JP2985428B2 - 積層セラミックコンデンサの製造方法 - Google Patents

積層セラミックコンデンサの製造方法

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JP2985428B2 JP3262907A JP26290791A JP2985428B2 JP 2985428 B2 JP2985428 B2 JP 2985428B2 JP 3262907 A JP3262907 A JP 3262907A JP 26290791 A JP26290791 A JP 26290791A JP 2985428 B2 JP2985428 B2 JP 2985428B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は積層セラミックコンデ
ンサの製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】積層セラミックコンデンサの材料として
従来から用いられてきたチタン酸バリウム系の誘電体
は、1250〜1400℃の焼成温度が必要である。そ
のため、チタン酸バリウム系の誘電体を用いた積層セラ
ミックコンデンサの内部電極としては、誘電体セラミッ
クが焼結する温度以上の融点を持つ白金,パラジウムな
どの高価な高融点金属が用いられてきた。
【0003】チタン酸バリウムの誘電体にビスマス化合
物などの副成分を添加して、誘電体を1000℃〜11
00℃の低温で焼成できるようにすれば、内部電極とし
て、白金,パラジウムよりも融点の低い安価な銀−パラ
ジウム合金を用いることができ、内部電極のコストダウ
ンを計ることができる。しかし、低温焼結化を目的とし
て副成分を添加したチタン酸バリウム系の誘電体は、高
温で焼結する誘電体に比べ、低い誘電率しか得ることが
できない。
【0004】一方、鉛複合ペロブスカイトを主成分とす
る、いわゆる鉛系の誘電体は、チタン酸バリウム系を上
回る高誘電率であり、かつ、1000℃以下の低温で焼
成できる。そのため、鉛系の誘電体を用いた積層セラミ
ックコンデンサは、小型でありながら、大容量が得られ
る。さらに、内部電極として、安価な銀−パラジウム合
金を用いることができる。
【0005】また、最近では、さらにコストダウンを計
るため、鉛系の誘電体を用いて、内部電極に銅あるいは
銅合金を用いた積層セラミックコンデンサが報告されて
おり、鉛系の誘電体はますます注目されてきている。さ
らに、銅および銅合金は、銀−パラジウム合金に比べて
電気的な抵抗が低いため、これを内部電極に用いること
により、等価直列抵抗の低い積層セラミックコンデンサ
を得ることができる。
【0006】上述の各積層セラミックコンデンサの内部
電極は、一般に上記金属をペースト化したものを、セラ
ミックグリーンシートに所定のパターンでスクリーン印
刷することによって形成されていた。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、金属ペ
ーストをスクリーン印刷する方法では、印刷された電極
の膜厚が3〜7μmとなり、誘電体セラミックの厚みが
20〜50μmと厚いときには問題ないが、誘電体セラ
ミックの厚みを10μm以下の薄膜にすると、電極の厚
みが無視できなくなる。すなわち、積層状態での厚みが
不均一になるため、脱バインダ工程あるいは焼成工程で
デラミネーションやクラックを生じやすい。
【0008】そこで、電極の厚みを薄くする方法とし
て、次のような方法が考案されている。たとえばポリエ
チレンテレフタレートなどの有機フィルムに金属を薄膜
状に蒸着し、その表面にレジストを所定のパターンに塗
布した後、不必要な部分をエッチングによって除去する
ことによって、所定のパターンの内部電極が形成され
る。その後、その内部電極がセラミックグリーンシート
に転写される。このようにして、薄膜の誘電体セラミッ
クに対応できる薄膜の内部電極が形成される。
【0009】しかしながら、この方法では、ポリエチレ
ンテレフタレートなどの有機フィルムが多量に使用され
るため、コストが高くなる。また、内部電極の金属とし
て銀が用いられる場合には、有機フィルムからの剥離性
は良好であるが、銀より高い融点をもつ銅,ニッケルな
どでは、剥離性が非常に悪くなる。
【0010】それゆえに、この発明の主たる目的は、
銅,ニッケル,アルミニウムなどの卑金属を内部電極と
し、誘電体セラミック層の厚みが薄い積層セラミックコ
ンデンサを製造する際に、厚みの薄い内部電極を所定の
パターンに正確に形成することができる積層セラミック
コンデンサの製造方法を提供することである。
【0011】
【課題を解決するための手段】この発明は、卑金属およ
びその合金を内部電極に用いる積層セラミックコンデン
サの製造方法において、内部電極となるべき薄膜を金属
基板上にあらかじめ所定のパターンをもって形成し、薄
膜を誘電体セラミックのグリーンシート上に転写する、
積層セラミックコンデンサの製造方法である。
【0012】なお、薄膜は、内部電極に用いられる卑金
属およびその合金のペレットを母材としてもよい。
【0013】また、薄膜は、所定のパターンをもったメ
タルマスクを通して、蒸着あるいはスパッタリングによ
って、金属基板上に形成してもよい。
【0014】
【作用】薄膜が、金属基板上にあらかじめ所定のパター
ンをもって形成される。そして、この薄膜は、誘電体セ
ラミックのグリーンシート上に転写されて、内部電極と
して用いられる。
【0015】
【発明の効果】この発明によれば、生ユニット状態の内
部電極として、卑金属からなる薄くかつ均一な厚みの薄
膜を形成することができる。すなわち、誘導体の多層化
に伴って、誘導体セラミックを薄くしても、金属ペース
トをスクリーン印刷する方法では避けられなかった、金
属ペースト層の厚みによる積層状態での厚みの不均一が
解消される。そのため、積層および圧着工程を容易に行
うことができる。
【0016】さらに、従来の金属ペーストには、ワニス
などの燃焼成分が含まれているが、この発明に係る卑金
属からなる薄膜には、ワニスなどの燃焼成分が含まれて
いない。したがって、焼成後の内部電極が、従来の場合
と比較して緻密になり、等価直列抵抗の低い、すなわ
ち、損失の小さい積層セラミックコンデンサを得ること
ができる。
【0017】また、焼成工程における金属ペースト層の
収縮や燃焼成分の燃焼は、焼成されたセラミック層間に
おいてデラミネーションを発生させることがある。しか
し、この発明によれば、内部電極中にワニス,溶剤など
の燃焼成分が含まれていないため、燃焼を原因とするデ
ラミネーションは発生しない。
【0018】さらに、ペースト中の溶剤が、グリーンシ
ートを膨潤させたり、溶解させたりすることがない。そ
のため、グリーンシートの膨潤または溶解による内部電
極間の短絡や耐電圧性の低下を招くことはない。
【0019】また、この発明によれば、グリーンシート
への転写の際、ポリエチレンテレフタレートのような有
機フィルムを使用しない。そのため、銀に比べて高融点
の銅,ニッケルを内部電極に使用するときにも、剥離性
が良好である。したがって、所定のパターンを正確に転
写することができる。さらに、使用後の有機フィルムの
廃棄の問題がなくなり、コストダウンにも有効である。
【0020】以上のことから、この発明によれば、誘電
体セラミックの薄膜化が可能となる。そのため、大容量
でありながら、信頼性が高く、かつ、安価な積層セラミ
ックコンデンサを製造することができる。
【0021】この発明の上述の目的,その他の目的,特
徴および利点は、図面を参照して行う以下の実施例の詳
細な説明から一層明らかとなろう。
【0022】
【実施例】図1はこの発明の背景となりかつこの発明が
適用される積層セラミックコンデンサの一例を示す図解
図である。積層セラミックコンデンサ10は誘電体12
を含む。誘電体12には、たとえば、3つの第1の内部
電極14と2つの第2の内部電極16とが交互に形成さ
れる。この場合、第1の内部電極14は、誘電体12の
一方側面に延びて形成され、第2の内部電極16は、誘
電体12の他方側面に延びて形成される。さらに、誘電
体12の一方側面および他方側面には、第1の外部電極
18および第2の外部電極20が、それぞれ形成され
る。したがって、第1の外電極18は、第1の内部電極
14に接続される。また、第2の外部電極20は、第2
の内部電極16に接続される。
【0023】次に、この積層セラミックコンデンサ10
の製造方法について説明する。
【0024】まず、原料として、1000℃以下で焼成
することが可能な鉛複合ペロブスカイトを主成分とする
誘電体磁器組成物を準備した。この誘電体磁器組成物と
しては、 xPb(Mg1/3 Nb2/3 )O3 −yPbTiO3 −zPb(Cu1/2 1/2 )O3 −uZnO−vMnO2 (x,y,z,u,vは重量比) で表され、0.90≦x≦0.95 0.040≦y≦0.080 0.010≦z≦0.030 (x+y+z=1) 0<u≦0.060 0<v≦0.020 の範囲にあるものを用いた。
【0025】上記原料を秤量して、秤量物を得た。この
秤量物を湿式混合し、蒸発乾燥して、乾燥物を得た。こ
の乾燥物を60メッシュのふるいを通して造粒した後、
仮焼して磁器原料粉末を得た。
【0026】次に、還元性雰囲気中での焼成を行って
も、誘電体磁器の還元を抑えるような還元防止剤を準備
した。この還元防止剤は、 xLi2 O−yBaO−zB2 3 −wSiO2 で表される組成物であり、x,y,z,wがそれぞれ 7.0≦x≦8.0 41.5≦y≦43.0 20.5≦z≦22.5 28.0≦w≦30.0 (x+y+z+w=1) の範囲にある。
【0027】この還元防止剤の製造方法について述べ
る。上記の各成分の酸化物,炭酸塩および水酸化物を、
上記の成分範囲になるように秤量して、秤量物を得た。
この秤量物を湿式混合し、蒸発乾燥して、乾燥物を得
た。この乾燥物を60メッシュのふるいを通して造粒し
た後、アルミナるつぼに入れて、1300℃で1時間溶
解し、水中に入れて急冷しガラス化させた。その後、2
00メッシュのふるいを通過する程度まで粉砕して、還
元防止剤を得た。
【0028】誘電体磁器原料粉末と還元防止剤とを、重
量比で99対1となるように調合し、調合物を得た。こ
の調合物に有機溶媒を加え、ボールミルで16時間粉砕
し混合して、混合物を得た。この混合物にポリビニルブ
チラール系のバインダおよび可塑剤を加え、さらに16
時間混合して、誘電体セラミックのスラリを得た。この
スラリを、ドクターブレード法によって、ポリエチレン
テレフタレートなどからなる厚さ50μmのキャリヤ・
フィルムの上にシート状に成形して、誘電体セラミック
のグリーンシートを得た。
【0029】次に、図2および図3を参照して、金属基
板上に銅薄膜を形成する方法とその銅薄膜をセラミック
グリーンシートに転写する方法について説明する。図2
は銅薄膜を形成するために使用されるメタルマスクの形
状を示す図解図であり、図3は銅薄膜をセラミックグリ
ーンシートに転写する状態を示す図解図である。
【0030】図2に示すメタルマスク22の外形の大き
さに合わせた金属基板24を、材質SUS304ステン
レス鋼,表面粗さ1S(JIS規格)で作成した。この
金属基板24とメタルマスク22とを重ね合わせて、蒸
着装置のチャンバの中に設置した。チャンバの中を最初
0.5×10-4Torr以下まで真空に引いた後、ボタ
ン状の金属銅ペレットを入れたタングステン製のホルダ
に通電した。そして、ホルダの抵抗による加熱で金属銅
ペレットを溶解し気化して、金属基板24上にメタルマ
スク22のパターンを通して銅を蒸着した。所定の時
間、蒸着を行った後、通電を止めて、しばらくホルダを
冷却して、チャンバを開けて、銅が蒸着した金属基板2
4を取り出した。このようにして、金属基板24上に、
内部電極の所定のパターンを有する銅薄膜26を形成し
た。なお、金属基板24上に形成された銅薄膜26の厚
みは、0.2〜1.0μmの任意のものを得ることがで
きた。
【0031】次に、図3に示すようにして、銅薄膜26
をセラミックグリーンシート28に転写した。すなわ
ち、セラミックグリーンシート28は下金型30上に置
かれる。セラミックグリーンシート28の上には、銅薄
膜26が接するように、金属基板24が置かれ、上金型
32によってプレスされる。この場合、上金型32はヒ
ータ34を備え、約70℃の温度を金属基板24に与え
ながら、20〜500kg/cm2 の圧力で、金属基板
24をセラミックグリーンシート28に対して押圧す
る。このようにして、金属基板24上に形成された銅薄
膜26は、セラミックグリーンシート28上に転写され
る。
【0032】さらに、銅薄膜26の転写後のセラミック
グリーンシート28を所定の枚数積み重ねた。そして、
ユニットに強度を持たせるために、その上下に銅薄膜2
6が転写されていないセラミックグリーンシート28を
適宜積み重ねた後、熱圧着して、圧着体を得た。この圧
着体を所定の規格に切断して、生ユニットを得た。
【0033】この生ユニットを、N2 −O2 0.5体積
%の混合ガス中において、350℃で5時間保持するこ
とによって脱バインダした。その後、H2 ガス中におい
て250℃で3時間保持して、脱バインダ中にわずかに
酸化した銅からなる内部電極の還元を行った。
【0034】上記の処理後のユニットを、N2 ,H2
2 の混合ガスを用いて銅からなる内部電極を酸化しな
い還元性雰囲気に調節した管状炉に入れて、1000℃
で2時間焼成して、本発明に係る積層セラミックコンデ
ンサを得た。
【0035】この積層セラミックコンデンサの25℃,
1kHz,1Vrmsでの誘電率(εr),誘電損失
(D.F)および絶縁抵抗を測定した。この測定結果を
表1に示す。
【0036】
【表1】
【0037】表1に示すように、本発明に係る積層セラ
ミックコンデンサは、誘電損失も十分低く、絶縁抵抗も
CR積にして10000以上と高い値を示しており、そ
の電気的特性において全く問題のないものである。
【0038】また、焼成後の積層セラミックコンデンサ
を100個、内部電極が露出するまで研磨した。そし
て、光学顕微鏡で研磨面を観察して、デラミネーション
の有無を調べたところ、100個ともデラミネーション
は見られなかった。
【0039】さらに、転写時の剥離不良について調べ
た。メタルマスクには内部電極の所定のパターンが44
個あるが、メタルマスクを通して金属基板上に蒸着した
内部電極のパターンの未剥離,欠けなどは50枚中1箇
所も起こらなかった。
【0040】一方、ポリエチレンテレフタレートを原料
とする有機フィルム上に銅を蒸着し、それをグリーンシ
ートに転写して作成した、比較例としての積層セラミッ
クコンデンサについて、前記と同様な焼成と測定を行っ
た。この測定結果を表2に示す。
【0041】
【表2】
【0042】電気的特性においては、表1および表2に
示すように、本発明に係る積層セラミックコンデンサと
比較例の積層セラミックコンデンサとは差はなかった。
【0043】比較例の積層セラミックコンデンサについ
て、前記と同様にデラミネーションの有無を調べたとこ
ろ、やはりデラミネーションは見られなかった。
【0044】しかしながら、転写時の剥離不良について
調べると、内部電極のパターンの未剥離は50枚中2箇
所,欠けは50枚中10箇所に発生した。このように、
比較例の積層セラミックコンデンサは、本発明に係る積
層セラミックコンデンサと比べて、不良の発生率が著し
く大きかった。
【0045】これは、有機フィルム上に内部電極を蒸着
し、それをグリーンシート上に転写する場合には、蒸着
金属粒子が有機フィルムの表面層中まで侵入し、いわゆ
る「打ち込み」といわれる現象が起こる。そのため、フ
ィルムからの剥離性が阻害され、上記のように剥離不良
が起こりやすい。
【0046】それに対し、本発明によれば、金属基板上
に蒸着するため、打ち込み現象は起こらない。そして、
蒸着金属膜は容易に基板から剥離される。したがって、
剥離不良は起こらず、特性の安定した積層セラミックコ
ンデンサを得ることができる。
【0047】なお、本発明に係る積層セラミックコンデ
ンサの製造方法は、前記実施例に限定されるものではな
く、本発明の特許請求の範囲内のあらゆる場合に適用可
能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の背景となりかつこの発明が適用され
る積層セラミックコンデンサの一例を示す図解図であ
る。
【図2】銅薄膜を形成するために使用されるメタルマス
クの形状を示す図解図である。
【図3】銅薄膜をセラミックグリーンシートに転写する
状態を示す図解図である。
【符号の説明】
10 積層セラミックコンデンサ 12 誘電体 14 第1の内部電極 16 第2の内部電極 22 メタルマスク 24 金属基板 26 銅薄膜 28 セラミックグリーンシート
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平1−226139(JP,A) 特開 昭64−42809(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01G 4/12

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 卑金属およびその合金を内部電極に用い
    る積層セラミックコンデンサの製造方法において、 内部電極となるべき薄膜を金属基板上にあらかじめ所定
    のパターンをもって形成し、前記薄膜を誘電体セラミッ
    クのグリーンシート上に転写することを特徴とする、積
    層セラミックコンデンサの製造方法。
  2. 【請求項2】 前記薄膜は、前記内部電極に用いられる
    前記卑金属およびその合金のペレットを母材とする、請
    求項1の積層セラミックコンデンサの製造方法。
  3. 【請求項3】 前記薄膜は、所定のパターンをもったメ
    タルマスクを通した蒸着あるいはスパッタリングによっ
    て、前記金属基板上に形成される、請求項1または請求
    項2の積層セラミックコンデンサの製造方法。
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US7375412B1 (en) 2005-03-31 2008-05-20 Intel Corporation iTFC with optimized C(T)
US7629269B2 (en) 2005-03-31 2009-12-08 Intel Corporation High-k thin film grain size control
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