JPH01180411A - 表面プロフィール測定方法 - Google Patents

表面プロフィール測定方法

Info

Publication number
JPH01180411A
JPH01180411A JP63005065A JP506588A JPH01180411A JP H01180411 A JPH01180411 A JP H01180411A JP 63005065 A JP63005065 A JP 63005065A JP 506588 A JP506588 A JP 506588A JP H01180411 A JPH01180411 A JP H01180411A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
distance
measurement
equations
amount
matrix
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63005065A
Other languages
English (en)
Inventor
Utaro Taira
卯太郎 平
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Steel Corp
Original Assignee
Sumitomo Metal Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Metal Industries Ltd filed Critical Sumitomo Metal Industries Ltd
Priority to JP63005065A priority Critical patent/JPH01180411A/ja
Publication of JPH01180411A publication Critical patent/JPH01180411A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、等間隔に配した3個以上の距離センサを圧延
ロール等の被測定物の表面に沿わせるようにして移動さ
せ、該距離センサがその配置間隔分移動する都度の距離
測定値に基づき被測定物の表面プロフィールを測定する
方法に関する。
〔従来の技術〕
圧延ロールの表面(周面)の摩耗が進行すると、その表
面プロフィールが悪化し、被圧延材の品質が劣化するの
で、該圧延ロールの表面プロフィールを定期的に計測す
る必要がある。
そこで本発明者は、等間隔に配置した3個以上の距離セ
ンサを被測定物(圧延ロール)に沿わせるように、間隔
分ずつ移動させながら被測定物までの距離を測定し、こ
の距離測定値及び他の未知数からなる多数の連立−次方
程式を得、これを解くことにより、表面プロフィールを
測定する方法を多数提案した(特願昭59−28128
7号、特願昭60−65931号、特願昭60−230
557号公報等)。
以下、これらの提案のうち、特願昭59−281287
号にて提案された測定方法について説明する。
第1図は5個の距離センサを使用する表面プロフィール
測定方法の実施状態を示す模式的平面図、第2図は第1
図の左側断面図である。
圧延機から取外され、図示しない支持部材により支持さ
れた圧延ロールlの表面からその径方向に適長離隔した
位置には、該圧延ロール1の軸長方向に平行にして1対
のレール2.2を並設しである。レール2.2間には測
定ユニット3の直方体状のセンサ取付台3aを跨設しで
ある。センサ取付台3aの下面中央には該センサ取付台
3aよりも狭幅であって、略同長の長手寸法を有する角
柱状の螺合体3bを固着しである。螺合体3bの中央に
は長手方向にネジ穴3cを穿設してあり、該ネジ穴3c
にはレール2.2間にこれに平行に横架した螺杵4を螺
合させである。螺杵4の一側端部は電動機5の出力軸に
連結してあり、該電動機5の駆動により回転される。螺
杵4が回転すると、これに螺合した螺合体3b、つまり
測定ユニット3は図中白抜矢符で示す測定方向に螺条送
りされることになる。
電動機5にはロークリエンコーダ6を連結してあり、電
動機5の出力軸と一体回転する螺杵4の回転数、換言す
ればこれにより螺条送りされる測定ユニット3の移動量
に応じた数だけのパルスを発し、このパルスを演算装置
lOに与える。
センサ取付台3a上にはレール2.2の延設方向にLだ
けの距離を隔てて5個の距離センサ31.32゜33.
34.35を並設しである。なお、距離センサの数は5
個に限るものではなく、3個以上であればよい。各距離
センサ31,32.33,34.35の圧延ロール1側
には夫々の接触子31a、32a、33a、34a、3
5aが位置している。各接触子31a、 32a、 3
3a、 34a、 35aの高さ位置は圧延ロール1の
軸心の高さ位置と同一に定められている。そして、圧延
ロール1の表面に凹凸が存在する場合でも、接触子31
a、32a、33a、34a。
35a夫々の先端が常時ロール表面に対して所定の接触
圧で摺接するように、センサ取付台3a上に固定された
距離センサ31.32.33.34.35夫々のセンサ
本体31b、32b、33b、34b、35bに弾持さ
れている。距離センサ31.32.33.34.35は
圧延ロール1の表面〜センサ本体31b、32b、33
b、34b、35b−夫々の間の離隔―離を測定し、測
定結果を演算装置lOに入力する。
演算装置10はロータリエンコーダ6からのパルスを計
数することにより、測定ユニット3が距離センサ配置間
距離りだけ移動したことを検出するとiの都度各距離セ
ンサ3t、、i2,33,34;3s出力y7.。
を逐次読込んで蓄積する。そして、この蓄積デー夕に基
づき次に述べるような演算を実行することにより、各距
離センサ31.32.33.34.35の移動中の偏位
量1首振量及び表面プロフィール値を求める。
次に演算装置lOの演算内容について説明する。
今、測定ユニット3が第1測定位置(i=1)から第n
測定位置(i=n)迄移動し、その都度各距離セジサ3
1.32.33.34.35出力を読込んだとすると、
演算装置10は各距離センサ31.32.33.34.
35夫々についてn個、合計5n個の距離測定値)’ 
i+j(i = 1,2−n、j−1,2=n+4)を
得る。演算装置lOはこの5n個の距離測定値Y :+
 j夫々について下記(4)式に示す5n個の連立−次
方程式を得る。
(以下余白) 但し、 d、:第i測定タイミングにおける各距離センサの偏位
量 ki :第i測定タイミングにおける各距離セイサの首
振量 yj :第j測定点における真の距離値。
なお首振量については、第3図に示すように首振の支点
を中央の距離センサ33としており、この結果距離セン
サ32.34の首振量はki、また距離センサ31.3
5の首振量は2に、となる。
次いで前記(4)式において、未知数3Fj、d、。
k、の任意の2つの値を同時に0にする組合せ(但しに
、同士を除く)のうち、これらを同一にOにする点を結
ぶ直線が圧延ロール1の表面に対して成る傾きを有する
ような直線が得られる組合せを選択する。選択された組
合せの2個の未知数をOとし、最小2乗法を用いて前記
(4)式を解き、真のプロフィール値を求める。
(発明が解決しようとする課題) ところが上述した測定方法では、偏位量d、、首振量に
、を未知数として含んだま連立方程式を解くので、未知
数の個数が多く、計算量が多大であってメモリ容量が大
きい計算機を必要とするという問題点があった。
本発明はかかる事情に鑑みてなされたものであり、連立
方程式を解(前に、前処理として(rxr)行列を用い
た線形演算処理を行って、偏位量d、及び首振量に、の
未知数を消去することにより、従来方法に比して未知数
の個数が減少し、メモリ容量が小さい計算機でもプロフ
ィールを測定できるプロフィール測定方法を提供するこ
とを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
本発明に係る表面プロフィール測定方法は、移動方向に
等間隔にてr、 (r≧3)個配した距離センサを、被
測定物の表面に沿わせるようにして移動させ、該距離セ
ンサがその配置間隔分移動する都度の距離測定値を得、
これに基づき被測定物の表面プロフィールを測定する方
法において、r個の内の任意の1個の距離センサの前記
被測定物の表面に接近、離反する方向への偏位量、前記
距離センサに対する他のr−1個の距離センサ夫々の前
記方向への首振量及びこれらの偏位■1首振量がない場
合の真の距離を未知数とし、これらと前記距離測定値と
の関係を表す下記(1)式のr本の方程式からなる連立
方程式を、距離センサのn回の各測定タイミングにてn
組作成し、(r×1)ベクトル1本にて構成され、下記
(2)、 (3)式の条件を満足する(r X r)行
列を用いてこれらのnMLの各連立方程式に対して線形
演算を施し、前記偏位量及び首振量を未知数から消去し
たr−n本の方程式を得、これらのr−n本の方程式に
おける任意の未知数2個を任意の値に設定して、前記r
・n本の方程式を解くことにより表面プロフィールを測
定することを特徴とする。
y:、i  = )’i   di + roikり’
t・ t++   =  y i*+     d  
A  +   Dot    1)kt’I i+i+
roi=yi+r6i  di           
  ””(1))’t+++r−z =3’tar−*
  d!+ (rot−r+2)k+y++i+r−+
 =yi+r−+   d= + (roi−r +1
)kt但し、 )’:+j”第1番目の測定タイミングにおける第j測
定点の距離測定値 d、  :第1番目の測定タイミングにおけの距離セン
サの偏位量 に、  :第、i番目の測定タイミングにおけの距離セ
ンサの首振量 roi  :首振の支点となる距離センサの番号−1y
、  :第j測定点の真の距離値 −mL I  min 2  ”’  min r−t
  mio r ”” 0 ”’(2)r oi mi
n I +(r oi ’ 1)’mi+ 2 + ”
” + min rai+ m in rai+!+・
・・+(ret−r +2)mt、r−+ + (ro
t  r +1)mi、r=0           
      ・・・(3)但し、 mi、、  :第1番目の測定タイミングにおける(r
×r)行列を構成する(r×1)ベクトル 〔作用〕 本発明の表面プロフィール測定方法にあっては、r個の
距離センサにて得られる距離測定値V inj、未知数
である偏位量dl、首振量に!及び真の距離値yjに関
する前記(1)式の如き連立方程式を複数組閣る。次い
でこれらの連立方程式の各組に対して、前記(2)、 
(31の条件を満たす(r X r)行列を用いて線形
演算処理を施す。そうすると未知数である偏位量di及
び首振量に、が消去される。
〔原理〕
以下本発明の原理について説明する。
本発明の表面プロフィール測定方法に用いる距離測定値
を得るための装置構成は従来技術にて説明した第1図及
び第2図に示すものと同一であり、ここでは説明を省略
する。
r (r≧3.第1図ではr=5)個の距離センサがそ
の配置間隔分ずつ1回移動される都度、下記(5)式の
如きr本の連立方程式を得る。
)’:、!  =3’i  −di + roiki3
”:、a−+ =yi、、 −a、 ” Dot−1)
kty肯◆「。+7)’i+r。、−d、      
  −(5)Y:+t*r−t’ = Ft*r−t 
 dt + (rot−r +2)ki)’=+t*r
−+ = 3’i+r−+   di ” (jo!−
r +1)ki(i=1.2・・・n) 但し、 yτ、j :第1番目の測定タイミングにおける第j測
定点の距離測定値 dl  :第1番目の測定タイミングにおける距離セン
サの偏位量 ki  :第1番目の測定タイミングにおける距離セン
サの首振量 r”’at  :首振の支点となる距離センサの番号−
1yj  :第j測定点の真の距離値 つまり、第1番目の測定タイミングにおいて第(rot
+1)番百距離センサを首振りの支点としている。
ところで前記価)式のr本の方程式において、d。
の係数はすべて−1であり、またに!の係数はr 6i
+(roi−1)、(r、=−2)、・・・、1.Q、
−1,・・・+(ret−r +2)+(r o !−
r + l )と順次lずつ規則的に減少している。従
ってこ□のような性質を利゛用して下記(6)、 (?
)式を同時に満たす縦ベクトルにて構成される(r×r
)行列M、を、(5)式を行列表現した式に左から掛け
るという線形演算を下記(8)式のように施すと、(6
1式の条件によりd、が消去され、(7)式の条件によ
りにムが消去される。
m L 1  m A1 z  ”” −m4+ y−
1m L y ”” 0 ”’ (6)r oimi+
1   + (rot   1)mi、2 +・・・+
mi、j。1 + m = + rai 、t+”’+
 Croi  r+2)mt、r−t + (re正r
+1)mi、r=0                
  ・・・(7)但し、 mi、、:第1番目の測定タイミングにおける(r×r
)行列を構成する(r×1)ベクトル (以下余白) Mム ・Y、=Mi  ・X1 ここで例えばr””5+  ro、=2とする場合にお
ける、各縦ベクトルm五+I + mi、z + mi
、3 + mi+4 +mi、sとこれらによって構成
される(5 X 5)行列Mlの一例を示すと下記(9
)式の如くなる。
なお、i = l w nまでの各測定タイミングにお
いて、(r X r)行列M、は同一のものを用いる必
要はなく、前記(61,(71の条件を満たしておれば
任意の行列M、を設定してよい。例えば下記(9)式に
示す行列M!に替えて、下記αΦ式に示す(5×5)行
列M籠′を用いてもよい。
以上の如く行列M、による線形演算を行うことによりd
、、に、は完全に消去され、前記(8)式は下記α0式
の如く書き改められる。
(以下余白) 次いでi=l〜nの各測定タイミングに対応して得られ
るQl)式の如きn組、っまりr−n本の方程式を一括
して行列表現すると下記側式の如くなり、続いて未知数
yl、・・・2 y□f、−1の表記の重複を改めると
下記01式の如くなる。
(以下余白) Q−Y=Q−X 但し、 Q: (r−nxr−n)行列Y:  (r−
n×1)行列   X:  (r−nX1)行列Q−Y
−Q−A、  −X’ 但し、   A、+  (r −nx (n+r−1)
)行列   X’ :  ((n+r−1)Xi)行列
次に上記01式において、(n+r−1)個の未知数y
、〜y@5r−1の内の任意の2個の未知数y1゜y、
を選んで、これらの未知数を任意の具体的な値(ys=
y□、’It=VtI’)と指定する。そうすると2個
の未知数Ys、Ytは未知数群から外され、前記(2)
式は下記04)式の如くなる。なお■式において未知数
ベクトルX#はα1式からFm+7zが消去されたもの
であり、X″にかかる係数行列     A8はA、の
第S列及び第を列を消去圧縮したちのであり、(y□+
3’t+)”にかかる係数行列A。
はA、の第S列及び第を列を並べたものである。
・・・ao 但し、 A、= (r−n×2)行列 A、:  (r −nx (n+r−3))行列X″:
  ((n+r−3)XI)行列次に上記Q4)式に基
づき未知数ベクトルX″を求める。一般に係数行列Q−
Atは縦長であり、最小2乗法によりX#を求める場合
には下記QT9式の如くなる。
X’= ((Q−Ax)’  −Q−fi−z )−’
・(Q−Ax)!=(At”  ・QT −Q−At 
)−’・At”  ” Q’ところで未知数ベクトルX
″には偏位量d1及び首振量にムが含まれていないので
、d!及びk。
を考慮に入れずに、前記Q4)式においてX#の係数行
列Q−A8に左から((n+r−3)×r−n1行行列
を掛けて正則な正方行列として解くことができる。つま
り前記0嚇式はこの行列Bを用いて下記ae式の如く解
くこともできる。
X’= (B−Q−At 1−’・B−Q−Y=(B−
Q−A21−1−B−Q−Y この00式の如き解法にあっては最小2乗法を用いるこ
とな(未知数を求めているので解法の自由度が拡がる。
以上詳述した如く、従来の測定方法では未知数にd、、
に、を含んだまま連立方程式を解いたが、本発明の測定
方法では得られた連立方程式から未知数d、、に、を消
去した後、連立方程式を解くこととなり、従来では(3
n+r−3)個あった未知数の個数を本発明では(n+
r−3)個まで低減できる。この結果、本発明ではメモ
リ容量が小さな計算機でも計算が可能となり、また計算
時間の短縮化を図ることができる。
また、未知数d&及びに、を消去するために用いる行列
M、は1種類に限るものではなく、前述の(6)、(7
)の条件を満たす場合には自由に設定でき、解法の自由
度を拡げることができる。
〔実施例〕
本発明の実施例を第4図に示す模擬表面プロフィールを
用いて表面プロフィール値を測定した場合について説明
する。この実施例は距離センサを5個(r=5)使用し
、測定点として7点を選定したものであり、測定タイミ
ング数は3回(n −3)である、なお、模擬表面プロ
フィールの形状は第1.3.6.7測定点■、■、■、
■の凹凸が同一であり、これに対して第2測定点■が1
鶴、また第4,5測定点■、■が2fi突出した形状と
する。 r”5.n=3であるので距離測定値として1
5個のデータが得られる。このデータを下記第1表に示
す。
(以下余白) 第   1   表 i=1.2.3の各測定タイミングにおける行列M!、
つまり未知数d!及びに、を消去するための(5X5)
行列M、として下記顛式に示すものを用いる。
・・・αn 次に任意の値に指定する未知数7m+7tとしてはy、
としてylを、またytとしてy?を選択し、その任意
の値をy□=Vr+”On  3’t+”)’t+−〇
と指定すると、前記α旬式は具体的には下記0−式とな
る。
(以下余白) 次いでこの01式を最小2乗法を用いて解くと、前記Q
四式は具体的には下記01式の如くなり、未知数Yt−
Yhの値が求められる。
(以下余白) X’= (Am”  ・Q”  ・Q−Ai k−’・
Ax’  ・Q”  ・Q−Y第5図はこの測定結果を
図示したグラフであり、横軸は測定点の位置を示し、縦
軸は基準線からの凹凸量を示している。第5図から理解
される如(本実施例では被測定物の表面プロフィールが
精度よく再現されている。
また本実施例において、(5X 5)行列M1゜M! 
、M3として下記C!呻弐に示す如き行列を用いた場合
における未知数X#を算出すると下記(21)式の如く
なり、この場合にあっても高精度に表面プロフィールを
測定することができる。
・・・Q等 (以下余白) 〔効果〕  − 以上詳述した如く本発明の表面プロフィール測定方法で
は、得られた連立方程式に線形演算を施して未知数であ
る偏位量及び首振量を消去した後この連立方程式を□解
くので、未知数の個数を低減でき、この結果メモリ容量
が小さい計算機においても測定可能であり、しかも計算
時間の短縮化を図ることもできる。  。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法及び従来方法の実施状態を示す模式
的平面図、第2図は第1図の左側断面図、第3図は測定
点、偏位量9首振量を説明するための模式図、第4図は
模擬表面プロフィールを示す模式図、第5図は測定した
プロフィール結果を示すグラフである。 1・・・圧延ロール 3・・・測定ユニッ)  10・
・・演算装置 31 、32.33.34.35・・・
距離センサー 特 許 出願人  住友金属工業株式会
社代理人 弁理士  河  野  登  夫−X4  
口 If 口〉 ′J/、31!1 11.5I!l

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、移動方向に等間隔にてr(r≧3)個配した距離セ
    ンサを、被測定物の表面に沿わせるようにして移動させ
    、該距離センサがその配置間隔分移動する都度の距離測
    定値を得、これに基づき被測定物の表面プロフィールを
    測定する方法において、 r個の内の任意の1個の距離センサの前記被測定物の表
    面に接近、離反する方向への偏位量、前記距離センサに
    対する他のr−1個の距離センサ夫々の前記方向への首
    振量及びこれらの偏位量、首振量がない場合の真の距離
    を未知数とし、これらと前記距離測定値との関係を表す
    下記(1)式のr本の方程式からなる連立方程式を、距
    離センサのn回の各測定タイミングにてn組作成し、(
    r×1)ベクトルr本にて構成され、下記(2)、(3
    )式の条件を満足する(r×r)行列を用いてこれらの
    n組の各連立方程式に対して線形演算を施し、前記偏位
    量及び首振量を未知数から消去したr・n本の方程式を
    得、これらのr・n本の方程式における任意の未知数2
    個を任意の値に設定して、前記r・n本の方程式を解く
    ことにより表面プロフィールを測定することを特徴とす
    る表面プロフィール測定方法。 ▲数式、化学式、表等があります▼・・・(1) 但し、 y^m_i_,_j:第i番目の測定タイミングにおけ
    る第j測定点の距離測定値 d_i:第i番目の測定タイミングにおける距離センサ
    の偏位量 k_i:第i番目の測定タイミングにおける距離センサ
    の首振量 r_o_i:首振の支点となる距離センサの番号−1 y_j:第j測定点の真の距離値 −m_i_,_1−m_i_,_2−・・・−m_i_
    ,_r_−_1−m_i_,_r=0・・・(2) ▲数式、化学式、表等があります▼・・・(3) 但し、 m_i_,_.:第i番目の測定タイミングにおける(
    r×r)行列を構成する(r×1) ベクトル
JP63005065A 1988-01-12 1988-01-12 表面プロフィール測定方法 Pending JPH01180411A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63005065A JPH01180411A (ja) 1988-01-12 1988-01-12 表面プロフィール測定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63005065A JPH01180411A (ja) 1988-01-12 1988-01-12 表面プロフィール測定方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01180411A true JPH01180411A (ja) 1989-07-18

Family

ID=11600987

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63005065A Pending JPH01180411A (ja) 1988-01-12 1988-01-12 表面プロフィール測定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01180411A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002137139A (ja) * 2000-07-31 2002-05-14 Mitsuboshi Belting Ltd 環状ベルト体の移送方法及び移送装置
JP2006071372A (ja) * 2004-08-31 2006-03-16 Sunway Burekkusu:Kk 路面断面プロファイルの測定方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002137139A (ja) * 2000-07-31 2002-05-14 Mitsuboshi Belting Ltd 環状ベルト体の移送方法及び移送装置
JP2006071372A (ja) * 2004-08-31 2006-03-16 Sunway Burekkusu:Kk 路面断面プロファイルの測定方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3492862B1 (en) Device and method for evaluating three-dimensional surface roughness
US7543393B2 (en) Method of calibrating a scanning system
US20050283989A1 (en) Method of inspecting workpieces on a measuring machine
CN104897105B (zh) 直线形状测定方法及直线形状测定装置
JPH07324929A (ja) 座標測定装置を用いて加工物の座標を測定する方法
US6453730B2 (en) Surface texture measuring instrument, surface texture measuring method and stylus radius measuring instrument
US20070113417A1 (en) Method of calibrating a scanning system
JPH0310042B2 (ja)
JPS61275606A (ja) 対象物の特性測定方法及び装置
JP2727067B2 (ja) 形状測定機
JPH01180411A (ja) 表面プロフィール測定方法
WO2006064445A1 (en) Sequential multi-probe method for measurement of the straightness of a straightedge
RU2439487C2 (ru) Устройство и способ бесконтактного измерения кривизны длинномерного объекта
JPS61167810A (ja) 表面プロフイ−ル測定方法及び装置
JPS62162908A (ja) 表面プロフイ−ル測定方法及び装置
JPS58198710A (ja) 自動型検査装置
JPH0579832A (ja) 板材のキヤンバ測定方法
JPS6340804A (ja) キヤンバ計測方法及び装置
JPS6288912A (ja) 表面プロフイ−ル測定方法及び装置
JPH0587562A (ja) 表面粗さ測定装置
JPH0435005B2 (ja)
JPH0556443B2 (ja)
JPH0543254B2 (ja)
JPS5975112A (ja) 産業用ロボツトによる寸法形状測定装置
KR100470035B1 (ko) 선형 가변 저항소자를 이용한 주행식 외경 측정장치 및측정방법과 영점 조정용 블록

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 5

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080711

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 6

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090711

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 7

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100711

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100711

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 8

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110711

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120711

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120711

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 10

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130711

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140711

Year of fee payment: 11