JPH01170886A - 反射形光電スイッチ - Google Patents

反射形光電スイッチ

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JPH01170886A
JPH01170886A JP62331198A JP33119887A JPH01170886A JP H01170886 A JPH01170886 A JP H01170886A JP 62331198 A JP62331198 A JP 62331198A JP 33119887 A JP33119887 A JP 33119887A JP H01170886 A JPH01170886 A JP H01170886A
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JP
Japan
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light
sum
circuit
detection means
Prior art date
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Pending
Application number
JP62331198A
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English (en)
Inventor
Kazuo Yamaguchi
和夫 山口
Shoichi Ono
省一 小野
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Kodak Digital Product Center Japan Ltd
Original Assignee
Kodak Digital Product Center Japan Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、三角測量方式により物体の存在を検知する反
射形光電スイッチに関す−る1゜(従来の技術) 被検知物体が予め設定された測定エリア内に存在するか
否かを検知する場合、第3図で示すように、三角測量方
式によって検知を(jなうものがある。
第3図において、11は投光器で、投光レンズ12を通
して距離d離れた位置にある被検知物体13に対して直
径1mmPi!度の赤外光ビーム14を投光Jる。16
は受光器で、はぼ同一の特性を有する2つの受光素子1
6^、16Bを並置してなり、前記投光器11から投光
されて被検知物体13により反則した赤外光ビーム14
を、受光レンズ17を介して受光すべくこの受光レンズ
17と共に配設されている。上記受光素子16A 、 
16Bは、それぞれ受光量に対応した大ぎさの電気出力
を生じるもので、被検知物体13が予め設定した測定エ
リアe内に存在するとき、両受光素子16A 、 16
Bには反射した赤外光ビーム14が均等に入射するよう
位置設定されている。
上記構成において、被検知物体13が図示破線で示ず位
置、すなわち、測定エリアeより遠い位置或いは測定エ
リアeに対し横にずれた位置から測定エリアe内に入り
、実線のような位置関係になると、前述のにうにこれに
反則した赤外光ビーム14の光束は2つの受光素子16
八、 16Bに均等に入射する。そこで、この状態を瞬
間的にどらえ、測定エリアe内に被検知物体13が存在
することを検知する必要がある。
従来上記検知は次のように行なっていた。まず、各受光
素子16八、 10Bの発生する微小信号を増幅すると
共に、これらの電気出力AおよびBの加算値(以下、和
と呼ぶ) A + Bと、減算値(以下、差と呼ぶ)A
−Bとをそれぞれ求める。上記和A + Bは第2図に
おける端子C11に、差A−Bは端子C21にそれぞれ
加えられる。そして、和Δ」Bはコンパレータ19によ
って基準電圧VHと比較され、差A−Bはコンパレータ
20によってしきい値Vsと比較される。コンパレータ
19は和A+Bが基準値VH以上であると出力を生じ、
]コンパレータ0は差A−8がしきい値Vs以下になる
と出力を生じる。これらの出力はアンド回路21に入力
され、その出力゛は被検知物体13が測定エリアe内に
存在することの検知信号どして出力される3゜上述した
ような反射形光電スイッチでは、その感知幅(エリア)
を1.5#I#Iに紺持することが望ましい。この値は
光電スイッチの幾何学的、光学的処理能力および電子回
路の処理能ノjから設定される。
ところで、被検知物体13で反則して受光素子16八、
 16Bに入射する赤外光ビーム14の拡散光束は、被
検知物体13の反射部分の傾きや1,1貿によって大ぎ
く変動する。このように入射される反射光束が大きく変
動すると、当然前述した和A十Bおよび差A−Bも変動
する。ここで、上記差へ−Bの変動はそのまま検知エリ
アの変動につながってしまう。すなわち、反射光束の変
動にJ:り例えば受光素子16A 、 16Bの受光量
が増え、差A−Bが大きくなると、本来検知サベき状態
にあっても第2図にd3けるしきい値Vsとの比較によ
り、しきい値Vs以下とは判定されず、コンパレータ2
0は出力を生じなくなってしまい、実質的に検知エリア
がせまくなってしまう。このため、反射光束の光量変化
に対応してその都度しきい値Vsの値を手動で調節しな
(プればならないが、このような調節は実際的には困難
である。また、投光器11による投用光束光量を調節し
たり、或いは被検知物体13の反射部表面に指定された
反則率の反則板を張り付りたすすることも考えられるが
、このようにしても反射部表面の光軸に対する角度の変
動には対処することができない。
(発明が解決しようとする問題点) このように、第2図で示した構成では、反射光束の光量
変動により検知エリアの変動が生じる。
本発明の目的は、反射光束の光量変動が生じても検知エ
リアが変動せず、被検知物体の傾きや材質に影響される
ことなく正確な検知を行なう反射形光電スイッヂを提供
することにある。
〔発明の構成〕
(問題点を解決するだめの手段) 本発明による反射膜光電スイッチは、被検知物体に対し
て光ビームを投光づ゛る投光器と、この投光器から投光
され被検知物体で反射した光ビームを受光すべく配置さ
れた受光器とを有する。この受光器は、それぞれ受光量
に対応した大きさの電気出力を生じる2つの受光素子を
並置してなる。
そして、前記被検知物体が予め定められた測定エリア内
に位@すると前記反射光ビームが前記2つの受光素子に
均等に入力されるように位置設定されている。これら2
つの受光素子に対してはその電気出力の和を求める加算
回路および差を求める減算回路を設【ノる。また、前記
加算回路によって求められた和が設定値以上かを検出ザ
る第1の検出手段および前記減算回路によって求められ
た差が前記用の1/K(Kは設定値)以下かを検出する
第2の検出手段を設ける。さらに、これら第1および第
2の検出手段の検出出力により被検知物体が前記測定エ
リア内にあることを検出する第3の検出手段を設cノで
いる。
(作用) 本発明では、第2の検出手段にお【プる検出基準を、2
つの受光素子の電気出力の差がこれらの和の1/に以下
と定めIにとにより、反射光束の光量変動が生じた場合
、前記差に対する比較値が上記変動に応じて自動的に変
化する。このため反射光束の光量変動に影響されること
なく、一定の検知エリアを保って正確な検知を行なうこ
とができる。
(実施例) 以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明覆る。
第1図におい−C111は前記のように被検知物体に対
して赤外光ビームを投光する投光器、16は同じく前記
のように投光器11から投光され被検知物体で反射した
光ビームを受光づ−る受光器で、この受光器16は、そ
れぞれ受光量に対応した大きさの電気出力を生じる2つ
の受光素子16A 、 16Bを並置してなる。そして
、前記被検知物体が予め定められた測定エリア内に位置
すると前記反射光ビームが前記2つの受光素子16A 
、 16Bに均等に入力されるJ:うに位置設定されて
いる。これら2つの受光素子16A 、 16Bの出力
端はバッハ回路24を介して加算回路25および減算回
路26にそれぞれ接続されている。
上記加算回路25は、演算増幅器27ど抵抗R1゜R2
、Raにより構成されており、それぞれバッハ回路24
を経た受光素子16への電気出力Aと、受光素子16B
電気出力Bとが入力され、これらの和A十Bを端子C1
に出力する。また、減算回路26は、出力反転回路28
および演算増幅器29と抵抗R4、R5、R6により構
成されてJ3す、演算増幅器29にはバッハ回路24を
経た受光素子16Aの電気出力Aと、同じくバッハ回路
24を経てかつ出ツノ反転回路28により極性が反転さ
れた受光水子16Bの電気出力Bとが入力され、これら
の差A−Bが出力さ(する。31は絶対値回路で、2つ
の演算増幅器32.33とダイオードD1.D2 、抵
抗R7゜Re 、R9、Rlo、R11により構成され
Iコもので、前記減算回路26の出力である差△−Bを
入力し、その絶対値1/IBIを端子C2に出力する。
35は第1の検出手段で、コンパレータを用いており、
その(−)側端子には基準電圧V)Iを加える回路が接
続されている。このコンパレータ35の(+)側端子は
端子C1と接続しており、前記用A+8が入力される。
すなわち、第1の検出手段である]ンバレータ35は、
和A 十Bが基準電圧VH以上のときに出力を生じる。
37は第2の検出手段で、]ンパレータを用いており、
このコンパレータ37の([)側端子はしぎい値1/に
・(Δ十B)を生じる分圧回路に接続されている。上記
分圧回路は、端子C1側の電路とアースとの間に接続さ
れた抵抗R12,R13によるもので、端子C1に加わ
っている前記和Δ十Bを分圧し、前記しきい値1/K・
(Δ十B)を得る。また、このコンパレータ37の(−
)側端子は端子C2と接続しており、前記差の絶対値I
 A−B lが入力される。すなわち、第2の検出手段
である]ンパレータ37は前記差の絶対値I A−B 
lがしぎい値1/に・(Δ十B)以下の場合に出力を生
じる。
38は第3の検出手段で、アンド回路を用いており、そ
の一端には前記コンパレータ35の検出出力が、また他
端には前記コンパレータ37の検出用ノJがそれぞれ入
力される。Jなわち、第3の検出手段であるアンド回路
38は、和A+8が予め設定した基準値VH以上で、か
つ差の絶対値]A〜B1がしぎい値1/1<・(A+B
)以下、つまり和A 十Bの1/に以下である揚台に出
ノ] ” 1 ”を生じる。すなわち、被検知物体13
が測定エリアe内に存在していることの検出信号どなる
上記構成において、被検知物体13が第3図で示しだ測
定エリアe内に存在しない場合、受光素子10A 、 
16Bの出力AおよびBは共にOであり、A+B−0、
A−B=Oとなるため第3の検出手段38は検出出力を
生じない。
次に、光ビーム14に対する反射率の良い被検知物体1
3が測定エリアe内に存在する場合を説明する。この場
合、受光素子16A 、 16Bの受光量は多く、これ
らの出力AおよびBも大きな値となる。
このため、和A+Bは大きな値どなり、第1の検出手段
35の設定値(基準値)VH以上どなる。また、差A−
Bも大きくなるが、第2の検出手段37のしきい値は前
記用A 十Bを分圧して1/にとしたものであるため、
受光量が多くなり、前記和A十Bが多くなった分し、き
い値17に・<A+B)も大きくなる。したがって、被
検知物体13が測定エリアeに入っていれば、差の絶対
値1/1−Blは第2の検出手段37のしきい値1/K
・(A −1−B )以下となる。これらの結果、第3
の検出手段38は検出出力“′1″を生じる。
次に、被検知物体13の反04率が悪い場合を説明する
。この場合も被検知物体13が測定エリアe内には入れ
ば2つの受光素子16八、 10Bには光ビ一ム14の
反則光束が均等に入力されるが、これらの出力Aおよび
Bはいずれも小さい。その結果これらの和A 十Bも小
ざいが、第1の検出手段であるコンパレータ35は、こ
の場合の入力値である和A十Bより基準値VHを小さく
設定しておく。寸なわち、基準値VHは反射率が非常に
悪い(例えば5.2%)場合を想定して予め設定してお
く。このように設定しておけば、どのような反射率であ
っても被検知物体13が測定エリアe内に存在すれば、
第1の検出手段35は検出出力を生じる。
また、上述のように、和A + Bが小さいため、第2
の検出手段であるコンパレータ37のしぎい値1/K・
(A+B)も小さな値どなる。したがって、差A −B
が充分に小さくならないと、すなわち、被検知物体13
が測定エリアe内に存在して反射光束が受光素子16A
 、 16Bにほぼ均等に入射されないと、第2の検出
手段37は検出出力を生じない。
なお、反射光束がOの場合もA−B=Oとなるが、この
場合は第1の検出手段35が出力を生じないため、第3
の検出手段38が出力“′1″を生じることはない。
このにうに、被検知物体13からの光ビーム14の反q
・1光束に変動が生じても、第2の検出手段37のしぎ
い値を自動的に変化させるので、光電スイッチとしての
検知エリアが変動することはない。
ここで、上記動作結果を寄る1=めには、第2の検出手
段37のしきい値を決定するKの値が重要であるが、実
験にJ:れば、大ぎくでも6以下である。ずなわら、第
2の検出手段であるコンパレータ37は1/に・(Δ十
B) > l A−B l >0で出力゛1′″を生じ
るにうに設定する。光電スイッチとしての検知−[リア
を縮小する場合は、17に・(A、−1B)を小さくし
てOに近づけ、l A−81−〇を検出り−ることが埋
児lであるが、実験結果によるとK = 5であっIC
0 〔発明の効果〕 以上のように本発明によれば、反則率の相違舌により、
被検知物体からの反04光束に変動が生しても、検知エ
リアが変動することはなく、常に正確な検知動作を行な
う。したがって、従来のように、赤外発光光量の出力調
整や赤外受光回路のオートレベルコントロールなどの回
路部品が不要となり、回路部品を大幅に削減できる。ま
た、検知の領域を変更してもエリアの変動が抑制されて
いるため何ら問題なく良好に作動する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による反射形光電スイッチの一実施例を
示す回路図、第2図は従来例を六ず回路図、第3図は三
角測量方式による検知動作の説明図である、。 11・・投光器、13・・被検知物体、14・・光ビー
ム、16・・受光器、16A 、 16B ・・受光素
子、25・・加算回路、2G・・減算回路、35・・第
1の検出手段、37・・第2の検出手段、38・・第3
の検出手段。 そ お i、−一一一一、

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被検知物体に対して光ビームを投光する投光器と
    、 この投光器から投光され被検知物体で反射した光ビーム
    を受光すべく配置され、それぞれ受光量に対応した大き
    さの電気出力を生じる2つの受光素子を並置してなり、
    前記被検知物体が予め定められた測定エリア内に位置す
    ると前記反射光ビームが前記2つの受光素子に均等に入
    力されるように位置設定された受光器と、 前記2つの受光素子の電気出力の和を求める加算回路お
    よび差を求める減算回路と、 前記加算回路によって求められた和が設定値以上かを検
    出する第1の検出手段と、 前記減算回路によって求められた差が前記和の1/K(
    Kは設定値)以下かを検出する第2の検出手段と、 これら第1および第2の検出手段の検出出力により被検
    知物体が前記測定エリア内にあることを検出する第3の
    検出手段と、 を備えたことを特徴とする反射形光電スイッチ。
JP62331198A 1987-12-26 1987-12-26 反射形光電スイッチ Pending JPH01170886A (ja)

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JP62331198A JPH01170886A (ja) 1987-12-26 1987-12-26 反射形光電スイッチ

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JP62331198A Pending JPH01170886A (ja) 1987-12-26 1987-12-26 反射形光電スイッチ

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6943338B2 (en) * 2001-06-29 2005-09-13 Sick Ag Optoelectronic sensor

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59158029A (ja) * 1983-02-28 1984-09-07 松下電工株式会社 反射型光電スイツチ
JPS6281520A (ja) * 1985-10-04 1987-04-15 Mitsubishi Electric Corp 距離測定装置

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