JPH01200822A - 並列型c−mos・a/d変換器 - Google Patents
並列型c−mos・a/d変換器Info
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- JPH01200822A JPH01200822A JP2403988A JP2403988A JPH01200822A JP H01200822 A JPH01200822 A JP H01200822A JP 2403988 A JP2403988 A JP 2403988A JP 2403988 A JP2403988 A JP 2403988A JP H01200822 A JPH01200822 A JP H01200822A
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Landscapes
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、特に、C−MOS型の複数個の比較泰によ
ってアナログ信号のレベルを検出し、2進コードに変換
する並列型C−MOS−A/D変換器に関するものであ
る。
ってアナログ信号のレベルを検出し、2進コードに変換
する並列型C−MOS−A/D変換器に関するものであ
る。
本発明は、アナログ信号として例えば、ビデオ信号を所
定のレベルでクランプしたのち、並列型C−MOS −
A/D変換器によって符号化するような回路において、
C−MOS −A/D変換器の比較回路で発生するスイ
ッチング電流をキャンセルするためにダミーの比較手段
と、電流増倍回路を設け、入力されたビデオ信号の特に
低域周波数成分が誤ったデジタル信号に変換されないよ
うにしたものである。
定のレベルでクランプしたのち、並列型C−MOS −
A/D変換器によって符号化するような回路において、
C−MOS −A/D変換器の比較回路で発生するスイ
ッチング電流をキャンセルするためにダミーの比較手段
と、電流増倍回路を設け、入力されたビデオ信号の特に
低域周波数成分が誤ったデジタル信号に変換されないよ
うにしたものである。
MOS型のトランジスタによってIC化された並列型の
A/D変換器(以下、C−MOS・A/D変換器という
)としては、例えば、第4図に示すように複数の抵抗r
、r、r・・・・・・を直列接続して基準電圧Vret
t (VRT −VBT)を分圧し、この複数の分圧点
の電圧値(比較電圧)と、アナログ入力信号■inの電
圧をスイッチによって交互に取り込む複数のスイッチン
グ手段swt −swnとC−MOSで形成されている
増幅器A1〜Anからなる比較手段と、この比較手段の
増幅器A1〜Anの出力値を2進のデジタルコードに変
換するエンコーダENCを備えているものが知られてい
る。
A/D変換器(以下、C−MOS・A/D変換器という
)としては、例えば、第4図に示すように複数の抵抗r
、r、r・・・・・・を直列接続して基準電圧Vret
t (VRT −VBT)を分圧し、この複数の分圧点
の電圧値(比較電圧)と、アナログ入力信号■inの電
圧をスイッチによって交互に取り込む複数のスイッチン
グ手段swt −swnとC−MOSで形成されている
増幅器A1〜Anからなる比較手段と、この比較手段の
増幅器A1〜Anの出力値を2進のデジタルコードに変
換するエンコーダENCを備えているものが知られてい
る。
スイッチング手段SWは接点a、bを選択する第1のス
イッチ(Sl)と、反転型の増幅器Aの入出力を結合す
る第2のスイッチ(Sl)により構成され、例えば、第
1のスイッチ(Sl)がb接点を選択しているときは、
第2のスイッチ(Sl)は開いており、第1のスイッチ
(Sl)がa接点を選択したとき、第2のスイッチ(S
l)が閉じるようにサンプリング周波数のクロックで制
御されるようになされている。
イッチ(Sl)と、反転型の増幅器Aの入出力を結合す
る第2のスイッチ(Sl)により構成され、例えば、第
1のスイッチ(Sl)がb接点を選択しているときは、
第2のスイッチ(Sl)は開いており、第1のスイッチ
(Sl)がa接点を選択したとき、第2のスイッチ(S
l)が閉じるようにサンプリング周波数のクロックで制
御されるようになされている。
このようなスイッチング手段SWと、増幅器Aからなる
比較手段は、第5図に示すようにスイッチング手段SW
が実線の状態にあるときは、反転型の増幅器Aの動作点
はインバータの入出力特性の活性領域(通常、電源電圧
の172にクランプされており、コンデンサCはアナロ
グ入力信号Vinの電圧と動作点の電圧の差電圧で充電
されている。
比較手段は、第5図に示すようにスイッチング手段SW
が実線の状態にあるときは、反転型の増幅器Aの動作点
はインバータの入出力特性の活性領域(通常、電源電圧
の172にクランプされており、コンデンサCはアナロ
グ入力信号Vinの電圧と動作点の電圧の差電圧で充電
されている。
そして、第1.第2のスイッチ(Sl) (Sl)が点
線で示すように切換わると、コンデンサCの一端が分圧
された基準電圧、すなわち、比較電圧V目となり、この
比較電圧Vriが先にコンデンサCにホールドされてい
る入力アナログ信号Vinのレベルより大きいか、又は
小さいかによって各増幅器A l” A nの出力が°
゛O” (ローレベル)、又は“1” (ハイレベル)
になる。
線で示すように切換わると、コンデンサCの一端が分圧
された基準電圧、すなわち、比較電圧V目となり、この
比較電圧Vriが先にコンデンサCにホールドされてい
る入力アナログ信号Vinのレベルより大きいか、又は
小さいかによって各増幅器A l” A nの出力が°
゛O” (ローレベル)、又は“1” (ハイレベル)
になる。
各増幅器AI−Anの出力データは、それぞれエンコー
ダENCに入力されているから、アナログ入力信号Vl
nのレベルは各サンプリング毎に、例えば2進のバイナ
リコードに変換して出力されることになる。
ダENCに入力されているから、アナログ入力信号Vl
nのレベルは各サンプリング毎に、例えば2進のバイナ
リコードに変換して出力されることになる。
ところで、このようなC−MOS・A/D変換器の場合
は、サンプリング用のクロックが早くなると、第1のス
イッチ(Sl)がb接点に接続された直後は、コンデン
サC9及びスイッチング手段SWの浮遊容量CSI 、
CS2が比較電圧Vriによって充放電されることに
なるから、スイッチ(Sl)の可動接片の電圧がただち
に比較電圧V、iに対応した電圧とならず、増幅器A1
〜Anの出力電圧が°゛O”又は“1”のレベルになら
ないという問題がある。
は、サンプリング用のクロックが早くなると、第1のス
イッチ(Sl)がb接点に接続された直後は、コンデン
サC9及びスイッチング手段SWの浮遊容量CSI 、
CS2が比較電圧Vriによって充放電されることに
なるから、スイッチ(Sl)の可動接片の電圧がただち
に比較電圧V、iに対応した電圧とならず、増幅器A1
〜Anの出力電圧が°゛O”又は“1”のレベルになら
ないという問題がある。
そこで、かかる問題点を解消する1つの方法として、例
えば、特開昭57−141124号公報にみられるよう
に、比較電圧Vriを得るための直列抵抗の分圧点に比
較的大きなコンデンサを接続し、コンデンサC1及びス
トレーキャパシタCBI 、 CB2の影響を低減する
ことが提案されている。
えば、特開昭57−141124号公報にみられるよう
に、比較電圧Vriを得るための直列抵抗の分圧点に比
較的大きなコンデンサを接続し、コンデンサC1及びス
トレーキャパシタCBI 、 CB2の影響を低減する
ことが提案されている。
(発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、スイッチング手段SWの浮遊容量C5I
、 C52によるスピード低下は上記の発明によって
改善することができても、浮遊容量が存在していると、
スイッチング手段の切換時に発生するスイッチング電流
の影響によって、デジタル変換値の非直線の歪が依然と
して解消されないという欠点が発生する。
、 C52によるスピード低下は上記の発明によって
改善することができても、浮遊容量が存在していると、
スイッチング手段の切換時に発生するスイッチング電流
の影響によって、デジタル変換値の非直線の歪が依然と
して解消されないという欠点が発生する。
以下、この点について、第4図及び第6図(a)、(b
)を参照して説明する。
)を参照して説明する。
前述した第4図に示すようにアナログ入力信号Vinと
して、例えば、ビデオ信号VSが入力され、その入力レ
ベルをデジタル値に変換する場合を考える。
して、例えば、ビデオ信号VSが入力され、その入力レ
ベルをデジタル値に変換する場合を考える。
アナログ入力信号Vinは抵抗rl、及び結合コンデン
サCcを介して供給されるが、ビデオ信号のペデスタル
レベル(又はシンクチップレベル)が常に一定のデジタ
ル値に変換されるようにクランプするために、クランプ
電圧E1が抵抗r2.及びクランプスイッチ5W(c)
を介して付加されている。
サCcを介して供給されるが、ビデオ信号のペデスタル
レベル(又はシンクチップレベル)が常に一定のデジタ
ル値に変換されるようにクランプするために、クランプ
電圧E1が抵抗r2.及びクランプスイッチ5W(c)
を介して付加されている。
そして、第7図に示すように、クランプパルスPCによ
ってクランプスイッチ5W(c)が閉じたとき、ペデス
タルレベルがクランプ電圧E1 となるようにしている
。
ってクランプスイッチ5W(c)が閉じたとき、ペデス
タルレベルがクランプ電圧E1 となるようにしている
。
この回路において、結合コンデンサCCの値を大きくす
ると、クランプスイッチ5W(c)の開閉によって大き
な充放電電流が流れると共に、結合コンデンサCc と
抵抗r2の時定数が大きいと、所定の期間でクランプ電
圧E1を正確に付加することができない。
ると、クランプスイッチ5W(c)の開閉によって大き
な充放電電流が流れると共に、結合コンデンサCc と
抵抗r2の時定数が大きいと、所定の期間でクランプ電
圧E1を正確に付加することができない。
そこで、結合コンデンサCC,及び抵抗r2は小さい値
にすることが回路設計上で必要となるが、一方、比較手
段を構成するスイッチング手段に前記した第5図に示す
よう浮遊容量CSI 、 C52があると、スイッチ(
Sl)により接点a、bを交互に選択する度に、充放電
電流Isが流入、又は流出し、特に、低減の周波数特性
が劣化する。
にすることが回路設計上で必要となるが、一方、比較手
段を構成するスイッチング手段に前記した第5図に示す
よう浮遊容量CSI 、 C52があると、スイッチ(
Sl)により接点a、bを交互に選択する度に、充放電
電流Isが流入、又は流出し、特に、低減の周波数特性
が劣化する。
すなわち、第6図(a)に示すようにスイッチ(S+)
の出力側に浮遊容量CSI I C52及びコンデンサ
Cによる合成容量aSが付加されていると、スイッチ(
Sl)を反転するたびに、アナログ入力信号Vinのレ
ベルより比較電圧Vriの電圧が小さいときは矢印方向
にスイッチング電流ISが流れ、逆にアナログ入力信号
Vinより比較電圧Vriが大きいときは第6図(b)
に示すように、接点す側からa側にスイッチング電流I
Sが流れることになる。
の出力側に浮遊容量CSI I C52及びコンデンサ
Cによる合成容量aSが付加されていると、スイッチ(
Sl)を反転するたびに、アナログ入力信号Vinのレ
ベルより比較電圧Vriの電圧が小さいときは矢印方向
にスイッチング電流ISが流れ、逆にアナログ入力信号
Vinより比較電圧Vriが大きいときは第6図(b)
に示すように、接点す側からa側にスイッチング電流I
Sが流れることになる。
その結果、このスイッチング電流Isによって結合コン
デンサCCの電荷が変化し、例えばこの結合コンデンサ
CCを介して供給されているビデオ信号の明るい部分を
示す信号は、第7図に示すようにスイッチング電流Is
によってビデオ信号波形に点線で示すようなサグΔVs
が発生し、C−MOSタイプのA/D変換器ではビデオ
信号の直流成分が正確にデジタル値に変換されないとい
う問題が発生する。
デンサCCの電荷が変化し、例えばこの結合コンデンサ
CCを介して供給されているビデオ信号の明るい部分を
示す信号は、第7図に示すようにスイッチング電流Is
によってビデオ信号波形に点線で示すようなサグΔVs
が発生し、C−MOSタイプのA/D変換器ではビデオ
信号の直流成分が正確にデジタル値に変換されないとい
う問題が発生する。
スイッチング電流ISの値は、スイッチの切換周期をT
s とすると、 となる。
s とすると、 となる。
上記第(1)式は1個の比較手段によって発生するスイ
ッチング電流であるが、A/D変換器では通常比較手段
として2’l−1(11のスイッチング手段が必要にな
るから、これらのスイッチング手段によって発生するス
イッチング電流の総和はかなり大きい値になり、アナロ
グ入力回路に悪い影響を及ぼすことになる。
ッチング電流であるが、A/D変換器では通常比較手段
として2’l−1(11のスイッチング手段が必要にな
るから、これらのスイッチング手段によって発生するス
イッチング電流の総和はかなり大きい値になり、アナロ
グ入力回路に悪い影響を及ぼすことになる。
本発明は、かかる問題点を解消することを目的としてな
されたもので、C−MOS −A/D変換器の複数個の
比較手段に流入、又は流出するスイッチング電流の平均
電流をアナログ入力信号ラインに注入することができる
補正電流発生手段を設け、この補正電流発生手段によっ
てスイッチング電流Isを相殺するようにする。
されたもので、C−MOS −A/D変換器の複数個の
比較手段に流入、又は流出するスイッチング電流の平均
電流をアナログ入力信号ラインに注入することができる
補正電流発生手段を設け、この補正電流発生手段によっ
てスイッチング電流Isを相殺するようにする。
l又はn個のダミーの比較手段と、このl −n個のダ
ミーの比較手段によって出力されるスイッチング電流を
適当な比率で増倍する回路により、補正電流発生手段を
形成し、C−MOS−A/D変換器に流入、又は流出す
る平均的なスイッチング電流が発生するようにしている
から、この平均的なスイッチング電流で、C−MOSΦ
A/D変換器で発生するスイッチング電流を相殺するこ
とによってアナログ入力信号の特に、低域信号成分の変
化(サグ)をキャンセルすることができる。
ミーの比較手段によって出力されるスイッチング電流を
適当な比率で増倍する回路により、補正電流発生手段を
形成し、C−MOS−A/D変換器に流入、又は流出す
る平均的なスイッチング電流が発生するようにしている
から、この平均的なスイッチング電流で、C−MOSΦ
A/D変換器で発生するスイッチング電流を相殺するこ
とによってアナログ入力信号の特に、低域信号成分の変
化(サグ)をキャンセルすることができる。
第1図は本発明の一実施例を示すビデオ信号をデジタル
信号に変換するC−MOS−A/D変換器の一部分を示
したもので、第4図と同様にVinはデジタル値に変換
するアナログビデオ信号、CCは結合コンデンサ、El
はクランプ電圧、5W(c)はクランプスイッチ、r
] + r 2は抵抗を示している。
信号に変換するC−MOS−A/D変換器の一部分を示
したもので、第4図と同様にVinはデジタル値に変換
するアナログビデオ信号、CCは結合コンデンサ、El
はクランプ電圧、5W(c)はクランプスイッチ、r
] + r 2は抵抗を示している。
一点鎖線で囲った部分10は電流増倍回路を示し、20
の部分はC−MOS−A/D変換器の1個分の比較手段
を示すスイッチング手段SW、。
の部分はC−MOS−A/D変換器の1個分の比較手段
を示すスイッチング手段SW、。
増幅器Ai と同じ回路構成からなるダミーの比較手段
を示す。
を示す。
そして、以下に示すように電流増倍回路10とダミーの
比較手段20はC−MOS−A/D変換器が動作してい
るときに発生する前述したスイッチングIsを相殺する
ような補正電流を出力する補正電流発生手段を形成して
いる。
比較手段20はC−MOS−A/D変換器が動作してい
るときに発生する前述したスイッチングIsを相殺する
ような補正電流を出力する補正電流発生手段を形成して
いる。
電流増倍回路10は電流2aIoを流す第1の定電流源
Sl と、電流Io流す第2の定電流源32、及び電流
(m+1)Ioを供給する第3の電流源S3を備えてお
り、さらに、差動アンプAIOを構成するMOS)ラン
ジスタQ+、Q2.及びこのMOS)ランジスタQl、
Q2の能動負荷となるMOS)ランジスタQ3.Qaが
前記第1の電流源S1に接続されており、この第1の差
動アンプAIOの出力は第2の電流源S2に接続されて
いるMO5)ランジスタQ5と第3の電流源S3に接続
されているMOS)ランジスタQ6のドレイン−ソース
間の電流をコントロールするようになされている。
Sl と、電流Io流す第2の定電流源32、及び電流
(m+1)Ioを供給する第3の電流源S3を備えてお
り、さらに、差動アンプAIOを構成するMOS)ラン
ジスタQ+、Q2.及びこのMOS)ランジスタQl、
Q2の能動負荷となるMOS)ランジスタQ3.Qaが
前記第1の電流源S1に接続されており、この第1の差
動アンプAIOの出力は第2の電流源S2に接続されて
いるMO5)ランジスタQ5と第3の電流源S3に接続
されているMOS)ランジスタQ6のドレイン−ソース
間の電流をコントロールするようになされている。
そして、MOSトランジスタQ5の出力は差動アンプA
IGの入力側に負帰還され、MOS)ランジスタQ6の
出力電流は、アナログ入力信号の信号ラインLinに供
給されるように接続している。
IGの入力側に負帰還され、MOS)ランジスタQ6の
出力電流は、アナログ入力信号の信号ラインLinに供
給されるように接続している。
又、この電流増倍回路10において、差動アンプAIO
の一方の入力にはダミーの比較手段20のb接点に発生
するスイッチング電流ISが入力され、他方の入力には
C−MOS @A/D変換器に与えられている基準電圧
の平均電圧VRM:て差動アンプAIOのMOS)ラン
ジスタQ1の入力端子の電圧は、常に平均電圧VRMと
なるように保持される。
の一方の入力にはダミーの比較手段20のb接点に発生
するスイッチング電流ISが入力され、他方の入力には
C−MOS @A/D変換器に与えられている基準電圧
の平均電圧VRM:て差動アンプAIOのMOS)ラン
ジスタQ1の入力端子の電圧は、常に平均電圧VRMと
なるように保持される。
C−MOS・A/D変換器は前述した第4図と同様に、
例えば、2n−1=m個の比較手段が設けられているが
、図面上ではi番目の比較手段(スイッチング手段SW
i と増幅器A1)及び最後(m鳩目)の比較手段(ス
イッチング手段SW磨及び増幅器AS)が図示されてい
る。
例えば、2n−1=m個の比較手段が設けられているが
、図面上ではi番目の比較手段(スイッチング手段SW
i と増幅器A1)及び最後(m鳩目)の比較手段(ス
イッチング手段SW磨及び増幅器AS)が図示されてい
る。
各スイッチング手段SW1〜SW、はサンプリング周遼
数fS と等しいクロックによって開閉駆動されており
、前述したようにこの開閉によってスイッチング電流I
sがアナログ入力信号線Linに流出し、又は流入する
。
数fS と等しいクロックによって開閉駆動されており
、前述したようにこの開閉によってスイッチング電流I
sがアナログ入力信号線Linに流出し、又は流入する
。
m個の比較手段から流入又は流出するスイッチング電流
Isの総和は前記第(1)式からIs =fseCs
(Σ (Vln−Vr、)) −・−・・−(2)1
:1 となるが、m個の比較手段に対する比較電圧Vri信号
Vinがこの平均電圧VRMを中心に正、又は負に変化
しているとすれば、スイッチング電流の平均値ISaは ISa”fS・m・C5(Vln −VRH) −
−−(3)とすることができる。
Isの総和は前記第(1)式からIs =fseCs
(Σ (Vln−Vr、)) −・−・・−(2)1
:1 となるが、m個の比較手段に対する比較電圧Vri信号
Vinがこの平均電圧VRMを中心に正、又は負に変化
しているとすれば、スイッチング電流の平均値ISaは ISa”fS・m・C5(Vln −VRH) −
−−(3)とすることができる。
そして、この平均スイッチング電流ISAが結合コンデ
ンサCCに流入、又は流出することによってビデオ信号
の1水平期間に発生するサグΔVSは第7図に示すよう
に ・・・・・・(4) (但し、TCFはクランプ期間を除いたライン期間) となる。
ンサCCに流入、又は流出することによってビデオ信号
の1水平期間に発生するサグΔVSは第7図に示すよう
に ・・・・・・(4) (但し、TCFはクランプ期間を除いたライン期間) となる。
本発明は前記第(3)式の平均スイッチング電流ISa
をアナログ入力信号線Linに注入することによってサ
グΔVsの発生を防止するものである。
をアナログ入力信号線Linに注入することによってサ
グΔVsの発生を防止するものである。
すなわち、ダミーの比較手段20のスイッチングSWd
をクロック周波数fsで開閉すると、そのb接点からは Is′=fsIIC3(Vln−VRH)・・・・・・
(5)となるスイッチング電流IS′が出力される。
をクロック周波数fsで開閉すると、そのb接点からは Is′=fsIIC3(Vln−VRH)・・・・・・
(5)となるスイッチング電流IS′が出力される。
このスイッチング電流Is′は差動アンプAIOのMO
S)ランジスタQtのゲート電圧を変化させるように働
くが、その電圧変化はMOS)ランジスタQ4を介して
MOSトランジスタQ5の電流をIS′だけ変化し、M
O5)ランジスタQ】のゲート電圧がVRMとなるよう
にすると同時に、トランジスタQ5のゲートに印加され
る電圧と等しい逆の方向電圧がトランジスタQ6のゲー
ト電極にも印加される。
S)ランジスタQtのゲート電圧を変化させるように働
くが、その電圧変化はMOS)ランジスタQ4を介して
MOSトランジスタQ5の電流をIS′だけ変化し、M
O5)ランジスタQ】のゲート電圧がVRMとなるよう
にすると同時に、トランジスタQ5のゲートに印加され
る電圧と等しい逆の方向電圧がトランジスタQ6のゲー
ト電極にも印加される。
その結果、トランジスタQ5のドレイン中ソ−3間に流
れる電流はIO+IS’となり、トランジスタQ6のド
レイン中ソ−3間に流れる電流は(1+m)(Io −
Is′)となる。
れる電流はIO+IS’となり、トランジスタQ6のド
レイン中ソ−3間に流れる電流は(1+m)(Io −
Is′)となる。
第3の定電流S3からは常に(1+m)Ioの電流が供
給されているから、この電流増倍回路10の出力電流工
は、I= Is”(1+m)となる。すなわち、第(
5)式から I = −f 5−cs(Vtn −Vt+x)(1+
m) −・・・・(8)したがって、C−MOS@A
/D変換器の動作時に結合コンデンサCcから前記第(
3)式の平均スイッチング電流Isaとダミーの比較手
段20に流れる電流IS′が流出したときは、電流増倍
回路lOから前記第(6)式の出力電流が流入すること
になるから、(Isa+Is’)=Is’ (1+m)
=−Iとなり、出力電流Iによってm+1個の比較手段
に流れるスイッチング電流を相殺することができる。
給されているから、この電流増倍回路10の出力電流工
は、I= Is”(1+m)となる。すなわち、第(
5)式から I = −f 5−cs(Vtn −Vt+x)(1+
m) −・・・・(8)したがって、C−MOS@A
/D変換器の動作時に結合コンデンサCcから前記第(
3)式の平均スイッチング電流Isaとダミーの比較手
段20に流れる電流IS′が流出したときは、電流増倍
回路lOから前記第(6)式の出力電流が流入すること
になるから、(Isa+Is’)=Is’ (1+m)
=−Iとなり、出力電流Iによってm+1個の比較手段
に流れるスイッチング電流を相殺することができる。
その結果、結合コンデンサCcに流入、又は流出する電
流は零になり、サグΔVsの発生もなくすることができ
る。
流は零になり、サグΔVsの発生もなくすることができ
る。
第2図は前記した補正電流発生手段の他の実施例を示し
たものである。
たものである。
この実施例の場合は、K個のダミーの比較手段、20−
1.20−2.・・・・・・20−Kが設けられており
、電流増倍回路10Aにはに個の比較手段20−1.2
0−2.・す・・・20−にのスイッチング電流KIS
′が入力するように構成されている。
1.20−2.・・・・・・20−Kが設けられており
、電流増倍回路10Aにはに個の比較手段20−1.2
0−2.・す・・・20−にのスイッチング電流KIS
′が入力するように構成されている。
又、電流増倍回路10Aを構成している第1゜第2.及
び第3の定電流源Sl、S2及びS3を構成するMOS
)ランジスタQ?、QB、Q9の電流値m + K は、それぞれ、2 a I o 、 K I o +
−I oに設定に されている。
び第3の定電流源Sl、S2及びS3を構成するMOS
)ランジスタQ?、QB、Q9の電流値m + K は、それぞれ、2 a I o 、 K I o +
−I oに設定に されている。
なお、他のMOS)ランジスタQ1〜Q6の作用は第1
図の場合と同様である。
図の場合と同様である。
この実施例の場合も、C−MOS−A/D変換器を構成
する比較手段と等しいダミーの比較手段20−1〜20
−Kが使用されているから、各ダミーの比較手段がサン
プリング用のクロックfSで同時に動作しているとすれ
ば、電流増倍回路10Aに流入、又は流出する電流は、 I s” = K I s′= f s拳K * C5
(Vtn −VR’M)となる。
する比較手段と等しいダミーの比較手段20−1〜20
−Kが使用されているから、各ダミーの比較手段がサン
プリング用のクロックfSで同時に動作しているとすれ
ば、電流増倍回路10Aに流入、又は流出する電流は、 I s” = K I s′= f s拳K * C5
(Vtn −VR’M)となる。
そして、その出力電流工′はI’ = (K+m)IS
”となり、C−MOS −A/D変換器のm個の比較手
段によって発生するスイッチング電流の平均電流Isa
をキャンセルすることができる。
”となり、C−MOS −A/D変換器のm個の比較手
段によって発生するスイッチング電流の平均電流Isa
をキャンセルすることができる。
定電流源を形成するMOS)ランジスタQ7゜Qe、Q
9の構造は、第3図に示すようにシリコン基板P上に、
ソース電極S、ドレイン電極りが形成され、この画電極
にまたがって酸化シリコン層I、及びゲーン電極Gが形
成されている。
9の構造は、第3図に示すようにシリコン基板P上に、
ソース電極S、ドレイン電極りが形成され、この画電極
にまたがって酸化シリコン層I、及びゲーン電極Gが形
成されている。
したがって、酸化シリコン層重の下に形成されるチャン
ネルの幅Wと長さLの(W/L)を源sl、s2 s3
.を形成することができる。この実ット数が大きいとき
でも、電流増倍率が低下し、集積回路とすることが容易
になる。
ネルの幅Wと長さLの(W/L)を源sl、s2 s3
.を形成することができる。この実ット数が大きいとき
でも、電流増倍率が低下し、集積回路とすることが容易
になる。
上記した実施例ではアナログ入力信号Vinとしビデオ
信号が供給されている場合について説明したが、アナロ
グ入力信号はビデオ信号に限ることはなく、他の情報の
信号でも適用できるものである。
信号が供給されている場合について説明したが、アナロ
グ入力信号はビデオ信号に限ることはなく、他の情報の
信号でも適用できるものである。
又、結合コンデンサCcによって発生するサグΔVSの
防止について説明したが、アナログ入力信号がA/D変
換器に入力されたときに生じるスイッチング電流Isの
影響は、一般に、アナログ入力回路の伝達特性に悪い影
響を与えることになるから、結合コンデンサCcが使用
されていない入力回路の場合でも、本発明のC−MOS
−A/D変換器は有効に動作することはいうまでもない
。
防止について説明したが、アナログ入力信号がA/D変
換器に入力されたときに生じるスイッチング電流Isの
影響は、一般に、アナログ入力回路の伝達特性に悪い影
響を与えることになるから、結合コンデンサCcが使用
されていない入力回路の場合でも、本発明のC−MOS
−A/D変換器は有効に動作することはいうまでもない
。
さらに、本発明の技術手段はP−MOS、又はN−MO
SタイプのA/D変換器に利用してもよい。
SタイプのA/D変換器に利用してもよい。
以上説明したように、本発明の並列型C−MOS@A/
D変換器は、チョッパー型の比較手段が使用されている
場合に発生するスイッチング電流を入力側でキャンセル
することができるから、デジタル値に変換される2進コ
ードの直線性が劣化しないという優れた効果を発揮する
と共に、アナログ入力信号が結合コンデンサを介して入
力されているときでも、結合コンデンサの容量を小さく
することができ、入力回路を含めて集積化することがで
きるという利点がある。
D変換器は、チョッパー型の比較手段が使用されている
場合に発生するスイッチング電流を入力側でキャンセル
することができるから、デジタル値に変換される2進コ
ードの直線性が劣化しないという優れた効果を発揮する
と共に、アナログ入力信号が結合コンデンサを介して入
力されているときでも、結合コンデンサの容量を小さく
することができ、入力回路を含めて集積化することがで
きるという利点がある。
第1図は本発明の一実施例を示すC−MOS・A/D変
換器の回路図、第2図は補正電流発生手段の他の実施例
を示す回路図、第3図はMOSトランジスタの構造を示
す斜視図、第4図は一般的なC−MOS @A/D変換
器のブロック図、第5図は比較手段の動作を説明するだ
めの回路図、第6図(a)、(b)はスイッチング電流
ISの様子を示す説明図、第7図はビデオ信号のサグΔ
VSの信号波形図である。 図中、SW1〜SW、はスイッチング手段、Al−Al
は増幅器、ENCはエンコーダ、VRT−VBTは基準
電圧、10.IOAは電流増倍回路、10はダミーの比
較手段、Ql”Q9はMOSトランジスタを示す。
換器の回路図、第2図は補正電流発生手段の他の実施例
を示す回路図、第3図はMOSトランジスタの構造を示
す斜視図、第4図は一般的なC−MOS @A/D変換
器のブロック図、第5図は比較手段の動作を説明するだ
めの回路図、第6図(a)、(b)はスイッチング電流
ISの様子を示す説明図、第7図はビデオ信号のサグΔ
VSの信号波形図である。 図中、SW1〜SW、はスイッチング手段、Al−Al
は増幅器、ENCはエンコーダ、VRT−VBTは基準
電圧、10.IOAは電流増倍回路、10はダミーの比
較手段、Ql”Q9はMOSトランジスタを示す。
Claims (3)
- (1)複数個の抵抗素子を直列に接続した抵抗直列回路
によって基準電圧を分圧し、その分圧点に発生する比較
電圧と、入力されているアナログ信号の電圧とをスイッ
チング手段によって取り込み、その差電圧を2値信号に
変換する複数個の比較手段と、この複数個の比較手段の
出力データを2進コードに変換する符号化回路を備えて
いる並列型C−MOS・A/D変換器において、前記比
較手段と同一のダミーの比較手段と、該ダミーの比較手
段から得られるスイッチング電流と前記基準電圧の平均
値とが入力されている差動アンプの出力電流を所定の倍
数だけ増倍する電流増倍回路を設け、この出力電流をア
ナログ入力信号線に供給し、前記比較手段によって発生
するスイッチング電流を相殺するようにしたことを特徴
とする並列型C−MOS・A/D変換器。 - (2)アナログ入力信号が結合コンデンサを介して供給
されていることを特徴とする特許請求の範囲第(1)項
に記載の並列型C−MOS・A/D変換器。 - (3)ダミーの比較手段が複数個設けられていることを
特徴とする特許請求の範囲第(1)項に記載の並列型C
−MOS・A/D変換器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2403988A JPH01200822A (ja) | 1988-02-05 | 1988-02-05 | 並列型c−mos・a/d変換器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2403988A JPH01200822A (ja) | 1988-02-05 | 1988-02-05 | 並列型c−mos・a/d変換器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01200822A true JPH01200822A (ja) | 1989-08-14 |
Family
ID=12127355
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2403988A Pending JPH01200822A (ja) | 1988-02-05 | 1988-02-05 | 並列型c−mos・a/d変換器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01200822A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013183688A1 (ja) * | 2012-06-05 | 2013-12-12 | 国立大学法人 鹿児島大学 | アナログデジタル変換器 |
-
1988
- 1988-02-05 JP JP2403988A patent/JPH01200822A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013183688A1 (ja) * | 2012-06-05 | 2013-12-12 | 国立大学法人 鹿児島大学 | アナログデジタル変換器 |
US9118337B2 (en) | 2012-06-05 | 2015-08-25 | Kagoshima University | Analog-digital converter |
JPWO2013183688A1 (ja) * | 2012-06-05 | 2016-02-01 | 国立大学法人 鹿児島大学 | アナログデジタル変換器 |
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