JPH01210836A - 気密容器テスター - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、例えばパッケージ材に金属ホイル又は金属ラ
ミネートを有する薬用錠剤のように気密状態にされた容
器をテストするテスターに関する。

（従来の技術） 薬用錠剤パックは密封されることが望ましい。

これは現在の慣行においては、包装工程中において包装
が適切に行なわれたかどうかを検査している。このよう
な検査においては、前記パックを液状メチレンブルーの
染料中に浸し、この装置を真空化する。そして、漏れの
あるパックは染料で満たされ、それを肉眼によって選別
するのである。

従って、テスト済みのパックはすべて破損され、しかも
前記工程は時間がかかるとともに作業場を汚しやすい。

又、言わゆる膨出テストによって伸縮性を有する気密パ
ッケージ又は容器の漏れをテストする方法も知られてい
る。この方法においては、被験容器を半真空状態にし、
これによって生ずるパッケージ又は容器の彫版を観察す
る。一般に、漏れのあるパッケージや容器は、漏れのな
い正常なものと比較して、半真空状態になった時、全く
彫版しないか、又は彫版速度が遅くしかも彫版量が少な
い、更に、真空状態におけるパッケージ又は容器の彫版
を、その伸縮性を有する部分を測定することによって観
察する方法も知られている。従来、この測定においては
、電磁又は静電手段によって、機械的プローブを使用し
て行なわれていた。

（発明が解決しようとする課題） 本発明の目的は、パッケージ等の容器、特にそのパッケ
ージ材中に金属ホイル又は金属ラミネートが使用されて
いる容器の気密性をテストするためのテスターを改良す
ることにある。

（課題を解決するための手段） 本発明のテスターは、一つの共通の伸縮性を有する電導
性ホイル又は金属性ラミネートによって個々に密封され
た複数の小室又はブリスタを備えた伸縮性気密容器をテ
ストするテスターであって、テスト中の容器を支持する
ことが可能な真空化可能チャンバ、被験容器が前記チャ
ンバ内で支持される時にそれぞれのブリスタに対応する
前記ホイル又は金属性ラミネートに対向する状態で前記
チャンバ内に配設された複数の第１固定電極、そして前
記ブリスタと前記第１固定電極のそれぞれに対応するホ
イル又は金属性ラミネート間の静電容量の連続モニタを
可能にする多重化手段とを有している。

（作用及び効果） 従って、チャンバ内を真空化し、各小室又はブリスタに
対応するホイル又は金属性ラミネートと第１固定電極と
の間の静電容量をモニタすることにより、被験容器を破
損することなく、各小室又はブリスタの気密性を確実に
テストすることができる。

尚、前記ブリスタパックの一側方が非電導性プラスチッ
ク材により形成されるとともにその反対側が上述した伸
縮性を有する電導性ホイル又は金属性ラミネートによっ
て形成されている場′合においては、前記テスターは、
その使用時において前記チャンバ内で前記パックの非電
導側に位置し、これによって連続静電容量構造が得られ
る第２固定ＴＬ極を有することが好ましい、この場合、
第１の固定静電容量は、前記電極と伸縮性を有した電導
性ホイル又は金属性ラミネートとに間において効果的に
形成され、一方、第２の可変静電容量は前記パッケージ
の伸縮性電導性ホイル又は金属性ラミネートと前記複数
の第１固定電極ととの間に効果的に形成される。

場合によっては、真空状態における静電容量の測定値を
大気状態における静電容量測定値と比較することが可能
である。この場合、静電容量の特定の増加が許容しうる
パッケージの気密性を示す。

又、種々の部材の間隔があらがしめ設定されている場合
には、真空状態の静電容量のみの絶対値を測定すること
が有用である。

尚、上述した静電容量の測定においては、静電容量ブリ
ッジを使用すると便利である。

（実施例） 次に、本発明の好適な実施例を、それぞれの錠剤が独立
密封されたプリスタ内に収められた、ホイル包装錠剤用
のいわゆるブリスタパックを例にとって詳述する。

第１図に示すようは、被験ブリスタパ・ツク１０は非電
導性本体１２を有し、これはそれぞれの中に一つの錠剤
（図示せず）が収納された複数の凹部１４を形成してい
る。又、これらの凹部１４を有するこの本体１２の表面
は、その表面に固着されて前記凹部１４をその中に一つ
の錠剤が収納されたそれぞれ独立した気密小室に分離形
成する金属ホイル性の薄層１６によって被覆されている
。

更に第１図に示すように、前記ブリスタバ・７り１０は
、電導性材により形成されるとともに前記プリスタパッ
ク１０の錠剤収納小室のそれぞれがその中に延出してい
る複数の凹部１９を備えた保持部材１８上に位置してい
る。そして、この保持部材１８自身は、金属性容器２２
内に形成きれたチャンバ２０内に位置しており、この保
持部材１８の前記チャンバ２０内における高さは電導性
調節可能包装部材２４によって決定される。又、前記チ
ャンバ２０は、蓋体２６と０リング型シ一ル部材２８に
よって気密状態に閉じることが可能である。

前記蓋体２６は、プリント電子回路基板３２上において
前記プリスタパック１０のそれぞれ独立した小室に近接
して配置された複数の平電極３０に対する支持部材とし
て機能する。前記独立電極３０は、リード線３４を介し
てロータリスイッチＳの固定接点に接続され、一方、こ
のロークリスイッチＳの可動接点は前記電極３０を一つ
の固定端子３８に選択的に接続可能に構成されている。

第２固定端子４０は、リード線４２を介して前記金属性
容器２２に接続され、更にここから高さ調節装置２４を
介して前記保持部材１８に接続されている。

上記構成によって、複数の直列コンデンサベアが形成さ
れ、これらベアのそれぞれにおける第１コンデンサＣＰ
は前記電１Ｉｉ３０のそれぞれの一つと前記金属性ホイ
ル１６の反対側の部分との間の静電容量によって形成さ
れ、このベアの第２コンデンサＣＦは前記ホイル１６と
前記保持部材１８との間に形成される。従って、前記独
立電極３０のそれぞれに対し独立した直列コンデンサペ
アが設けられており、前記ブリスタパック１０の金属性
ホイル１６が前記プリント回路基板３２上の前記電極３
０への第２の電極として機能する。

測定のためには、第３図に示すように、前記直列コンデ
ンサを一つの静電容量ブリッジ３１内に配置すると便利
である。前記第２コンデンサの静電容量は、どの直列ベ
アに対しても同じであるので、これは第３図においては
一つのコンデンサＣＦとして示されている。前記独立型
ｉ３０のそれぞれに対応する前記第１コンデンサＣＰは
、多重スイッチＳによって前記ブリッジの辺ＤＥと選択
的に接続可能に構成されている。前記ブリッジのその他
の辺ＢＥ、ＢＣ及びＣＤは、それぞれ固定コンデンサＣ
２、Ｃ３、及びＣ１を有している。

そして、交流電源電圧が前記ブリッジの点ＢＤに与えら
れ、点ＣＥは増幅器４６によって暗示した検出回路に接
続されている。従って、前記独立電極３０と錠剤パック
ホイル１６との間に形成された前記静電容量ＣＰは、前
記スイッチＳのそれぞれの位置に対して別個に測定を行
なうことによって測定可能である。

テストを行なう時、前記パック１０は保持部材１８上に
置かれ、前記蓋体２６は閉じられている。そして、それ
ぞれの静電容量ＣＰを交互に測定してメモリ４８内に記
憶させる０次に、前記チャンバ２０を、ダクト４４を介
して例えば真空ポンプによって構成される圧力制御装置
４３によって真空状態にし、全部の静電容量ＣＰを再測
定する。

この時、ブリスタが適切に密封状態にされておれば、こ
のブリスタを被覆している前記ホイル１６の一部分は隣
接する電極３０の方向に幾分外方へと彫版し、これによ
ってこの電ｉ３０における測定静電容量は上昇する。従
って、静電容量が上昇すれば、このブリスタが適切に密
封されていることになる。ブリスタコンパレータ５０に
静電容量の最小変化値が入力され、これを所定の基準値
Ｒと比較することが出来る。そしてこの基準値Ｒ以下の
パックは合格／不合格検出器５２によって不合格にされ
る。

又、前記電極３０からのパック１０の間隔を正確に保つ
ために薄いガスゲット４６（第２図参照）（例えばネオ
ブレーン製）を設けると好都合である。即ち、これらガ
スケット４６を配置することで、パック１０の最低合格
レベルである絶対静電容量レベルを設定することが可能
である。このように構成すれば、多くの場合、それぞれ
の静電容量を独立して記憶させる手間を省くことが出来
る。

被験パック１０に非常に僅かな漏れが存在する時、この
パック１０は真空状態にすると最初は彫版するが、パッ
クから空気が徐々に漏れるにつれてこの彫版は小さくな
ってゆく、このような僅かな漏れは、前記増幅器４６の
検出信号の変化率、即ち、漏れ率を示す回路中における
静電容量の変化率を検出するように構成された装置５４
を使用することによって検出可能である。そして、静電
容量と静電容量の変化率との二つを測定することによっ
て、パックの大きな漏れと小さな漏れとの両方を発見す
ることが可能である。

更に、他のタイプのホイルパックも、同じ方法によって
、しかし異なった種類の真空チャンバと電極構成を採用
することによってテストすることが出来る。例えば、こ
のホイル自身に直接に電気的接触をすることが好都合で
あるならば、第２のコンデンサＣＦを省き、その二つの
電極間の間隔が縮小した時のコンデンサＣＰの静電容量
の上昇のみを測定すればよい。

本発明に係る方法は、薬品パック及び食品パックのテス
トに特に好適なものではあるが、密封された電導性を有
するあらゆるパックに対しても適応可能である。

尚、錠剤パックのなかには、その構造上の理由によって
、前述した方法をそのまま採用して真空状態にしても、
そのホイルにほとんど或いは全く変化が見られないもの
もあるが、このような場合、この錠剤パックを真空状態
にする前に、第１図に示した圧力制御装置４３によって
あらかじめ前記ダクト４４を介して錠剤パックに正の圧
力を与えておけばよい。即ち、この正の圧力により、真
空状態によって膨張が発生する前に、前記ブリスタ上の
ホイルを強制的に収縮状態にするのである。このように
すれば、あとは前述の場合と同様にテストを行なうこと
が出来る。

更に、僅かな漏れしかないパックにおいては、単に急激
にｏ　ｎ　／　ｏ　ｆ　ｆする変化を与えるよりもむし
ろ徐々に上昇する圧力及び／又は真空変化を与えること
によってテスト時間を短縮することが可能である。

このように、本発明は、テスト後のパック（もし合格品
であれば）の使用を可能にし、しかも迅速かつ被験物を
破損しない、気密容器のテスターを提供するものである
。尚、このテスターのテスト速度は相当に速いので、従
来のようにランダムに抽出した代表的な製品のみをテス
トするのではなく、製品の１００％をテストすることを
可能にするものである。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明の好適な実施例を示し、第１図は本発明に
係る気密容器テスターの断面図、第２図は第１図の面Ａ
−Ａにおける平面図、そして第３図は前記テスターの電
気部を示す回路図である。 ５・・・・・・多重化手段、１６・・・・・・電導性ホ
イル又はラミネート、１８・・・・・・第２固定電極、
２０・・・・・・チャンバ、３０・・・・・・第１固定
電極。 的 、Ｄす２

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、一つの共通の伸縮性を有する電導性ホイル又は金属
   性ラミネートによって個々に密封された複数の小室又は
   ブリスタを備えた伸縮性気密容器をテストするテスター
   であって、テスト中の容器を支持することが可能な真空
   化可能チャンバ（２０）、被験容器が前記チャンバ（２
   ０）内で支持される時にそれぞれのブリスタに対応する
   前記ホイル又は金属性ラミネートに対向する状態で前記
   チャンバ（２０）内に配設された複数の第１固定電極（
   ３０）、そして前記ブリスタと前記第１固定電極（３０
   ）のそれぞれに対応するホイル又は金属性ラミネート間
   の静電容量の連続モニタを可能にする多重化手段（５）
   とを有することを特徴とするテスター。 ２、その一側方が非電導性プラスチック材により形成さ
   れるとともにその反対側が伸縮性を有する電導性ホイル
   又は金属性ラミネート材（１６）によって形成されてい
   るブリスタパック用のテスターであって、その使用時に
   おいて前記チャンバ（２０）内で前記パックの非電導側
   に位置するとともにこれによって連続静電容量構造が得
   られる第２固定電極（１８）を有し、第１の固定静電容
   量（ＣＦ）が、前記電極（１８）と伸縮性を有した電導
   性ホイル又は金属性ラミネート（１６）とに間において
   効果的に形成され、第２の可変静電容量（ＣＰ）が前記
   パッケージの伸縮性電導性ホイル又は金属性ラミネート
   （１６）と前記複数の第１固定電極（３０）との間に効
   果的に形成されることを特徴とする請求項１記載のテス
   ター。 ３、前記もう一つの固定電極（１８）が、テスト中にお
   いて前記パッケージのそれぞれのブリスタ（１４）を保
   持するための複数の凹部（１９）を備えた電導性保持部
   材として形成されていることを特徴とする請求項２記載
   のテスター。 ４、前記保持部材が、前記チャンバ（２０）内において
   、高さ調節可能な電導性包装部材（２４）上に位置して
   いることを特徴とする請求項３記載のテスター。 ５、前記複数の電極（３０）が、前記チャンバ（２０）
   の取り外し可能蓋体（２６）の一部を形成するプリント
   回路基板（３２）に取り付けられていることを特徴とす
   る請求項１ないし４のいずれかに記載のテスター。 ６、前記テスターが更に、真空状態にする前に、前記チ
   ャンバ（２０）に正の圧力を与える手段を有することを
   特徴とする請求項１ないし５のいずれかに記載のテスタ
   ー。 ７、前記テスターが更に、許容しうるパッケージと不良
   パッケージとを区別するために、真空状態における測定
   静電容量値を基準値と比較するためのコンパレータ（５
   ０）を有していることを特徴とする請求項１ないし６の
   いずれかに記載のテスター。 ８、前記テスターが更に、真空状態における静電容量の
   変化率を検出するための手段（５４）を有していること
   を特徴とする請求項１ないし７のいずれかに記載のテス
   ター。 ９、前記チャンバ（２０）を選択的に真空状態にするた
   めの手段（４３）が、該真空状態のランプ関数によって
   前記チャンバ（２０）に与えられる圧力を減少させるよ
   うに構成されていることを特徴とする請求項１ないし８
   のいずれかに記載のテスター。 １０、前記チャンバ（２０）を選択的に真空状態にする
   ための手段（４３）が、前記チャンバ（２０）に与えら
   れる圧力を急激に減少させるように構成されていること
   を特徴とする請求項１ないし８のいずれかに記載のテス
   ター。