JPH01205429A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPH01205429A
JPH01205429A JP62333943A JP33394387A JPH01205429A JP H01205429 A JPH01205429 A JP H01205429A JP 62333943 A JP62333943 A JP 62333943A JP 33394387 A JP33394387 A JP 33394387A JP H01205429 A JPH01205429 A JP H01205429A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tab
lead
package
resin
bonding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62333943A
Other languages
English (en)
Inventor
Takamitsu Kanazawa
孝光 金澤
▲はい▼島 幹雄
Mikio Haijima
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Renesas Eastern Japan Semiconductor Inc
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Tohbu Semiconductor Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Tohbu Semiconductor Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP62333943A priority Critical patent/JPH01205429A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体装置の製造技術、特に、樹脂封止形パ
ッケージを備えている半導体装置における耐湿性向上技
術に関し、例えば、表面実装形樹脂封止パッケージを備
えているハイ ポーラ形半導体集積回路装置の製造に利
用してイf効なものに関する。 〔従来の技術」 高密度実装を実現するだめの半導体集積回路装置(以下
、rcという。)として、樹脂封止形ミニ・スクエア・
パッケージを備えているIC(以下、MSP・IC1ま
たは単にICということがある。)がある。このMSP
  ICは、集積回路が作り込まれている半導体ペレッ
トと、半導体ペレノ1〜がi艮(Ag)ペレース1−か
らなるボンディング層によりボンディングされているタ
ブと、夕ブの周囲に配設されている複数本のリード・と
、半導体ぺl/ 71・の電極および各リードに両端部
をボンデインクされ′C電気的に接続するワイヤと、こ
れらを樹脂封止するパッケージとを備えており、樹脂]
、・J正形パノケーノが略正方形の平盤形状に形成され
ζいるとともに、リ−1のアウク部がパッケージの四辺
から突出されてハツト ウィング形状に成形されている
。 なお、このようなIcを4i<べである例としては、株
式会社T業調査会発行rlc化実装技術」昭和55年1
月IO口発行 P135〜P l 55、がある。 〔発明が解決しようとする問題点〕 しかし、このような表面実装型プラスチック・パッケー
ジを(Illiえているl(lこおいては、ペレットを
形成しているシリコン、ソー1′フレームを形成してい
る42アロイや銅、およびパッケージを形成している樹
脂についての熱膨張係数が大きく異なるため、ICか温
度サイクル試験や熱衝撃試験等で、また、実装時におけ
るはんだデイツプやリフローはんだ]−程等で加熱され
ることにより、パッケージと、半導体ペレノI・がポン
ディングされているタブとの接着界面に剥がれが生し、
その結果、樹脂パッケージの耐湿191が低Fするとい
う問題点かあることか、本発明者によって明らかにされ
た。 本発明の目的は、樹脂封止型パッケージを備えている半
導体装置におりる耐湿性低下の発生を防止することがで
きる半導体装置の製造技術を提供するごとにある。 本発明の前記ならびにその他の「]的と新規な特徴は、
木明細書の記述および添付図面から明らかになるであろ
う。 〔問題点を解決するだめの手段〕 本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を説明すれば、次の通りである。 すなわち、半導体ペレットをタブに、ベレノ[・、リー
1−およびパッケージに対して接着性の良好な樹脂4A
料からなる樹脂ポンディング層によりポンディングさせ
たものである。 〔作用〕 前記した手段によれば、樹脂ボンデインク層が半導体ペ
レットの外周方においてタブの金属およびパッケージの
樹脂の双方に強力に接着するとともに、適度に弾性変形
するため、半導体ペレットおよびタブよ、パッケージと
の接着境界面間に剥がれが発生ずることεJない。L7
たがって、半導体装置としての耐湿性が向」ニされるご
とになる。 〔実施例〕 第1図は本発明の一実施例である樹脂封止形MS l)
・Icを示ず−・部切断jF面図、第2回〜第16図は
本発明の一実施例であるそのM S P・ICの製造方
法を示す各説明図である。 本実施例において、半導体装置としての樹脂封止形MS
 P  I(I+シリコン半導体ペレット(以下、ベレ
ットという。)+2と、ペレットがボンティングされて
いるタブ8と、ペレットをタブにボンディングさ一已て
いる樹脂ボンディング層11と、タブ8の周囲に配設さ
れているり一ト9と、ベレノI・]2の各電極および各
リード・9にその両端部をそれぞれボンディングされて
橋絡されているワイヤ]3と、これらを樹脂封止するパ
ッケージ14どを備えており、前記樹脂ボンディング層
11はボリイミF・イソ・インドロ キナ・プリンジオ
ン(以下、P I Qという。)を用いて形成されてい
る。このMSPICt、1次のような製造方法により製
造されている。 以下、本発明の一実施例であるこの樹脂封止形MSP−
1cの製造方法を説明する。この説明により、前記MS
P ICについての構成の詳細が明らかにされる。 本実施例において、樹脂」、4正形MSP−1cの製造
方法に(J、第2図に示されている多連リード−フレー
ム1が使用されている。この多連リードフレーム1は燐
青銅や無酸素銅等のような銅系(銅またはその合金)材
料からなる薄板を用いて、打ち抜きプレス加圧またはエ
ツチング加工等のような適当な手段により一体成形され
ており、ごの多連リードフレーム1の表面にはめっき処
理がなされていない。この多連リードフレーム1には複
数のCl’、を位す− ドフレーム2か横方向に1列に
並設されている。 単位リー[−フレーJ、2は位置決め孔3aが開設され
ている外枠3を一対備えており、両外枠3は所定の間隔
で平行一連にそれぞれ延設されている。 トAり合う単位リーI・フレーム2.2間には一対のセ
クション枠4が両外枠3.3間に互いに平行に配されて
−・体的に架設されており、これら外枠、セクション枠
により形成される略正方形の枠体内にji’i位リード
−フレーム2か構成されている。 各単位リードフレ=1.2において、外枠3およびセク
ションバー4の接続部にはりJ、吊り部材5が略直角方
向にそれぞれ配されて一体的に突設されており、ダJ、
吊り部材5には4本のダム部材6か略正方形の枠形状に
なるように配されて、一体的に吊持されている。セクシ
ョン枠4側の各ダム部材6Gこはタブ吊りリード・7が
両端に配されて、略45度方向に一体的に突設されてお
り、各タブ吊りリード’ 7の先端には略正方形の平板
形状に形成されたタブ8か、ダム部材6群の枠形状と略
同心的に配されて一体的に吊持されている。ダ1、部材
6には複数本のり一ト9が長手方向に等間隔に配されて
、互いに平行で、ダム部材6と直交するように−・体的
に突設されており、各リード9のタブ側端部は先端をタ
ブ8に近接してこれを取り囲むように配されるごとによ
り、インナ部9aをそれぞれ構成している。他方、各リ
ード9の反タブ側延長部分は、その先端が外枠3および
セクション枠4から離間して切り離され、アウク部9 
+)をそれぞれ構成している。そして、ダム部材6にお
ijる隣り合うリー1ξ9.9間の部分は後】ホするパ
ッケージ成形時にレジンの流れをせき止めるダム6aを
実質的に構成している。 前記構成にかかる多連リードフレームには各中位り一ト
フレーム2毎にペレノ1〜・ポンディング作業、続いて
、ワイヤ・ボンディング作業が実施される。このホンデ
ィング作業は多連リードフレームが横方向にピンチ送り
されることにより、各単位リーI・フレーム2毎に順次
実施される。 このボンディング作業により、第3図および第4図に示
されているように、前工程においてバイポーラ形の集積
回路を作り込まれた半導体集積回路素子としてのベレッ
I・12が、各単位り一]゛フレーム2におりるタブ8
上の略中央部に配されて、ベレット、リードフレームお
よびパッケージの各材料に接着性の良好な樹脂としての
PIQを用いて、第5図および第6図に示されているよ
うな適当なペレットボンデインク装置により形成される
樹脂ポンディング層(以丁、P I Qボンディング層
ということがある。)11を介して固着される。 そして、タブ8に固定的に搭載されたベレット12の電
極パンF’ I 2 aと、各単位リードフレーム2に
おりるリード9のインナ部9aとの間には後記する銅系
材料からなる1ツイヤ]3が、第7図〜第9図に示され
ているようなワイヤボンデインク装置が使用されること
により、その両端部をそれぞれポンディングされて橋絡
される。これにより、ぺ1/ノI・12に作り込まれて
いる集積回路は、電極バノP’ ] 2 a、ワイヤ1
3、リ−1・6のインナ部62] A:ンよびアウク部
6bを介して電気的に外部に引き出されるごとになる。 ここで、ペレットボンデインク装置、続いて、ワイヤホ
ンディング作業について説明する。 第5図および第6図に示されているベレソ]・ポンディ
ング装置15はベレン1−12を各単位リードフレーム
2のタブ8上にPIQを用いてポンディングするよ・う
に構成されており、フィーダ16を備えている。フィー
ダ]6は多連リードフレーム1を長手方向について摺動
自在に保持して、単位リード−フレーム2のピンチをも
って歩進送りし得るように構成されており、後述するワ
イヤポンディング装置20におけるフィーダ21と接続
されるようになっている。フィーダ16の一端部にはロ
ーダ16Aが設備されており、ローダ16Aはラック等
に収容された多連リードフレーJ、]をフィーダ16F
に1枚宛払い出すように構成されている。フィーダ16
の他端部には乾燥装置16Bが設備されており、乾燥装
置16Bはタブ8とベレット]2とを接着したPIQボ
ンディング層11を乾燥ないしは硬化させるように構成
されている。 フィーダ16の片膝にはボンディング材料としてのPI
Qをタブ8上に供給するためのPIQ供給装置17が設
備されており、この供給装置17は注射針のような構造
を有するデイスペンサによりPIQ]、7Aをタブ8上
に所定N塗布するように構成されている。))IQ供給
装置17と別の位置にはピックアップ装置18か設備さ
れており、ピックアップ装置18はトレー12Aに収納
されているペレノ[・12を1個宛取り出してブリアラ
イメンI・ステージ18△Qこ移載するように構成され
ている。さらに、ピックアップ装置18と別の位置に6
;I真空吸着ヘノ1−のような構造を有するホンディン
グヘノl−19か設備されており、ボンディングヘノ1
]9はブリアライメンI・ステージ18△に移載された
ベレ71・12を真空吸着保持した後、ごのペレソI・
12をクシ)3に塗布されたPIQ塗布層17r3上に
移載させるように構成されている。 次に、前記構成にがかるペレソI□ボンディング’4N
によるイレン1〜ボンデイング方法を説明する。 ローダ16Aによりフィーダ16上に供給された多連リ
ードフレーム1における先頭の単位リードフレーム1が
塗布位置に送られて来ると、P +Q供給装置17によ
りタブ8上にP I Q 1.7 Aが10〜100μ
■1程度の厚さに塗布される。 他方、I・レー12Aに整列されたペレ7 t・] 2
はピックアップ′A置18によって1個宛ピックアップ
されて、ブリアライメンIステージ18△に移載されろ
。移載されたペレノ1−12はプリアライメントステー
ジ183△上におい′ζ機械的にブリアライメンI・さ
れる。プリアライメントされたベレッI・12はホンデ
ィングヘノ119により真空吸着保持される。 そして、じ1−ダ16Aによりフィーダ16上に供給さ
れた多連リード−フレーム1における先頭の中位リード
フレーム1がボンデインクステージ位置に送られて来る
と、ボンディングヘン1−19に保持されたベレノl−
12はタフ8に塗布されてなるPIQ塗布層17B上に
押接され、適度にごずり付りられる。これにより、PI
Q塗布層1.78C;1タブ8上においてペレッI・1
2の外周方に広がってペレット12を取り囲む状態にな
る。 以降、前記作動が繰り返し実施されることにより、残り
の単位リード−′フレーム2についてベレッ1〜12が
ボンディングされて行く。 このよ・うにして各単位リード、−フレーム2のタブ8
にベレy h ] 2がボンディングされた多連ソー1
フレーム1は乾燥装置16Bに順次供給されて行く。乾
燥装置16[3において、タブ8上に塗布されてペレノ
1−12が接着されているPIQ塗布層17Bは、加熱
されるごとによりPIQ中の溶剤を茎発されて乾燥され
るとともに、硬化される。 これにより、PIQポンディング層11がタブ8とペレ
ット12とを確実にボンディングするように形成される
ごとになる。 第7同に示されているワイヤボンディング装置20はペ
レンI・12の電極バノF’ l 2 aと、各単位り
一1’−フレーJ、2の各リード” 9との間に銅ワイ
ヤ13をそれぞれ橋絡さゼるごとにより、ペレット12
と各リードとを電気的に接続するように構成されている
。このワイヤボンディング装置20はフィーダ21を備
えており、フィーダ21は多連リードフレー1・1を長
手方向について摺動自在に保持して、単位リードフレー
J、2のピンチをもって歩進送りし得るように構成され
ている。フィーダ2IにはヒーI・ブロック22か単位
リードフレーム2毎に加熱し得るように設備されている
。 フィーダ21のボンディングア−ムの外部にはXY子テ
ーブル3がXY力方向移動し得るように設備されており
、XY子テーブル3−トにはボンディングヘッド24が
搭載されている。ボンディングヘッド24にはボンディ
ングアーム25が基端を回転自在に軸支されて支持され
ており、このアーム25はその先端に固設されたキャピ
ラリー26を上下動させるように、カム機構(図示せず
)により駆動されるように構成されている。また、ボン
ディングヘッド24にはボンディングアーム25を通し
ててキャピラリー26を超音波振動させる超音波発振装
置(図示−けず)が設備されてぃボンディングアーム2
5の上側には一対のクランパアーム27.28が電磁プ
ランジャ機構等のような適当な手段(図示−已ず)によ
り作動されるようQこ設イ11ηされており、両アーム
27.28の各先端はキャピラリー2Gの真上位置に配
されてクランパ29を構成している。クランパ29には
リール(図示−已ず)から繰り出される銅ワイヤ素材(
後読する。)がカイ[・30を介して挿通されでおり、
3同ワイヤ素祠i、Iさらに−1−ヤビラリー26に挿
通されている。 キャピラリー26の近傍にLJ放電電極31が独立して
設備されており、この放電電極31 iJその1端部が
回転自在に軸支されるごとにより、その先端部がキャピ
ラリー26のド方位置、すなわち、銅ワイヤ素材の先端
の真下位置と、キャピラリー2(3の側方位置(退避位
置)との間を移動される(1うに構成されている。また
、この電極31と前記クランパ29との間にLeF電源
回路32が接続されており、電極31と銅ワイヤ素材の
間で放電ア−クを生成させるようになっている。 このワイヤボンディング装置20は第8閃に示されてい
るように、銅ワイヤ素材の先端で生成されるボールの周
囲にガスを供給するごとにより、ガス雰囲気を形成する
ためのチューブ33を備えており〜このガス供給手段と
してのチューブ33は放電電極3]にチ、−J−−ブ開
口部をキャピラリー26の下方位置に向りて取り付げら
れている。チューブ33には還元作用のあるガス35、
例えば、窒素ガスと水素ガスとの混合ガス等を供給する
だめのガスo(給tA34が接続されており、チj〜−
ブ33の内部にはガス加熱手段としてのヒータ36が絶
縁テープを挟設されて挿入されている。このヒータ36
はガス供給源34から供給されたガス35をチューブ3
3とヒータ36との隙間を通過する際に加熱することに
より、所定の温度に制御し得るように構成されている。 一方、フィーダ21の底部には、多連リードフレームの
酸化を防止するだめの還元性ガス(以下、リードフレー
ム酸化防止用ガスという。)40を供給する手段として
の還元性ガス供給装置41が設備されており、この供給
装置41は吹出口42を備えている。吹出口42は多連
り−l、フレーム1の周囲にリードフレーム酸化防止用
ガス40を緩やかに吹き出し得るように、フィーダ21
の上面に複数個開設されており、この吹出口42群には
ガス供給路43か接続されている。ガス供給路43はガ
ス供給ユニット44に接続されており、ガス供給ユニン
I・44は還元性ガス、例えば、窒素および水素から成
る混合ガスを、予め設定された流量をもって供給し得る
ように構成されている。 そして、フィーダ21」−にばカバー45がフィーダ2
1を送られる多連り一1〜フレーム1を略全体にわたっ
て被覆するように設備されており、このカバー45は多
連ソー1−フレーム】の周囲に1lli給された酸化防
止用ガス40を多連リードフレーム1の周囲に可及的に
停滞させろようになっている。カバー45には窓孔46
がギヤピラリ−26の真「におりるボンディングステー
ジとなる位置に配されて、ワイヤホンディングを実施し
得る犬きさの略正方形形状に開設されている。この窓孔
46には略正方形枠形状に形成されたリードフレーム押
さえ具47が昇降自在に嵌合されており、この押さえ具
47はカム機構等のような適当な駆動装置(図示せず)
によりフィーダ21の間欠送り作動に連携して上下動す
るように構成されている。すなわち、この押さえ具47
はワイヤボンディングが実施される時に単位リードフレ
ーム2を」二から1甲さえることにより、リ−1”フレ
ームの遊動を防止するように構成されている。 次に、前記構成にかかるワイヤホンディング装置による
ワイヤボンディング方法を説明する。 ここで、木実施例においては、ベレントの電極パッドと
リードとを電気的に接続する銅ワイヤを構成するための
素4Aとして、銅の純度(99,999%以上)が高い
銅ワイヤ素材38が使用される。銅ワイヤ素材38は断
面略真円形の細線形状に引き抜き成形され、その太さは
キャピラリー26の挿通孔26aの内径よりも若干細め
で、橋絡された後の銅ワイヤ13におけるループの剛性
、お、にび電気抵抗が充分に確保される値に設定されて
いる。この銅ワイヤ素(438は第7図に示されている
ように、ガイド30およびクランパ29を介してキャピ
ラリー26の挿通孔26aに予め挿通される。 ペレノ1〜12がホンデイ〕/グされている44位リー
ドフレーム2がフィーダ2]におりノるホンデインダス
テージに供給されると、窓孔46内においてリード−フ
レーム押さえ只47が下降されて単位リーl−717−
ム2を押さえつける。続いて、XY子テーブル3が適宜
移動される。 一方、キャピラリー26においては、放電電極31が銅
ワイヤ素+J38の下端に接近されるとともに、電源回
路32が閉じられることにより、銅ワイヤ素材38の先
端にボール3つが溶融形成される。このとき、チューブ
33から還元性ガス35が供給され、銅ワイヤ素材38
と電極31との間が還元性ガス雰囲気に保持される。こ
の還元性ガス35はチブ、−ブ33の内部の途中6.二
介設されているし−タ36により所定温度になるように
加熱制御されるため、ガス雰囲気は所定の温度範囲内心
ごなり、銅ワイヤ素+′A3Bの先端に形成されるボー
ル39の温度の′:@、aな低下が防止される。その結
果、還元性ガス35か溶融したボール3つに吹き(スJ
げられても、ボール3つの硬度が高くなること番コない
。 続いて、キャピラリー26がボンディングアーム25を
介してボンディングヘノl−24により下降され、銅ワ
イヤ素材38の先端部に形成されたボール39が、ペレ
ノ1−12におりる掬数個の電極パンl” 12 aの
うち、最初にボンディングする電極バッド(以下、特記
しない限り、単に、パン)・という。)に押着される。 このとき、キャピラリー26に超音波振動がイ」勢され
るとともに、ベレット12がヒーl−ブロンク22によ
って加熱されているため、ボール39はベレッ1〜12
のバフ1月2 a−J:に超音波熱圧着される。そして
、ボール39はガス雰囲気を所定の温度範囲に保たれる
ことにより、硬くなることを抑制されているため、良好
なボンダビリティ−をもってボンディングされるごとに
なる。 ところで、銅ワイヤ素材が使用されている場合、銅は酸
化され易く、かつ比較的硬いため、第1ボンデイングに
おりるボンダビリティ−が低下する。 すなわち、熔融中に銅ワイヤ素材の表面に酸化膜が形成
されると、溶融が不均一になり、ボールの形状が不適正
になる。また、ボールの表面に酸化膜が形成されると、
電極バンドとの金属結合性が低下する。そこで、ボール
生成時に還元性ガスを供給することにより、ボールの酸
化を防止することが考えられる。 とごろが、ボール4F成時に還元性ガスが吹き付けられ
ると、ボールが象、冷ノu+されて硬(なる。そして、
ボールが硬いと、熱圧着時における形状が悪くなるばか
りでなく、接着性が低下するという問題点があることが
、本発明者によって明らかにされた。 しかし、本実施例QこおいてGj、ボール生成時にガス
雰囲気が所定温度範囲になるよ・うに加熱制御された還
元性ガス35かボール39の周囲にイ](給されるため
、銅ワイヤ素材3日が使用される場合であっても、良好
なボンダビリティ−が実現される。 すなわち、銅ワイヤ素材38のボール39は還元性ガス
35の雰囲気中で生成されるため、溶融中、その銅表面
に酸化膜が形成されることばない。 その結果、銅ワイヤ素材38の先端は内部および表面全
体が溶融されるため、均一な表面張力が発生して真球度
の高いボール39が形成されるごとになる。 また、還元性ガスだりであると、溶融されたボール39
が雰囲気によって急冷却されて硬くなる傾向を示すが、
還元性ガス雰囲気は、ガス供給源34から供給されるガ
スをヒータ36で加熱制御されることによって所定温度
範囲内に維持されているため、ボール39ば還元性ガス
35によって加熱されて適度な硬度を維持することにな
る。このとき、還元性ガスは高温であると、還元作用か
高められるため、前記酸化膜形成防止効果は一層高めら
れることになる。 ごのよ・うにして、ポール39は酸化膜を形成されずに
真球度が高く、かつ、適度な硬度を維持しているため、
銅ワイヤ素材3Bであっても良好なポンタヒリティーヲ
モつ−でベレノI・2のパンI・」二〇、二ホンディン
クされることになる。 ここで、銅
【ツイヤ素+Aを用いて第1ポンチインク部
を形成する場合において、良好なボンダビリケイ−が得
られる温度範囲は、キャピラリード方のボール周囲の温
度で、100°C〜200°Cであることを、本発明者
らは実験的により明らかにした。ずなわぢ、純度99.
999%の銅ワイヤ素材を使用して放電電極Gこよりポ
ールを溶融形成させた場合、加熱の効果に1次のように
なる。ガス雰囲気のh見度] 00 ’C以上でポール
の硬度は低下され始める。温度200°〔:まではh1
λ度上1するにつれてボール硬度は低ドされる。温度2
00°Cになると、ホール硬度の低下心Xl略飽和状態
となる。そして、ガス雰囲気の温度が200“Cを越え
る場合、高温度になったガスによってキャピラリー先端
およびワイヤが過剰に加熱されることになるため、ボン
デインクを繰り返すことによるキャピラリー内部、キャ
ピラリー先端部の表面のlηれが増加する。したかって
、還元性ガスが200“Cを越えて加熱されることば望
ましくない。 そこで、銅ワイヤ素材を用いてネイルヘンlポンチイン
クする場合、ボール周囲におりる還元性ガス雰囲気の温
度が100°C〜200°Cの範囲内になるように、還
元性ガスをヒータによって加熱制御するごとにより、良
好なボンダビリティ−を得ることができる。 第1ボンディング部が形成された後、キャピラリー26
がxY子テーブル3およびボンディングヘンF’ 24
により、後述するような軌道をもって3次元的に相対移
動され、複数本のIJ −1=’ 9のうち、最初に第
2ポンチインクずべきリード(以+、特記しない限り、
単にリードとする。)の先端部に銅ワイヤ素材38の中
間部が押着される。このとき、キャピラリー26に超音
波振動が付勢されるとともに、リードがヒートブロック
22により加熱されているため、銅ワイヤ素+A38の
押着部はリード−トに超音波熱圧着され、もって、第2
ボンディング部が形成される。 そして、前記ボンディング作業中、フィーダ2】の土面
に開設された吹出口42からリードフレーム酸化防止用
還元性ガス40か常時吹き出されているため、多連り一
1フレー1.1は還元性ガス雰囲気内に浸漬されている
。このとき、還元性ガス雰囲気はフィーダ21−1−に
敷設されたカバー45によって被覆されているため、こ
の還元性ガス408;l多連リードフレーム]およびベ
レ71・12を効果的に包囲するごとになる。したがっ
て、ツー1フレーム等の酸化&J確実に防止されている
。 ところで、多連リードフレーム]として銅系のリードフ
レームが使用されている場合、銅は酸化され易く、酸化
膜がボンティング面に厚く形成されるため、第2ホンデ
イングにおりるボンダビリティ−が低−「する。ずなわ
ち 酸化膜が形成されると、ワイヤとの金属結合性か低
下するため、ボンダビリケイーが低下ずろ。 しかし、本実施例においいては、フィーダ21−1−が
カバー45により被覆されているとともに、そのカバー
内に供給された還元性ガス雰囲気により、多連リードフ
レーム1が包囲されているため、酸化され易い銅系リー
ドフレームが使用されていても、その表面に酸化膜が形
成されることはなく、その結果、銅ワイヤ素材38は良
好なボンダビリティ−をもってリード9+にボンティン
グされることになる。 ここで、多連リードフレー1.1は銅系材料を用いて製
作されているため、銅ワイヤ素材38との接合性がきわ
めて良好である。 第2ホンディング部が形成されると、クランパ29によ
り銅ワイヤ素材38か把持され、クランパ29がキャピ
ラリー26と共に第2ボンディング部から相対的に離反
移動される。ごの離反移動により、銅ワイー)・素材3
8は第2ボンディング部から引き千切られる。これによ
り、ペレット]2の電極パ・ノ1−とリードとの間には
銅ワイヤ13が橋絡されることになる。 その後、第2ホンディング作業を終えた銅ワイヤ素材3
8に対するクランパ29の把持が解除されるとともに、
キャピラリー2Gが若干上昇されることにより、銅ワイ
ヤ累月38の先端部がボール39の成形に必要な長さだ
け相対的に突き出される(所謂、テール出し動作である
。)。 以降、前記作動が繰り返し実施されるごとにより、残り
の電極バットと各ソートとのlj、+1に銅ワイヤ13
が順次橋絡されて行く。 その後、一つの単位リーI・フレー1.2についてのワ
イヤボンティング作業か終了すると、押さえ具47が」
−昇され、次の単位リードフレーム2がホンティングス
テージの所へ位置するように多連リードフレーl、1が
1ピ、チ送られる。以後、各単位リードフレーム2につ
いて前記ワイヤホンディング作業が順次実施されて行く
。 ところで、本実施例においては、ボンディング工具とし
て、指向性のないキャピラリー2Gが使用されているた
め、各銅ワイヤ13の架橋方向が交差する場合であって
も、リードフレームとJζンディングアームとを相対的
に回動させずに済む。 したがって、ワイヤボンディング装置の構造を簡単化さ
セーることができる。 このようにしてペレノトオよびワイヤ・ホンディングさ
れた多連リードフレームには、各単位リードフレーム毎
に樹脂封止するパッケージ群が、第10図に示されてい
るようなl・ランスファ成形装置を使用されて中位リー
ドフレーム群について同時成形される。 第10図に示されているトランスファ成形装置50はシ
リンダ装置等(図示せず)によって互いに型締めされる
一対の上型51と下型52とを備えており、上型5Iと
下型52との合わせ面には」二型キャビティー四部53
aと下型キャビティー四部53bとが互いに協働してキ
ャビティー53を形成するように複数組没設されている
。上型51の合わせ面にはボンド54が開設されており
、ボンド54にはシリンダ装置(図示せず)により進退
されるプランジャ55が成形拐料としての樹脂(以下、
レジンという。)を送給し得るように挿入されている。 下型52の合わせ面にはカル56がボット54との対向
位置に配されて没設されているとともに、複数条のラン
ナ57がボット54にそれぞれ接続するように放射状に
配されて没設されている。各ランナ57の他端部は下側
キャビティー四部53bにそれぞれ接続されており、そ
の接続部にはゲート58がレジンをキャビティー53内
に注入し得るように形成されている。また、下型52の
合わせ面には逃げ凹所59がリード−フレームの厚めを
逃の得るように、多連リードフレーム1の外形よりも若
干大きめの長方形で、その厚さと略等しい=を法の一定
深さに没設されている。 前記構成にかかる多連リードフレーム1を用いて樹脂封
止形パッケージをトランスファ成形する場合、上型51
および下型52における各キャビティー53は各単位り
一トフレーム2における一対のダム6a、68間の空間
にそれぞれ対応される。 l・ランスファ成形時において、前記構成にかかる多連
り−I−フレーム1は下型52に没設されている逃げ凹
所59内に、各単位リードフレーム2におけるベレット
]2が各キャビティー53内にそれぞれ収容されるよう
に配されてセントされる。 続いて、上型51と一ド型52とが型締めされ、ボンド
54からプランジャ55によりレジン60がランナ57
およびゲーl−58を通して各キャビティー53に送給
されて圧入される。 注入後、レジンが熱硬化されて樹脂封止形パッケージ1
4が成形されると、上型51および下型52は型開きさ
れるとともに、エソエクタ・ピン(図示せず)によりパ
ッケージ14群が離型される。このようにして、第11
図に示されているように、パッケージ14群を成形され
た多連り一1フレーム1はトランスファ成形装置50が
ら脱装される。 そして、このように樹脂成形されたパッケージ14の内
部には、タブ8、ペレッ1〜12、リ−1・9のインナ
部9aおよびワイヤ13と共に、タブトヘレンI・12
との間に形成されたPIQボンディング層11も樹脂封
止されろことになる。このi)l Qポンディング層1
1はレソンとの接着性がきわめて良好であるため、パッ
ケージY4ときわめて効果的に一体化される。 また、後jホするように、めつきレスの1同系り−Iフ
レームはパッケージのレシンに対してきわめて良好な接
着性を示すため、各リード9のインナ部9 a iJパ
、ケージ14ときわめて効果的に一体化される。 第12図に示されているように、番Jんだめつき処理装
置6 ] LJはんだめっき液62を貯留するためのυ
1んだ槽6.′3と〜め−、き電tA64とを備えてお
り、被めっき物としての多連リード−フレーム1はめっ
き液62中に浸漬された状態で、電源64によりめっき
液62との間に通電されることにより、金属露出面全体
にわたって電解めっき被l模65を形成される。このと
き、各単位リードフレーム2におiJるリード−9のア
ウタ部9bは端末において開放しているため、めっき被
膜65が先端面にも完全に被着されるごとになる。 めっき被11りを被着された多連リード−フレーム1は
、第13図に示されているようにり−I・切断成形工程
において各単位り一トフ1/−ム毎に順次、第14図に
示されているリード切断装置により、外枠3およびダム
6aを切り落された後、第15図に示されているリード
成形装置により、リード9のアウタ部9bを下向きに屈
曲成形される。 この工程で使用されるリード、′切断成形装置70は第
13図に示されているようにフィーダ71を(fifl
えており、フィーダ71は間欠送り装置(図示せず)に
より、被処理物としての多連リードフレーム1を単位リ
ードフレーム2に対応するピンチをもって一方向に歩進
送りするように構成されている。フィーダ71の一端部
(以下、前端部とする。)にはlコーダ72が設備され
ており、ローダ72ばランク等に収容された多連リード
フレー18】をフィーダ71七に1枚宛払い出すように
構成されている。フィーダ7】の中間部にはリード切断
装置73か設備されており、この装置は第14図に示さ
れているように構成されている。フィーダ7]におりる
リード切断装置73のノ4脇には、第15図に示されて
いるように構成されているリード−成形装置74がツー
1−切断装置73と並ぶように配されて設備されており
、両装置73と74との間にはハントラフ5が、リード
切断装置73において多連り一トフレーム]の外枠から
切り離された中間製品とし゛このMSP・IC部77を
保持してり一1成形装置74に移載し得るように設(m
されている。フィーダ71の後端部にはアンローダ76
か設(Qされており、このアンローダ76はリード切断
装置73においてM S P・IC部77を切り抜かれ
た多連リードフレーム1の残渣部品としての外枠部78
をフィーダ71から順次下してi〕l出するように構成
されている。 第14図に示されているリード切1析装置73は上側数
イ\]仮BOおよび下イ11す取(=j板90を備えて
おり、上側数イ」板80はシリンタ装置(図示せず)に
よって」二下動されるごとにより、機台トに固設されて
いる下側数イ」板90に対して接近、離反するように構
成されている。両数イくJ板80および90に+aボル
タ81および91がそれぞれ固定的に取り(N1りられ
′Cおり、両ホルダB1および9Xには上側押さえ型8
2および下側押さえ型92(以下、」二型82および下
型92ということがある。 )が互いに心合わせされてそれぞれ保持されている。上
型82および下型92は互いにもなか合わせになる略チ
ャンネル型鋼形状にそれぞれ形成されており、上型82
と下型92とは左右の押さえ部B3と93とによってリ
ー1:9の根元部を上下から押さえるように構成されて
いる。また、上型82は後記する外枠押さえと同様に、
ガイド88およびスプリング89により独立懸架される
ように構成されている。 上側ボルダ81には略くし歯形状(図示−Uず)に形成
されたバンチ84が一対、上型82の左右両脇において
リード9群のピンチに対応するように配されて、垂直下
向きに固設されており、パンチ84には剪断刃86かく
し歯におけるエツジに配されて、後記する剪断タイとl
14働して外枠3およびダム6aを切り落とすように構
成されている。 上側ホルダ81にGJ外枠押さえ87がカイ1、)38
に摺動自在に嵌合されて李下動自在に支持されており、
外枠押さえ87番」スプリング89により常時下方に(
=J勢された状1ルで独立)懸架されるように構成され
ている。このスプリング89により、外枠押さえ87番
コリーl゛フレームの外枠3を後記する剪断グイ上面と
の間で挟圧して押さえるようになっている。 他方、下型92には一対の剪断ダイ96が押さえ部93
の左右両脇に配されて、リ−1・形状の千面に沿う形状
に形成されており、剪断ダイ9Gは前記バンチ84の剪
断刃86と協働して外枠3およびダム6aを切り落とす
ように形成されている。 第15図に示されているリード−成形製;σ74は+側
堰イ・j板100および下側取イ」板110を備えてお
り、下側取付板100はシリンダ装置(図示−已ず)に
よって上下動されるごとにより、機台上に固設されてい
る下側取付板1」0に対して接近、n1反するように構
成されている。両地(’J板100および]、I Oに
+Jボルダ101および111がそれぞれ固定的に取り
イマ」りられており、両ホルダ10]および11]には
上側押さえ型102および下側押さえ型112(以下、
上型]、 02および上型112というごとがある。)
が互いに心合わ一ロされてそれぞれ保持されている。上
型]、 02および下型142は互いにもなか合わせに
なる略チャンネル型鋼形状にそれぞれ形成されており、
上型102と下型112とは左右の押さえ部103と1
13とによってリード・9の根元部を上下から押さえる
ように構成されている。また、上型102はガイド1.
08およびスプリング109により独立懸架されるよう
に構成されている。 上側ホルダ101には成形バンチ104が−・対、I−
型102の左右両脇においてリード−9群のピンチに対
応するように配されて、垂直下向きに固設されており、
このバンチ104は後記する成形ダイと1イア、 IU
+ してリード9を略垂直下向きに屈曲成形し得るよう
に構成されている。バンチ104のアウタリ−19に摺
接する内イリリ肩部には弯曲面形状部]05か適当な曲
率をもって形成されている。 他方、下型112には一対の成形ダイ114が押さえ部
]]3の左右両脇に配されて、成形後におりるリードア
ウタ部9bの下面に沿う形状に形成されている。 次に作用を説明する。 前述したように、はんだめっき処理された多連リードフ
レームill複数枚宛、ランク等に収容されてり一1切
断成形装置70のローダ72に供給される。Iコーダ7
2に送給された多連り−ISフレーム1はローダ72に
よりランク等から1枚宛、フィーダ71上に順次払い出
されて行く。フィーダ71に払い出された多連リード−
フレーム]はフィーダ71により単位り一トフレーム2
.2間の間隔をもって]ピッチ宛歩進送りされる。 そして、フィーダ7]上を歩進送りされる多連ジ−1フ
レーム1は単位り一1フレーム2をり−ト切断装置73
に順次供給されて行く。 ここで、ソー1−切11i N置についての作用を説明
する。 第14図に示されているように、多連リードフレーJ、
]についての歩進送りにより下型92に単位リードフレ
ーム2が四部にパッケージ14を落とし込むようにして
センI〜される。これにより、リード9の根木部か下型
92の押さえ部93に当接する。 次ぎに、シリンダ装置により上側取イ]板80が下降さ
れ、上型82および外枠押さえ87が下型92にスプリ
ング89の(=J勢力により合わせられる。これにより
、上型82の押さえ部83と下型92の押さえ部93と
の間でリード9の根木部が挟圧されて固定される。また
、外枠押さえ87と剪断ダイ9G上面との間で外枠3が
挟圧されて固定される。 その後、上側取(NJ板80がさらにF降されて行くと
、バンチ84が下降されて行く。ごのとき、上型82お
よび外枠押さえ87はスプリング89が圧縮変形される
ため、下型92および剪断ダイ96に押圧される。バン
チB4の下降に伴って、バンチ84の剪断刃86と剪断
ダイ96との協働による剪断により外枠3およびダム6
aがリード9群から切り落とされる。 パンチ84が所定のスl−o−りを終了すると、パンチ
ε(4は上側取(=J板80により」二昇され、元の1
=lIn状態まで戻されろ。 ツー1−切断装置73において、切断が終了し、上側取
イ」仮f30かト昇すると、多連リード−フレーム1の
外枠3から切り離された中間製品であるMSP・IC部
77は、下型92上からリード成形装置74におりる下
型]12」二へハンドラ75により移載される。 MSP−IC部80がリード成形装置74に移載される
と、フィーダ71により多連り一トフレーム1が単位リ
ーIフレーム2の1ピンチ分だけ歩進送りされ、次段の
単位り一トフレーム2について1iiJ詑した切断作業
が実施される。以降、各単位リードフレーム2について
切断作業が繰り返されて行く。 そして、全ての単位り−I・フレーl、2についての切
断作業が終了した多連リード−フレーム1の残渣として
の外枠部78に1、アント1−ダ76においてフィーダ
7」上から−Fろされ所定の場合に回収される。 一方、リード成形装置74に供給されたMSP・Ic部
77はごの装置によりリード−成形作業を実施される。 ここで、リード成形装置74についての作用を説明する
。 第15図に示されているように、下型112にMSP 
 IC部77が凹部にパッケージ14を落とし込むよう
にしてセットされる。これにより、リード9の根木部が
下型1.1.2の押さえ部1.13に当接する。 次ぎに、ソリンダ装置により上側取(=JlN 100
が下降され、−に型102が下型1]2にスプリング1
09のイ」勢力により合わ一υ−られる。これにより、
上型102の押さえ部+03と上型112の押さえ部1
13との間で被屈曲部としてのり−ト6の根木部が挟圧
されて固定される。 その後、に例数付板1.00がさらに下降されて行くと
、パンチ104が下降されて行く。このとき、上型10
2はスプリング109が圧縮変形されるため、下型72
に押圧される。 さらに、パンチ104が成形ダイ114に対して下降さ
れると、リーF 9はパンチ1.04の下降に伴って成
形ダイ114に押しつけられることにより、ごの成形ダ
イ114に倣うように屈曲されて所望の形状に成形され
る。 パンチ104が所定のストロークを終了すると、パンチ
104は上昇され、元の待機状態まで戻される。その後
、成形済のIcは下型112から取り外され、次工程に
送給されて行く。 以」二のようにして製造された樹脂封止形M S l)
・l C]、 20は第17図および第18図に示され
ているようにプリント配線基板に実装される。 第17図および第18図において、プリン1−配線基板
12[にはラント122が複数個、実装対象物となる樹
脂封止形MSP−IC120における各リード9に対応
するように配されて、はんだ材料を用いて略長方形の薄
板形状に形成されており、ごのランド122群にこのl
c]、20のり−ト’ 91!Yがそれぞれ整合されて
当接されているとともに、各リード9とラント122と
がリフローはんだ処理により形成されたはんだ盛り層1
23によって電気的かつ機械的に接続されている。 そして、各り一1’ 9がラント122にリフローはん
だ処理される際、リード9の下端部にめっき被膜65が
完全な状態で被着されているため、リ−F 9ははんだ
盛り層123によって確実に接続されることになる。し
たがって、この樹脂封止形DIP・IC120について
のはんだ付は作業の自動化を促進させることができる。 ところで、前記構成にかかるMSP・ICは出荷前に抜
き取り検査を実施される。抜き取り検査としては温度ザ
イクル試験や熱衝撃試験を含む環境試験が実施される。 前述したように、このMSP・ICがプリンI・配線基
板等に実装される際、はんだデイツプやりフローはんだ
処理によっても、このMSP・ICは加熱される。 このような環境試験または実装置I8Qこ熱ス1−レス
が樹脂封止パッケージを備えたIcに加えられた場合、
パッケージとり−I−フレームとの熱膨張係数差により
パッケージ]4とタブ8との境界面に剥がれが発生し、
耐湿性が低下するという問題点かあることが、本発明者
によって明らかにされた。 しかし、本実施例においては、タブ8上におりろぺI/
ノI・]2の外周方表面にPIQボンディングl?Vj
11が形成されるごとにより、タブ8の表面とパッケー
ジl/Iとの境界面にPIQボンディング層11が障壁
樹脂層として介在されているため、タブ8とパッケージ
14との境界面間乙こ剥がれか発41:することはなく
、したがって、当該剥かれに伴う耐湿性の低ドし;i未
然に回避されるごとになる。 ずなわら、PIQポンディング層]1はタブ9およびパ
ッケージ14のいずれの+A料にも良好な接着性を示す
ため、タフ8およびパッケージ14の双方に強力に接着
した状態となっている。タブ8とパッケージ]4の材f
」についての熱膨張係数差によりタブ8とパッケージ1
4との間に機械なずれが相対的に発生したとしても、P
IQポンディング層11はきわめて柔軟性に富むため、
タブ8とバノゲー7」4とに対する接着状態を強力に維
持しつつ、そのずれを柔軟に変形することにより、吸収
することになる。 ところで、リーI−フ1ノームに銅系材料が使用される
場合、銅系リードフレーJ、の表面に酸化防止、並びに
ボンタビリティーを高めるため根めっき処理が施される
ことがある。 ところか、恨めつき被膜が被着された銅系り−ドフレー
ムが使用されているIcにおいては、前述したような熱
スI・レスか加えられた場合、パッケージとり一1フレ
ートとの熱膨張係数差によりパッケージとリードとの境
界面に剥がれが発生し、耐湿性が低下するという問題点
があることが、本発明者によって明らかにされた。これ
は次のような理由によると考えられる。銀めっき被膜は
微粉子の集合から形成されているため、この微粒子とパ
ッケージのレノンとの間で熱ス)−レスの作用により相
対的な移動が発生し易くなり、この移動し易さにより、
リ−1とパッケージとの境界面においてMllがれが発
生ずる。 しかし、本実施例においては、多連り−I−フレ−J、
1として銅系ソー1−フレームが使用されているが、そ
の表面にめっき処理が施されていないため、前述したよ
うな熱ストレスが加わった場合でも、各リード・9のイ
ンナ部9aとパッケージ14との境界面間に剥がれが発
生しないことが実験により石育言忍された。 これは次のような理由によると考えられる。すなわち、
めっきレスのリードフレームにおいては、ソー1−フレ
ームの材料表面自体とパッケージのレジン自体とが直接
的に結合するため、熱ストレスが作用した場合でも、両
者の境界面である結合箇所では相対的な移動が発生しに
くくなり、リードフレーム内部およびパッケージ内部で
それぞれ発生する歪によりp!1ストレスが吸収されて
しまうためである。 前記実施例によれば次の効果が得られる。 (1)  ベレットをタフにPIQボンティング層を介
して接合することにより、リードフレームとパッケージ
との熱膨張係数差による変位をPI’Qボンデインク層
の変形により吸収することができるため、タブとパッケ
ージとの間の剥がれを防止することができ、その剥がれ
による耐湿性低下を未然に防止することができる。 (2JPIQをタブに塗布した後、PIQ塗布層上にペ
レッI・をリード′のインナ部表面にP I Q層を予
め形成ボンディングする際、ペレノI・の外周方にPI
Qボンディング層を拡太さゼでおき、その後、PIQ層
を含めて樹脂封止パッケージを成形することにより、ペ
レンI・外周方におりるタブとパッケージとの境界面に
障壁樹脂層を簡単に介設することができるため、生産性
の低下を抑制することができる。 (3)  リードフレームとしてめっきレスの銅系り−
ドフレームを使用するごとにより、各リードとパッケー
ジとの境界面におiJる剥がれの発生を防止することが
できるため、その剥がれによる耐湿性の低下を防止する
ことができる。 (4)銅系リードフレーJ、および銅系ボンディングワ
イヤを使用することにより、iツイヤとリードとの接続
部である第2ボンディング部についての接合強度やポン
ダヒリティーを高めることができ、製品の品質および信
頼性を高めることができるとともに、コスI・を低減さ
せることができる。 以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したか、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であるごとυJいうまてもない。 例えば、ペレットをタフにボンディングする樹脂ボンデ
ィング層は、PIQを用いて形成するに限らず、他のボ
リイミ1系樹脂等を用いて形成してもよく、要は、ペレ
ノ)・、タブおよびパッケージのいずれの材料に対して
も接着性が良く、適度の柔軟性ないしし1弾性を有する
樹脂であればよい。 I・ランスファ成形装置、はんだめっき処理装置および
リード切断成形装置の具体的構成は前記実施例の4’1
11成を使用するに限られない。 また、リーI−にはんだ被膜を被着さ−Uる処理εJ、
IJ−1切断成形処理後、はんだデイツプ処理により実
施されるようにしてもよい。 以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野である樹脂1:′J止正形
SI)・Icに適用した場合について説明したが、それ
に限定されるものではなく、樹脂封止形パッケージを備
えているIC等のような半導体装置全般に適用すること
ができる。 〔発明の効果〕 本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、次の通りである。 ベレンl−をタブに樹脂ホンディング層を用いて接合す
ることにより、リードフレームとパッケージとの熱膨張
係数差による変位を樹脂ボンディング層の変形により吸
収することができるため、タブとパッケージとの間の剥
がれを防止することができ、その剥がれによる耐湿性低
下を未然に防止することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例である樹脂封止形MS P・
ICを示す一部切断正面図、 第2しは本発明の一実施例であるMSP・ICの製造方
法に使用される多連リードフレームを示す一部省略平面
図、 第3図はベレノhおよびIツイヤボンディング後のタブ
イ」近を示す一部省略拡大部分平面図、第4図は第3図
のIV−IV線に沿う正面断面図、第5図はペレソトボ
ンデインク:工程を示す概略平面l、 第6図はその拡大部分正面断面図、 第7図はワイヤボンディング工程を示す一部切断正面図
、 第8図はその放電電極伺近を示す一部切断拡大部分正面
図、 第9図はそのフィーダ上部を示す拡大部分正面断面V、 第10図は樹脂封止形パッケージの成形工程を示す縦断
面図、 第1I図は樹脂Jl=1止形バノゲーシ成形後の多連リ
ードフレームを示す一部省略平面図、第12図ははんだ
めっき工程を示す一部省略正面断面図、 第13図はり一ド切断成形装置を示す一部省略概略平面
図、 第14図はそのリード切断装置を示す縦断面図、第15
1mはそのリード成形装置を示す縦断面図、第16図は
そのリード成形後の要部を示す拡大部分斜視図、 第17図はこの半導体装置の製造方法で得られた樹脂封
止形1) I P・ICの実装状態を示す−・部省略一
部切断斜視図、 第18図はその一部省略拡大縦断面図である。 1・・・多連り一1フレーム、2・・単位リードフレー
ム、3・・外枠、4・・セクション枠、5・・・ダム吊
り部材、6・・ダム部材、6a・・ダム、7・・タブ吊
りり−l′、8・・・タブ、9・・リード、9a・・・
インナ部、9b・・・アウタ部、1. ]、 −P I
 Qボンディング層(樹脂ボンディング層)、12・・
ペレソI−8]3・・・ワイヤ、14・・・樹脂]゛・
j正形パッケージ、15・・・ペレソI・ボンディング
装置、16・・フィーダ、16A・・・ローダ、16B
・乾燥装置、17・・P ]Q供給装置、18 ・ピン
クアンプ装置、18△・グリアライメン1−ステージ、
19・・・ボンディングヘン1−120・・・ワイヤボ
ンディング装置、21・・フィーダ、22・ヒートブロ
ンク、23・ χY子テーブル24・・・ボンディング
ヘン1−125・・・ボンディングアーム、26・・−
トヤピラリー(ボンディングツール)、27.28・・
・クランパアーム、29・・・クランパ、30・・ガイ
ド、31・・・放電電極、32・・・電源回路、33・
・・チューブ(ガス供給手段)、34 ガス供給源、3
5 還元性ガス、36・・・ヒータ(加熱手段)、38
 ・銅ワイヤ素材、39・・ボール、40・リー)−フ
レーム酸化防止用還元性ガス、4]・・還元性ガス供給
装置、42 ・吹出口、43・・供給路、44・・・ガ
ス供給ユニット、45・カバー、46・・・窓孔、47
・・・リードフレーム押さえ具、50−1−ランスファ
成形装置、51・・L型、52 ・下型、53 キャビ
ティー、54・ボッI〜、55 プランジ中、56・・
・カル、57・・ランナ、58・・ケート、5つ・・・
ソー1−フレー1、逃り凹所、60・・樹脂(レシン、
成形相料)、6■・・・Llんだめつき処理装置、62
・・・めっき液、63・・はんだ槽、64・・・めっき
電源、70 ・ツー1〜切断成形装置、71・・フィー
ダ、72・・ローダ、73・・・リード切断装置、74
・・リ−1・成形装置、75・・・ハンドラ、76・・
・アンローダ、77・・MSl)・IC部(中間製品)
、78 ・外枠部(残渣部)、80.90.100.1
10・・・取イづ板、81.91.101.111・・
ホルダ、82.92.102.112・・・押さえ型、
83.93.103.113・・・押さえ部、84.1
04・・・パンチ、]05・・弯曲形状部、86・・・
剪断刃、87・・・外枠押さえ、88.108・・ガイ
ド、89、]、 09  ・スプリング、+14・・成
形ダイ、96・・剪断ダイ、120・・・樹脂1寸正形
MSP−IC(半導体装置)、121・・プリント配線
基板、122・・・ランド、123・・&Jんだ盛り層

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、半導体ペレットと、半導体ペレットがボンディング
    されているタブと、タブの周囲に配設されている複数本
    のリードと、半導体ペレットの電極および各リードに両
    端部をボンディングされて橋絡されているワイヤと、半
    導体ペレット、タブ、リードの一部、およびワイヤを樹
    脂封止するパッケージとを備えている半導体装置であっ
    て、前記半導体ペレットがタブに、ペレット、リードお
    よびパッケージに接着性の良好な樹脂材料からなる樹脂
    ボンディング層によりボンディングされていることを特
    徴とする半導体装置。 2、樹脂ボンディング層が、ポリイミド系樹脂を用いて
    形成されていることを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の半導体装置。 3、タブおよびリード群が、銅系めっきレスのリードフ
    レームを用いて形成されており、ワイヤが銅系ワイヤ素
    材を用いて形成されていることを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載の半導体装置。
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