JPH01212428A - アルミ電解コンデンサ用電極箔の製造方法 - Google Patents
アルミ電解コンデンサ用電極箔の製造方法Info
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- JPH01212428A JPH01212428A JP3814188A JP3814188A JPH01212428A JP H01212428 A JPH01212428 A JP H01212428A JP 3814188 A JP3814188 A JP 3814188A JP 3814188 A JP3814188 A JP 3814188A JP H01212428 A JPH01212428 A JP H01212428A
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- 239000011888 foil Substances 0.000 title claims abstract description 18
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 8
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 16
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 title claims description 16
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 75
- MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N Oxalic acid Chemical compound OC(=O)C(O)=O MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 45
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 32
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 26
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 22
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims abstract description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 15
- 235000006408 oxalic acid Nutrition 0.000 claims abstract description 15
- FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M Sodium chloride Chemical compound [Na+].[Cl-] FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims abstract description 14
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 claims abstract description 11
- 235000002639 sodium chloride Nutrition 0.000 claims abstract description 11
- NLXLAEXVIDQMFP-UHFFFAOYSA-N Ammonia chloride Chemical compound [NH4+].[Cl-] NLXLAEXVIDQMFP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 10
- WCUXLLCKKVVCTQ-UHFFFAOYSA-M Potassium chloride Chemical compound [Cl-].[K+] WCUXLLCKKVVCTQ-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims abstract description 10
- 238000007654 immersion Methods 0.000 claims abstract description 7
- 239000011780 sodium chloride Substances 0.000 claims abstract description 7
- 235000019270 ammonium chloride Nutrition 0.000 claims abstract description 5
- 239000001103 potassium chloride Substances 0.000 claims abstract description 5
- 235000011164 potassium chloride Nutrition 0.000 claims abstract description 5
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 claims description 19
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 7
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 claims description 6
- 239000000243 solution Substances 0.000 claims description 3
- 239000011148 porous material Substances 0.000 abstract description 5
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 3
- 230000003190 augmentative effect Effects 0.000 abstract 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 abstract 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 10
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 9
- 238000005755 formation reaction Methods 0.000 description 4
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 2
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 2
- -1 chlorine ions Chemical class 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 238000009827 uniform distribution Methods 0.000 description 1
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- ing And Chemical Polishing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明はアルミ電解コンデンサ用電誕箔の製造方法に関
するものである。
するものである。
従来の技術
従来、アルミ電解コンデンサ用電極箔は、コンデンサの
小形化、低j皿格化を図る為に、電極体となるアルミニ
ウム箔を電気化学的、あるいは化学的にエツチング処理
して表面積を拡大したものを使用している。
小形化、低j皿格化を図る為に、電極体となるアルミニ
ウム箔を電気化学的、あるいは化学的にエツチング処理
して表面積を拡大したものを使用している。
発明が解決し゛ようとする課題
このアルミニウム電原箔の表面積を拡大する為忙種々の
方法が研究されているが、アルミニウム電原箔の機械的
強度を保持したまま表面積を拡大することは非常に困難
であった。すなわち、従来のエツチング技術では、−S
的に表面積を拡大するためてエツチング孔の密度を増大
させようとすると、同時にアルミニウム電極箔の表面溶
解も進行して期待出来る和衷面積が増大しないばかりか
、アルミニウム電極箔の機械的強度も損なわれるという
問題があった。
方法が研究されているが、アルミニウム電原箔の機械的
強度を保持したまま表面積を拡大することは非常に困難
であった。すなわち、従来のエツチング技術では、−S
的に表面積を拡大するためてエツチング孔の密度を増大
させようとすると、同時にアルミニウム電極箔の表面溶
解も進行して期待出来る和衷面積が増大しないばかりか
、アルミニウム電極箔の機械的強度も損なわれるという
問題があった。
本発明は上記の問題点を解決するもので、アルミニウム
電極箔の機械的強度を保持しつつ、エツチング孔の密度
を増大させ、表面積を拡大出来るアルミニウム電解コン
デンサ用電極箔の製造方法を提供するものである。
電極箔の機械的強度を保持しつつ、エツチング孔の密度
を増大させ、表面積を拡大出来るアルミニウム電解コン
デンサ用電極箔の製造方法を提供するものである。
課題を解決するための手段
本発明はこのような従来の問題点を解決するものであり
、塩化カリウム、塩化ナトリウム、塩化アンモニウムの
うち少なくとも1種0.1〜10%を含む水溶液中で直
流エツチングする第1段エツチング工程と、塩酸2〜1
6イに硫酸、蓚酸、リン酸からなる多孔質皮膜生成酸の
うち少なくとも1種6〜35%を添加した水溶液中で直
流エツチングする第2段エツチング工程と、塩a2〜1
6イもしくはそれに硫酸、蓚酸、リン酸からなる多孔質
皮膜生成酸のうち少なくとも1種を3%以下添加した水
溶液中で直流エツチングするか、または浸漬処理をする
第3段エツチング工程を有するものである。
、塩化カリウム、塩化ナトリウム、塩化アンモニウムの
うち少なくとも1種0.1〜10%を含む水溶液中で直
流エツチングする第1段エツチング工程と、塩酸2〜1
6イに硫酸、蓚酸、リン酸からなる多孔質皮膜生成酸の
うち少なくとも1種6〜35%を添加した水溶液中で直
流エツチングする第2段エツチング工程と、塩a2〜1
6イもしくはそれに硫酸、蓚酸、リン酸からなる多孔質
皮膜生成酸のうち少なくとも1種を3%以下添加した水
溶液中で直流エツチングするか、または浸漬処理をする
第3段エツチング工程を有するものである。
作用
この様な本発明の構成によれば、第1段エツチングに塩
化カリウム、塩化ナトリウム、塩化アンモニウムの中性
塩のうち少なくとも1種類を含む水溶液を用いているた
め、アルミニウム箔表面の化学的に活性な部分、すなわ
ち表面酸化皮膜に多数存在する欠陥部等からまずエツチ
ング孔が発生する。続いて行なう第2役エツチングでは
塩酸に硫酸、蓚酸、リン酸からなる多孔質皮膜生成酸の
うち少なくとも1種類を添加した水溶液を用いているた
め、第1段エツチングではエツチング孔が発生しなかっ
た比較的欠陥部の少ない表面にまず多孔質皮膜が生成し
、その孔の部分を塩素イオンが浸食して、更に多数のエ
ツチング孔が発生する。
化カリウム、塩化ナトリウム、塩化アンモニウムの中性
塩のうち少なくとも1種類を含む水溶液を用いているた
め、アルミニウム箔表面の化学的に活性な部分、すなわ
ち表面酸化皮膜に多数存在する欠陥部等からまずエツチ
ング孔が発生する。続いて行なう第2役エツチングでは
塩酸に硫酸、蓚酸、リン酸からなる多孔質皮膜生成酸の
うち少なくとも1種類を添加した水溶液を用いているた
め、第1段エツチングではエツチング孔が発生しなかっ
た比較的欠陥部の少ない表面にまず多孔質皮膜が生成し
、その孔の部分を塩素イオンが浸食して、更に多数のエ
ツチング孔が発生する。
そして、第3段エツチングでは塩酸または塩酸に硫酸、
蓚酸、リン酸からなる多孔質皮膜生成酸のうち少なくと
も1種類を添加した水溶液中で比較的低電流密度でエツ
チングするか、または浸漬処理をするため、第1没およ
び第2段エツチングで発生したエツチング孔が効果的に
拡大される。
蓚酸、リン酸からなる多孔質皮膜生成酸のうち少なくと
も1種類を添加した水溶液中で比較的低電流密度でエツ
チングするか、または浸漬処理をするため、第1没およ
び第2段エツチングで発生したエツチング孔が効果的に
拡大される。
そのため、表面溶解が少なく機械的強度を保持したまま
、高密度で充分な太さの径をもったエツチング孔を均一
な分布で発生させることが出来る。
、高密度で充分な太さの径をもったエツチング孔を均一
な分布で発生させることが出来る。
実施例
以下に本発明の第1役エツチング工程、第2段エツチン
グ工程、第3段エツチング工程につき、それぞれ具体的
にエツチング条件を説明する。
グ工程、第3段エツチング工程につき、それぞれ具体的
にエツチング条件を説明する。
■ 第1段エツチング工程
エツチング孔を高密度かつ均一に生成させるために塩化
カリウム、塩化ナトリウム、塩化アンモニウムのうちの
少なくとも1種類を含む水溶液を用いた直流エツチング
が必要である。
カリウム、塩化ナトリウム、塩化アンモニウムのうちの
少なくとも1種類を含む水溶液を用いた直流エツチング
が必要である。
前述のい°ずれの中性塩の水溶液の場合でも、その濃度
が0.1に未満ではエツチング効果が小さく、1oにを
超えると表面の全面溶解が起こる。従って0.1〜10
%の範囲内で、特に1〜5にが好ましroこの様な好適
範囲内では、表面溶解をほとんど起こすことなく高密度
かつ均一なエツチング孔を発生させることが出来る。
が0.1に未満ではエツチング効果が小さく、1oにを
超えると表面の全面溶解が起こる。従って0.1〜10
%の範囲内で、特に1〜5にが好ましroこの様な好適
範囲内では、表面溶解をほとんど起こすことなく高密度
かつ均一なエツチング孔を発生させることが出来る。
エツチング液温も重要な影響を及ぼし、60℃未満では
エツチング効果が小さく、100℃を超えると表面の全
面溶解が超こる。従って6oN1■℃の範囲内で特に7
0〜90πが好ましい。
エツチング効果が小さく、100℃を超えると表面の全
面溶解が超こる。従って6oN1■℃の範囲内で特に7
0〜90πが好ましい。
また、電流密度は6ム/d♂未満ではエツチング効果が
小さく、70ム/d♂を超えると表面の全面溶解が起こ
る。従ってS〜70ム/diの範囲内特に8〜30ム/
d♂ が好ましい。
小さく、70ム/d♂を超えると表面の全面溶解が起こ
る。従ってS〜70ム/diの範囲内特に8〜30ム/
d♂ が好ましい。
■ 第2段エツチング工程
表面溶解を抑制しながら、更にエツチング孔を発生、増
加させる為に、塩酸に硫酸、蓚酸、リン酸からなる多孔
質皮膜生成酸のうち少なくとも1種類を添加した水溶液
を用いた直流エツチングが必要である。塩酸濃度は2%
未満であるとエツチング効果が小さく、15tXを超え
ると表面の全面溶解が起こる。従って2〜15にの範囲
内で、特1/(3〜8にが好ましい。多孔質皮膜を生成
し得る酸の添加敬については、硫酸、蓚酸、リン酸のh
ずれの場合も6%未満であると多孔質皮膜の生成が不充
分であり、36%を超えると皮膜生成反応よりむしろ溶
解反応が強くなって表面の全面溶解が起こる。
加させる為に、塩酸に硫酸、蓚酸、リン酸からなる多孔
質皮膜生成酸のうち少なくとも1種類を添加した水溶液
を用いた直流エツチングが必要である。塩酸濃度は2%
未満であるとエツチング効果が小さく、15tXを超え
ると表面の全面溶解が起こる。従って2〜15にの範囲
内で、特1/(3〜8にが好ましい。多孔質皮膜を生成
し得る酸の添加敬については、硫酸、蓚酸、リン酸のh
ずれの場合も6%未満であると多孔質皮膜の生成が不充
分であり、36%を超えると皮膜生成反応よりむしろ溶
解反応が強くなって表面の全面溶解が起こる。
従って5〜35にの範囲内で、特に16〜26%が好ま
しい。この様な好適範囲内では高密度かつ均一な孔を持
つ多孔質皮膜がアルミ箔表面知生成し、その孔の部分を
塩素イオンが浸食してエツチング孔が形成されるが、一
方孔以外の部分は皮膜で覆われているから表面溶解が抑
制され、結果的に第1没エツチングで出来たエツチング
孔を破壊することなしに新たな均一なエツチング孔を発
生させることが出来る。
しい。この様な好適範囲内では高密度かつ均一な孔を持
つ多孔質皮膜がアルミ箔表面知生成し、その孔の部分を
塩素イオンが浸食してエツチング孔が形成されるが、一
方孔以外の部分は皮膜で覆われているから表面溶解が抑
制され、結果的に第1没エツチングで出来たエツチング
孔を破壊することなしに新たな均一なエツチング孔を発
生させることが出来る。
第1投エツチングと同様の理由から、液温は60〜10
0℃の範囲が良く、特に70〜90℃が好ましい。また
電流密度てついても、第1段エツチングと同様、6〜7
0ムZatrI の範囲が良いが、特に10〜4oム/
dm” が好ましい。
0℃の範囲が良く、特に70〜90℃が好ましい。また
電流密度てついても、第1段エツチングと同様、6〜7
0ムZatrI の範囲が良いが、特に10〜4oム/
dm” が好ましい。
■ 第3段エツチング工程
第1段および第22段エツチングで発生したエツチング
孔を効果的に拡大するために、塩酸のみかまたは塩酸に
硫酸、蓚酸、リン酸からなる多孔質皮膜生成酸のうち少
なくとも1種類を少量添加した水溶液中で直流エツチン
グするか、または浸漬処理をすることが必要である。塩
酸濃度は2に未満であるとエツチング効果が小さく、1
5%を超えると表面の全面溶解が起こる。
孔を効果的に拡大するために、塩酸のみかまたは塩酸に
硫酸、蓚酸、リン酸からなる多孔質皮膜生成酸のうち少
なくとも1種類を少量添加した水溶液中で直流エツチン
グするか、または浸漬処理をすることが必要である。塩
酸濃度は2に未満であるとエツチング効果が小さく、1
5%を超えると表面の全面溶解が起こる。
従って2〜16πの範囲内で、特に3〜8%が好ましい
。多孔質皮膜を生成し得る酸の添加知ついては、無くて
も良いが、添加する場合は、硫酸。
。多孔質皮膜を生成し得る酸の添加知ついては、無くて
も良いが、添加する場合は、硫酸。
蓚酸、リン酸のいずれの場合も3%を超えると皮膜生成
反応によシ溶解反応がおさえられ、エツチング効果が小
さくなる。
反応によシ溶解反応がおさえられ、エツチング効果が小
さくなる。
従って0〜3イの範囲内で、特にQO1〜0.55%が
好ましい。
好ましい。
この様な好適範囲内では第1段および第2段エツチング
で発生したエツチング孔の破壊や、無駄な表面の溶解を
ほとんど起こすことなく、効果的にエツチング孔を拡大
することが出来る。
で発生したエツチング孔の破壊や、無駄な表面の溶解を
ほとんど起こすことなく、効果的にエツチング孔を拡大
することが出来る。
エツチング液温につい、ては、第1段および第2段エツ
チングと同様の理由から、60〜100℃の範囲が良く
、特に70〜90 ℃が好ましい。
チングと同様の理由から、60〜100℃の範囲が良く
、特に70〜90 ℃が好ましい。
また、電流については印加しなくても良いが、生産性を
上げるために印加する場合、16ム/drr!以上にす
るとエツチング孔の拡大よりも表面溶解が激しくなる。
上げるために印加する場合、16ム/drr!以上にす
るとエツチング孔の拡大よりも表面溶解が激しくなる。
従って、0〜16ム/an?の範囲内で特KO〜10ム
/d−が好ましい。
/d−が好ましい。
以下、比較例とともに本発明の具体的な実施例を示す。
ただし、試料のアルミニウム箔は純度99.99%、厚
さ100μmの焼鈍したものを用いた。
さ100μmの焼鈍したものを用いた。
(比較例−1)
第1段エツチングを塩酸5′!Xに硫酸26%を添加し
た液温80℃の水溶液で電流密度30ム/lnrの直流
電流を120秒印加して行なった後、第2段エツチング
を塩a7%に蓚酸0.1%を添加した液温80℃の水溶
液に300秒浸漬して行った。
た液温80℃の水溶液で電流密度30ム/lnrの直流
電流を120秒印加して行なった後、第2段エツチング
を塩a7%に蓚酸0.1%を添加した液温80℃の水溶
液に300秒浸漬して行った。
(比較例−2)
第1段エツチングを塩化ナトリウム4%、液温80℃の
水溶液で電流密度16ム/anrの直流電流を240秒
印加して行った後、第2段エツチングを塩酸7′!Xに
蓚酸0.1%を添加した液温80℃の水溶液にaOO秒
浸漬して行っ・た。
水溶液で電流密度16ム/anrの直流電流を240秒
印加して行った後、第2段エツチングを塩酸7′!Xに
蓚酸0.1%を添加した液温80℃の水溶液にaOO秒
浸漬して行っ・た。
(実施例)
第1段エツチングを塩化ナトリウム4%、液温8o℃の
水溶液で電流密度16ム/ant’の直流電流を180
秒印加して行った後、第2役エツチングを塩漬6%に硫
酸25%を添加した液温80℃の水溶液で、電流密度3
0ム/d−の直流電流を100秒印加して行い、第3段
エツチングを塩酸7%に蓚酸0.1にを添加しだ液温8
0℃の水溶液に180秒浸漬して行った。
水溶液で電流密度16ム/ant’の直流電流を180
秒印加して行った後、第2役エツチングを塩漬6%に硫
酸25%を添加した液温80℃の水溶液で、電流密度3
0ム/d−の直流電流を100秒印加して行い、第3段
エツチングを塩酸7%に蓚酸0.1にを添加しだ液温8
0℃の水溶液に180秒浸漬して行った。
上記3例のエツチング箔をホウ酸系水溶液で370V化
成した後の静電容量と折曲げ強度(1,OR,200?
荷重、折曲げ角90°により1往復で1回とする)を測
定した結果を表−1に示す。
成した後の静電容量と折曲げ強度(1,OR,200?
荷重、折曲げ角90°により1往復で1回とする)を測
定した結果を表−1に示す。
表−1
発明の効果
Claims (3)
- (1)エッチング処理を第1段,第2段,第3段の3段
階に分けて行うものとし、第1段エッチングとして塩化
カリウム,塩化ナトリウム,塩化アンモニウムのうち少
なくとも1種0.1〜10%を含む水溶液中で直流エッ
チングし、第2段エッチングとして塩酸2〜15%に硫
酸,蓚酸,リン酸からなる多孔質皮膜生成酸のうち少な
くとも1種5〜35%を添加した水溶液中で直流エッチ
ングし、第3段エッチングとして塩酸2〜15%もしく
はそれに硫酸,蓚酸,リン酸からなる多孔質皮膜生成酸
のうち少なくとも1種を3%以下添加した水溶液中で直
流エッチングするか、または浸漬処理をすることを特徴
とするアルミ電解コンデンサ用電極箔の製造方法。 - (2)エッチング液温が何れも50〜100℃である請
求項1記載のアルミ電解コンデンサ用電極箔の製造方法
。 - (3)電流密度が第1段と第2段エッチングについては
5〜70A/dm^2であり,第3段エッチングについ
ては0〜15A/dm^2である請求項1記載のアルミ
電解コンデンサ用電極箔の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3814188A JP2629241B2 (ja) | 1988-02-19 | 1988-02-19 | アルミ電解コンデンサ用電極箔の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3814188A JP2629241B2 (ja) | 1988-02-19 | 1988-02-19 | アルミ電解コンデンサ用電極箔の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01212428A true JPH01212428A (ja) | 1989-08-25 |
JP2629241B2 JP2629241B2 (ja) | 1997-07-09 |
Family
ID=12517138
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3814188A Expired - Lifetime JP2629241B2 (ja) | 1988-02-19 | 1988-02-19 | アルミ電解コンデンサ用電極箔の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2629241B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105097286A (zh) * | 2015-09-01 | 2015-11-25 | 广西贺州市桂东电子科技有限责任公司 | 一种超高压储能材料的腐蚀方法 |
-
1988
- 1988-02-19 JP JP3814188A patent/JP2629241B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105097286A (zh) * | 2015-09-01 | 2015-11-25 | 广西贺州市桂东电子科技有限责任公司 | 一种超高压储能材料的腐蚀方法 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2629241B2 (ja) | 1997-07-09 |
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