の破壊や、無駄な表面の溶解を
ほとんど起こすことなく、効果的にエツチング孔を拡大
することが出来る。
エツチング液温につい、ては、第1段および第2段エツ
チングと同様の理由から、60〜100℃の範囲が良く
、特に70〜90 ℃が好ましい。
また、電流については印加しなくても良いが、生産性を
上げるために印加する場合、16ム/drr!以上にす
るとエツチング孔の拡大よりも表面溶解が激しくなる。
従って、0〜16ム/an?の範囲内で特KO〜10ム
/d−が好ましい。
以下、比較例とともに本発明の具体的な実施例を示す。
ただし、試料のアルミニウム箔は純度99.99%、厚
さ100μmの焼鈍したものを用いた。
(比較例−1) 第1段エツチングを塩酸5′!Xに硫酸26%を添加し
た液温80℃の水溶液で電流密度30ム/lnrの直流
電流を120秒印加して行なった後、第2段エツチング
を塩a7%に蓚酸0.1%を添加した液温80℃の水溶
液に300秒浸漬して行った。
(比較例−2) 第1段エツチングを塩化ナトリウム4%、液温80℃の
水溶液で電流密度16ム/anrの直流電流を240秒
印加して行った後、第2段エツチングを塩酸7′!Xに
蓚酸0.1%を添加した液温80℃の水溶液にaOO秒
浸漬して行っ・た。
(実施例) 第1段エツチングを塩化ナトリウム4%、液温8o℃の
水溶液で電流密度16ム/ant’の直流電流を180
秒印加して行った後、第2役エツチングを塩漬6%に硫
酸25%を添加した液温80℃の水溶液で、電流密度3
0ム/d−の直流電流を100秒印加して行い、第3段
エツチングを塩酸7%に蓚酸0.1にを添加しだ液温8
0℃の水溶液に180秒浸漬して行った。
上記3例のエツチング箔をホウ酸系水溶液で370V化
成した後の静電容量と折曲げ強度(1,OR,200?
荷重、折曲げ角90°により1往復で1回とする)を測
定した結果を表−1に示す。
表−1 発明の効果

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)エッチング処理を第1段,第2段,第3段の3段
    階に分けて行うものとし、第1段エッチングとして塩化
    カリウム,塩化ナトリウム,塩化アンモニウムのうち少
    なくとも1種0.1〜10%を含む水溶液中で直流エッ
    チングし、第2段エッチングとして塩酸2〜15%に硫
    酸,蓚酸,リン酸からなる多孔質皮膜生成酸のうち少な
    くとも1種5〜35%を添加した水溶液中で直流エッチ
    ングし、第3段エッチングとして塩酸2〜15%もしく
    はそれに硫酸,蓚酸,リン酸からなる多孔質皮膜生成酸
    のうち少なくとも1種を3%以下添加した水溶液中で直
    流エッチングするか、または浸漬処理をすることを特徴
    とするアルミ電解コンデンサ用電極箔の製造方法。
  2. (2)エッチング液温が何れも50〜100℃である請
    求項1記載のアルミ電解コンデンサ用電極箔の製造方法
  3. (3)電流密度が第1段と第2段エッチングについては
    5〜70A/dm^2であり,第3段エッチングについ
    ては0〜15A/dm^2である請求項1記載のアルミ
    電解コンデンサ用電極箔の製造方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105097286A (zh) * 2015-09-01 2015-11-25 广西贺州市桂东电子科技有限责任公司 一种超高压储能材料的腐蚀方法

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