JPH01194128A - 磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents
磁気記録媒体の製造方法Info
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- JPH01194128A JPH01194128A JP1869988A JP1869988A JPH01194128A JP H01194128 A JPH01194128 A JP H01194128A JP 1869988 A JP1869988 A JP 1869988A JP 1869988 A JP1869988 A JP 1869988A JP H01194128 A JPH01194128 A JP H01194128A
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Landscapes
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- Lubricants (AREA)
- Magnetic Record Carriers (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、磁気ディスク装置に使用されるhi磁気記録
媒体関し、特にCSS <コンタクト スタート アン
ド ストップ)耐久性を良好にする磁気記録媒体に関す
るものである。
媒体関し、特にCSS <コンタクト スタート アン
ド ストップ)耐久性を良好にする磁気記録媒体に関す
るものである。
従来、この棟の磁気記録媒体としては、アルミニウム合
金からなる基板、Fに、磁性層を成膜し、次にこの磁性
層上にシリカからなる微粒子と社殿ケイ素とを含む溶液
を塗布し、加熱処理してSiO2からなる母材中にシリ
カ粒子を含有した薄膜(保護膜)を積層したものがあっ
た(例えば、特開昭61−229227号公報参照。以
下「従来技術1」という。)。また、ガラスからなる基
板上に磁性層、保護膜等を順次積層し、かつ前述したガ
ラス基板の磁性層を積層する表面をAl2O3等の粒子
で傷をつけて凹凸を形成した磁気記録媒体があった(以
下「従来技術2」という。)。
金からなる基板、Fに、磁性層を成膜し、次にこの磁性
層上にシリカからなる微粒子と社殿ケイ素とを含む溶液
を塗布し、加熱処理してSiO2からなる母材中にシリ
カ粒子を含有した薄膜(保護膜)を積層したものがあっ
た(例えば、特開昭61−229227号公報参照。以
下「従来技術1」という。)。また、ガラスからなる基
板上に磁性層、保護膜等を順次積層し、かつ前述したガ
ラス基板の磁性層を積層する表面をAl2O3等の粒子
で傷をつけて凹凸を形成した磁気記録媒体があった(以
下「従来技術2」という。)。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら従来技術1による磁気記録媒体によれば、
保護膜の母材中に微粒子を散在させていることから、C
8S耐久性を十分に上げ、かつ磁気ヘッドとのI!i!
tp係数を小さくするためには、保護膜表面の凹凸の大
きさを大きくする必要がある。
保護膜の母材中に微粒子を散在させていることから、C
8S耐久性を十分に上げ、かつ磁気ヘッドとのI!i!
tp係数を小さくするためには、保護膜表面の凹凸の大
きさを大きくする必要がある。
このために保護膜の膜厚を厚くすることが考えられるが
、この保護膜を厚くしていくと、磁気ヘッドと磁性層と
の間の距離が大きくなり、例えば情報再生時の出力が低
下してしまう問題点がある。
、この保護膜を厚くしていくと、磁気ヘッドと磁性層と
の間の距離が大きくなり、例えば情報再生時の出力が低
下してしまう問題点がある。
したがって保護膜の膜厚には限度がある。また、従来技
術1では、磁性層を成膜後保護膜を成膜するために、前
述した溶液を塗布し加熱することから、磁性層がその加
熱処理により酸化されることがあり、磁性層の酸化によ
って、磁気特性(例えば保磁力、残留磁束密度)を著し
く悪化させてしまう問題点がある。さらに、従来技術1
では基板としてアルミニウム合金からなるものであるこ
とから、アルミニウム合金からなる基板中の不純物(例
えばAl2O3、MgO,S i 02 、Al−MO
−0等及びAfL−8i−Fe等の金属間化合物等)に
より、ミッシングパルス、エクストラパルスが生じ、ま
たモデュレーション特性の悪化となる。
術1では、磁性層を成膜後保護膜を成膜するために、前
述した溶液を塗布し加熱することから、磁性層がその加
熱処理により酸化されることがあり、磁性層の酸化によ
って、磁気特性(例えば保磁力、残留磁束密度)を著し
く悪化させてしまう問題点がある。さらに、従来技術1
では基板としてアルミニウム合金からなるものであるこ
とから、アルミニウム合金からなる基板中の不純物(例
えばAl2O3、MgO,S i 02 、Al−MO
−0等及びAfL−8i−Fe等の金属間化合物等)に
より、ミッシングパルス、エクストラパルスが生じ、ま
たモデュレーション特性の悪化となる。
また、従来技術2の磁気記録媒体では、表面を高精度に
研摩することができることから、従来技術1のような基
板の材質に起因する問題点は生じないが、Al2O3等
の粒子で基板表面に傷をつけて凹凸を形成すると、粒子
の大ぎさが数μであることから、凹部の深さ及び凸部の
高さをそれぞれ数1000人に制御することが困難とな
り、そのために高密度に適さなくなってしまう問題点が
ある。
研摩することができることから、従来技術1のような基
板の材質に起因する問題点は生じないが、Al2O3等
の粒子で基板表面に傷をつけて凹凸を形成すると、粒子
の大ぎさが数μであることから、凹部の深さ及び凸部の
高さをそれぞれ数1000人に制御することが困難とな
り、そのために高密度に適さなくなってしまう問題点が
ある。
本発明は前述した課題を解決するためになされたもので
、本発明の磁気記録媒体は、ガラス基板の主表面上に、
母材中に微粒子を含有した薄膜、磁性層、保護膜及び潤
滑層を順次積層したことを特徴とする磁気記録媒体であ
り、また、ガラス基板の主表面上に、母材中に微粒子を
含有した薄膜、下地層、磁性層、保護膜及び潤滑層を順
次積層したことを特徴とする磁気記録媒体である。
、本発明の磁気記録媒体は、ガラス基板の主表面上に、
母材中に微粒子を含有した薄膜、磁性層、保護膜及び潤
滑層を順次積層したことを特徴とする磁気記録媒体であ
り、また、ガラス基板の主表面上に、母材中に微粒子を
含有した薄膜、下地層、磁性層、保護膜及び潤滑層を順
次積層したことを特徴とする磁気記録媒体である。
また本発明の磁気記録媒体の製造方法は、ガラス基板の
主表面上に微粒子と有懇ケイ素又は有機金属化合物とを
含有した溶液を用いて予備薄膜を形成する工程と、前記
予備]膜を加熱処理し、母材中に前記微粒子を含有した
薄膜を形成する工程と、前記薄膜上に磁性層と保護膜と
潤滑層とを順次積層する工程とを備えた磁気記録媒体の
製造方法であり、またガラス基板の主表面上に微粒子と
有機ケイ素又は有機金属化合物とを含有した溶液を用い
て予備薄膜を形成する工程と、前記予備薄膜を加熱処理
し、母材中に前記微粒子を含有した薄膜を形成すると共
にイオン交換法により前記ガラス基板を化学強化する工
程と、前記薄膜上に磁性層と保護層と潤滑層とを順次積
層する工程とを備えたことを特徴とする磁気記録媒体の
製造方法である。
主表面上に微粒子と有懇ケイ素又は有機金属化合物とを
含有した溶液を用いて予備薄膜を形成する工程と、前記
予備]膜を加熱処理し、母材中に前記微粒子を含有した
薄膜を形成する工程と、前記薄膜上に磁性層と保護膜と
潤滑層とを順次積層する工程とを備えた磁気記録媒体の
製造方法であり、またガラス基板の主表面上に微粒子と
有機ケイ素又は有機金属化合物とを含有した溶液を用い
て予備薄膜を形成する工程と、前記予備薄膜を加熱処理
し、母材中に前記微粒子を含有した薄膜を形成すると共
にイオン交換法により前記ガラス基板を化学強化する工
程と、前記薄膜上に磁性層と保護層と潤滑層とを順次積
層する工程とを備えたことを特徴とする磁気記録媒体の
製造方法である。
本発明の磁気記録媒体によれば、ガラス基板と磁性層と
の間に母材中に微粒子を含有した薄膜を設けていること
から、従来技術1のように微粒子を含有した保護膜と異
なり、その膜厚を実質的に意識する必要はなく、また、
磁気記録媒体表面の凹凸を大きくするために保護膜の膜
厚を厚くする必要はないことから、磁性層と磁気ヘッド
との距離が大きくなることを防止できる。また、本発明
の磁気記録媒体の製造方法によれば、磁性層の成膜前に
、前述した溶液を用いて予備薄膜を形成し加熱処理し薄
膜を形成することから、磁性層の酸化防止となり、また
、加熱処理とともにイオン交換法により基板を化学強化
することから、基板の強度も向上する。また、ガラス基
板そのものにA I 203等の粒子により凹凸を形成
する必要もなくなる。
の間に母材中に微粒子を含有した薄膜を設けていること
から、従来技術1のように微粒子を含有した保護膜と異
なり、その膜厚を実質的に意識する必要はなく、また、
磁気記録媒体表面の凹凸を大きくするために保護膜の膜
厚を厚くする必要はないことから、磁性層と磁気ヘッド
との距離が大きくなることを防止できる。また、本発明
の磁気記録媒体の製造方法によれば、磁性層の成膜前に
、前述した溶液を用いて予備薄膜を形成し加熱処理し薄
膜を形成することから、磁性層の酸化防止となり、また
、加熱処理とともにイオン交換法により基板を化学強化
することから、基板の強度も向上する。また、ガラス基
板そのものにA I 203等の粒子により凹凸を形成
する必要もなくなる。
(実施例1)
本例の磁気記録媒体及びその製造方法を第、1図に基づ
き以下に詳述する。なお、同図は部分断面図である。
き以下に詳述する。なお、同図は部分断面図である。
先ず、対向する両生表面を精密研摩した、ソーダライム
ガラスからなる、外径130#φ、中心の穴径40mφ
、厚さ1.9姻の円板状のガラス基板1を用意する。次
に、このガラス基板1を、有機金属化合物であるトリエ
トキシアルミニウムと水とメタノールと酢酸と平均粒径
が100人〜200人のアルミナからなる微粒子とを重
量比で1:2:100: 0.01 : 0.0
001の割合で混合した溶液中にガラス基板1を立てて
浸漬(約1分間)する。
ガラスからなる、外径130#φ、中心の穴径40mφ
、厚さ1.9姻の円板状のガラス基板1を用意する。次
に、このガラス基板1を、有機金属化合物であるトリエ
トキシアルミニウムと水とメタノールと酢酸と平均粒径
が100人〜200人のアルミナからなる微粒子とを重
量比で1:2:100: 0.01 : 0.0
001の割合で混合した溶液中にガラス基板1を立てて
浸漬(約1分間)する。
次に、ガラス基板1を徐々に前述した溶液から引き十げ
て(約20cm1分)取り出し、アルミナ粒子を含有す
る有機アルミニウム化合物からなる予備云5膜をガラス
基板1の両生表面に塗布し、約300℃の空気中で約6
0分間加熱処理し、表面に凹凸を有する、アルミニウム
酸化物からなる母材中にアルミナ粒子21を含有した薄
膜2(膜厚約100〜300人)を形成する。なお、同
図において、λ9膜2は一方の主表面のみに図示し、も
う一方は省略する。なお、後述する下地層3、磁性層4
、保護膜5及び潤滑層6も同様である。次に、薄膜2を
積層したガラス基板1を直流マグネトロンスパッタ装置
に配置し、Orツタ−ットを用い、前述した装置内に導
入したArガスの圧力20mTorr、直流電力1kW
の条件で、直流マグネトロンスパッタ法により、厚さ約
2000人のCrからなる不地層3を薄膜2上に積層す
る。次に、同様の方法で、C0NiCrからなるターゲ
ラ1〜を用いて、厚さ約700人のCON i Crか
らなる磁性層4を下地層3上に積層し、Cからなるター
ゲットを用いて、厚さ約300人のCからなる保護層5
を磁性層4上に積層する。次に、保護膜5まで積層した
ガラス基板1を直流マグネトロンスパッタリング装置か
ら取り出し、スピンコード法によりフロロカーボン系か
らなる潤滑剤(フッ素化オイル、例えばHONTEDI
SON社製の7オンプリンA M 2001 )を保護
膜5上に塗布し、潤滑層6(膜厚約30人)を形反し、
磁気記録媒体7を製造する。
て(約20cm1分)取り出し、アルミナ粒子を含有す
る有機アルミニウム化合物からなる予備云5膜をガラス
基板1の両生表面に塗布し、約300℃の空気中で約6
0分間加熱処理し、表面に凹凸を有する、アルミニウム
酸化物からなる母材中にアルミナ粒子21を含有した薄
膜2(膜厚約100〜300人)を形成する。なお、同
図において、λ9膜2は一方の主表面のみに図示し、も
う一方は省略する。なお、後述する下地層3、磁性層4
、保護膜5及び潤滑層6も同様である。次に、薄膜2を
積層したガラス基板1を直流マグネトロンスパッタ装置
に配置し、Orツタ−ットを用い、前述した装置内に導
入したArガスの圧力20mTorr、直流電力1kW
の条件で、直流マグネトロンスパッタ法により、厚さ約
2000人のCrからなる不地層3を薄膜2上に積層す
る。次に、同様の方法で、C0NiCrからなるターゲ
ラ1〜を用いて、厚さ約700人のCON i Crか
らなる磁性層4を下地層3上に積層し、Cからなるター
ゲットを用いて、厚さ約300人のCからなる保護層5
を磁性層4上に積層する。次に、保護膜5まで積層した
ガラス基板1を直流マグネトロンスパッタリング装置か
ら取り出し、スピンコード法によりフロロカーボン系か
らなる潤滑剤(フッ素化オイル、例えばHONTEDI
SON社製の7オンプリンA M 2001 )を保護
膜5上に塗布し、潤滑層6(膜厚約30人)を形反し、
磁気記録媒体7を製造する。
本例の磁気記録媒体7は、第1図に示すように薄膜2の
表面の凹凸が、下地層3、磁性層4、保護膜5及び潤滑
層6の各表面に影響を与えることから、それぞれの層(
膜)表面に凹凸が形成される。したがって従来抜術1の
磁気記録媒体のように保護膜中には微粒子を混入させて
いない。
表面の凹凸が、下地層3、磁性層4、保護膜5及び潤滑
層6の各表面に影響を与えることから、それぞれの層(
膜)表面に凹凸が形成される。したがって従来抜術1の
磁気記録媒体のように保護膜中には微粒子を混入させて
いない。
本例の磁気記録媒体7の品持性を以下に示す。
なお、C8S耐久性は、A1203−T i C焼結体
をスライダ一部にもつ磁気ヘッドを15gの荷重で磁気
記録媒体7に押圧し測定したものである。
をスライダ一部にもつ磁気ヘッドを15gの荷重で磁気
記録媒体7に押圧し測定したものである。
また、摩擦係数は、C8S耐久性で用いたものと同様の
磁気ヘッドで測定したものである。
磁気ヘッドで測定したものである。
ミッシングパルス:0個
エクストラパル220個
ポジティブモデュレーション:O周
ネガティブモデュレーション二〇個
欠陥トラック二〇個
C8S耐久性: 20000回以上
初期摩擦係数二0.2
C8810000回後の摩擦係数二04回転強度: 2
7000rl)m 以上のとおり、本例の磁気記録媒体7によれば簿膜2の
凹凸により潤滑層6の表面も凹凸となることから、C8
S耐久性、摩擦係数が良好な値となり、またガラス基板
等により他の特性も良好な値となった。
7000rl)m 以上のとおり、本例の磁気記録媒体7によれば簿膜2の
凹凸により潤滑層6の表面も凹凸となることから、C8
S耐久性、摩擦係数が良好な値となり、またガラス基板
等により他の特性も良好な値となった。
(実施例2)
本例の磁気記録媒体及びその製造方法を第2図に基づき
詳述する。なお同図も部分断面図であり、積層される層
く膜)も前記実施例と同様にガラス基板の一方の主表面
のみに示す。
詳述する。なお同図も部分断面図であり、積層される層
く膜)も前記実施例と同様にガラス基板の一方の主表面
のみに示す。
先ず、前記実施例と同様のガラス基板10を用意し、有
機ケイ素であるテトラエトキシシランと水とイソプロピ
ルアルコールと酢酸と平均粒径が約100〜200人の
シリカからなる微粒子とを重量比1 : 2 :50:
0.01 : 0.001の割合で混合した溶
液を用いてスピンコード法によりガラス基板10の両生
表面に塗布し、シリカ粒子を含む有機ケイ素化合物から
なる予備薄膜を形成する。次に、この薄膜が塗布された
ガラス基板10を約300℃の温度で30分間大気中で
予備加熱し、引き続き約400℃の硝酸カリウム溶液中
に8時間浸漬し、ソーダライムガラスからなるガラス基
板10をイオン交換して化学強化を行う。この予備加熱
から化学強化までの工程において、前述した薄膜は、ケ
イ素酸化物からなる母材中にシリカ粒子111を含有し
た薄膜11(膜厚約100人〜400人)となる。次に
、前記実施例と同、様の直流マグネトロンスパッタ法に
より、CoN i PtをターゲットとしてCoN i
Ptからなる磁性層12(膜厚約700人)を、Cr
をターゲットとしてOrからなる中間層13(膜厚約1
00人)を順次薄膜11上に積層する。
機ケイ素であるテトラエトキシシランと水とイソプロピ
ルアルコールと酢酸と平均粒径が約100〜200人の
シリカからなる微粒子とを重量比1 : 2 :50:
0.01 : 0.001の割合で混合した溶
液を用いてスピンコード法によりガラス基板10の両生
表面に塗布し、シリカ粒子を含む有機ケイ素化合物から
なる予備薄膜を形成する。次に、この薄膜が塗布された
ガラス基板10を約300℃の温度で30分間大気中で
予備加熱し、引き続き約400℃の硝酸カリウム溶液中
に8時間浸漬し、ソーダライムガラスからなるガラス基
板10をイオン交換して化学強化を行う。この予備加熱
から化学強化までの工程において、前述した薄膜は、ケ
イ素酸化物からなる母材中にシリカ粒子111を含有し
た薄膜11(膜厚約100人〜400人)となる。次に
、前記実施例と同、様の直流マグネトロンスパッタ法に
より、CoN i PtをターゲットとしてCoN i
Ptからなる磁性層12(膜厚約700人)を、Cr
をターゲットとしてOrからなる中間層13(膜厚約1
00人)を順次薄膜11上に積層する。
次に、Arガス20mTOr r、 RF電力1kWで
、SiO2からなるターゲットを用いて、高周波マグネ
トロンスパッタ法により、厚さ約200人の5i02か
らなる保護膜14を中間層13上に積層する。次に、ス
ピンコード法により、例えばデュポン社製のKRYTO
X157FSIIからなるフッ素化オイルを保護膜14
上に塗布し、厚さ30人の潤滑層15を積層し、磁気記
録媒体16を製造する。
、SiO2からなるターゲットを用いて、高周波マグネ
トロンスパッタ法により、厚さ約200人の5i02か
らなる保護膜14を中間層13上に積層する。次に、ス
ピンコード法により、例えばデュポン社製のKRYTO
X157FSIIからなるフッ素化オイルを保護膜14
上に塗布し、厚さ30人の潤滑層15を積層し、磁気記
録媒体16を製造する。
本例の磁気記録媒体16も前記実施例と同様に保護膜1
4中に微粒子を混入させなくても、磁気記録媒体16の
表面には凹凸が形成される。
4中に微粒子を混入させなくても、磁気記録媒体16の
表面には凹凸が形成される。
本例の磁気記録媒体16の開時性を以下に示す。
なお、C8S耐久性及びWj擦係数の測定方法は前記実
施例と同様である。
施例と同様である。
ミッシングパルス二〇個
エクストラパルス二〇個
ポジティブモデュレーション二〇個
ネガティブモデュレーション二〇個
欠陥トラック二〇個
C8S耐久性: 20000回以上
初m摩擦係数:0.2
C8810000回後ノe、擦係数二0.3回転強度:
35000rpm 以上のとおり、本例の磁気記録媒体16によれば、C8
S耐久性や摩擦係数のみならず他の特性も良好な値とな
った。また、化学強化を施こしていることから、回転強
度は前記実施例の磁気記録媒体7よりも向上している。
35000rpm 以上のとおり、本例の磁気記録媒体16によれば、C8
S耐久性や摩擦係数のみならず他の特性も良好な値とな
った。また、化学強化を施こしていることから、回転強
度は前記実施例の磁気記録媒体7よりも向上している。
さらに磁性層13上にCrからなる中間層13を積層し
ていることから、磁性層12の耐湿性が向上する。
ていることから、磁性層12の耐湿性が向上する。
本発明は前記実施例に限らず以下のものであってもよい
。先ず、有機金属化合物としては、トリエトキシアルミ
ニウム以外にTi、Sn、Ta。
。先ず、有機金属化合物としては、トリエトキシアルミ
ニウム以外にTi、Sn、Ta。
W、Cr、Zn、Ce、Go、Mg等のメトキシド、エ
トキシド等のアルコキシドであってもよく、また微粒子
もシリカやアルミナ以外のSi3N4、SiC等でもよ
く、またこれらの混合物であってもよい。ただし、シリ
カ、アルミナ又はシリカとアルミナとの混合物の方が入
手しやすく安価であることから製造上非常に利点がある
。また、この微粒子の粒径は100〜400人に限らず
、1000人程度以下であれば、磁気ヘッドの浮上安定
性に影響を与えないことから、実用上問題はない。また
、薄膜の母材もケイ素酸化物やアルミニウム酸化物に限
らず、前述したアルコキシド中の金属酸化物からなるも
のであってもよく、この薄膜の膜厚も100〜400人
に限らず実用上問題のない程度まで厚くしてもよい。ま
た、有機ケイ素や有様金属化合物を含ませる溶液として
、メタノール、イソプロピルアルコールや酢酸以外に、
n−ブタノール等の他のアルコールや、塩酸等の伯の酸
であってもよく、また界面活性剤を含ませてもよい。ま
た、この薄膜の塗布として、浸漬法やスピンコード法以
外にスプレー法であってもよい。また、ガラス基板とし
ては、ソーダライムガラス以外に、アルミノシリケート
ガラス、アルくノボロシリケートガラス、石英ガラス等
の他のガラスであってもよい。ただし、化学強化すると
きはソーダライムガラスのようにliイオン又はNaイ
オンを含有したガラスでなければならない。
トキシド等のアルコキシドであってもよく、また微粒子
もシリカやアルミナ以外のSi3N4、SiC等でもよ
く、またこれらの混合物であってもよい。ただし、シリ
カ、アルミナ又はシリカとアルミナとの混合物の方が入
手しやすく安価であることから製造上非常に利点がある
。また、この微粒子の粒径は100〜400人に限らず
、1000人程度以下であれば、磁気ヘッドの浮上安定
性に影響を与えないことから、実用上問題はない。また
、薄膜の母材もケイ素酸化物やアルミニウム酸化物に限
らず、前述したアルコキシド中の金属酸化物からなるも
のであってもよく、この薄膜の膜厚も100〜400人
に限らず実用上問題のない程度まで厚くしてもよい。ま
た、有機ケイ素や有様金属化合物を含ませる溶液として
、メタノール、イソプロピルアルコールや酢酸以外に、
n−ブタノール等の他のアルコールや、塩酸等の伯の酸
であってもよく、また界面活性剤を含ませてもよい。ま
た、この薄膜の塗布として、浸漬法やスピンコード法以
外にスプレー法であってもよい。また、ガラス基板とし
ては、ソーダライムガラス以外に、アルミノシリケート
ガラス、アルくノボロシリケートガラス、石英ガラス等
の他のガラスであってもよい。ただし、化学強化すると
きはソーダライムガラスのようにliイオン又はNaイ
オンを含有したガラスでなければならない。
また、下地層、磁性層、保護膜、潤滑層も前記実施例に
限らずそれぞれ、W等の下地層、CoN i 、CON
i CrPt等の磁性層、3i3N4、Al2O3等
の保護膜及びステアリン酸等の固体潤滑層であってもよ
い。
限らずそれぞれ、W等の下地層、CoN i 、CON
i CrPt等の磁性層、3i3N4、Al2O3等
の保護膜及びステアリン酸等の固体潤滑層であってもよ
い。
さらに、微粒子を含有したa膜及び磁性層答をガラス基
板の一方の主表面のみにv4層してもよい。
板の一方の主表面のみにv4層してもよい。
本発明は、以上説明したように構成されているので、以
下のような効果を奏する。
下のような効果を奏する。
ガラス基板と磁性層との間に母材中に微粒子を含有した
薄膜を設けることにより、その薄膜の膜厚を厳密に制御
しなくともよくなり、また厚くなっても磁性層の下であ
るので磁気記録媒体の特性には影響を与えないことから
、製造が非常に容易になるのみならず、薄膜塗布方法も
浸漬法等種々の方法を用いることができる。
薄膜を設けることにより、その薄膜の膜厚を厳密に制御
しなくともよくなり、また厚くなっても磁性層の下であ
るので磁気記録媒体の特性には影響を与えないことから
、製造が非常に容易になるのみならず、薄膜塗布方法も
浸漬法等種々の方法を用いることができる。
そしてガラス基板と磁性層との間に下地層も設けること
により磁気特性が向上する。
により磁気特性が向上する。
また、磁性層を形成する前に、ガラス基板の主表面上に
微粒子と有機ケイ素又は有機金属化合物とを含有した溶
液を用いて予備薄膜を形成し、この薄膜を加熱処理する
ことから、磁性層を酸化させることがなく良好な磁気特
性が得られる。
微粒子と有機ケイ素又は有機金属化合物とを含有した溶
液を用いて予備薄膜を形成し、この薄膜を加熱処理する
ことから、磁性層を酸化させることがなく良好な磁気特
性が得られる。
また、前述した予備薄膜の加熱処理と共にイオン交換法
によりガラス基板の化学強化もすることから、従来技術
1で述べた磁気記録媒体において、基板をガラス基板と
し、そのガラス基板を化学強化するときよりも製造を簡
素にすることができる。
によりガラス基板の化学強化もすることから、従来技術
1で述べた磁気記録媒体において、基板をガラス基板と
し、そのガラス基板を化学強化するときよりも製造を簡
素にすることができる。
すなわち、従来技術1の磁気記録媒体は、ガラス基板上
に磁性層と保護B’A (微粒子を含有した薄膜)とを
順次積層したものであることから、磁性層が妨害して、
保護膜の加熱処理と共にガラス基板の強化はできないが
、−力木発明によれば、予備λり膜形成後直ちにイオン
交換をするので、薄膜の加熱処理と共にガラス基板の化
学強化もできる。
に磁性層と保護B’A (微粒子を含有した薄膜)とを
順次積層したものであることから、磁性層が妨害して、
保護膜の加熱処理と共にガラス基板の強化はできないが
、−力木発明によれば、予備λり膜形成後直ちにイオン
交換をするので、薄膜の加熱処理と共にガラス基板の化
学強化もできる。
第1図は本発明の一実施例を示す部分断面図であり、第
2図は本発明の他の実m例を示す部分1方面図である。 1.10・・・ガラス基板、2,11・・・微粒子を含
有した薄膜、3・・・下地層、4,12・・・磁性層、
5,14・・・保護膜、6.15・・・潤滑層、7,1
6・・・磁気記録媒体、21、 111・・・微粒子。
2図は本発明の他の実m例を示す部分1方面図である。 1.10・・・ガラス基板、2,11・・・微粒子を含
有した薄膜、3・・・下地層、4,12・・・磁性層、
5,14・・・保護膜、6.15・・・潤滑層、7,1
6・・・磁気記録媒体、21、 111・・・微粒子。
Claims (4)
- (1)ガラス基板の主表面上に、母材中に微粒子を含有
した薄膜、磁性層、保護膜及び潤滑層を順次積層したこ
とを特徴とする磁気記録媒体。 - (2)ガラス基板の主表面上に、母材中に微粒子を含有
した薄膜、下地層、磁性層、保護膜及び潤滑層を順次積
層したことを特徴とする磁気記録媒体。 - (3)ガラス基板の主表面上に微粒子と有機ケイ素又は
有機金属化合物とを含有した溶液を用いて予備薄膜を形
成する工程と、前記予備薄膜を加熱処理し、母材中に前
記微粒子を含有した薄膜を形成する工程と、前記薄膜上
に磁性層と保護膜と潤滑層とを順次積層する工程とを備
えた磁気記録媒体の製造方法。 - (4)ガラス基板の主表面上に微粒子と有機ケイ素又は
有機金属化合物とを含有した溶液を用いて予備薄膜を形
成する工程と、前記予備薄膜を加熱処理し、母材中に前
記微粒子を含有した薄膜を形成すると共にイオン交換法
により前記ガラス基板を化学強化する工程と、前記薄膜
上に磁性層と保護層と潤滑層とを順次積層する工程とを
備えたことを特徴とする磁気記録媒体の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63018699A JP2741380B2 (ja) | 1988-01-29 | 1988-01-29 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63018699A JP2741380B2 (ja) | 1988-01-29 | 1988-01-29 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18174997A Division JP2770227B2 (ja) | 1997-06-23 | 1997-06-23 | 磁気記録媒体とその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01194128A true JPH01194128A (ja) | 1989-08-04 |
JP2741380B2 JP2741380B2 (ja) | 1998-04-15 |
Family
ID=11978880
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63018699A Expired - Fee Related JP2741380B2 (ja) | 1988-01-29 | 1988-01-29 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2741380B2 (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5694521A (en) * | 1979-12-28 | 1981-07-31 | Fujitsu Ltd | Magnetic disc |
JPS6128302A (ja) * | 1984-07-17 | 1986-02-08 | 小橋工業株式会社 | 正逆回転用耕耘爪 |
-
1988
- 1988-01-29 JP JP63018699A patent/JP2741380B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5694521A (en) * | 1979-12-28 | 1981-07-31 | Fujitsu Ltd | Magnetic disc |
JPS6128302A (ja) * | 1984-07-17 | 1986-02-08 | 小橋工業株式会社 | 正逆回転用耕耘爪 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2741380B2 (ja) | 1998-04-15 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |