JPH01175768A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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Publication number
JPH01175768A
JPH01175768A JP33456387A JP33456387A JPH01175768A JP H01175768 A JPH01175768 A JP H01175768A JP 33456387 A JP33456387 A JP 33456387A JP 33456387 A JP33456387 A JP 33456387A JP H01175768 A JPH01175768 A JP H01175768A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
region
emitter
conductivity type
base
collector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP33456387A
Other languages
English (en)
Inventor
Akira Yamazaki
晃 山崎
Hideo Kawasaki
川崎 英夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electronics Corp
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Filing date
Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は半導体装置、詳しくは、広い安全動作領域を必
要とする大電流増幅用トランジスタに関するものである
従来の技術 近年、電力用のトランジスタは広い安全動作領域化と大
電流化とが望まれている。
以下、従来のトランジスタについて説明する。
第2図は、従来のトランジスタの断面図である。
従来のトランジスタにおいて、コレクタ領域1にベース
領域2を形成し、そのベース領域2内にエミッタ領域3
を形成し、その後エミッタ電極6、ベース電極5、コレ
クタ電極7を形成する。
なお、絶縁膜9は表面保護用である。
この際、エミッタ領域3の端部とエミッタ電極6を短絡
する開孔部までの距離Aをエミッタ抵抗として使用して
いる。このエミッタ抵抗は、距離Aとエミッタ領域3の
表面濃度を制御することにより、抵抗値を決定すること
ができる。このため、並列にエミッタ領域が形成されて
いる場合、エミッタ抵抗の効果によりトランジスタ全体
が均一に動作し、安全動作領域が拡大される。
第3図も従来のトランジスタの断面図である。
このトランジスタにおいて、コレクタ領域1にベース領
域2を形成し、そのベース領域2内にエミッタ領域3を
形成し、さらにエミッタ領域の開孔窓部とエミッタ電極
6との間に、ポリシリコンによる外付は抵抗8を形成し
ている。絶縁膜9上に形成したポリシリコン8は、同ポ
リシリコンs中の不純物濃度を制御することにより、ま
たポリシリコンの幅と長さと厚みを制御することにより
、抵抗値を決定することができる。このエミッタ抵抗は
、並列にエミッタ領域3が形成されている場合、トラン
ジスタ全体が均一に動作し、安全動作領域が拡大される
発明が解決しようとする問題点 第2図で示すように、抵抗値を大きくするには、距+l
Aを長くする必要があり、エミッタ領域が大きくなって
しまう。このためトランジスタとして有効に働く領域が
少なくなり、大電流領域での電流増幅率が低下し、また
微細化も困難であった。
さらに、第3図に示すように、ポリシリコンによる外付
は抵抗では、微細化は可能であるが、ポリシリコン蒸着
やフォトマスク形成工程などの複雑な工程が増え、歩留
りの低下およびコスト増加の要因になっていた。
問題点を解決するための手段 本発明のトランジスタは、半導体基板上に形成された一
導電型のコレクタ領域とそのコレクタ領域内に形成され
た反対導電型のへ−ス領域とそのへ−ス領域内に形成し
た一導電型のエミッタ領域と、同エミッタ領域内にベー
ス領域と同一導電型の浮遊分離領域とをそなえたもので
ある。
作用 この構造により、エミッタ電流はベース領域と同一導電
型の浮遊分離した領域の下部のエミッタ領域を通って流
れる。この浮遊分離した領域の下部のエミッタ領域はエ
ミッタ領域の表面と比較して濃度が低いために、抵抗値
が高(なり、幅広いエミッタ領域の必要はなく、狭いエ
ミッタ領域幅で容易に抵抗値を大きくすることができる
。このため、従来のトランジスタに比べ、特性のよいト
ランジスタが可能となる。
実施例 本発明の一実施例を第1図にもとづいて説明する。第1
図は本発明の実施例のトランジスタの断面図である。半
導体基板上に形成された一導電型のコレクタ領域1とそ
のコレクタ領域1内に形成された反対導電型のベース領
域2と、そのベース領域内に形成した一導電型のエミッ
タ領域3とを有し、このエミッタ領域3内にベース領域
2と同一導電型の浮遊分離した領域4を形成して、その
領域4の下部のエミッタ領域3をエミッタ抵抗として用
いる。なお、エミッタ電極6、ベース電極5、コレクタ
電極7は通常の形態である。
このエミッタ抵抗の抵抗値は、浮遊分離した領域4の幅
と長さおよび、その領域4の下部のエミッタ領域の不純
物濃度により容易に決定することができる。
この抵抗により、並列に形成されたエミッタ領域を持つ
トランジスタを均一に動作させることができ、このため
広い安全動作領域を確保することができる。
発明の効果 以上のように、本発明のトランジスタによると、エミッ
タ領域内に、ベース領域と同一導電型の浮遊した領域を
形成して、その領域下のエミッタ領域をエミッタ抵抗と
して用いることにより、幅広いエミッタ領域を必要とせ
ずに、エミッタ抵抗を形成できる。また、コスト増加と
なる複雑な工程を必要とせずに、拡散工程だけで、エミ
ッタ抵抗を形成することができる。
この抵抗により、広い安全動作領域が確保でき、その効
果は絶大である。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の実施例トランジスタの断面図を念力
= 第2図および第3図は、各従来例トランジスタの断面図
である。 1・・・・・・コレクタ領域、2・・・・・・ベース領
域、3・・・・・・エミッタ領域、4・・・・・・ベー
ス領域と同一導電型の浮遊分離領域、5・・・・・・ベ
ース電極、6・・・・・・エミッタ電極、7・・・・・
・コレクタ電極、8・・・・・・ポリシリコン膜、9・
・・・・・絶縁膜。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  半導体基板上に形成された一導電型のコレクタ領域と
    そのコレクタ領域内に形成された反対導電型のベース領
    域とそのベース領域内に形成した一導電型のエミッタ領
    域と、上記エミッタ領域内に反対導電型の浮遊分離領域
    とをそなえたことを特徴とした半導体装置。
JP33456387A 1987-12-29 1987-12-29 半導体装置 Pending JPH01175768A (ja)

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JP33456387A JPH01175768A (ja) 1987-12-29 1987-12-29 半導体装置

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JP33456387A JPH01175768A (ja) 1987-12-29 1987-12-29 半導体装置

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JPH01175768A true JPH01175768A (ja) 1989-07-12

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