JPH01204219A - 垂直磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents
垂直磁気記録媒体の製造方法Info
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- JPH01204219A JPH01204219A JP2841188A JP2841188A JPH01204219A JP H01204219 A JPH01204219 A JP H01204219A JP 2841188 A JP2841188 A JP 2841188A JP 2841188 A JP2841188 A JP 2841188A JP H01204219 A JPH01204219 A JP H01204219A
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- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 title claims abstract description 39
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 13
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 42
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 29
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims abstract description 29
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 29
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims abstract description 24
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims abstract description 24
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 16
- 239000003302 ferromagnetic material Substances 0.000 claims abstract description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 49
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims description 18
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 claims description 18
- 238000005192 partition Methods 0.000 abstract description 8
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 9
- 239000010408 film Substances 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 6
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 5
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 description 5
- -1 glass and ceramics Chemical compound 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 description 4
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 3
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Substances [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 3
- 229910020630 Co Ni Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910002440 Co–Ni Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 229920000620 organic polymer Polymers 0.000 description 2
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000599 Cr alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052692 Dysprosium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052691 Erbium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052693 Europium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052689 Holmium Inorganic materials 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 239000004734 Polyphenylene sulfide Substances 0.000 description 1
- 229910052777 Praseodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052772 Samarium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004760 aramid Substances 0.000 description 1
- 229920003235 aromatic polyamide Polymers 0.000 description 1
- 229910002091 carbon monoxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000004040 coloring Methods 0.000 description 1
- 230000002301 combined effect Effects 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005308 ferrimagnetism Effects 0.000 description 1
- 230000005307 ferromagnetism Effects 0.000 description 1
- NBVXSUQYWXRMNV-UHFFFAOYSA-N fluoromethane Chemical compound FC NBVXSUQYWXRMNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 229910052743 krypton Inorganic materials 0.000 description 1
- DNNSSWSSYDEUBZ-UHFFFAOYSA-N krypton atom Chemical compound [Kr] DNNSSWSSYDEUBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000314 lubricant Substances 0.000 description 1
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 1
- GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N neon atom Chemical compound [Ne] GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 description 1
- 229920006255 plastic film Polymers 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 229920000069 polyphenylene sulfide Polymers 0.000 description 1
- 238000002203 pretreatment Methods 0.000 description 1
- 229910052704 radon Inorganic materials 0.000 description 1
- SYUHGPGVQRZVTB-UHFFFAOYSA-N radon atom Chemical compound [Rn] SYUHGPGVQRZVTB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は垂直磁気記録媒体の製造方法に関し、特にエン
ベロープの優れた媒体を生産性よく製造する方法に関す
る。
ベロープの優れた媒体を生産性よく製造する方法に関す
る。
従来、垂直磁気記録媒体としては、Co−Cr合金で代
表されるCO系の薄膜が用いられている。
表されるCO系の薄膜が用いられている。
Go系薄膜は通常、スパッタリング法や電子ビーム蒸着
法によって形成されている。スパッタリング法は良好な
特性を得やすいが、膜形成速度が遅いため大量生産に適
した製法とは言いがたい。
法によって形成されている。スパッタリング法は良好な
特性を得やすいが、膜形成速度が遅いため大量生産に適
した製法とは言いがたい。
またCOとCrを用いた電子ビーム蒸着法は膜形成速度
は速いが、CoとCrの融点、飽和蒸気圧などが大きく
異なるため膜の組成制御が困難であるという問題があっ
た。
は速いが、CoとCrの融点、飽和蒸気圧などが大きく
異なるため膜の組成制御が困難であるという問題があっ
た。
上記問題点を解決する方法として、本発明者らは先に真
空雰囲気中に酸素ガスと化学的活性の小さいガスを基体
走行方向上流側または下流側から導入し、強磁性体を蒸
発材料とし、真空蒸着により基体上に強磁性体およびそ
の酸化物からなる垂直磁気記録媒体を形成する方法(特
開昭61−94237、特願昭61−284174>を
提案した。
空雰囲気中に酸素ガスと化学的活性の小さいガスを基体
走行方向上流側または下流側から導入し、強磁性体を蒸
発材料とし、真空蒸着により基体上に強磁性体およびそ
の酸化物からなる垂直磁気記録媒体を形成する方法(特
開昭61−94237、特願昭61−284174>を
提案した。
しかしながら、これらの製法にも次のような問題があっ
た。
た。
すなわち、この製法で形成した垂直磁化膜を用いてフロ
ッピーディスクにした場合、−回申の再主出力、すなわ
ちエンベロープに山と谷の部分が各々2ケ所づつ発生す
る。このエンベロープの大きざの不均一は、再生出力を
読み取りデータ処理する電子回路の設計を著しく複雑に
するため好ましくない。
ッピーディスクにした場合、−回申の再主出力、すなわ
ちエンベロープに山と谷の部分が各々2ケ所づつ発生す
る。このエンベロープの大きざの不均一は、再生出力を
読み取りデータ処理する電子回路の設計を著しく複雑に
するため好ましくない。
この原因としては、基体に対して蒸着器が小さいために
蒸着器真上位置から基体幅方向へ離れるにしたがって入
射角が大きくなり配向性が低下し、そのためフロッピー
ディスクに打ち央いたとき基体幅方向となる両端部の出
力が低下するものと考えられる。また、基体に対して十
分大きい蒸着器を用いればこの問題点を解消することが
できるが、材料ロスが多くコストアップとなり工業的な
生産性に劣るという欠点があった。
蒸着器真上位置から基体幅方向へ離れるにしたがって入
射角が大きくなり配向性が低下し、そのためフロッピー
ディスクに打ち央いたとき基体幅方向となる両端部の出
力が低下するものと考えられる。また、基体に対して十
分大きい蒸着器を用いればこの問題点を解消することが
できるが、材料ロスが多くコストアップとなり工業的な
生産性に劣るという欠点があった。
本発明は、かかる従来技術の諸欠点に鑑み創案されたも
ので、その目的は、エンベロープが均一な垂直磁気記録
媒体を効率よく良好な生産性下に製造する方法を提供す
ることにある。
ので、その目的は、エンベロープが均一な垂直磁気記録
媒体を効率よく良好な生産性下に製造する方法を提供す
ることにある。
かかる本発明の目的は、基体を走行させながら該基体上
に蒸着法によって強磁性体および該強磁性体から主とし
てなる垂直磁気記録層を形成する垂直磁気記録媒体の製
造方法において、酸素を含むガスを蒸着部近傍に導入す
るとともに、基体上に入射する蒸発蒸気流に対して、基
体走行方向に対し横方向から不活性ガスを供給しながら
蒸着することを特徴とする垂直磁気記録媒体の製造方法
により達成される。
に蒸着法によって強磁性体および該強磁性体から主とし
てなる垂直磁気記録層を形成する垂直磁気記録媒体の製
造方法において、酸素を含むガスを蒸着部近傍に導入す
るとともに、基体上に入射する蒸発蒸気流に対して、基
体走行方向に対し横方向から不活性ガスを供給しながら
蒸着することを特徴とする垂直磁気記録媒体の製造方法
により達成される。
以下本発明の詳細を添附図面を参照して説明する。
第1図は本発明を実施するための真空蒸着装置の1例を
示す概略断面図、第2図は第1図の概略側面図でおる。
示す概略断面図、第2図は第1図の概略側面図でおる。
図において、1は真空槽、2は基体走行系で、これは基
体巻出しロール3、基体支持ドラム4および基体巻取り
ロール5などからなり、巻出しロールから巻き出された
基体6はドラムにそって走行しながら蒸着された後、巻
き取りロールに巻き取るようになされている。
体巻出しロール3、基体支持ドラム4および基体巻取り
ロール5などからなり、巻出しロールから巻き出された
基体6はドラムにそって走行しながら蒸着された後、巻
き取りロールに巻き取るようになされている。
7は蒸発材料充填用の凹部を備えた蒸着器で、これは支
持ドラム4の下面中央のほぼ直下に設けられ、これによ
り蒸発蒸気流が基体に対しておおむね垂直に人!1する
ようになされている。
持ドラム4の下面中央のほぼ直下に設けられ、これによ
り蒸発蒸気流が基体に対しておおむね垂直に人!1する
ようになされている。
8および9は蒸着器から蒸発される蒸発蒸気流の基体へ
の入射角度を規制するための遮蔽板で、これにより基体
への入射開始点と入射終了点における蒸発蒸気流と基体
の法線とがなす角度αが設定される。
の入射角度を規制するための遮蔽板で、これにより基体
への入射開始点と入射終了点における蒸発蒸気流と基体
の法線とがなす角度αが設定される。
10.11および12.13は遮蔽板8.9の各上面の
端部側所定位置と基体支持ドラム4との間に設けられた
隔壁で、基体支持ドラム4、隔壁10.11.12.1
3および遮蔽板8.9によって囲まれる空間に、所定の
ガスを導入することによって蒸着部近傍を所定の雰囲気
に保持するようにしている。なお図示の例では各隔壁の
下端側は外方に延在されて真空槽内を上下に分ける仕切
り部14.15.16.17を構成している。
端部側所定位置と基体支持ドラム4との間に設けられた
隔壁で、基体支持ドラム4、隔壁10.11.12.1
3および遮蔽板8.9によって囲まれる空間に、所定の
ガスを導入することによって蒸着部近傍を所定の雰囲気
に保持するようにしている。なお図示の例では各隔壁の
下端側は外方に延在されて真空槽内を上下に分ける仕切
り部14.15.16.17を構成している。
18A、18Bおよび18CI、を酸素を含むガスの導
入管であり、それぞれ基体走行方向の上流側、下流側お
よび下槽側から酸素を含むガスを蒸着部近傍に導入する
ことができる例を示したものである。すなわち、導入管
18Aは真空槽壁面および基体走行方向上流側隔壁10
を貫通して設けられ、18Bは真空槽壁面および基体走
行方向下流側隔壁11を貫通して設けられ、さらに導入
管18Gは下槽側真空槽壁面を貫通してその先端が図示
のごとく、遮蔽板8と9間の開口部に向くように設けら
れてあり、バリアプルリークバルブにより所定の流量に
調節された酸素を含むガスをドラム下面の中央部近傍に
導入できるようになされている。
入管であり、それぞれ基体走行方向の上流側、下流側お
よび下槽側から酸素を含むガスを蒸着部近傍に導入する
ことができる例を示したものである。すなわち、導入管
18Aは真空槽壁面および基体走行方向上流側隔壁10
を貫通して設けられ、18Bは真空槽壁面および基体走
行方向下流側隔壁11を貫通して設けられ、さらに導入
管18Gは下槽側真空槽壁面を貫通してその先端が図示
のごとく、遮蔽板8と9間の開口部に向くように設けら
れてあり、バリアプルリークバルブにより所定の流量に
調節された酸素を含むガスをドラム下面の中央部近傍に
導入できるようになされている。
酸素を含むガスの導入管は、いずれか1つのみを設置(
または使用)すれば目的を達することができるが、勿論
2つ以上の導入管を同時に使用、例えば導入管18Aと
188から酸素を含むガスを同時に導入することもでき
る。
または使用)すれば目的を達することができるが、勿論
2つ以上の導入管を同時に使用、例えば導入管18Aと
188から酸素を含むガスを同時に導入することもでき
る。
なお図示の例では、酸素を含むガス導入管を基体走行方
向上流側、下流側または下槽側に各1本設けた例を説明
したが、これらを設ける場合には勿論2本以上のガス導
入管をドラム軸方向に並べて配設することもできる。ま
たガス導入管の先端部形状は任意であり、例えば先端を
先細り状にしたり、また先端部を複数に分岐させること
もできる。
向上流側、下流側または下槽側に各1本設けた例を説明
したが、これらを設ける場合には勿論2本以上のガス導
入管をドラム軸方向に並べて配設することもできる。ま
たガス導入管の先端部形状は任意であり、例えば先端を
先細り状にしたり、また先端部を複数に分岐させること
もできる。
19および20は不活性ガスを基体走行方向に対し横方
向から、蒸着部近傍に供給するための導入管で、図示の
例では導入管19は真空槽壁面およびドラム軸方向の一
端側隔壁12を貫通して設けられており、また導入管2
0は真空槽壁面およびドラム軸方向の他端側隔壁13を
貫通して、前記導入管1Bに対向して設けられており、
バリアプルリークバルブにより所定流量に調節された不
活性ガスをドラム軸方向外方からドラム下面の中央部直
下近傍に供給できるように構成されている。
向から、蒸着部近傍に供給するための導入管で、図示の
例では導入管19は真空槽壁面およびドラム軸方向の一
端側隔壁12を貫通して設けられており、また導入管2
0は真空槽壁面およびドラム軸方向の他端側隔壁13を
貫通して、前記導入管1Bに対向して設けられており、
バリアプルリークバルブにより所定流量に調節された不
活性ガスをドラム軸方向外方からドラム下面の中央部直
下近傍に供給できるように構成されている。
なお図示の例では不活性ガス導入管19と20を対向し
て配設した場合を説明したが、勿論どちらか一方だけを
設けることもできる。
て配設した場合を説明したが、勿論どちらか一方だけを
設けることもできる。
また不活性ガスを導入するための導入管も、基体走行方
向上流側および/または下流側にそれぞれドラム軸方向
に2本以上並べて配設することができる。不活性ガス導
入管の先端部形状も任意であり、先端を先細り状にした
り、また先端部を複数に分岐させることもできる。21
は排気口である。
向上流側および/または下流側にそれぞれドラム軸方向
に2本以上並べて配設することができる。不活性ガス導
入管の先端部形状も任意であり、先端を先細り状にした
り、また先端部を複数に分岐させることもできる。21
は排気口である。
本発明で使用される基体としては1、アルミニウム、銅
、鉄、ステンレスなどで代表される金属、ガラス、セラ
ミックなどの無機材料、プラスチックフィルムなどの各
種有機重合体材料が挙げられる。特にテープ、フレキシ
ブルディスクなど加工性、形成性、可撓性が重視される
場合には、有機重合体材料が適している。特に二軸延伸
されたフィルム、シート類は、平面性、寸法安定性に優
れ最も適しており、中でもポリエステル、ポリフェニレ
ンスルフィド、芳香族ポリアミド、ポリイミドなどが最
も適している。
、鉄、ステンレスなどで代表される金属、ガラス、セラ
ミックなどの無機材料、プラスチックフィルムなどの各
種有機重合体材料が挙げられる。特にテープ、フレキシ
ブルディスクなど加工性、形成性、可撓性が重視される
場合には、有機重合体材料が適している。特に二軸延伸
されたフィルム、シート類は、平面性、寸法安定性に優
れ最も適しており、中でもポリエステル、ポリフェニレ
ンスルフィド、芳香族ポリアミド、ポリイミドなどが最
も適している。
基体の厚みは特に限定されるものではない。シート状、
テープ状、カード状等の場合、加工性、寸法安定性の点
で、厚みは2〜500μm、中でも4〜200μmの範
囲が好ましい。
テープ状、カード状等の場合、加工性、寸法安定性の点
で、厚みは2〜500μm、中でも4〜200μmの範
囲が好ましい。
本発明で用いられる基体は、垂直磁化膜などの形成に先
たち、易接着化、平面性改良、着色、帯電防止、耐摩耗
性付与等の目的で各種の表面処理や前処理が施されても
よい。
たち、易接着化、平面性改良、着色、帯電防止、耐摩耗
性付与等の目的で各種の表面処理や前処理が施されても
よい。
本発明において使用される蒸発材料の強磁性金属とは室
温においてフェロ磁性またはフェリ磁性を示す強磁性金
属であるが、中でも室温における飽和磁化MSが300
emu/cc以上の材料が好ましい。上記強磁性金属と
してはFe1Co、Niなどの強磁性金属またはその合
金が挙げられる。
温においてフェロ磁性またはフェリ磁性を示す強磁性金
属であるが、中でも室温における飽和磁化MSが300
emu/cc以上の材料が好ましい。上記強磁性金属と
してはFe1Co、Niなどの強磁性金属またはその合
金が挙げられる。
具体的にはFe、Go、N rとFe−Go、Fe−N
i 、 Co−N i 、 Fe−Co−N iなど
の合金およびこれらの単体金属または合金と他の金属と
の合金である。他の金属としてはMO,W、v、cr、
Nb、 Ta5T i、zrSRe、os。
i 、 Co−N i 、 Fe−Co−N iなど
の合金およびこれらの単体金属または合金と他の金属と
の合金である。他の金属としてはMO,W、v、cr、
Nb、 Ta5T i、zrSRe、os。
Pd、P↑、Rh、Ru、Zn、Mn、Ce、Pr、N
d、Pm、Sm、Eu、Cd5Tb、Dy、Ho、Er
、l−m、 Ybなトチアル。
d、Pm、Sm、Eu、Cd5Tb、Dy、Ho、Er
、l−m、 Ybなトチアル。
本発明では以上述べたような材料を使用できるが、これ
らの材料のうち、結晶磁気異方性または形状磁気異方性
が大きいため、基体に対し垂直方向への磁気異方性を発
現する上でFeまたはCOあるいはこれらの合金を主成
分として用いるのがざらに好ましく、最も好ましくは前
記金属の単体または合金を75重量%以上用いるのがよ
い。
らの材料のうち、結晶磁気異方性または形状磁気異方性
が大きいため、基体に対し垂直方向への磁気異方性を発
現する上でFeまたはCOあるいはこれらの合金を主成
分として用いるのがざらに好ましく、最も好ましくは前
記金属の単体または合金を75重量%以上用いるのがよ
い。
本発明で述べる真空蒸着法としては、抵抗加熱蒸着、誘
導加熱蒸着、電子ビーム蒸着、イオンブレーティング、
イオンビーム蒸着、レーザービーム蒸着、アーク放電蒸
着などの真空蒸着法のいずれの方法でも実施可能である
が、保磁力、異方性磁界なとの磁気特性を向上する上で
、また速い蒸発速度を得るために電子ビーム蒸着、イオ
ンブレーティングなどの方法が適しており、さらに操作
性、量産中などの工業的観点から電子ビーム蒸着が最も
適している。
導加熱蒸着、電子ビーム蒸着、イオンブレーティング、
イオンビーム蒸着、レーザービーム蒸着、アーク放電蒸
着などの真空蒸着法のいずれの方法でも実施可能である
が、保磁力、異方性磁界なとの磁気特性を向上する上で
、また速い蒸発速度を得るために電子ビーム蒸着、イオ
ンブレーティングなどの方法が適しており、さらに操作
性、量産中などの工業的観点から電子ビーム蒸着が最も
適している。
蒸着に際し、蒸着部近傍に酸素を含むガスを導入する。
ここで酸素を含むガスとしては、主として酸素と不活性
ガスからなる混合ガスであることが好ましい。
ガスからなる混合ガスであることが好ましい。
不活性ガスとしては、希ガスおよび反応性に乏しいガス
が使用でき、ヘリウム、ネオン、アルゴン、クリプトン
、キセノン、ラドン、窒素、水素などが挙げられる。が
、入手の容易さ、安価なことなどから窒素、アルゴンが
好ましい。
が使用でき、ヘリウム、ネオン、アルゴン、クリプトン
、キセノン、ラドン、窒素、水素などが挙げられる。が
、入手の容易さ、安価なことなどから窒素、アルゴンが
好ましい。
酸素と不活性ガスの混合比は5:95以上70:30以
下の範囲が好ましい。上記範囲を外れ酸素比率が大きい
と酸素が激しくゲッタ作用を受けるため層内圧力が変動
して磁気特性が安定せず、また酸素ガス比率が小さいと
垂直磁気異方性が発現しにくいため多量のガス導入を必
要とし、槽内圧力の上昇、蒸発速度の低下を招くため好
ましくない。
下の範囲が好ましい。上記範囲を外れ酸素比率が大きい
と酸素が激しくゲッタ作用を受けるため層内圧力が変動
して磁気特性が安定せず、また酸素ガス比率が小さいと
垂直磁気異方性が発現しにくいため多量のガス導入を必
要とし、槽内圧力の上昇、蒸発速度の低下を招くため好
ましくない。
なあ、他の目的で酸素、不活性ガス以外のガスを添加す
ることは酸素と不活性ガスの総量の10%以下の範囲で
許される。
ることは酸素と不活性ガスの総量の10%以下の範囲で
許される。
酸素ガスを含むガスの導入量は槽内圧力が1×10−4
〜1 x 10−27o r’rノ範囲で導入スルノが
望ましい。槽内圧力が1X104Torrより小さいと
垂直磁気異方性が小さくなりやすく、また1X10−2
より大きいと蒸発速度が低下しやすい。
〜1 x 10−27o r’rノ範囲で導入スルノが
望ましい。槽内圧力が1X104Torrより小さいと
垂直磁気異方性が小さくなりやすく、また1X10−2
より大きいと蒸発速度が低下しやすい。
上記の酸素を含むガスを、例えば基体走行方向上流側、
下流側または下槽側などの少なくとも1つの導入管から
導入し、蒸着部近傍、すなわち磁性層形成領域近傍に供
給することが本発明の第1の要件である。 このとき、
同時に基体走行方向に対して横方向から、すなわちドラ
ム軸と平行な方向から不活性カスを蒸着部近傍に供給す
る。これが本発明の第2の要件である。
下流側または下槽側などの少なくとも1つの導入管から
導入し、蒸着部近傍、すなわち磁性層形成領域近傍に供
給することが本発明の第1の要件である。 このとき、
同時に基体走行方向に対して横方向から、すなわちドラ
ム軸と平行な方向から不活性カスを蒸着部近傍に供給す
る。これが本発明の第2の要件である。
ここで不活性カスとしては前述したものと同様のものが
使用できるが、窒素やアルゴンが好ましい。
使用できるが、窒素やアルゴンが好ましい。
不活性ガスを導入する位置は、磁性層形成領域のドラム
軸方向両側が選ばれ、片側のみを使用しても効果がある
が、両側から同時に不活性ガスを導入すると最も効果が
大きくなる。不活性ガスの導入量はドラム軸方向両側と
もほぼ同程度のガスを導入すると、エンベロープの向上
効果がより大きく、またドラム軸方向両側のノズルを対
向して設けた場合、エンベロープの向上効果が大きく好
ましい。
軸方向両側が選ばれ、片側のみを使用しても効果がある
が、両側から同時に不活性ガスを導入すると最も効果が
大きくなる。不活性ガスの導入量はドラム軸方向両側と
もほぼ同程度のガスを導入すると、エンベロープの向上
効果がより大きく、またドラム軸方向両側のノズルを対
向して設けた場合、エンベロープの向上効果が大きく好
ましい。
不活性ガスの導入量は酸素を含むガスのみを導入した状
態の槽内の圧力に対して、不活性ガスを導入することに
より、槽内の圧力を1〜40%上昇できる程度の量が好
ましく、より好ましくは5〜20%上昇できる量でおる
。槽内圧力上昇が1%より小さいと記録密度特性の向上
効果が小さく、40%より大きいと蒸発速度が遅くなり
、好ましくない。
態の槽内の圧力に対して、不活性ガスを導入することに
より、槽内の圧力を1〜40%上昇できる程度の量が好
ましく、より好ましくは5〜20%上昇できる量でおる
。槽内圧力上昇が1%より小さいと記録密度特性の向上
効果が小さく、40%より大きいと蒸発速度が遅くなり
、好ましくない。
[発明の効果]
本発明は上述のごとく構成したので、エンベロープの優
れた媒体を生産性よく製造することができる。すなわち
、基体走行方向上流側、下流側または下槽側の少なくと
も一方から酸素を含むガスを導入することによって組成
制御の問題なく良好な磁気特性が得られ、また同時に基
体走行方向に対して横方向、好ましくは両横方向(ドラ
ム軸方向両側)から不活性ガスを供給することにより蒸
発蒸気流のドラム軸方向への拡がりが小さくなり、基体
幅方向端部における基体への垂直入射成分が増えて垂直
磁気異方性が向上し、これらの複合効果によって生産性
を低下させることなく、優れたエンベロープが得られる
ものと考えられる。
れた媒体を生産性よく製造することができる。すなわち
、基体走行方向上流側、下流側または下槽側の少なくと
も一方から酸素を含むガスを導入することによって組成
制御の問題なく良好な磁気特性が得られ、また同時に基
体走行方向に対して横方向、好ましくは両横方向(ドラ
ム軸方向両側)から不活性ガスを供給することにより蒸
発蒸気流のドラム軸方向への拡がりが小さくなり、基体
幅方向端部における基体への垂直入射成分が増えて垂直
磁気異方性が向上し、これらの複合効果によって生産性
を低下させることなく、優れたエンベロープが得られる
ものと考えられる。
本発明で得られる垂直磁気記録媒体はテープ、シート、
カード、ディスク、ドラムなどの形状にて、オーディオ
、ビデオ、デジタル信号などの磁気記録用途に広く用い
ることができる。
カード、ディスク、ドラムなどの形状にて、オーディオ
、ビデオ、デジタル信号などの磁気記録用途に広く用い
ることができる。
(特性の測定方法・評価基準)
本発明の特性値は次の測定法によるものである。
■ 垂直磁気異方性
磁気記録層の保磁力はJIS C−2561で示され
ている振動試料型磁力計法によって測定した。試料振動
式磁力計(理研電子(株)製、BHV−30>を用い、
基体面と垂直方向および基体面と水平方向に外部磁界を
加えた場合のヒステリシスループからそれぞれの基体面
と垂直方向の保磁力(HC工)および基体面と水平方向
の保磁力(HC/ )を求めた。Hc上とHC//の比
をもって垂直磁気異方性の指標とした。
ている振動試料型磁力計法によって測定した。試料振動
式磁力計(理研電子(株)製、BHV−30>を用い、
基体面と垂直方向および基体面と水平方向に外部磁界を
加えた場合のヒステリシスループからそれぞれの基体面
と垂直方向の保磁力(HC工)および基体面と水平方向
の保磁力(HC/ )を求めた。Hc上とHC//の比
をもって垂直磁気異方性の指標とした。
この測定に用いる試料は、得られた蒸着膜の蒸管中央部
および蒸着中央部からドラム軸方向へ39.5mm離れ
た位置から切り出した。後者の位置は、3.5インチフ
ロッピーディスクの最外周(トラックOOの位置)に相
当する。
および蒸着中央部からドラム軸方向へ39.5mm離れ
た位置から切り出した。後者の位置は、3.5インチフ
ロッピーディスクの最外周(トラックOOの位置)に相
当する。
■ エンベロープの測定
試料に弗化炭素系の潤滑剤を約50人塗布した後、3.
5インチ径のマイクロフロッピーディスク形状に打ら央
き、ジャケットに収め測定試料とする。
5インチ径のマイクロフロッピーディスク形状に打ら央
き、ジャケットに収め測定試料とする。
市販の片面ヘッド型のフロッピーディスクドライブ(ソ
ニー(株)製0A−D32V)に試料をかけ、600r
pmで回転させツツ、500kH7の信号を記録する。
ニー(株)製0A−D32V)に試料をかけ、600r
pmで回転させツツ、500kH7の信号を記録する。
次いでヘッドからの再生出力を増幅してシンクロスコー
プで観察する。フロッピーディスク−周分の再生出力波
形(エンベロープ)は、JIS C6291のモジュ
レーションの定義にしたがって、以下の式で評価する。
プで観察する。フロッピーディスク−周分の再生出力波
形(エンベロープ)は、JIS C6291のモジュ
レーションの定義にしたがって、以下の式で評価する。
((A−B)/ (A十B>)xl 00 (%)Aニ
ー周のうち、最大出力電圧を含む約20001束反転の
平均出力電圧 Bニー周のうち、最小出力電圧を含む約2000磁束反
転の平均出力電圧 モジュレーションの値が小さいほど、エンベロープが均
一であることを意味する。
ー周のうち、最大出力電圧を含む約20001束反転の
平均出力電圧 Bニー周のうち、最小出力電圧を含む約2000磁束反
転の平均出力電圧 モジュレーションの値が小さいほど、エンベロープが均
一であることを意味する。
(実施例〕
以下実施例により本発明をさらに詳細に説明する。
実施例1
第1図の装置において酸素を含むガス導入管として18
Aのみを用い、蒸着器7(半径25mm>にコバルトを
充填した。加熱源には電子ビーム加熱器を使用し、基体
は、二軸延伸した厚さ50μmのポリエチレンテレフタ
レートフィルムを用いた。
Aのみを用い、蒸着器7(半径25mm>にコバルトを
充填した。加熱源には電子ビーム加熱器を使用し、基体
は、二軸延伸した厚さ50μmのポリエチレンテレフタ
レートフィルムを用いた。
真空槽内を1X10−5トール以下に排気した後、コバ
ルトを蒸発させた。蒸発蒸気流の基体に対する入射角α
は蒸着開始点および終了点側とも250になるように遮
蔽板を設置した。次いでガス導入管18Aから酸素20
体積%、窒素80体積%の混合ガスを真空槽内の圧力が
1.8X10’トールになるまで導入した。さらにガス
導入管19.20からアルゴンガスを導入し、真空槽内
圧力が2.3X10−3トールとなった状態で走行する
基体上に厚さ3.000人の磁気記録層を形成した。
ルトを蒸発させた。蒸発蒸気流の基体に対する入射角α
は蒸着開始点および終了点側とも250になるように遮
蔽板を設置した。次いでガス導入管18Aから酸素20
体積%、窒素80体積%の混合ガスを真空槽内の圧力が
1.8X10’トールになるまで導入した。さらにガス
導入管19.20からアルゴンガスを導入し、真空槽内
圧力が2.3X10−3トールとなった状態で走行する
基体上に厚さ3.000人の磁気記録層を形成した。
この磁気記録層について垂直磁気異方性を測定し、また
フロッピーディスク状に打ち扱いて記録密度特性を測定
した。結果を表1に示す。
フロッピーディスク状に打ち扱いて記録密度特性を測定
した。結果を表1に示す。
実施例2
第1図の装置において酸素を含むガス導入管として18
Bのみを用いて行なった。蒸着器にコバルト、鉄および
ニッケルを85:5:10となるように充填し、またガ
ス導入管18Cから酸素10体積%、窒素90体積%の
混合ガスを真空槽内の圧力が2x10−3トールとなる
まで導入し、さらにガス導入管19.20から窒素ガス
を導入して真空槽内の圧力が2.5X10−3トールと
なった状態で走行する基体上に磁気記録層を形成するよ
うにした他は実施例1と同様に行なった。
Bのみを用いて行なった。蒸着器にコバルト、鉄および
ニッケルを85:5:10となるように充填し、またガ
ス導入管18Cから酸素10体積%、窒素90体積%の
混合ガスを真空槽内の圧力が2x10−3トールとなる
まで導入し、さらにガス導入管19.20から窒素ガス
を導入して真空槽内の圧力が2.5X10−3トールと
なった状態で走行する基体上に磁気記録層を形成するよ
うにした他は実施例1と同様に行なった。
この磁気記録層について実施例1と同様の測定を行ない
、結果を表1に示した。
、結果を表1に示した。
実施例3
第1図の装置において酸素を含むガス導入管として18
Gを設置し、不活性ガスの導入管19および20の先端
部をそれぞれ導入管断面積の1/4になるように先細り
状に形成したこと、および窒素ガス導入により真空槽内
の圧力を2.5XIQ−3に設定した以外、実施例2と
同様にして蒸着を行なった。
Gを設置し、不活性ガスの導入管19および20の先端
部をそれぞれ導入管断面積の1/4になるように先細り
状に形成したこと、および窒素ガス導入により真空槽内
の圧力を2.5XIQ−3に設定した以外、実施例2と
同様にして蒸着を行なった。
この磁気記録層について実施例1と同様の測定を行ない
、結果を表1に示した。
、結果を表1に示した。
比較例1
第1図の装置において酸素を含むガス導入管として18
Cを設置し、ガス導入管19および20からの不活性ガ
スの導入は行なわず、その他は実施例2と同様にして蒸
着および評価を行ない、結果を表1に示した。
Cを設置し、ガス導入管19および20からの不活性ガ
スの導入は行なわず、その他は実施例2と同様にして蒸
着および評価を行ない、結果を表1に示した。
比較例2
第1図の装置において酸素を含むガス導入管として18
Aのみを設置し、これに対向するように基体走行方向下
流側に不活性ガス導入管を設置(ガス導入管19.20
は設置せず)して、アルゴンガスを導入し、真空槽内圧
力が2.5X10−3トールとなった状態で走行する基
体上に磁気記録層を形成するようにした以外は実施例1
と同様にして蒸着および評価を行なった。結果を表1に
示した。
Aのみを設置し、これに対向するように基体走行方向下
流側に不活性ガス導入管を設置(ガス導入管19.20
は設置せず)して、アルゴンガスを導入し、真空槽内圧
力が2.5X10−3トールとなった状態で走行する基
体上に磁気記録層を形成するようにした以外は実施例1
と同様にして蒸着および評価を行なった。結果を表1に
示した。
第1図は本発明を実施するための装置の1例を示す概略
断面図、第2図は第1図の概略側面図である。 4ニドラム、6:基体、 8.9:遮蔽板、 10.11.12.13:隔壁 18へ、18B 、 18C:酸素を含むガス導入管、
19.20:不活性ガス導入管、
断面図、第2図は第1図の概略側面図である。 4ニドラム、6:基体、 8.9:遮蔽板、 10.11.12.13:隔壁 18へ、18B 、 18C:酸素を含むガス導入管、
19.20:不活性ガス導入管、
Claims (1)
- (1)基体を走行させながら該基体上に蒸着法によって
強磁性体および該強磁性体から主としてなる垂直磁気記
録層を形成する垂直磁気記録媒体の製造方法において、
酸素を含むガスを蒸着部近傍に導入するとともに、基体
上に入射する蒸発蒸気流に対して、基体走行方向に対し
横方向から不活性ガスを供給しながら蒸着することを特
徴とする垂直磁気記録媒体の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2841188A JPH01204219A (ja) | 1988-02-09 | 1988-02-09 | 垂直磁気記録媒体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2841188A JPH01204219A (ja) | 1988-02-09 | 1988-02-09 | 垂直磁気記録媒体の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01204219A true JPH01204219A (ja) | 1989-08-16 |
Family
ID=12247914
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2841188A Pending JPH01204219A (ja) | 1988-02-09 | 1988-02-09 | 垂直磁気記録媒体の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01204219A (ja) |
-
1988
- 1988-02-09 JP JP2841188A patent/JPH01204219A/ja active Pending
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