JPH01200509A - 高誘電材料および同材料を用いたコンデンサ - Google Patents
高誘電材料および同材料を用いたコンデンサInfo
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- JPH01200509A JPH01200509A JP63024327A JP2432788A JPH01200509A JP H01200509 A JPH01200509 A JP H01200509A JP 63024327 A JP63024327 A JP 63024327A JP 2432788 A JP2432788 A JP 2432788A JP H01200509 A JPH01200509 A JP H01200509A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、複合多層セラミック基板を用いた電子回路の
薄膜コンデンサ等として利用される高誘電材料と、それ
を用いた高容量コンデンサおよびその製造方法に関する
ものである。
薄膜コンデンサ等として利用される高誘電材料と、それ
を用いた高容量コンデンサおよびその製造方法に関する
ものである。
従来の技術
従来複合多層セラミック基板を用いた電子回路では、グ
リーンシート法や厚膜多層印刷法などが実用されている
。基板材料としては、高純度アルミナを原料としたもの
が多く使用されているが、焼結温度が1500℃以上と
高温であるため、導電体は高融点金属を使用する必要が
あった。
リーンシート法や厚膜多層印刷法などが実用されている
。基板材料としては、高純度アルミナを原料としたもの
が多く使用されているが、焼結温度が1500℃以上と
高温であるため、導電体は高融点金属を使用する必要が
あった。
そこで近年、低温焼結が可能な結晶化ガラス等を用いた
セラミック基板が開発されつりあシ、誘電体材料、抵抗
体材料、基板材料であるセラミック材料と導体材料であ
る金属材料を低温の同−温度で焼結できる材料を用いる
ことで、セラミック基板内にCR素子を形成し、回路の
小型化、高密度化を図ることが検討されている。
セラミック基板が開発されつりあシ、誘電体材料、抵抗
体材料、基板材料であるセラミック材料と導体材料であ
る金属材料を低温の同−温度で焼結できる材料を用いる
ことで、セラミック基板内にCR素子を形成し、回路の
小型化、高密度化を図ることが検討されている。
発明が解決しようとする課題
しかしながら、これまでの複合多層セラミック基板を用
いた電子回路では、第4図に示すように、誘電体材料で
あるセラミックシート1oを基板用セラミックシート3
とは別にグリーンシート化し、さらにそれぞれに電極用
導体8を形成して積層する必要があるため、プロセスが
複雑になり工程が増大する傾向があった。また、グリー
ンシートの誘電率が約9〜1oと小さいために、層数を
増大させなくては高容量が得られないという欠点があっ
た。電子回路の品質的には、高誘電体シートを用いるこ
とによって不必要な部分に浮遊容量が発生(クロストー
ク)したシ、厚膜誘電体の欠陥のため、Aqマイグレー
ションが発生してショートするという問題点があり、製
品化への展開が遅れているのが現状である。
いた電子回路では、第4図に示すように、誘電体材料で
あるセラミックシート1oを基板用セラミックシート3
とは別にグリーンシート化し、さらにそれぞれに電極用
導体8を形成して積層する必要があるため、プロセスが
複雑になり工程が増大する傾向があった。また、グリー
ンシートの誘電率が約9〜1oと小さいために、層数を
増大させなくては高容量が得られないという欠点があっ
た。電子回路の品質的には、高誘電体シートを用いるこ
とによって不必要な部分に浮遊容量が発生(クロストー
ク)したシ、厚膜誘電体の欠陥のため、Aqマイグレー
ションが発生してショートするという問題点があり、製
品化への展開が遅れているのが現状である。
本発明は上記の問題点に鑑み、低温焼結可能で良質な薄
膜形成可能コンデンサ用高誘電材料、それを用いたコン
デンサ及び高誘電材料をグリーンシートの必要部分に直
接パターンニングしてコンデンサを製造する方法を提供
することを目的とする。
膜形成可能コンデンサ用高誘電材料、それを用いたコン
デンサ及び高誘電材料をグリーンシートの必要部分に直
接パターンニングしてコンデンサを製造する方法を提供
することを目的とする。
課題を解決するための手段
上記問題点を解決するために、本発明は、Pb(Mg、
N、b2Ia)03およびP b T 10 sを10
wt%から95wt%、ベース材料としてのP b (
F efby)、(FeHWH)1 .03 (x=o
〜1)に混合した低温焼結および高誘電率材料を提供
する。
N、b2Ia)03およびP b T 10 sを10
wt%から95wt%、ベース材料としてのP b (
F efby)、(FeHWH)1 .03 (x=o
〜1)に混合した低温焼結および高誘電率材料を提供
する。
また本発明は、BaTi0 と5rTi○3の混合系
をペースとして、Pb(Mq見Nb%)03およびPb
T I O3を10 w t%から96wt%、 P
b (F la HNb3/6) x(Fe2AW、)
、−x03(x=o 〜1)に混合したものを、10w
t%から50wt%混合してなる低温焼結および高誘電
率材料を提供するものである。
をペースとして、Pb(Mq見Nb%)03およびPb
T I O3を10 w t%から96wt%、 P
b (F la HNb3/6) x(Fe2AW、)
、−x03(x=o 〜1)に混合したものを、10w
t%から50wt%混合してなる低温焼結および高誘電
率材料を提供するものである。
又、本発明は、上記高誘電材料からなる誘電体膜を、導
体を形成したセラミック基板上に10〜20 ltm形
成し、さらにその上に電極用導体を形成した高容量ダイ
レクトパターンニングコンテンサを提供するものである
。
体を形成したセラミック基板上に10〜20 ltm形
成し、さらにその上に電極用導体を形成した高容量ダイ
レクトパターンニングコンテンサを提供するものである
。
更に本発明は、上記2種類の材料系をターゲットとして
、高周波電圧を用いたスパッタリングにより、マヌクを
した多層基板用未焼成セラミツクシート上に直接、高誘
電体薄膜をパターンニングする多層基板用コンデンサの
製造方法を提供するものである。
、高周波電圧を用いたスパッタリングにより、マヌクを
した多層基板用未焼成セラミツクシート上に直接、高誘
電体薄膜をパターンニングする多層基板用コンデンサの
製造方法を提供するものである。
作 用
本発明において、B a T 103は高誘電率を発生
する作用をし、またS r T 10 sは高電圧に耐
える作用をする。また低温焼結可能な材料として、鉛を
含む複合ペロプスカイト化合物であ7;P b (Mq
fb%)工Ti1−!03やP b (Fe3.Nb3
,5)!(Fe、WH) 、 −,03(X=O〜1)
を使用する。また、良質薄膜形成可能ナスバッタ法を用
いるが、ターゲットが絶縁体のセラミック系焼結体であ
るので、基板とターゲットの間に高周波をかけることに
より、陽イオンと電子を交互に絶縁物の表面に衝突させ
スパッタさせている。その結果、基板上に直接コンデン
サを形成させるので、製造プロセスにおいて、工程ヲ簡
素化させている。
する作用をし、またS r T 10 sは高電圧に耐
える作用をする。また低温焼結可能な材料として、鉛を
含む複合ペロプスカイト化合物であ7;P b (Mq
fb%)工Ti1−!03やP b (Fe3.Nb3
,5)!(Fe、WH) 、 −,03(X=O〜1)
を使用する。また、良質薄膜形成可能ナスバッタ法を用
いるが、ターゲットが絶縁体のセラミック系焼結体であ
るので、基板とターゲットの間に高周波をかけることに
より、陽イオンと電子を交互に絶縁物の表面に衝突させ
スパッタさせている。その結果、基板上に直接コンデン
サを形成させるので、製造プロセスにおいて、工程ヲ簡
素化させている。
実施例
次に本発明について、実施例に基づきさらに詳しく説明
する。
する。
〔実施例1〕
原材料として、Pb0(99,9q6″)、Mg0(9
9,6%)。
9,6%)。
Nb205(99,8%)粉末(共立窯業原料(株)製
)を秤量(MgO−0,06mol過剰)、混合し、仮
焼き、粉砕混合したものを1270℃、2時間焼成した
後、P b T X O3(共立窯業原料(株)製)粉
末を50wt%加え、混合、プレスして、1100℃で
焼成し、Pb(MgvNb%)03−PbTio3を得
た。これを同様な手順で作成したPb(Fe%Nb%)
。、6□(Fe%WV3)。、3303に10 、20
、50 、90 。
)を秤量(MgO−0,06mol過剰)、混合し、仮
焼き、粉砕混合したものを1270℃、2時間焼成した
後、P b T X O3(共立窯業原料(株)製)粉
末を50wt%加え、混合、プレスして、1100℃で
焼成し、Pb(MgvNb%)03−PbTio3を得
た。これを同様な手順で作成したPb(Fe%Nb%)
。、6□(Fe%WV3)。、3303に10 、20
、50 、90 。
95wt%混合し、焼成(9oO℃、2時間)してター
ゲット用焼結体を得た。この材料の誘電率の測定(JI
S規格)結果を第1表に示す。
ゲット用焼結体を得た。この材料の誘電率の測定(JI
S規格)結果を第1表に示す。
第 1 表
第1表より、従来より約Hの焼結温度(9oO℃)で、
誘電率が2倍以上の材料が得られた。ただし、10wt
%以下、96wtq6以上では誘電率が8ooQ以下と
なった。また95wt%以上では焼結が不完全で、材料
も割れやすくなった。
誘電率が2倍以上の材料が得られた。ただし、10wt
%以下、96wtq6以上では誘電率が8ooQ以下と
なった。また95wt%以上では焼結が不完全で、材料
も割れやすくなった。
〔実施例2〕
実施例1において得た鉛を含む複合ペロプスカイト系合
物をB a T 10 s (共立窯業原料(株)製)
とS r T iO3(共立窯業原料(株)製)の混合
系であるB a o 、 s S r o 、 2 T
103に10.20.30.50wt%混合し、10
00℃で2時間焼成して試験片を得た。この材料の誘電
率を第2表に示す。
物をB a T 10 s (共立窯業原料(株)製)
とS r T iO3(共立窯業原料(株)製)の混合
系であるB a o 、 s S r o 、 2 T
103に10.20.30.50wt%混合し、10
00℃で2時間焼成して試験片を得た。この材料の誘電
率を第2表に示す。
第 2 表
第2表よシ、誘電率は約5000程度であるが、耐電圧
特性(JIS規格)は従来よシ約2倍大きくなり、有用
な材料であることがわかった。ただし、10wt%以下
では、誘電率は10oo以下であυ、50 w t%組
以上は耐電圧が低下する傾向にあった。
特性(JIS規格)は従来よシ約2倍大きくなり、有用
な材料であることがわかった。ただし、10wt%以下
では、誘電率は10oo以下であυ、50 w t%組
以上は耐電圧が低下する傾向にあった。
〔実施例3〕
実施例1,2で作成した焼結体を第1図に示すスパッタ
装置にターゲット材料1としてセットする。そして基板
3としてヌライドガラスを使用して、真空チャンバー6
内を真空ポンプ6にて1Q−6Torr程度に真空引き
後、ガス送入ロアから低圧Arガス(−10’Torr
)中で、ガイド2により高周波電圧を印加することによ
り、基板3表面上にスパッタリングによツマスフ4のパ
ターンに応じた高誘電体膜1aを形成させた。そして得
られた高誘電体膜を900℃、2時間の熱処理した。
装置にターゲット材料1としてセットする。そして基板
3としてヌライドガラスを使用して、真空チャンバー6
内を真空ポンプ6にて1Q−6Torr程度に真空引き
後、ガス送入ロアから低圧Arガス(−10’Torr
)中で、ガイド2により高周波電圧を印加することによ
り、基板3表面上にスパッタリングによツマスフ4のパ
ターンに応じた高誘電体膜1aを形成させた。そして得
られた高誘電体膜を900℃、2時間の熱処理した。
この様にして得られた高誘電体膜1aの誘電率は約50
0程度で従来の誘電体薄膜に比べて、約6倍も大きくか
つ、温度依存性も安定し、耐電圧特性も約2倍も大きい
という結果が得られた。また900℃という低温で焼結
熱処理させることにより、安定な薄膜が得られた。
0程度で従来の誘電体薄膜に比べて、約6倍も大きくか
つ、温度依存性も安定し、耐電圧特性も約2倍も大きい
という結果が得られた。また900℃という低温で焼結
熱処理させることにより、安定な薄膜が得られた。
〔実施例4〕
第2図及び第3図において、銀ペーストからなる電極用
導体8を印刷したアルミナからなる基板(旭硝子(株)
製)3上に、実施例3と同様な方法を用いて高誘電体膜
9を形成し、さらにこの高誘電体膜9の上に電極用導体
8を印刷にて形成することにより、基板3上に直接コン
デンサを形成させた。
導体8を印刷したアルミナからなる基板(旭硝子(株)
製)3上に、実施例3と同様な方法を用いて高誘電体膜
9を形成し、さらにこの高誘電体膜9の上に電極用導体
8を印刷にて形成することにより、基板3上に直接コン
デンサを形成させた。
このコンデンサは、直流バイアス電圧印加による容量、
tanδの温度依存および、交流電圧特性(JIS規格
)が、従来のB a T 10 s糸材料を用いた素子
に比べて、約20%、安定化した。
tanδの温度依存および、交流電圧特性(JIS規格
)が、従来のB a T 10 s糸材料を用いた素子
に比べて、約20%、安定化した。
発明の効果
以上、本発明によれば、Pb(Mq狛Nb%)03おJ
−びPbTiO3を10wt%から95wt%、ベース
材 4料としてのP b (F e34N b3,
6 ) x(F e Ny、 ) 1− x o3(x
=o〜1)混合した高誘電材料、または、BaT iO
3とS r T iO3の混合系をベースとして、pb
(h匂q化%)o3およびP b T 103を10
wt%から95wt%。
−びPbTiO3を10wt%から95wt%、ベース
材 4料としてのP b (F e34N b3,
6 ) x(F e Ny、 ) 1− x o3(x
=o〜1)混合した高誘電材料、または、BaT iO
3とS r T iO3の混合系をベースとして、pb
(h匂q化%)o3およびP b T 103を10
wt%から95wt%。
P b (F e3ANb3A) 、 (F (s24
W14 ) 1−.03(x=o〜1 )に混合したも
のを、10wt%から50 w t%混合してなる高誘
電材料からなる薄膜は、従来の誘電体薄膜に比べて、誘
電率が約SOO程度と5倍も増大する上、9oo℃とい
う従来の約%の低温で焼結可能な良質薄膜形成を可能に
するという効果を発揮する。またマスクを使用してスパ
ッタさせることにより、多層基板として用いる未焼成セ
ラミ。
W14 ) 1−.03(x=o〜1 )に混合したも
のを、10wt%から50 w t%混合してなる高誘
電材料からなる薄膜は、従来の誘電体薄膜に比べて、誘
電率が約SOO程度と5倍も増大する上、9oo℃とい
う従来の約%の低温で焼結可能な良質薄膜形成を可能に
するという効果を発揮する。またマスクを使用してスパ
ッタさせることにより、多層基板として用いる未焼成セ
ラミ。
クシート(グリーンシート)上に直接パターンニングし
て、必要部分にコンデンサを形成することが可能となる
。その結果、プロセスを従来の狛に簡素化し、良質かつ
高容量コンデンサの形成が可能になるので、従来問題と
なっていたAqマイグレーションやクロストークの発生
が10チ以下の複合多層セラミック基板が得られる。
て、必要部分にコンデンサを形成することが可能となる
。その結果、プロセスを従来の狛に簡素化し、良質かつ
高容量コンデンサの形成が可能になるので、従来問題と
なっていたAqマイグレーションやクロストークの発生
が10チ以下の複合多層セラミック基板が得られる。
第1図はセラミック基板上に直接高誘電体薄膜をパター
ンニングする装置の概要図、第2図は絶縁性セラミック
基板上に直接形成したコンデンサの斜視図、第3図は本
発明によるダイレクトバタ−ンニング法による多層基板
用コンデンサの製造プロセスの概略図、第4図は従来の
多層基板用コンデンサの製造プロセスの概略図である。 1・・・・・・ターゲット材料、1a・・・・・・高誘
電体膜、3・・・・・・セラミック基板、8・・・・・
・電極用導体、9・・・・・・高誘電体膜。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名Ia
、−−−^話電体項 3−J3及 ′/ 第 2 図
ンニングする装置の概要図、第2図は絶縁性セラミック
基板上に直接形成したコンデンサの斜視図、第3図は本
発明によるダイレクトバタ−ンニング法による多層基板
用コンデンサの製造プロセスの概略図、第4図は従来の
多層基板用コンデンサの製造プロセスの概略図である。 1・・・・・・ターゲット材料、1a・・・・・・高誘
電体膜、3・・・・・・セラミック基板、8・・・・・
・電極用導体、9・・・・・・高誘電体膜。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名Ia
、−−−^話電体項 3−J3及 ′/ 第 2 図
Claims (5)
- (1)Pb(Mg_1_/_3Nb_2_/_3)O_
3およびPbTiO_3を10wt%から95wt%,
ベース材料としてのPb(Fe_1_/_2Nb_1_
/_2)_x(Fe_2_/_3W_1_/_3)_1
_−_xO_3(x=0〜1)に混合してなる高誘電材
料。 - (2)BaTiO_3とSrTiO_3の混合系をベー
スとして、Pb(Mg_1_/_3Nb_2_/_3)
O_3およびPbTiO_3を10wt%から96wt
%,Pb(Fe_1_/_2Nb_1_/_2)_x(
Fe_2_/_3W_1_/_3)_1_−_xO_3
(x=0〜1)に混合したものを、10wt%から50
wt%混合してなる高誘電材料。 - (3)請求項1又は2記載の材料からなる誘電体膜を、
導体を形成した基板上に形成し、その上に電極用導体を
形成したコンデンサ。 - (4)誘電体膜の膜厚は10〜20μmである請求項3
記載のコンデンサ。 - (5)請求項1又は2記載の材料をターゲットとして、
高周波電圧を用いたスパッタリングにより、マスクをし
た未焼成セラミックシート上に直接高誘電体薄膜をパタ
ーンニングするコンデンサの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63024327A JP2658121B2 (ja) | 1988-02-03 | 1988-02-03 | 高誘電材料および同材料を用いたコンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63024327A JP2658121B2 (ja) | 1988-02-03 | 1988-02-03 | 高誘電材料および同材料を用いたコンデンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01200509A true JPH01200509A (ja) | 1989-08-11 |
JP2658121B2 JP2658121B2 (ja) | 1997-09-30 |
Family
ID=12135085
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63024327A Expired - Fee Related JP2658121B2 (ja) | 1988-02-03 | 1988-02-03 | 高誘電材料および同材料を用いたコンデンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2658121B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108878145A (zh) * | 2018-06-01 | 2018-11-23 | 芜湖市亿仑电子有限公司 | 一种高储能电容器用介电材料的制备方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS57168405A (en) * | 1981-04-09 | 1982-10-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | High dielectric porcelain composition |
JPS62132755A (ja) * | 1985-12-04 | 1987-06-16 | アルプス電気株式会社 | 磁器組成物 |
-
1988
- 1988-02-03 JP JP63024327A patent/JP2658121B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN108878145A (zh) * | 2018-06-01 | 2018-11-23 | 芜湖市亿仑电子有限公司 | 一种高储能电容器用介电材料的制备方法 |
CN108878145B (zh) * | 2018-06-01 | 2020-12-01 | 芜湖市亿仑电子有限公司 | 一种高储能电容器用介电材料的制备方法 |
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JP2658121B2 (ja) | 1997-09-30 |
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