JPH01162914A - ヒータ・エネルギ・カウンタを用いた温度センサ故障検出装置および方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の背景］ 本発明は一般に温度制御式加熱装置に関するものであり
、更に詳しくはこのような装置に於ける温度センサの故
障を検出するための方法と装置に関するものである。

温度制御式加熱装置の周知の１つのタイプはクックトッ
プ（Ｃｏｏｋ　ｔｏｐ）　、レンジ等の調理装置で使用
される自動表面加熱ユニットである。自動表面加熱ユニ
ットには、表面加熱ユニットによって加熱される器具の
温度を感知する温度センサ、および表面加熱ユニットへ
の電力レベルを感知された器具の温度の関数として制御
する制御器が設けられる。このような表面加熱ユニット
は当業者には周知であり、調理用器具に熱接触するよう
に取付けられたバイメタル素子またはサーミスタ素子の
ような温度感知素子を含むのが普通である。感知された
温度が感知素子に機械的に結合された入力制御つまみま
たはスイッチをユーザが操作して設定した所定のしきい
値温度と比べて感知された温度が低いときは、加熱ユニ
ットが全電力で作動される。温度がしきい値を超えたと
き、加熱ユニットは不作動にされる。電気機械式感知制
御装置をマイクロプロセッサをベースとした制御装置に
置き換えた自動表面加熱ユニット用の電子制御システム
が米国特許箱４，４９３，９８０号に記載されている。

本明細書では米国特許の内容を参考のために引用する。

電気機械式と電子式の両方の自動表面加熱ユニット用温
度感知装置に共通の問題は、センサ回路が故障すると、
通常、表面加熱ユニットが全電力で連続的に動作するか
、或いは完全に動作しなくなることである。この故障に
気かつかないユーザは器具の加熱が過大または過小にな
ることで非常に不便を感することがある。

この問題に対する１つの解決策が米国特許第４゜６３９
．５７８号に開示されている。この米国特許の装置では
、感知された温度が最低動作電力レベルに対する正常な
動作温度よりも低い最低基準温度と周期的に比較され、
また最高動作電力レベルに対する正常な動作温度よりも
高い最高基準温度と同期的に比較される。感知された温
度が、正常な過渡状態に必要な所定の時間よりも長い時
間の間、最低温度よりも低いか、或いは同様に過渡状態
に必要な所定の時間の間、最高温度よりも高い場合には
、センサの故障が検出されて、センサの機能不良を表わ
すユーザ報知信号が発生され、そして機能不良が是正さ
れるまで表面加熱ユニットを標章的な非自動表面加熱ユ
ニットとして使うことができる。この構成によりセンサ
の故障が確実に検出される。しかし、この構成を使用す
る場合には、表面加熱ユニットを制御するようにプログ
ラミングされたマイクロプロセッサに入力するだめのセ
ンサ信号をアナログ形式からディジタル形式に変換する
アナログ・ディジタル（Ａ／Ｄ）変換回路が温度制御の
ために関心のある範囲より著しく大きい動作範囲を有す
ることが必要である。

所望の温度制御範囲に対してより狭く制限された範囲の
Ａ／Ｄ変換器を使って、より少ないコストでより良い温
度制御性能を達成することができる。

しかし正常な動作条件のもとでも器具の実際の温度はか
なり長い時間にわたって制御範囲よりも高くまたは低く
なることがある。したがって、範囲が実際の制御範囲に
限定されたＡ／Ｄ変換器を温度感知のために使用したと
きは、センサの故障を検出するために完全に温度信号に
依存するとしばしば虚偽の検出が生じる。

したがって、温度感知システムの範囲が正常な温度制御
の決定のために使用される最高および最　　　低のしき
い値温度によって限定された制御範囲に本質的に制限さ
れるような制御システムに適合して温度センサの故障を
確実に検出する装置に対する要求がある。

したがって本発明の１つの目的は、温度感知システムの
範囲が正常な温度制御決定のために使用される最高およ
び最低のしきい値温度によって限定される制御範囲に本
質的に制限される温度制御式加熱装置内で使用するため
の改良されたセンサ故障検出装置を提供することである
。

本発明のもう１つの目的は、範囲の狭いＡ／Ｄ変換回路
の使用を可能にする。米国特許第４，６３９．５１号の
故障検出装置に対する改良装置を提供することである。

更にもう１つの目的は、マイクロプロセッサの外部に付
加的な回路を設けることなく上記の改良を提供すること
である。

［発明の要約］ ヒータ手段、ヒータ手段に供給される電力レベルを制御
する制御手段、およびヒータ手段によって加熱された負
荷の温度を感知する温度感知手段をそなえた形式の温度
制御式加熱装置に対して改良された温度センサ故障検出
装置が提供される。

本発明によれば、制御手段はヒータ・エネルギ壷カウン
タ手段、ならびにヒータ・エネルギ・カウンタの計数値
がヒータ手段の温度にほぼ追従するように、ヒータ手段
に印加される電力レベルの関数として定められた速度で
ヒータ・エネルギ・カウンタ手段の増減を制御する手段
を含む。制御手段は更に、温度感知手段とヒータ・エネ
ルギ・カウンタ手段に応答して、ヒータ・エネルギ・カ
ウンタの計数値が所定の基準計数範囲内にあって感知さ
れた温度が相関する所定の基準温度範囲の外側にあると
き、温度感知手段の異常動作状態を検出する手段も含む
。

正常な動作状態では計数値が所定の計数範囲内にあると
きは常に温度が基準温度範囲内にあるように基準計数範
囲と相関基準温度範囲が選択される。したがって、この
条件が満たされない場合は、温度センサの故障が表示さ
れる。

本発明の好ましい形式では、調理用器具を加熱するため
のヒータ手段、ユーザが加熱手段に対する所望の加熱レ
ベルを選択できるようにするためのユーザ入力選択手段
、ヒータ手段によって加熱される器具の温度を感知する
ように動作する温度感知手段、ならびにユーザ入力選択
手段と温度感知手段に応答して、正常状態ではユーザが
選択した加熱レベルと感知された器具の温度の関数とし
て電力レベルを加熱手段に印加するように動作する制御
手段をそなえる形式の調理装置に対して改良された温度
センサ故障検出装置が提供される。

調理装置はまた、ヒータ手段の温度に近似的に追従する
ためのヒータ・エネルギ・カウンタ手段、ならびにヒー
タ・エネルギ・カウンタの計数値がヒータ動作の温度」
二昇段階、定常状態段階および冷却段階の際にヒータ手
段の温度にほぼ比例するような速度でヒータ・エネルギ
・カウンタを選択的に増減させるカウンタ制御手段も含
んでいる。

本発明のこの形式によれば、制御手段は、ヒータ・エネ
ルギ・カウンタ手段と温度感知手段に応答して、カウン
タの計数値が所定の基準計数範囲内にあって感知された
器具の温度が相関する所定の温度範囲の外側にあるとき
に温度感知手段の異常動作状態を検出する手段、ならび
にこのようなセンサ手段の異常動作状態の検出時にそれ
をユーザに知らせるためのユーザ報知信号を発生する手
段を含む。このような故障を検出したとき、制御手段は
ヒータ手段を不動作とする。

温度感知手段は好ましくはサーミスタで構成され、故障
検出装置は開路故障に対応する第１の異常状態と短絡故
障に対応する第２の異常状態とを区別する。ヒータ・エ
ネルギ・カウンタの計数値が高診断基準計数値より小さ
く、感知された温度が相関する所定の最高診断基準温度
より高いとき、第１の異常状態が検出される。ヒータ・
エネルギ・カウンタの計数値が所定の低診断基準値より
大きく、感知された器具の温度が相関する所定の最低基
準診断温度より低いとき第２の異常状態が検出される。

本発明の新規性のある特徴は特許請求の範囲に既述され
ているが、発明の構成と内容は図面を参照した以下の詳
細な説明により一層良く理解し評価することができよう
。

［実施例の説明］ 第１図は本発明を実施した制御装置を含む電気レンジ１
０を示す。レンジ１０はほぼ水平な支持面２０により支
持される４個の通常の電気的な表面加熱ユニット１２，
１４．１６および１８を含んでいる。これらのユニット
の各々は加熱のためにその上に載置されるフライパン、
シチューなべ。

やかん等の調理用器具を支持するように構成されている
。表面加熱ユニット１２は自動表面加熱ユニットとして
動作するように構成されている。すなわち、ユニット１
２の動作はその上の加熱している器具の感知された温度
とユーザの選択した熱設定値との関数として自動的に制
御される。表面加熱ユニット１４．１６および１８はユ
ーザの選択した電力設定値に対応する所定の出力レベル
を供給するようにデユーティサイクル制御されるように
構成される。普通に行なわれているように実施例のレン
ジでは自動表面加熱ユニットが１個だけ設けであるが、
複数の自動表面加熱ユニットを設けてもよいことはもち
ろんである。

手動操作可能な回転制御つまみ２２，２４．２６および
２８が制御盤３０に取付けられている。

制御つまみ２２および２４はそれぞれ第２Ａ図および第
２Ｂ図に更に詳しく示されている。制御つまみ２２によ
って、ユーザはフライ（ＦＲＹ）料理モードにおいては
種々の調理温度に対応する複数の熱設定値を選択するこ
とができ、また−船釣な煮物（ＢＯＩＬ）モードにおい
ては暖め（ＷＭ）　、シマーすなわちぐつぐつ煮（ＳＭ
）　、ならびに低（Ｌｏ）、中（Ｍｅｄ　）および高（
ｌｌｉ）の実際の煮物（ボイル）モードを選択すること
ができる。煮物モードでは、ユーザはこれらのモードの
中の複数の熱設定値から選択してもよい。制御盤３０の
モード選択スイイッチ３２によって、ユーザは加熱ユニ
ット１２に対してフライ・モードまたは一般的な煮物モ
ードを選択することができる。つまみ２４ならびにつま
み２４と同一のつまみ２６および２８によって、ユーザ
はそれぞれ加熱ユニット１４゜１６および１８について
電力レベル１−１５のうち所望の１つのレベルを選択す
ることができる。

本実施例の自動表面加熱ユニットと一緒に用いられる器
具温度感知装置について第３Ａ図を参照して説明する。

表面加熱ユニット１２の加熱素子１２Ａがスパイダ（ｓ
ｐｉｄｅｒ）アーム３３上に支持されている。全体を３
４で示した温度センサ装置がハウジング３６を含み、こ
のハウジング３６は細長い、はぼＬ字形の管状アーム３
８の一端に取付けられている。

低熱質量金属の円筒形シールド４０が放射状のスパイダ
・アーム３３を取付けるための芯部材を形成し、また加
熱素子１２Ａから放射される熱からセンサのハウジング
３６を遮蔽する役目も果す。

アーム３８はシールド４０中のスロット４２を通って伸
び、かつスロットの上端に接触してハウジング３６を加
熱索子１２Ａより僅か上方に突出した正しい位置に保持
し、これにより、調理用器具を加熱ユニット１２の上に
のせたときにハウジング３６の最上部表面３７が調理用
器具の底部に弾性接触するようにする。ハウジング３６
の中に含まれるセンサの感温素子（図示しない）は抵抗
の温度特性が第３Ｂ図に示すような通常の負温度係数の
サーミスタである。このセンサ装置の構造の詳細は本発
明のどの部分も形成しないので、本発明の理解に必要な
程度に限って説明する。このような装置は米国特許節４
，２４１．２８９号に更に詳細に述べられている。詳し
くはこの米国特許を参照されたい。

レンジ１０の加熱ユニット１２−Ｉ　Ｆ３に対する制御
装置の機能ブロック図が第４図に示されている。加熱ユ
ニット１２−１８は端子Ｌ１とＬ２：；与えられる１２
０ボルトまたは２４０ボルトの標準の６０ヘルツの交流
電力信号によりて作動される。加熱ユニット１２−１８
に対する電力は加熱ユニット１２−１８の各々について
異なるスイッチング素子を有するスイッチ手段４４によ
って制御される。スイッチ手段４４のスイッチング素子
はそれぞれ電子制御手段４５により発生された制御信号
によって導電または非導電状態に切換えられる。

電子制御手段４５はそれぞれ調理モードおよび熱設定値
を選択する煮物／フライ・モード選択手段４６および熱
設定値選択手段４７を含むユーザ操作可能な入力選択手
段からの入力、ならびに加熱ユニット１２によって加熱
される器具の温度を感知する温度感知手段４８からの入
力に応答して、加熱ユニット１２に対する電力制御信号
を発生する。加熱ユニット１４−１８に対する電力制御
信号は選択手段４７を介して入力される熱設定値に応答
して発生される。

加熱ユニット１２，１４．１６および１８の各々に対し
てヒータ・エネルギ・カウンタ４９が設けられ、その計
数値が加熱ユニットの温度にほぼ比例するようにカウン
タ制御手段５０によって増減される。ヒータ・エネルギ
・カウンタのこのような使用法については米国特許節４
，５５１．６１８号に詳細に述べられている。詳しくは
この米国特許を参照されたい。

図示の実施例では、電子制御手段４５はデユーティ・サ
イクルすなわち各加熱素子に印加される電力の時間の″
パーセントを制御することによって、加熱ユニット１２
−１８の各々の出力レベルを制御する。一定数の＄ＩＩ
ｇａ時間間隔よりなる所定の制御周期が電力制御のため
の時間ベースとして用いられる。−制御周期内の導電制
御時間間隔と全数の制御時間間隔との比をパーセントで
表わして、これを以後デユーティサイクルと呼ぶ。各制
御時間間隔は標準の６０ヘルツ、２４０ボルトの交流電
力信号の完全な８サイクルよりなり、これは約１３３ミ
リ秒の時間に対応する。各制御周期は１２８個の制御時
間間隔よりなり、これは約１７秒の時間に対応する。こ
の制御時間間隔と制御周期の選択された長さによって所
望の調理性能に対する熱設定値の満足な範囲が得られ、
またマイクロプロセッサのメモリを効率的に使用するよ
うにプログラミングすることができる。しかし、これよ
り長い持続時間およびこれより短い持続時間の制御時間
間隔と制御周期も同様に使用できることが理解されよう
。

第１表 電子制御手段４５は、デユーティサイクルがゼロすなわ
ちオフのレベルを含めて１６の異なったデユーティサイ
クル電力レベルの内の１つのレベルをユーザの選択した
電力設定に従って選択的に実現する。第１表は１６通り
の使用可能な電力レベルの各々について％オン時間すな
わちデユーティサイクル、ならびに各制御周期当りのオ
ン（すなわち導電中）の制御時間間隔の数を示している
。

図示の実施例では加熱ユニット１４−１８の各々は通常
の表面加熱ユニットとして動作する。ユーザは制御つま
み２４−２８の内の対応するつまみを操作することによ
って１５個の使用可能な電力レベルの内の所望の電力レ
ベルを選択する。このとき制御手段４５は、各制御周期
中の、選択された電力レベルに対応するデユーティサイ
クルを実現するのに必要な数の制御時間間隔の間、対応
する加熱素子を伝導状態に切換える。各電力レベルに対
するデユーティサイクルが第１表に示されている。

自動表面加熱ユニットである加熱ユニット１２について
は、電力レベルがユーザのフライ拳モードと煮物モード
の選択に従って定められる。これらのモードについてこ
こでは簡単にしか述べない。

このような動作モードを実現する電力制御装置について
は米国特許節４，４９３，９８０号に開示されている。

ユーザはモード・スイッチ３２（第１図参照）の操作に
よってフライ−モードまたは煮物モードを選択する。

フライ・モードは調理性能に悪影響を与える恐れのある
過大な温度のオーバシュートとアンダシュートを避けな
がら調理用器具の温度を選択された比較的狭い動作温度
範囲に素早くもってくるようにするものである。広範囲
の食品負荷の加熱に際して加熱素子の定常状態動作温度
を比較的厳密に制御することが望ましい。図示の実施例
のフライ・モードの場合の各熱設定値に対応する温度範
囲と定常状態電力レベルが第■表に示されている。

第■表 モード・スイッチ３２を介して一般的な煮物モードを選
択すると、ユーザは暖め（Ｗ□）モード、ぐつぐつ煮（
Ｓｉｍ　）モード、および実際の煮物モードを選択する
ことができる。実際の煮物モードは更に低（Ｌｏ）　、
中（Ｍｅｄ　）　、高（１１１）の３つのモードに分け
られる。−船釣煮物モードの各熱設定値に対する温度範
囲と電力レベルも第■表に示されている。

暖めモードの目的はユーザが食品を水の沸点よりかなり
低い予め定められた比較的低い温度まで素早く暖められ
るようにすることである。暖めモードでは３つの暖め設
定値、すなわちＷＩＴｌ（１）。

Ｗ、（２）およびＷｍ（３）が利用できる。

ぐつぐつ煮モードによりユーザは食品を水の沸点（２１
２下）を超えないがそれに極めて近い温度まで素早く加
熱して、その後ずっと沸騰しないように食品の温度をこ
のレベルに保持することができる。

ぐつぐつ煮モードには第■表にＳ１ｍ（１）、８１ｍ（
２）およびＳｉｍ（３）として示した３つの熱設定値が
ある。３つの熱設定値すべてに対する定常状態温度範囲
は１９８°−２２０下である。

感知された器具温度をこの範囲にすることによって、器
具の内容物が水の沸点（２１２丁）に近くなるが、実際
に沸騰するほど高くならない。

３つの実際の煮物モード、すなわち加熱ユニット１２の
上に置かれた器具の中に入れられている水負荷の実際の
沸騰を制御する３つのモードはｒＬｏＪ　、　　ｒｅｅ
ｄ　ＪおよびｒｌｌｌＪモードと呼ばれる。

これらのＩ、ｏ、　Ｍｅおよびｌｉｔモードの各々は制
御つまみ２２（第２Ａ図）によりそれぞれ３つの熱設定
が行なわれる。したがって図示の実施例では、ユーザは
加熱ユニット１２上の水負荷を沸騰させるため合計９つ
の熱設定値から選択することができる。

これら９づの熱設定値により、ユーザは必要な電力レベ
ルよりもかなり高い電力レベルを用いることなく、種々
の大きさの水負荷に対して所望の沸騰率となる定常状態
電力レベルすなわちデユーティサイクルを選択すること
ができる。これにより調理装置のエネルギ効率が向上す
る。

自動表面加熱ユニット用の温度センサ回路は一般に信頼
度は高いが、開路故障や短絡故障が起りやすい。電子制
御器から見ると開路故障は非常に高い抵抗として現われ
、短絡故障は非常に低い抵抗として現われる。第３Ｂ図
に示した、センサ３４に用いられるサーミスタの抵抗対
温度の特性によれば、高抵抗は低い温度を表わし、低抵
抗は高い温度を表わす。したがって以下に述べる本発明
の診断装置がなければ、電力制御システムは開路故障に
応答して表面加熱ユニットを全電力で動作させ、また短
絡故障に応答して表面加熱ユニットを不動作とする。

本発明の制御装置はセンサ回路の異常動作状態の発生を
短絡故障または開路故障として検出する。

異常動作状態を検出するためにヒータ・エネルギ・カウ
ンタの情報とともに感知された器具温度センサ情報を使
用する。

前に述べたようにヒータ・エネルギ・カウンタは加熱ユ
ニットの温度にほぼ追従する。このため、カウンタ制御
手段５０が電子制御手段４５に応答して、複数の可能な
増加速度の内の１つの速度でヒータ・エネルギーカウン
タ（ＨＥ　Ｃ）手段４９を選択的に増数させる。上記の
複数の増加速度はそれぞれ、加熱ユニットの温度がその
動作温度まで上昇する過渡的な温度上昇段階の間の加熱
素子の温度上昇速度にほぼ比例する。選択された特定の
上昇速度は、加熱ユニットがそのとき動作する電力レベ
ルによって決定される。カウンタ制御手段５０は更に、
カウンタ手段４９の計数値が複数の最大計数値の内の選
択された１つの最大計数値具」二となったときにカウン
タ手段４９の増数を停止するように動作する。上記の複
数の最大計数値の各々はそれぞれ、対応する電力レベル
に対する定常状態加熱ユニット動作温度にほぼ比例する
。

この複数の最大計数値から選択される特定の最大計数値
も同様に、加熱ユニットが動作する電力レベルによって
決定される。

カウンタ制御手段５０は更に、印加される電力レベルが
高レベルから低レベルまたはオフ（ＯＦＦ）に変化した
とき、複数の子め定められた減少速度の内の１つの減少
速度でカウンタ手段４９を減数させるように動作する。

上記の複数の減少速度の各々は、加熱ユニットの温度が
高電力レベルに対応する比較的高い定常状態動作温度か
ら新しく選択された低い電力レベルに対応する比較的低
い定常状態動作温度に下る冷却段階の間の加熱ユニット
の温度低下速度にほぼ比例する。計数値が低い電力レベ
ルに対応する予め定められた最大計数値より小さくなっ
たとき、カウンタ制御手段はカウンタ手段の減数を停止
する。

各電力レベルについて、各制御時間間隔当りおよび各制
御周期当りの増加および減少速度、ならびに最大計数値
が、第１表の第５列、第６列および第７列に示されてい
る。

図示の実施例では、加熱ユニットが動作するデユーティ
サイクルで、各制御周期の間の加熱ユニットの温度上昇
を近似的に表わす計数値の所望の正味の増加分がそめ制
御周期の終了時に生じるような増加速度が選択される。

これはオンの制御時間間隔の間に比較的遅い速度で増加
させ、非動作の制御時間間隔の間は計数値を一定に保つ
ことにより実行される。

第１表に示すように、最大計数値は電力設定値１乃至４
に対して最大計数値４０９６、設定値５乃至７に対して
最大計数値５１２０．設定ｆ１１８乃至１０に対して最
大計数値６１４４、設定値１１乃至１５に対して最大計
数値８１９２が与えられる。経験的に明らかになったと
ころでは、これらの最大計数値は対応する電力レベルで
動作する加熱ユニットの最高温度を良好に近似する。

増加速度の場合と同様、各制御時間間隔当りの減少計数
値は各群内の設定値に対して同一である。

しかし、各設定値に対する各制御周期当りのオンの制御
時間間隔の数が異なるので各制御周期当りの速度は各群
内で変る。各電力設定値に対して、各制御周期当りの減
少速度は、加熱素子の冷却段階に特宵の温度曲線を線形
近似するように選択される。

ヒータ・エネルギ・カウンタの情報は温度センサの故障
を検出する際に有用である。というのは温度センサが正
しく動作しているとき、ヒータ・エネルギ・カウンタの
計数値と温度センサによって感知された温度との間に相
関が存在するからである。この相関は近似的なものに過
ぎない。というのは温度センサはヒータ・エネルギ・カ
ウンタよりもずっと正確な温度情報を与えるからである
。

それにも拘わらず少なくとも、正常な動作状態の際、ヒ
ータ・エネルギ計数値が比較的高いときは感知される温
度も比較的高くなり、ヒータ・エネルギ計数値が比較的
低いときは感知される温度も比較的低くなる程度の相関
は存在する。

本発明によればこの相関を使って開路と短絡の両方のセ
ンサ回路の故障を検出する。このため、予め定められた
高基準計数値と低基準計数値との間の基準ヒータ・エネ
ルギ計数値範囲、ならびに予め定められた最高および最
低診断基準温度の間の相関温度範囲を設定して、正常な
動作状態では計数値がその基準範囲内にあるときに感知
された温度がその相関温度範囲内にあるようにする。制
御手段は、計数値がその基準範囲内にあって、感知され
た器具の温度がその相関診断基準温度範囲の外側にある
ときにセンサの故障状態を検出する手段を含む。この実
施例で使用しているような温度係数が負のサーミスタの
場合には、ヒータφエネルギ計数値が高基準計数値より
小さいときに、感知された器具温度が高診断基準温度よ
り高いということは、センサ回路の短絡故障を表わす。

同様に、ヒータ・エネルギ計数値が低基準計数値より大
きいときに、感知された器具温度が最低診断基準温度よ
り低いということはセンサ回路の開路故障を表わす。

図示の実施例では高基準計数値は６Ｋに選定される。こ
れは４つの最高使用可能電力レベルに対する最大定常状
態計数値８にの７５％である。最高温度制御基■温度は
４６５丁である。最高診断基準温度はＡ／Ｄ回路に対す
る読取り可能な最高温度であり、これは約４８８″Ｆで
最高制御基準より少し高い。低基準計数値として３Ｋが
選択され、これは最低の４つの電力レベルに対する最大
定常状態計数値４にの７５％である。最低診断基準温度
は９０丁に設定される。これらの基準値はすべて若干任
意に選択される。高基準計数値を充分に低く選択して最
高限度の温度の負荷状態のもとでも最高基準温度を超え
る前に計数値が高基準計数値を常に超えるようになって
いれば、他の値の場合でも良好な性能が得られる。同様
に、ヒータ・エネルギ計数値が低基準計数値に達する前
に、感知される温度が極端に遅い加熱負荷状態に対する
最低基準温度を常に超えるように、低基準計数値と診断
基準温度は選択しなければならない。

センサ回路の異常動作状態の発生をユーザに知らせるた
めのユーザ報知信号を発生する手段が設けられる。更に
、異常状態が検出されたとき加熱ユニットはオフにされ
る。図示の実施例では２つの信号灯が用いられる。１つ
は短絡故障の発生を知らせ、他方は開路故障を知らせる
。この診断機能は保守者が異常状態を診断し修理するの
を助ける。保守のために調理装置の電源プラグを抜いた
ときのように回路から電力が除かれるまで信号灯は点灯
したままであり、加熱ユニットはオフのままになってい
る。

回路の説明 これまで説明してきた動作モードを実現し、かつ本発明
のセンサ回路故障検出装置を実施する制御回路の例を第
５図に示しである。加熱ユニット１２−１８の動作電力
は端子Ｌ１とＲ２の間の１２０ボルトまたは２４０ボル
トの標準の６０ヘルツの交流電力信号の印加によって与
えられる。加熱ユニット１２−１８はリレーコイルｌｌ
ｌ０Ａ−８０Ｄによって制御される常ＤＦＪリレー接点
７８Ａ−７８Ｄならびに電力制御素子すなわちトライア
ック８２Ａ−８２Ｄを介して線Ｌ１とＲ２の間に電気的
に並列に配置される。リレーコイル８０Ａ−８０Ｄはそ
れぞれスイッチ接点８４Ａ−８４Ｄを介して直流基準電
圧源ｖＲとシステムのアースとの間に直列接続される。

スイッチ接点８４Ａ−１３４Ｄはそれぞれ制御つまみ２
２，２４，２６．２８に通常の方法で機械的に結合され
ていて、それに対応する制御つまみがオフ位置にあると
きスイッチ接点８４Ａ−８４Ｄはそれぞれ開位置にある
。

対応する制御つまみをそのオフ位置から動かすとスイッ
チ接点は閉位置になり、もって対応するコイル８０Ａ−
８０Ｄがそれぞれ動作して、対応する接点７８Ａ−７８
Ｄがそれぞれ閉じる。これによりトライアック８２Ａ−
８２Ｄの内の対応するトライアックが対応する加熱素子
の動作を制御できるようになる。

マイクロプロセッサ７２がそれぞれ出力ポートＲ７，Ｒ
６，Ｒ５およびＲ４に発生したトリガ信号によってトラ
イアック８２Ａ−８２Ｄのスイッチングを制御する。出
力ポートＲ７，Ｒ６，Ｒ５およびＲ４の信号はそれぞれ
ドライバ回路８１Ａ−８７Ｄを介して対応するトライア
ックのゲート端子に結合される。詳細に示すドライバ回
路８７Ａを参照すると、ポートＲ７のトリガ信号は反転
バッファ増幅器９０により光絶縁装置８８のビン２に結
合される。光絶縁装置８８のピン１は電流制限抵抗９２
を介して直流基準電圧源ｖＲに結合される。光絶縁装置
８８の出力帰還ピン４は電流制限抵抗９４を介して電力
端子Ｌ２に結合されている。ビン６は加熱ユニット１２
と直列に接続されたトライアック８２Ａのゲート端子８
３Ａに結合されている。ポートＲ７のトリガ信号は増幅
器９０によって反転されて光絶縁装置８８の発光ダイオ
ード９６を順方向バイアスし、その結果、光絶縁装置８
８のバイポーラ・スイッチ部９８が導電状態となりで、
ゲート信号がトライアック３２Ａに加えられ、もってト
ライアック８２Ａが導電状態となる。増幅器９０の出力
は電流制限抵抗９５およびダイオード９７を介して直流
基準電圧源ｖＲにも結合されている。ドライバ回路８７
Ｂ−８７Ｄも同様に構成される。

端子Ｌ１とマイクロプロセッサ７２の入力ポートに８と
の間に結合された通常のゼロ交差検出回路１００が６０
１１ｚのパルス列を発生し、これによりトライアックの
トリガおよび他の制御システムの動作が端子Ｌ１とＲ２
の間に印加される６０Ｈｚの交流電力信号のゼロ交差と
容易に同期する。

感知された器具温度入力が温度感知手段５２を介してマ
イクロプロセッサ７２に与えられる。温度感知手段５２
はサーミスタ素子１０４を含み、これは線形化精密抵抗
１０６と並列、精密抵抗１０８と直列に接続されて、調
整された＋９ボルトの直流電圧源から給電される分圧回
路網を形成する。分圧回路網はトランジスタＱを介して
アースに結合される。サーミスタ１０４と抵抗１０８の
結合点はマイクロプロセッサの入力ボートＡ１に結合さ
れている。この点のアナログ電圧はサーミスタが感知す
る温度に比例する。マイクロプロセッサ７２に内蔵され
た８ビツトのＡ／Ｄ変換器が電圧線ＡＶＳＳとＡＶＤＤ
との間で動作し、これらの電圧線はそれぞれ直流９ボル
トと直流４ボルトに設定されて、５ボルトの電圧振動範
囲が得られる。内蔵Ａ／Ｄ変換器はポートＡ１の入力電
圧信号を測定して、この信号を対応するディジタル値に
変換する。第■表はサーミスタの抵抗の代表的な値、そ
れに対応する温度とアナログ電圧値を示している。第■
表にはアナログ電圧値のＡ／Ｄ変換によって生ずる対応
する８ビツトの２進符号を１６進表示したものも示され
ている。

トランジスタＱはバイアス抵抗１１０および１１２とと
もに無能化（ｄｉｓａｂｌｉｎｇ　）回路を形成する。

マイクロプロセッサ７２の出力ポートＲ１２が抵抗１１
０を介してトランジスタＱのベースに結合されている。

抵抗１１２がトランジスタＱのエミッタとベースとの間
に接続されている。無能化回路の機能は温度測定を行な
っているときのみサーミスタ１０４に電流が流れ得るよ
うにすることである。測定を行なおうとするとき、マイ
クロプロセッサ７２は出力ポートＲ１２をセットして、
正の電圧が抵抗１１０を介してトランジスタＱのベース
に印加されてトランジスタＱを導電させるようにする。

温度入力が得られた後、ポートＲ１２がリセットされて
、トランジスタＱおよびサーミスタ１０４を非導電状態
にする。

第■表 ユーザ入力は煮物／フライ・モード選択スイッチ手段３
２、ならびに加熱ユニット１２−１８にそれぞれ対応す
る入力ポテンションメータ１０２（Ａ）−（Ｄ）を含む
熱設定値選択手段５０を介してマイクロプロセッサ７２
に与えられる。モード選択スイッチ３２はマイクロプロ
セッサ７２の出力ポートＲ３と入力ボートに４との間に
直結される。スイッチ３２の開状態および閉状態はそれ
ぞれ一般的煮物モードおよびフライ・モードの選択を表
わす。マイクロプロセッサ７２は周期的にボートＲ３に
高論理信号を発生し、ボートに４の入力信号を監視する
ことによってスイッチ２２の状態を判定する。

各入力ポテンションメータ１０２　（Ａ）−（Ｄ）は調
整された直流９ボルトと調整された直流４ボルトの基準
電圧源の間に結合される。ポテンションメータ１０２　
（Ａ）−（Ｄ）のワイパアーム１０３　（Ａ）　−（Ｄ
）はそれぞれマルチプレクサ回路１１４を介してマイク
ロプロセッサ７２のＡ／Ｄ入カボートＡ２に結合されて
いる。各ワイパアームはユーザが制御つまみ２２−２８
のうち対応するつまみを廻すことにより位置ぎめされる
。ワイパアームと４ボルト電源との間の電圧は選択され
た熱設定値を表わすアナログ信号である。温度入力処理
用の前に簡単に述べたマイクロブロセツサ７２の内蔵Ａ
／Ｄ変換器はユーザ入力設定値を、多重化形式で表わす
ボートＡ２に現われるアナログ電圧を処理する。

マルチプレクサ回路１１４は、３線から４線への復号器
として機能するように構成された通常の復号回路１１δ
、および適当なワイパアーム電圧信号をマイクロプロセ
ッサ入力ボートＡ２に導くゲート回路１１８を含む。マ
ルチブレキシングは復号器１１６の入力ポートＡ、　　
ＢおよびＣにそれぞれ結合された出力ポートＲＯ，Ｒ１
およびＲ２に発生される走査信号によって制御される。

ボー）ＲＯ，Ｒ１およびＲ２とアースとの間にバイアス
抵抗１１７．１１９および１２１がそれぞれ接続される
。復号器出力Ｑｌ−Ｑ４がゲート回路１１８の制御ボー
トＡ−Ｄに結合されている。ゲート回路１１８の入力ポ
ートＡ−Ｄはワイパアーム１０３　（Ｄ）−（Ａ）にそ
れぞれ直接接続されている。ゲート回路１１８の出力ポ
ートＡ−Ｄはマイクロプロセッサ７２の入力ポートＡ２
に共通に接続されている。ボートＲＯ，Ｒ１およびＲ２
の走査信号は出力Ｑｌ−Ｑ４に順次作動信号を発生させ
る。これらの作動信号はゲート回路１１８の制御入力に
結合されて、入力ポートＡ−Ｄからのアナログのワイパ
アーム電圧信号をマイクロプロセッサ７２のボートＡ２
に順次結合する。

結果として得られるディジタル化された濁度および電力
設定値の入力信号の処理については後述の制御プログラ
ムの説明とともに述べる。

ユーザ報知信号を発生する手段は、電流制限抵抗１２４
を介して出力ポートＲ８とアースの間に結合された発光
ダイオード（ＬＥＤ）１２０、および電流制限抵抗１２
６を介して出力ポートＲ９とアースの間に結合された発
光ダイオード１２２の形で与えられる。ＬＥＤ１２０は
短絡故障の検出に応答してボートＲ８の信号によって作
動される。ＬＥＤ１２２は開路故障の検出に応答してボ
ートＲ９の信号によって同様に動作する。

第■表に示す部品値は第５図の回路で使用するのに適し
ている。これらの値は説明のために例示したものに過ぎ
ず、本発明の特許請求の範囲を限定するものではない。

第■表 制御プログラムの説明 マイクロプロセッサ７２は、予め定められた制御命令を
具現するようにマイクロプロセッサ７２のＲＯＭ　（読
出し専用メモリ）を永久的に構成することにより本発明
に従って制御機構を行なうようにカスタム設計される。

第６図乃至第１３図はマイクロプロセッサ７２の制御プ
ログラムに含まれる制御ルーチンを示す流れ図である。

これらの図から通常のプログラミング技術者はマイクロ
プロセッサ７２のＲＯＭに永久的に記憶するための１組
の制御命令を作成することができよう。簡単にするため
、たどるべき制御ルーチンを代表的な制御アルゴリズム
の具現に関して説明する。ここで説明する本発明の制御
装置の制御機能の他に、調理装置の他の動作特性に関連
した他の制御機能を行なわなければならないことがある
。図に示すルーチンを実行するための命令を他の制御機
能のための命令およびルーチンに織り込んでもよい。

制御プログラムはマイクロプロセッサ７２のＲＡＭ（ラ
ンダム・アクセス・メモリ）に記憶される情報に対して
働きかける一連のルーチンで構成される。ＲＡＭは４つ
のファイルに配置され、１つのファイルが各表面加熱ユ
ニットに対応する。

Ｘレジスタと呼ばれるレジスタを使って４つのファイル
のうち所望の１つのファイルのアドレス指定を行なう。

制御プログラムは表面加熱ユニット毎に各制御時間間隔
の間、１回実行され、相次ぐＲＡＭファイルに対して制
御プログラムが遂次実行される。

スタート・ルーチン（第６図） このルーチンには各制御時間間隔の初めおよび制御プロ
グラムの各パス（ｐａｓｓ）毎に入る。その機能は制御
プログラムを通る現在のパスに対して適当なＲＡＭファ
イルを呼び出すことである。各ＲＡＭファイルの中に１
つのカウンタが設けられ、ＳＵカウンタと呼ばれる。各
ＳＵカウンタは４計数のリング・カウンタとして動作し
、これを用いてＲＡＭファイルを順次呼出す。その結果
、制御プログラムを通る４回目のパス毎に各ＲＡＭファ
イルが呼出される。

ここで第６図を参照すると、ブロック１８６で４つのフ
ァイルＸ−０，１，２，３のすべてに於いてＳＵカウン
タを増数させる。照会ブロック１８８．１９０および１
９２ではＳＵカウンタの計数値を判定し、計数値が０．
　１．　２．および３である場合にそれぞれ対応するブ
ロック１９４，１９６．１９８および２００を介してＲ
ＡＭファイル０．　１．　２および３の内の適切な１つ
のＲＡＭファイルを呼び出す。ＳＵカウンタの計数値が
４に等しいときブロック２０２ですべてのＳＵカウンタ
がゼロにリセットされる。

適切なＲＡＭファイルが選択された後、プログラムはブ
ロック２０４で第７図のユーザ入力ルーチンに分岐する
。

ユーザ入力ルーチン（第７図） このルーチンの機能はマルチプレクサ回路１１４　（第
５図）を介して入力ポートＡ２に於ける、ユーザの選択
した熱設定入力信号のマルチブレキシングを制御するこ
とであり、また自動表面加熱ユニットに対して煮物モー
ドが選択されたかフライ・モードが選択されたかを判定
することである。

前に述べたように制御プログラムは順次各表面加熱ユニ
ットに対して各制御時間間隔の間に１回実行される。照
会ブロック２２４−２２８ではどの表面加熱ユニットに
対して制御プログラムが実行されつつあるか、すなわち
どの表面加熱ユニットがプログラムの現在のパスの主題
であるかを判定する。３個の通常の表面加熱ユニット１
４−１８はそれぞれＳＵ２．ＳＵＩ、およびＳＵＯと名
付けられる。ＳＵ３は自動表面加熱ユニット１２を表わ
す。ブロック２３０−２３６は出力ポートＲＯ，Ｒ１お
よびＲ２にそれぞれ５ＵＯ−５Ｕ３に対する適切な２進
符号１００，０１０，１１０および００１を発生するこ
とによりワイパアーム１０３Ａ−１０３Ｄのうち適切な
１つのワイパアームをゲート回路１１８を介して入力ポ
ートＡ２に結合する。

５Ｕ−３の場合、すなわちプログラムが自動表面加熱ユ
ニットに対して実行されていることを表わしている場合
、出力ポートＲ３をセットすることによりモード選択ス
イッチ３２（第１図）の状態が判定される（ブロック２
３６）。次に照会ブロック２３８で入力ボートに４を走
査することにより、スイッチ３２が解放（Ｒ４−０）し
ているか閉成（Ｒ４−１）しているかを判定する。フラ
イ・モードが選択されたことを表わすに４−１であれば
、後続のルーチンで将来参照できるようにモードフラグ
がセットされ、Ｒ３がリセットされる（ブロック２４０
）。煮物モードが選択されたことを表わすに４−０であ
れば、モードフラグがリセットされ、Ｒ３がリセットさ
れる（ブロック２４２）。

入力ポートＡ２の適切な入力が作動されると、ポテンシ
ョンメータ１０２Ａ−１０２Ｄの内の選択された１つの
ポテンションメータからの電圧がディジタル信号に変換
される。前に述べたように１６個の熱設定値が可能であ
り、各熱設定値は対応するディジタル信号によって表わ
される。マイクロプロセッサ７２の中に設けられた構成
要素であるＡ／Ｄ変換ルーチンがボートＡ２のアナログ
電圧を８ビツトのディジタル符号に変換する。この８ビ
ツトのディジタル符号は２５６個のレベルを表わすこと
ができる。１６個の熱設定値に対する１６個のワイパア
ーム位置がポテンシジンメータに沿って等間隔に配置さ
れている。この構成により、ユーザの選択した入力設定
値は８ビツトのＡ／Ｄ出力信号の上位４ビツトによって
表わすと都合がよい。ボートＡ２のアナログ入力が読込
まれ（ブロック２４４）、それに対応するディジタル信
号に変換される。Ａ／Ｄ　　Ｈｌと名付けられたこの信
号の上位４ビツトは入力電力設定変数ＫＢとして記憶さ
れる（ブロック２４６）。

照会ブロック２４８で制御の現在のバスが自動表面加熱
ユニットｓＵ３　（ＳＵ＞２）に対するものであるか否
かを判定する。そうでなければ、プログラムは直接第１
１Ａ−１１Ｃ図の電力比較ルーチンに分岐する（ブロッ
ク２４９）。自動表面加熱ユニットに対してプログラム
を実行している場合は、照会ブロック２５０でＦＬＴＦ
ＬＧフラグの状態をチエツクする。故障検出ルーチン（
第１０図）のところで説明するように、このフラグがセ
ットされていればセンサの故障が検出されたことを表わ
す。このフラグがリセットされるのはパワーアップの際
だけである。したがってこのフラグは一旦セットされれ
ば、システムから電力が除かれるまでセットされたまま
になる。フラグがセットされていれば、Ｍ　（ＫＢ）が
ゼロにセットされて（ブロック２５１）、加熱ユニット
への給電を停止し、プログラムは電力比較ルーチンに直
接分岐する（ブロック２５２）。フラグがセットされて
いなければ、プログラムは感知された器具温度を読込む
ために第８図の温度入力ルーチンに分岐する（ブロック
２５２）。したがって、自動表面加熱ユニットだけに関
連したルーチン、すなわち温度入力ルーチン、フィルタ
およびセンサ・タイミングφルーチン、煮物ルーチン、
フライ・ルーチン、暖ルーチン、ならびに故障検出ルー
チンに入るのは制御プログラムが自動表面加熱ユニット
に関連したＲＡＭファイル上で動作しているときだけで
ある。制御プログラムが通常の表面加熱ユニット１４−
１８に対するＲＡＭファイル上で動作しているとき、プ
ログラムはユーザ入力ルーチンから電力比較ルーチン（
第１１Ａ−１１Ｃ図に分岐する。

温度入力ルーチン（第８図） このルーチンの機能は感知された器具の温度を表わすボ
ートＡＩのアナログ電圧を感知された器具の温度を表わ
すディジタル信号に変換することである。更に詳しく述
べると、このルーチンは現在の感知された器具温度が１
６個の予め定められた温度範囲の内のどの温度範囲に入
るかを判定する。第７表に示すように、１６個の温度範
囲の内の適切な１つの温度範囲に対応する変数５ＥＮＩ
ＮＰ（ならびに５ＥＮＯＵＴ）に１６進数の値が割当て
られる。各温度範囲についての上側温度しきい値に対す
る１６進数値も第７表に示されている。

第７表 ここで第８図に参照して説明すると、Ｒ１２をセットす
ることにより（ブロック２７ｏ）トランジスタＱ（第５
図）をターンオンして、サーミスタ１０４に通電する。

次に、感知された温度を表わすアナログ電圧が読込まれ
て、８ビツトのディジタル表示に変換される（ブロック
２７２）。図中の変数ＴＣは感知された温度を表わすア
ナログ信号のディジタル値を表わす。照会ブロック２７
４−３０２で感知された温度が入る温度範囲を判定し、
ブロック３０４−３３４で第７表に従って温度変数Ｓ　
ＥＮ　Ｉ　ＮＰに適切な値を割当てる。ＳＥＮ　ＩＮＰ
に対する適切な値を設定した後、Ｒ１２がリセットされ
（ブロック３３６）、これによりトランジスタＱがター
ンオフされて、サーミスタ１０４が不動作にされ、そし
てプログラムはフィルタおよびセンサータイミング・ル
ーチン（第９図）へ分岐する（ブロック３３Ｂ）。

たとえば感知された温度が２００”Ｆであれば、ディジ
タル温度信号の１６進表示は１９０下に対応する４４よ
り大きく、２１５”Ｆに対応する５３より小さくなる。

したがって、照会ブロック２７４−２８０における答は
「はいＪ　　（Ｙｅｓ）となり、照会ブロック２８２で
の答は「いいえＪ　　（ＮＯ）となる。そこで値４が５
ＥＮＩＮＰに割当てられる（ブロック３１２）。ある値
が５ＥＮＩＮＰに割当てられると、Ｒ１２がリセットさ
れ（ブロック３３６）、プログラムはフィルタおよびセ
ンサ・タイミングΦルーチン（第９図）に分岐する（ブ
ロック３３８）。

このルーチンはセンサ出力温度信号５ＥＮＩＮＰを反復
的にろ波すること、および温度制御ルーチンで実際に使
用される温度信号の更新のタイミングを制御することと
いう２つの機能を果す。フィルタ機能は温度監視回路か
らの異常な温度測定入力の衝撃を最小限にするように具
現される。タイミング機能は加熱ユニット１２がらサー
ミスタ１０４に当る放射エネルギが温度測定値の正確さ
に及ぼす影響を最小限にするように具現される。

このルーチンの反復フィルタ部分が各入力に付は加える
重みは比較的小さい。したがって、孤立した誤入力は平
均化されて、フィルタ・ルーチンによって発生される累
積平均信号の正確さに及ぼす影響は少ない。第９図に示
すように、フィルタ□機能はブロック３５０によって行
なわれる。前に述べたように５ＥＮＩＮＰは前に説明し
た温度入力ルーチンで決定した感知された器具温度に対
する温度範囲を１６進表示で表わしたものである。

このルーチンを通るその前のパスからのＳＵＭＩと称す
るフィルタ出力変数の１５／１６に新しい５ＥＮＩＮＰ
入力の１６分の１が加算される。その結果得られた和は
フィルタ出力変数ＳＵＭＩの新しい値となる。

このルーチンのフィルタ部分によって新しい温度入力信
号Ｓ　ＥＮ　Ｉ　ＮＰが処理され、制御ルーチンを通る
各パスの間に、すなわち６０Ｈｚ電力信号の８サイクル
に対応する１３３ミリ秒毎に１回の割合で新しいＳＵＭ
Ｉが作成される。しかし、加熱ユニット１２に対する放
射エネルギがセンサ５０に及ぼす影響を最小限にするた
め、制御プログラムの電力制御部分に入力される感知さ
れた器具温度信号が更新されるのは４．４秒のデユーテ
ィサイクルの制御周期の選択された部分の間だけである
。

ＺＣＭカウンタと称するカウンタが３２の計数のリング
・カウンタとして動作し、ゼロから３１まで計数してゼ
ロにリセットされる。後述するパワーアウト（Ｐｏｗｅ
ｒ　Ｏｕｔ　）ルーチンで実施されるデユーティサイク
ル制御では、デユーティサイクルが１００％より小さい
場合、ＺＣＭ計数値が比較的低いときは制御周期の第１
の部分の間に加熱素子が作動され、ＺＣＭ計数値が比較
的高い間は作動されない。１００％の電力レベルで動作
しているときを除いて、加熱素子は計数値３１に対して
常に不動作にされるので、放射エネルギがセンサに及ぼ
す影響は２０Ｍ計数値３１で最小となる。

このように、電力制御ルーチンの実施の際に使用される
温度信号である５ＥＮＯＵＴを計数値３１のときだけ更
新することにより放射の影響を最小限にしている。しか
し、各々の４．４秒の制御期間の間に５ＥＮＯＵＴを少
なくとも２回更新することにより入力間の振動を制限す
ることが好ましい。したがって、５ＥＮＯＵＴも制御期
間の中点で、すなわち計数値１６のときに更新される。

この測定の場合には放射の影響による誤りの可能性が大
きくなるが、しかし加熱素子は下の方の１２個の電力レ
ベルに対してこの時点に不作動にされる。したがって、
放射がこの測定に及ぼす影響も、最も高い４個の電力レ
ベル以外では最小となる。

加熱素子を１００％のデユーティサイクルで動作させた
とき、放射の影響はすべての計数値で同じである。した
がって正確さを最大にするため、５ＥＮＯＵＴは制御プ
ログラムの各実行の間に、すなわち１３３ミリ秒毎に更
新される。

再び第９図を参照すると、照会ブロック３５２および３
５４でそれぞれＺＣＭ計数値が１６および３１であるか
調べる。どちらかの計数値が発生すると、ＳＵＭＩのそ
のときの値によって更新される（ブロック３５６）。そ
うでなければ、照会ブロック３５８で現在実施されてい
る電力レベルが１００％電力レベル（Ｍ　（ＫＢ）−１
５であるか否か検査する。１００％電力レベルである場
合には、５ＥＮＯＵＴは計数値に拘わらずＳＵＭＩによ
って更新される（ブロック３５６）。１００％電力レベ
ルでなければ、ブロック３５６がバイパスされ、５ＥＮ
ＯＵＴはこのバスの間は更新されない。このようにして
、電力レベルが１５よりも低い場合、５ＥＮＯＵＴは計
数値が１６および３１のときのみ更新される。そして電
力レベルが１５のときは、５ＥＮＯＵＴは各計数ごとに
更新される。温度入力を更新しろ波すると、プログラム
は次に全体的に温度制御ルーチンと呼ぶルーチンを構成
する煮物、フライまたは暖めルーチンの内の適切な１つ
のルーチンを実行する（ブロック３６０）。温度制御ル
ーチンの詳細は米国特許第４．６３９，５７８号に述べ
られている。プログラムは次に故障検出ルーチン（第１
０図）に進む（ブロック３６２）。

故障検出ルーチン（第１０図） このルーチンはヒータ・エネルギ・カウンタに応答して
、ヒータ・エネルギ・カウンタの計数値が予め定められ
た基準範囲内にあり、かつ感知された器具の温度が相関
基準温度範囲の外側にあるとき、温度感知手段の異常動
作状態を検出する手段の機能を果す。

異常状態すなわち短絡故障または開路故障が検出された
ことを表わすために、このルーチンではＦＬＴＦＬＧフ
ラグと呼ぶフラグが使用される。

このフラグは一旦セットされると、セット状態に留まる
。このフラグがリセットされるのはシステムの次のパワ
ーアップの際だけである。この構成により、−旦故障が
検出されると、システムから電力が除かれるまで診断信
号が発生され続け、加熱ユニットはオフにされてオフに
留まる。この後、加熱ユニットの点検整備や修理に続い
てなされるようなパワーアップφルーチンに進む。

次に第１０図を参照して説明すると、変数ＴＣには温度
入力ルーチンで感知された器具温度を表わす値が割当て
られている。変数ＨＥＣはヒーターエネルギ・カウンタ
の計数値を表わす。照会ブロック３６４でヒータ・エネ
ルギ・カウンタの計数値ＨＥＣ値が高基準計数値ＨＲＣ
よりも大きいか否かを判定する。本実施例では高基準計
数値ＨＲＣは６Ｋに設定されている。ＨＥＣがＨＲＣよ
りも大きければ、それ以上の診断ステップは行なわれず
、プログラムは電力比較ルーチンに分岐する（ブロック
３６６）。ＨＥＣがＨＲＣよりも小さければ、感知され
た器具の温度ＴＣが照会ブロック３６８で高診断基準温
度（ＨＲＴ）と比較される。本実施例では高診断基準温
度ＨＲＴは４８８下に設定されている。温度（ＴＣ）が
ＨＲＴよりも高ければ、出力ボートＲ８がセットされ（
ブロック３７０）、これによりＬＥＤ１２０　（第５図
）が作動されて、短絡故障が検出されたというユーザ報
知信号が発生される。感知された器具温度（ＴＣ）がＨ
ＲＴよりも高くない場合は、ＨＥＣが照会ブロック３７
２で低基準計数値（ＬＲＣ）と比較される。本実施例で
はＬＲＣは３Ｋに設定されている。ＨＥＣがＬＲＣより
も小さければ、プログラムは電力比較ルーチンに分岐す
る。ＨＥＣがＬＲＣよりも小さくない場合は、感知され
た器具温度（ＴＣ）が９０″Ｆに設定された低基準温度
（ＬＲＴ）と比較される（照会ブロック３７４）。ＴＣ
がＬＲＴよりも低い場合、出力ポートＲ９がセットされ
（ブロック３７６）、これによりＬＥＤ１２２（第５図
）が作動されて、センサ回路の開路敵陣が検出されたこ
とを表わす。ＴＣがＬＲＴよりも低くない場合は、プロ
グラムは電力比較ルーチンに分岐する。異常状態が検出
されて、出力ポートＲ８およびＲ９のうち適切な一方が
セットされたとき、故障フラグＦＬＴＦＬＧがセットさ
れる（ブロック３７８）。そしてＭ（ＫＢ）が０に等し
くなるようにセットされ（ブロック３８０）、これによ
り加熱ユニットは次の制御時間間隔からオフ（ＯＦＦ）
電力設定値を実行することによってオフにされ（加熱ユ
ニットへの給電が遮断され）、プログラムは電力比較ル
ーチンに分岐する。

電力比較ルーチン（第１１Ａ−１００図）各制御時間間
隔中にこのルーチンは後続の制御時間間隔において加熱
ユニットを動作させるべきか否かを決定する。これはマ
スタカウンタの計数値（ＺＣＭ）を、変数Ｍ（ＫＢ）に
よって表される印加すべき電力レベルに対して各制御周
期当りの、加熱ユニットを動作させるべき制御時間間隔
の数に対応する数と比較することによって行なわれる。

加熱ユニット１４−１８に対しては、Ｍ（Ｋ　Ｂ）はユ
ーザの選択した電力設定値によって決定されたＫＢに等
しい。加熱ユニット１２の場合には、Ｍ　（ＫＢ）はユ
ーザの選択した電力設定値および感知された器具温度の
関数として温度制御ルーチンによって設定される。第１
１Ａ図に示すようにオフ（ＯＦＦ）電力レベルを表わす
Ｍ（ＫＢ）−０の場合、照会ブロック３８１でプログラ
ムをカウンタ減数ルーチンＨＥＣＤＬに向け（ブロック
３８２）、これによりヒータ・エネルギ・カウンタの計
数値が適切に減らされる。電力レベル設定値を表わすＭ
　（ＫＢ）が１乃至４の場合には（照会ブロック３８３
−３８８）　、２０Ｍ計数値がそれぞれ基準計数値３．
　４．　７および１０と比較される（照会ブロック３９
０−３９６）。

選択された電力レベルがレベル１−４の内の１つであり
、２０Ｍ計数値がその電力レベルに対応する基準よりも
小さければ、すぐ後の制御時間間隔の間に加熱ユニ９ト
が作動され、またプログラムはヒータｅエネルギＱカウ
ンタΦルーチンのエントリー点ＨＥＣＭＡ　（第１２図
）に分岐しくブロック３９８）、これによりカウンタの
計数値を適切に増加させる。２０Ｍ計数値が選択された
電力レベルの対応する基準値よりも小さくない場合は、
プログラムはパワーアウト令ルーチンのエントリー点「
パワーオフ」　（第１３図）に分岐する（ブロック４０
０）。選択された電力レベルがレベル１−４の内の１つ
でない場合には、プログラムは次に進む（第１１Ｂ図）
。

次に第１１Ｂ図に示すように照会ブロック４０２．４０
４および４０６で選択された電力レベルがそれぞれ５，
６または７であるか否か判定する。

これらの電力レベルに対する対応する基準値はそれぞれ
１４．１８および２６である。選択された電力レベルが
５，６または７の内の１つであり、その２０Ｍ計数値が
それぞれ照会ブロック４０８−４１２で対応する基準値
よりも小さいと判定されたとき、次に続く制御時間間隔
の間に加熱素子が作動され、プログラムはヒータ・エネ
ルギ比較ルーチンのエントリー点ＨＥＣＭＢ　（第１２
図）に分岐しくブロック４１４）　、ヒータ・エネルギ
・カウンタの計数値を増加させる。これらの電力レベル
の内の１つが選択されたときに２０Ｍ計数値が対応する
基準値よりも大きい場合には、次に続く制御時間間隔の
間に加熱素子が不作動にされ、プログラムはエントリー
点パワーオフからパワーアウト・ルーチン（第１３図）
に分岐する（ブロック４１５）。

照会ブロック４１６．４１８（第１１Ｂ図）および４２
０（第１１Ｃ図）はそれぞれ電力レベル８．９および１
０が選択されたか否かを判定する。

これらの電力レベルに対応する基準値はそれぞれ３３．
４２および５３である。２０Ｍ計数値が照会ブロック４
２２．４２４　（第１１Ｂ図）および４２６（第１１Ｃ
図）で選択された電力レベルに対応する基準値よりも小
さいと判定されたとき、次に続く制御時間間隔の間に加
熱素子が作動され、プログラムは関連するエントリー点
ＨＥＣＭＣ（ブロック４３０）またはＨＥＣＭＤ　（ブ
ロック４３２）からヒータ・エネルギ比較ルーチン（第
１２図）に分岐し、その結果ヒータ・エネルギ・カウン
タの計数値を適切な速度で増加させる。これらのレベル
の内の１つが選択されたが２０Ｍ計数値が基準値よりも
大きい場合には、プログラムはエントリー点パワーオフ
からパワーアウトやルーチンに分岐する（ブロック４１
５またはブロック４２８）。最後に、照会ブロック４３
４，４３６．４３８および４４０はそれぞれ電力レベル
１１．１２．１３または１４が選択されたか否か判定す
る。対応する基準値はそれぞれ６４．８０゜９６および
１１２である。２０Ｍ計数値が選択された電力レベルの
内の１つの電力レベルに対して照会ブロック４４２−４
５０で対応する基準値よりも小さいと判定された場合は
、次に続く制御時間間隔の間に加熱素子が作動され、プ
ログラムはエントリー点ＨＥＣＭＤからヒータ中エネル
ギ比較ルーチン（第１２図）に分岐しくブロック４５２
）、ヒータ・エネルギ・カウンタの計数値を増加させる
。更に、照会ブロック４４０での答がいいえ（ＮＯ）で
あれば−１そのときの選択レベルはすべての制御時間間
隔の間中加熱素子が作動される最大電力レベルを表わす
電力レベル１５であり、そのときプログラムはエントリ
ー点ＨＥＣＭＤからヒータ・エネルギ比較ルーチン（第
１２図）に分岐する（ブロック４５２）。電力レベル１
１−１４の内の１つが選択されて、その２０Ｍ計数値が
基準値以上である場合には、プログラムはエントリー点
パワーオフからパワーアウト。ルーチン（第１３図）に
分岐する（ブロック４２８）。

ヒーターエネルギ比較ルーチン （第１２Ａおよび１２Ｂ図） このルーチンの機能は、イ）計数値がその選択されたレ
ベルに対する最大計数値より小さいとき、加熱素子が動
作している電力レベルに対応する速度でヒータ・エネル
ギ・カウンタの計数値を増加させること、口）選択され
たレベルに対する最大計数値に達したとき、ヒータ・エ
ネルギ・カウンタの計数値の増加を停止すること、なら
びにハ）電力設定値が比較的高い設定値から比較的低い
設定値またはオフ（ＯＦＦ）へ変化したとき、ヒータ・
エネルギ・カウンタの計数値がこの新しく選択された電
力レベルに対応する最大計数値よりも大きい場合に、ヒ
ータ・エネルギ・カウンタを減数させ、その速度を、加
熱素子が前に選択された比較的高い電力設定値に対応す
る動作温度から現時点の選択された低い電力設定値に対
応する定常状態温度まで冷却するときの温度低下速度に
近似する速度にすることである。

前に述べた電力比較ルーチンによって加熱素子を次の制
御時間間隔の間に作動すべきであると判定されたとき、
加熱素子が動作する電力レベルに応じてエントリー点Ｈ
ＥＣＭＡ乃至ＨＥＣＭＤの内の１つの点からこのルーチ
ンに入る。これらの点の内の１つの点でルーチンに入っ
たとき、ヒータ・エネルギ・カウンタは適切な計数値だ
け増数または減数され、パワーアウト・ラッ≠ＰＯＬが
セットされる。ＰＯＬがセットされたとき、加熱ユニッ
ト１２に対する次の制御時間間隔の初めにポートＲ４（
第５図）に信号が発生され、その制御時間間隔の持続し
ている間、接点ＲＬＩ　（ａ）およびＲＬＩ　（ｂ）が
閉状態に保持される。このルーチンには点ＨＥＣＭＡ乃
至ＨＥＣＭＤの内の１つの点からしか入らないので、オ
フ（ＯＦＦ）以外の設定値の場合、ヒータ・エネルギ・
カウンタは電力比較ルーチンにより次の制御時間間隔の
間に加熱素子を作動すべきであると判定されたときのみ
増数または減数される。

電力レベル１−４の内の１つが選択されたとき、エント
リー点ＨＥＣＭＡでこのルーチンに入る。

照会ブロック４６０はヒータ・エネルギ・カウンタがこ
れらの４つの設定値についての最大計数値４０９６に達
したか否か判定する。計数値がこの最大計数値より小さ
ければ、これは加熱素子がまだ温度上昇中であることを
表わし、ヒータ・エネルギ・カウンタが５−１／３の計
数値だけ増加しくブロック４６２）、パワーオン・ラッ
チ（ＰＯＬ）がセットされ（ブロック４６３）、プログ
ラムがパワーアウト・ルーチン（第１３図）に分岐する
（ブロック４６４）。これにより実質的に電力設定値１
−４の場合にＨＥＣが各制御周期当りそれぞれ１６．２
１−１／３．３７−１／３．および５３−１／３計数値
の速度で増加する。ＰＯＬのセット（ブロック４６３）
により、次の制御時間間隔の間、ヒータ制御リレーが閉
じる。

設定値１−４でＨＥＣが最大計数値を超えている場合、
これは加熱素子がその以前に電力設定値４よりも高い電
力設定値で作動されていてそれに対応して高い温度にな
っていたことを表わしていると共に、ヒータ・エネルギ
・カウンタがまだ電力設定値１−４に対応する低い方の
最大計数値まで減少していないということを表わしてい
る。低い方の最大計数値まで減少していないということ
は加熱素子がそれ以前の高い温度と所望の低い電力設定
値に対応する低い温度との間の冷却段階にあるというこ
とを表わす。したがってヒータ・エネルギ・カウンタは
２−２／３の計数値だけ減じられ（ブロック４６５）、
パワーアウト・ラッチがセットされ（ブロック４６３）
、プログラムがパワーアウト・ルーチンに分岐する。こ
れにより電力設定値１−４の場合は各制御周期当りそれ
ぞれ：［数値８．１０−２／３．１８−２／３および２
６−２／３の速度でＨＥＣが減少する。

加熱素子が現在電力レベル５−７の内の１つのレベルで
動作中であれば、ＨＥＣＭＢでこのルーチンに入る。照
会ブロック４６６はこれらのレベルに対応する最大計数
値５１２ｏに達したが否が判定する。達していなければ
、ＨＥＣを計数値４だけ増加させ（ブロック４６ｇ）、
ＰＯＬがセットされる（ブロック４６３）。これにより
電力設定値５．６および７の場合、各制御周期当りそれ
ぞれ計数値５６．７２および１０４の速度でＨＥＣが増
加する。ＨＥＣ計数値が最大計数値を超えて、加熱素子
の動作が高電力設定値からの変更後の冷却段階にあるこ
とを表わしている場合、ＨＥＣが計数値２だけ減少しく
ブロック４６９）、ＰＯＬがセットされ（ブロック４６
３）、そしてプログラムはパワーアウト・ルーチンに分
岐する。

これにより設定５，６および７の場合、各制御周期当り
それぞれ計数値２８．３６および５２の実効平均速度で
ＨＥＣが減少する。

加熱素子が電力レベル８−１０の内の１つのレベルで動
作していれば、点ＨＥＣＭＣからこのルーチンに入る。

照会ブロック４７０はこれらのレベルに対応する最大計
数値６１４４に達したか否かを判定する。達していなけ
れば、ＨＥＣは２−２／３の計数値だけ増加しくブロッ
ク４７２）、ＰＯＬがセットされる（ブロック４６３）
。これにより、レベル８，９および１０の場合に各制御
周期当りそれぞれ計数値８８，１１２および１４１−１
／３の実効平均速度でＨＥＣが増加する。

１（ＥＣ計数値が最大計数値を超えて、高電力設定値か
らの変更後の冷却段階で動作していることを表わしてい
る場合には、ＨＥＣは１の計数値だけ減少しくブロック
４７３）、ＰＯＬがセットされ（ブロック４６３）、そ
してプログラムはパワーアウト・ルーチンに分岐する。

これにより電力設定値８．９および１０の場合、各制御
周期当りそれぞれ計数値３３．４２および５３の実効速
度でＨＥＣが減少する。

加熱素子が電力レベル１１−１５の内の１つのレベルで
動作していれば、エントリー点ＨＥＣＭＤでこのルーチ
ンに入る。照会ブロック４７４はこれらの電力レベルに
対する最大計数値８１９２に達したか否かを判定する。

達していなければ、ＨＥＣが２だけ増数しくブロック４
７６）、ＰＯＬがセットされ（ブロック４６３）、そし
てプログラムがパワーアウト・ルーチンに分岐する。こ
れによりレベル１１，１２，１３．１４および１５の場
合に各制御周期当りそれぞれ計数値１２８゜１６０．１
９２．２２４および２５６の実効速度でＨＥＣが増加す
る。これらの電力レベルの内の１つを選択したことによ
りＨＥＣを減らさなければならないような状態はないの
で、最大計数値に達すれば、ブロック４７６はバイパス
され、ＨＥＣの計数値は不変のままとなる。そしてＰＯ
Ｌがセットされ（ブロック４６３）、プログラムはパワ
ーアウト・ルーチンに分岐する。

オフ（ＯＦＦ）電力設定値の場合には、エントリー点Ｈ
ＥＣＤＬ　（第１２Ｂ図）でこのルーチンに入り、照会
ブロック４７７がＨＥＣの計数値がゼロであるか否か判
定する。ゼロであれば、プログラムはエントリー点パワ
ーオフから第１３図のパワーアウト・ルーチンに分岐す
る（ブロック４７８）。ゼロでなければ、計数値が１／
２だけ減じられる（ブロック４７９）。これにより各制
御周期当り計数値６４の速度でＨＥＣが減少する。

パワーアウト・ルーチン（第１３図） スタート・ルーチン（第８図）の説明で述べたように各
表面加熱ユニットに対して順次、制御プログラムが実行
される。変数ＳＵはシーケンスを制御するために使用さ
れるインデキシング変数である。ＳＵが０．１．２また
は３に等しいことはＲＡＭファイルとそれに対応する表
面加熱ユニット１８，１６．１４および１２の内のどれ
がプログラムを通る現在のパスの主題であるかを表わす
。

パワーアウト・ルーチンの機能は、そのとき制御プログ
ラムが実行している対象の表面加熱二ニットに対応する
電力制御用のトライアック８２Ａ−８２Ｄ（第５図）の
内の１つのトライアックの点弧を、端子Ｌ１とＲ２の間
に印加される６０１１ｚの交流電力信号のゼロ交差と同
期させることである。このため、入力ポートに８はゼロ
交差検出回路１００からゼロ交差パルスを受ける。次に
第１３図を参照して説明すると、次の制御時間間隔の間
に表面加熱ユニットをオフ（不動作）にするときはエン
トリー点パワーオフでプログラムに入り、次の制御時間
間隔の間に加熱ユニットを動作させるときはエントリー
点パワーアウトでプログラムに入る。パワーオフで入っ
たとき、ＰＯＬがリセットされる（ブロック４８０）。

パワーアウトで入ったとき、ブロック４８０がバイパス
される。

入力ポートに８の電力信号の正の半サイクルは論理１　
（Ｋ８−１）で表わされ、負の半サイクルは論理０　（
Ｋ８−０）によって表わされる。照会ブロック４８１は
現時点の電力信号の半サイクルの極性を判定する。信号
が現時点で正の半サイクル（Ｋ８−１）にあれば、照会
ブロック４８２は次の頁の半サイクル（Ｋ８−０）の開
始を待つ。Ｋ８−０を検出すると、プログラムは照会ブ
ロック４８４に進む。照会ブロック４８１の答がいいえ
（Ｎｏ）であれば、照会ブロック４８５は次の正の半サ
イクル（Ｋ８−１）の開始を待ち、次の照会ブロック４
８４に進む。

照会ブロック４８４はパワーアウト・ラッチ（Ｐ　ＯＬ
）の状態をチエツクする。ＰＯＬ、かリセットされて、
次の制御時間間隔の間に対応する表面加熱ユニットを動
作させないということが表わされていれば、インデック
ス変数ＳＵ＋４によって表わされる適切な出力ボート（
ここで５Ｕ−０゜１．２および３それぞれに対してＲ（
ＳＵ＋４）はＲ４，Ｒ５，Ｒ６およびＲ７を表わす）が
リセットされる（ブロック４８６）。ＰＯＬがセットさ
れていて、対応する表面加熱ユニットを動作させるべき
ことが表わされていれば、Ｒ（ＳＵ＋４）がセットされ
る（ブロック４８８）。

４個の表面加熱ユニットの全部について実行が完了した
ことを表わす５Ｕ−３となるまで、照会ブロック４９０
によって制御プログラムがスタート・ルーチンに直接戻
り、次の表面加熱ユニットに対するプログラムを反復す
る。５Ｕ−３のときは、プログラムは次の制御時間間隔
の初めまで遅延する（ブロック４９２）。図示の実施例
では制御プログラムの実行にはプログラムのバス毎に電
力信号の半サイクルが使用される。したがって、４個の
表面加熱ユニット全部についての実行は電力信号の最初
の２サイクルで完了する。制御時間間隔の持続時間は電
力信号の８サイクルであるので、ブロック４９２はプロ
グラムを６個の電力信号サイクルの間遅延させ、その後
プログラムはスタートに分岐して（ブロック４９４）、
次の制御時間間隔に対して実行を開始する。

以上、本発明の実施例を図示し説明してきたが、当業者
には多数の変形や変更を考えられよう。たとえば図示の
実施例では温度センサは加熱されている器具の温度を監
視する。しかし、加熱素子と組合わせて温度制御器とし
てセンサを用いて、温度制御ではなくて支持表面または
加熱ユニット自体の過熱を防止するようにしてもよい。

このような用途では監視される負荷温度は加熱対象に対
する支持体の表面温度または加熱ユニット自体の温度で
あってもよい。本発明の故障検出装置はこのような保護
用のセンサの故障検出にも容易に適用できる。したがっ
て特許請求の範囲は本発明の趣旨と範囲に入るこのよう
な変形と変更をすべて包含するものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のセンサ故障検出装置を用いた電気レン
ジの一部を示す斜視図である。第２Ａ図および第２Ｂ図
は第１図のレンジの制御盤の一部の拡大図であり、それ
ぞれ自動表面加熱ユニットの制御つまみと通常の表面加
熱ユニットの制御つまみの詳細を示す。第３Ａ図は第１
図のレンジに設けられている形式の表面加熱ユニットの
断面図であり、温度センサを示す。第３Ｂ図は第３Ａ図
の温度センサの抵抗対温度特性を示すグラフである。第
４図は本発明のセンサ故障検出装置を取り入れた第１図
のレンジに用いられる制御装置の機能ブロック図である
。第５図は第１図のレンジに対する制御回路の回路図で
ある。第６図は第５図の回路の中のマイクロプロセッサ
のための制御プログラムに含まれるスタート・ルーチン
の流れ図である。第７図は第５図の回路の中のマイクロ
プロセッサのための制御プログラムに含まれるユーザ入
力ルーチンの流れ図である。第８図は第５図の回路の中
のマイクロプロセッサのための制御プログラムに含まれ
る温度入力ルーチンの流れ図である。第９図は第５図の
回路の中のマイクロプロセッサのための制御プログラム
に含まれるフィルタおよびセンサ・タイミング・ルーチ
ンの流れ図である。第１０図は第５図の回路の中のマイ
クロプロセッサのための制御プログラムに含まれる故障
検出ルーチンの流れ図である。第１１Ａ、１１Ｂおよび
１１０図は第５図の回路の中のマイクロプロセッサのた
めの制御プログラムに含まれる電力比較ルーチンの流れ
図である。第１２Ａおよび１２Ｂ図は第５図の回路の中
のマイクロプロセッサの制御プログラムに含まれるＨＥ
Ｃ制御ルーチンの流れ図である。第１３図は第５図の回
路の中のマイクロプロセッサの制御プログラムに含まれ
るパワーアウト・ルーチンの流れ図である。 ［主な符号の説明］ １２．１４，１６．１８・・・表面加熱ユニット、４４
・・・スイッチ手段、 ４９・・・ヒータ・エネルギ・カウンタ、５２・・・温
度感知手段、 ７２・・・マイクロプロセッサ、 １００・・・ゼロ交差検出回路、 １０４・・・サーミスタ、 １１４・・・マルチプレクサ回路、 １１６・・・復号回路、 １１８・・・ゲート回路。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、ヒータ手段、該ヒータ手段に印加される電力レベル
   を制御する制御手段、および該ヒータ手段によって加熱
   される負荷の温度を感知するための温度感知手段をそな
   えた形式の温度制御式加熱装置における温度センサ故障
   検出装置であって、上記制御手段に、ヒータ・エネルギ
   ・カウンタ手段、上記ヒータ・エネルギ・カウンタ手段
   の計数値が上記ヒータ手段の温度を近似的に追従するよ
   うに上記ヒータ手段に印加される電力レベルの関数とし
   て定められた速度で上記ヒータ・エネルギ・カウンタ手
   段の計数値を増減させる手段、ならびに上記温度感知手
   段および上記ヒータ・エネルギ・カウンタ手段に応答し
   て、上記ヒータ・エネルギ・カウンタ手段の計数値が所
   定の基準範囲内にあり且つ感知された温度が所定の相関
   基準温度範囲の外にあるときは上記温度感知手段の第１
   の異常動作状態を検出する手段が含まれていることを特
   徴とする温度センサ故障検出装置。 ２、上記異常状態が検出されたときにユーザ報知信号を
   発生する手段を含んでいる請求項１記載の温度センサ故
   障検出装置。 ３、上記基準計数値範囲が所定の最大および最小診断基
   準計数値の間に限定され、上記基準温度範囲が所定の相
   関する最高および最低診断基準温度の間に限定されてお
   り、上記異常状態検出手段はヒータ・エネルギ計数値が
   上記最大診断基準計数値より小さく且つ感知された温度
   が上記の所定の最高診断基準温度より高いときに第１の
   異常状態を検出し、上記ヒータ・エネルギ・カウンタ手
   段の計数値が上記の所定の最小診断基準計数値より大き
   く且つ感知された温度が上記の所定の最低基準診断温度
   より低いときに第２の異常状態を検出する請求項２記載
   のセンサ故障検出装置。 ４、ヒータ手段、該ヒータ手段に印加される電力レベル
   を制御する制御手段、および該ヒータ手段によって加熱
   される負荷の温度を感知するための温度感知手段をそな
   える形式の温度制御式加熱装置における温度センサ故障
   検出装置であって、上記制御手段に、ヒータ・エネルギ
   ・カウンタ手段、上記ヒータ・エネルギ・カウンタ手段
   の計数値が上記ヒータ手段の温度を近似的に追従するよ
   うに上記ヒータ手段に印加される電力レベルの関数とし
   て定められた速度で上記ヒータ・エネルギ・カウンタ手
   段の計数値を増減する手段、ならびに上記温度感知手段
   および上記ヒータ・エネルギ・カウンタ手段に応答して
   、上記ヒータ・エネルギ・カウンタ手段の計数値が所定
   の診断基準計数値より小さく且つ感知された温度が所定
   の相関診断基準温度より高いときに上記温度感知手段の
   第１の異常動作状態を検出する手段が含まれていること
   を特徴とする温度センサ故障検出装置。 ５、上記異常状態が検出されたときユーザ報知信号を発
   生する手段を含んでいる請求項４記載の温度センサ故障
   検出装置。 ６、調理用器具を加熱するためのヒータ手段、ユーザが
   上記ヒータ手段に対して所望の加熱レベルを選択できる
   ようにするためのユーザ入力選択手段、上記ヒータ手段
   によって加熱されている上記器具の温度を感知する温度
   感知手段、上記ヒータ手段の温度を近似的に追従するた
   めのヒータ・エネルギ・カウンタ手段、上記ヒータ・エ
   ネルギ・カウンタ手段の計数値が上記ヒータ手段の温度
   にほぼ比例するような速度で上記ヒータ・エネルギ・カ
   ウンタ手段の計数値を選択的に増減するカウンタ制御手
   段、ならびに上記ユーザ入力選択手段および上記温度感
   知手段に応答して、感知された温度およびユーザの選択
   した加熱レベルの関数として上記ヒータ手段に電力レベ
   ルを印加する制御手段をそなえた形式の調理装置におい
   て、温度感知手段の故障を検出するための故障検出装置
   であって、 上記ヒータ・エネルギ・カウンタ手段に応答して、上記
   ヒータ・エネルギ・カウンタ手段の計数値が所定の基準
   範囲内にあり且つ感知された上記器具の温度が相関する
   所定の基準温度範囲の外側にあるときに上記温度感知手
   段の異常動作状態を検出する手段が上記制御手段に設け
   られており、さらに、上記異常状態が検出されたときに
   ユーザ報知信号を発生する手段を含んでいることを特徴
   とする故障検出装置。 ７、上記基準計数値範囲が所定の最大および最小診断基
   準計数値の間にあり、上記基準温度範囲が相関する所定
   の最高および最低診断基準温度の間にあり、上記異常状
   態検出手段はヒータ・エネルギ・計数値が上記最大診断
   基準計数値より小さく且つ感知された温度が上記所定最
   高診断基準温度より高いときに第１の異常状態を検出し
   、上記ヒータ・エネルギ・カウンタ手段の計数値が上記
   所定最小診断基準計数値より大きく且つ感知された器具
   温度が上記所定最低基準診断温度より低いときに第２の
   異常状態を検出する請求項６記載の故障検出装置。 ８、上記温度感知手段は温度係数が負のサーミスタを含
   み、上記第１異常動作状態は上記サーミスタの短絡故障
   状態であり、かつ上記第２異常動作状態は上記サーミス
   タの開路故障状態である請求項７記載の故障検出装置。 ９、調理用器具を加熱するためのヒータ手段、ユーザが
   上記ヒータ手段に対する所望の加熱レベルを選択できる
   ようにするためのユーザ入力選択手段、上記ヒータ手段
   によって加熱されている上記器具の温度を感知する温度
   感知手段、加熱素子の温度を追従するためのヒータ・エ
   ネルギ・カウンタ手段、上記ヒータ・エネルギ・カウン
   タの計数値が上記加熱素子の温度にほぼ比例するような
   速度で上記エネルギ・カウンタの計数値を選択的に増減
   するカウンタ制御手段、ならびに上記ユーザ入力選択手
   段および上記温度感知手段に応答して、正常状態の際に
   ユーザの選択した加熱レベルおよび感知された温度の関
   数として定められた電力レベルを上記ヒータ手段に印加
   する制御手段をそなえた形式の調理装置において、温度
   感知手段の故障を検出するための故障検出装置であって
   、上記ヒータ・エネルギ・カウンタ手段および上記温度
   感知手段に応答して、上記ヒータ・エネルギ・カウンタ
   の計数値が所定の診断基準計数値より小さく且つ感知さ
   れた温度が相関する所定の診断基準温度より高いときに
   上記温度感知手段の異常動作状態を検出する手段が上記
   制御手段に含まれており、 さらに、上記制御手段に応答し、かつ上記制御手段によ
   る上記温度感知手段の上記異常動作状態の検出に応答し
   てユーザ報知信号を発生する手段を含んでいることを特
   徴とする故障検出装置。 １０、調理用器具を加熱するためのヒータ手段、ユーザ
   が上記ヒータ手段に対する所望の加熱レベルを選択でき
   るようにするためのユーザ入力選択手段、上記ヒータ手
   段によって加熱されている上記器具の温度と感知する温
   度感知手段、上記ヒータ手段の温度を追従するためのヒ
   ータ・エネルギ・カウンタ手段、上記ヒータ・エネルギ
   ・カウンタの計数値が上記ヒータ手段の温度にほぼ比例
   するよう速度で上記エネルギ・カウンタの計数値を選択
   的に増減するカウンタ制御手段、ならびに上記ユーザ入
   力選択手段および上記温度感知手段に応答して、感知さ
   れた温度およびユーザの選択した加熱レベルの関数とし
   て電力レベルを加熱手段に印加する制御手段をそなえた
   形式の調理装置において、温度感知手段の故障を検出す
   る方法に於いて、 上記ヒータ・エネルギ・カウンタの計数値を、比較的高
   温での上記ヒータ手段の動作を示す所定の最大基準計数
   値と周期的に比較するステップ、上記最大基準計数値よ
   り小さいヒータ・エネルギ計数値が検出されたときに、
   感知された器具温度を最高基準診断温度と比較するステ
   ップ、感知された温度が基準温度より低い場合に、ヒー
   タ・エネルギ計数値を、比較的低温での上記ヒータ手段
   の動作を表わす最小基準計数値と比較するステップ、 計数値が上記基準計数値より大きい場合に、感知された
   器具温度を、上記ヒータ手段に対して利用し得る最低の
   電力レベルで動作する器具の場合の正常な定常状態動作
   温度よりも低い器具温度を表わす最低診断基準温度と比
   較するステップ、感知された温度が最高基準温度よりも
   高いかまたは最低診断基準温度より低い場合に、上記温
   度感知手段の異常動作状態を検出するステップ、ならび
   に 異常動作状態が検出されたときにそれを表示するユーザ
   報知信号を発生するステップ、 を含むことを特徴とする温度感知手段の故障検出方法。