JPH01152377A - 部分放電検出方法 - Google Patents
部分放電検出方法Info
- Publication number
- JPH01152377A JPH01152377A JP62311022A JP31102287A JPH01152377A JP H01152377 A JPH01152377 A JP H01152377A JP 62311022 A JP62311022 A JP 62311022A JP 31102287 A JP31102287 A JP 31102287A JP H01152377 A JPH01152377 A JP H01152377A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- partial discharge
- ultraviolet
- wavelength
- visible light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title description 7
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 6
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 abstract description 9
- 238000005286 illumination Methods 0.000 abstract description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 6
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 4
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052792 caesium Inorganic materials 0.000 description 3
- TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N caesium atom Chemical group [Cs] TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 3
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011591 potassium Substances 0.000 description 3
- 102100023702 C-C motif chemokine 13 Human genes 0.000 description 2
- 101100382872 Homo sapiens CCL13 gene Proteins 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 101150018062 mcp4 gene Proteins 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 125000004433 nitrogen atom Chemical group N* 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Relating To Insulation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、電力設備等から発生する部分放電を検出する
方法に関する。更に詳述すると、本発明は、電力設備の
不特定箇所・設備に生ずるコロナ放電等の部分放電光を
検出するのに好適な部分放電検出方法に関する。
方法に関する。更に詳述すると、本発明は、電力設備の
不特定箇所・設備に生ずるコロナ放電等の部分放電光を
検出するのに好適な部分放電検出方法に関する。
(従来の技術)
高電圧に関与する設備、例えば電力機器、送電線などの
電力設備にあっては、絶縁劣化等の設備の経時的劣化が
生じる。このため設備の劣化を常時あるいは定期的にし
なければならないが、現状では作業員等の目視観察等に
頼る処が多く、改善が望まれている。そこで、近年、電
力設備の劣化に伴い発生する、電力設備からのコロナ放
電に代表される部分放電光の検出が電力設備の劣化診断
技術として非常に有望視されている。
電力設備にあっては、絶縁劣化等の設備の経時的劣化が
生じる。このため設備の劣化を常時あるいは定期的にし
なければならないが、現状では作業員等の目視観察等に
頼る処が多く、改善が望まれている。そこで、近年、電
力設備の劣化に伴い発生する、電力設備からのコロナ放
電に代表される部分放電光の検出が電力設備の劣化診断
技術として非常に有望視されている。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、部分放電に伴い発生する光スペクトルは
、放電により空気中の成分が励起されることにより発生
するため、光の強い領域は第3図に示すように窒素原子
による紫外領域がほとんどである。従って、これらの紫
外光を照明下で肉眼で検出しようとすると照明光が邪魔
になり、見ることができない、このため、部分放電光の
観察による電力設備の劣化診断技術は、夜間あるいは照
明光のない場所においてのみ使えるものである。
、放電により空気中の成分が励起されることにより発生
するため、光の強い領域は第3図に示すように窒素原子
による紫外領域がほとんどである。従って、これらの紫
外光を照明下で肉眼で検出しようとすると照明光が邪魔
になり、見ることができない、このため、部分放電光の
観察による電力設備の劣化診断技術は、夜間あるいは照
明光のない場所においてのみ使えるものである。
したがって、部分放電光の存在即ち電力設備の劣化の有
無を診断することはできても、放電周辺の電力設備を観
察できないのでそれがどの設備のどの部分であるかの特
定をすることが難しい欠点がある。
無を診断することはできても、放電周辺の電力設備を観
察できないのでそれがどの設備のどの部分であるかの特
定をすることが難しい欠点がある。
そこで、本発明は、部分放電光を太陽光や照明光の下で
検出できる方法を提供することを目的とする。
検出できる方法を提供することを目的とする。
(問題点を解決するための手段)
かかる目的を達成するため、本発明は、200n1m〜
400nmの波長の紫外線をこれに対し相当微弱な可視
光と同時に紫外線撮像手段に取込み、背景を目視しつつ
部分放電を検出するようにしている。
400nmの波長の紫外線をこれに対し相当微弱な可視
光と同時に紫外線撮像手段に取込み、背景を目視しつつ
部分放電を検出するようにしている。
(作用)
したがって、微弱な可視光を利用して検出対象や位置の
特定を行いつつ、これに比べて光強度の大きい200
nm〜400 nnの波長の紫外線領域の光から部分放
電光を検出する。
特定を行いつつ、これに比べて光強度の大きい200
nm〜400 nnの波長の紫外線領域の光から部分放
電光を検出する。
(実施例)
以下、本発明の構成を図面に示す実施例に基づいて詳細
に説明する。
に説明する。
第3図に電力設備等から発生する部分放電光のスペクト
ルを示す、このスペクトルより明らかなように、電力設
備が劣化し始めると、この電力設備の部位より部分放電
が発生し、部分放電光が放出される。この部分放電光は
、波長337rvの紫外光の強度が一番強く、そして波
長358nnの紫外光、波長316n11の紫外光、波
長400n11近傍の紫外光が強く発生し、可視光は微
弱な状態で含まれている。従って、200 nm〜40
0 n11の波長の紫外光を検出し、観測すれば電力設
備の劣化の診断ができる。
ルを示す、このスペクトルより明らかなように、電力設
備が劣化し始めると、この電力設備の部位より部分放電
が発生し、部分放電光が放出される。この部分放電光は
、波長337rvの紫外光の強度が一番強く、そして波
長358nnの紫外光、波長316n11の紫外光、波
長400n11近傍の紫外光が強く発生し、可視光は微
弱な状態で含まれている。従って、200 nm〜40
0 n11の波長の紫外光を検出し、観測すれば電力設
備の劣化の診断ができる。
第2図に本発明の部分放電検出方法に使用する紫外線撮
像手段の一実施例を原理図で示す、この紫外線撮像手段
は、対物レンズ8と、光電変換部材にて形成された光電
面1が貼着された入射窓7と、電子レンズ2と、マイク
ロチャンネルプレート4(以下MCPと記載する)と、
螢光面5と、接眼レンズ6及び電源部3とから構成され
ている。
像手段の一実施例を原理図で示す、この紫外線撮像手段
は、対物レンズ8と、光電変換部材にて形成された光電
面1が貼着された入射窓7と、電子レンズ2と、マイク
ロチャンネルプレート4(以下MCPと記載する)と、
螢光面5と、接眼レンズ6及び電源部3とから構成され
ている。
本実施例の場合の光電変換部材としては、セシウム(C
s)とチリウム(Te)及び若干のカリウム(K)の混
合物から成るものが使用されている。この光電変換部材
(即ち光電面)は例えば真空蒸着技術によって入射窓7
上に薄膜状に形成されている。このセシウム、チリウム
及び若干のカリウムの混合によって形成された光電面の
波長透過特性は第1図■に示すように、240nn以下
の短い波長に対して強く応答し、それより長い波長の光
に対しては透過率が漸次に落ちて行き、可視光領域と重
なる400nm〜460止付近では微弱な光しか透過さ
せない特性を有する。但し、この光電面の波長透過特性
は、300 n11近傍からその波長に対する透過率が
落ちていくのであるが、波長透過特性はブロー(B I
ow)な特性曲線を描いて落ちていくため、可視光の
波長部分まで到達し、微弱な可視光をも一部透過させる
。この場合、可視光波長における光な変換効率、即ち量
子効率は300n11以前の波長に対する量子効率に比
べて非常に小さいものである。従って、部分放電光が入
力された場合、200nm〜400n11の範囲の波長
の紫外光に対してこの光電面が強く応答すると同時にこ
れらの紫外光の光量に比して相当微弱とはなるが、若干
の可視光波長にも応答する。
s)とチリウム(Te)及び若干のカリウム(K)の混
合物から成るものが使用されている。この光電変換部材
(即ち光電面)は例えば真空蒸着技術によって入射窓7
上に薄膜状に形成されている。このセシウム、チリウム
及び若干のカリウムの混合によって形成された光電面の
波長透過特性は第1図■に示すように、240nn以下
の短い波長に対して強く応答し、それより長い波長の光
に対しては透過率が漸次に落ちて行き、可視光領域と重
なる400nm〜460止付近では微弱な光しか透過さ
せない特性を有する。但し、この光電面の波長透過特性
は、300 n11近傍からその波長に対する透過率が
落ちていくのであるが、波長透過特性はブロー(B I
ow)な特性曲線を描いて落ちていくため、可視光の
波長部分まで到達し、微弱な可視光をも一部透過させる
。この場合、可視光波長における光な変換効率、即ち量
子効率は300n11以前の波長に対する量子効率に比
べて非常に小さいものである。従って、部分放電光が入
力された場合、200nm〜400n11の範囲の波長
の紫外光に対してこの光電面が強く応答すると同時にこ
れらの紫外光の光量に比して相当微弱とはなるが、若干
の可視光波長にも応答する。
本実施例において、光電面はセシウム、チリウム及び若
干のカリウムを混合して形成したものについてのみ説明
したが、これに限定されるものではない6例えば、第1
図■の特性を示すマルチアルカリ光電部材と可視光除去
フィルタとを組合せて第1図■の透過特性を示す光電面
を形成するようにしても良いし、他の光電部材や螢光体
あるいは紫外線写真機などを使用するようにしても良い
。
干のカリウムを混合して形成したものについてのみ説明
したが、これに限定されるものではない6例えば、第1
図■の特性を示すマルチアルカリ光電部材と可視光除去
フィルタとを組合せて第1図■の透過特性を示す光電面
を形成するようにしても良いし、他の光電部材や螢光体
あるいは紫外線写真機などを使用するようにしても良い
。
または、紫外光を選択的に捕える光電変換素子と同等の
カットオフ機能を有する可視光除去フィルターを利用し
たイメージインテンシファイヤなどの使用が可能である
。
カットオフ機能を有する可視光除去フィルターを利用し
たイメージインテンシファイヤなどの使用が可能である
。
以上のように構成された紫外線撮像手段によると、部分
放電光Aは対物レンズ8及び入射窓7を経て光電面1に
入力され、光分子量に比例した電子エネルギーに変換さ
れた後、電子レンズ3を介して螢光面5に結像される。
放電光Aは対物レンズ8及び入射窓7を経て光電面1に
入力され、光分子量に比例した電子エネルギーに変換さ
れた後、電子レンズ3を介して螢光面5に結像される。
光電面1は200 nm〜400n11の紫外光に対し
て強く反応するが微弱である可視光にも同時に反応する
。尚、MCP4は光電変換後の電子エネルギーを増幅す
る増幅器であり、電源部3は電子レンズ2及びMCP4
に定格電源供給を行なう、また、螢光面5はその表面に
螢光部材が貼着されており、前記MCP4で増幅された
電子エネルギーによって作られた像を表示する したがって、螢光面5には200nIl〜400ntの
波長の紫外光即ち部分放電光と紫外光領域に近い微弱な
可視光から成る像が表示される。そこで、観測者は接眼
レンズ6を介して、この螢光面5に表示された像を観測
することができる。
て強く反応するが微弱である可視光にも同時に反応する
。尚、MCP4は光電変換後の電子エネルギーを増幅す
る増幅器であり、電源部3は電子レンズ2及びMCP4
に定格電源供給を行なう、また、螢光面5はその表面に
螢光部材が貼着されており、前記MCP4で増幅された
電子エネルギーによって作られた像を表示する したがって、螢光面5には200nIl〜400ntの
波長の紫外光即ち部分放電光と紫外光領域に近い微弱な
可視光から成る像が表示される。そこで、観測者は接眼
レンズ6を介して、この螢光面5に表示された像を観測
することができる。
(発明の効果)
以上の説明より明らかなように、本発明の部分放電検出
方法は、200 nm〜400nmの波長の紫外線をこ
れに対し相当微弱な可視光と同時に紫外線!ff1手段
に取込み、微弱な可視光を利用して検出対象や位置の特
定を行い、これに比べて光強度の大きい部分放電光を検
出するようにしているので、太陽光や照明光下でも部分
放電光を測定・観察して電力設備の劣化を診断できると
共にその周辺の背景を確認して設備の方角、場所並びに
部分放電箇所を特定することができる。
方法は、200 nm〜400nmの波長の紫外線をこ
れに対し相当微弱な可視光と同時に紫外線!ff1手段
に取込み、微弱な可視光を利用して検出対象や位置の特
定を行い、これに比べて光強度の大きい部分放電光を検
出するようにしているので、太陽光や照明光下でも部分
放電光を測定・観察して電力設備の劣化を診断できると
共にその周辺の背景を確認して設備の方角、場所並びに
部分放電箇所を特定することができる。
第1図は本実施例に使用する光電変換部材の波長透過特
性を示す1子効率−波長グラフ、第2図は本発明方法に
使用する紫外線撮像手段の一実施例を示す概略図、第3
図は部分放電に伴い発生する光スペクトル図である。 1・・・光電面、2・・・電子レンズ、5・・・螢光面
、A・・・入力される部分放電光。
性を示す1子効率−波長グラフ、第2図は本発明方法に
使用する紫外線撮像手段の一実施例を示す概略図、第3
図は部分放電に伴い発生する光スペクトル図である。 1・・・光電面、2・・・電子レンズ、5・・・螢光面
、A・・・入力される部分放電光。
Claims (1)
- 200nm〜400nmの波長の紫外線をこれに対し相
当微弱な可視光と同時に紫外線撮像手段に取込み、背景
を目視しつつ部分放電を検出することを特徴とする部分
放電検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62311022A JPH01152377A (ja) | 1987-12-10 | 1987-12-10 | 部分放電検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62311022A JPH01152377A (ja) | 1987-12-10 | 1987-12-10 | 部分放電検出方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01152377A true JPH01152377A (ja) | 1989-06-14 |
Family
ID=18012175
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62311022A Pending JPH01152377A (ja) | 1987-12-10 | 1987-12-10 | 部分放電検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01152377A (ja) |
Cited By (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0682196A (ja) * | 1992-07-17 | 1994-03-22 | Tech Res & Dev Inst Of Japan Def Agency | 射撃評価装置および射撃評価方法 |
JP2005241623A (ja) * | 2004-01-27 | 2005-09-08 | Jfe Steel Kk | 放電検出装置 |
CN103105567A (zh) * | 2013-02-05 | 2013-05-15 | 宁波工程学院 | 分光镜型电晕紫外探测仪 |
CN103135044A (zh) * | 2013-02-05 | 2013-06-05 | 吴礼刚 | 单激光定位电晕紫外探测仪 |
CN103135043A (zh) * | 2013-02-05 | 2013-06-05 | 宁波工程学院 | 带翻转反光镜的电晕紫外探测仪 |
CN103135042A (zh) * | 2013-02-05 | 2013-06-05 | 吴礼刚 | 带翻转反光镜的电晕紫外探测仪 |
CN103149510A (zh) * | 2013-02-05 | 2013-06-12 | 吴礼刚 | 激光阵列定位型电晕放电探测仪 |
CN103149511A (zh) * | 2013-02-05 | 2013-06-12 | 吴礼刚 | 分光镜型电晕紫外探测仪 |
CN103149509A (zh) * | 2013-02-05 | 2013-06-12 | 吴礼刚 | 可定位测距电晕紫外探测仪 |
CN103616621A (zh) * | 2013-11-25 | 2014-03-05 | 中国科学院电工研究所 | 一种电子枪真空放电检测装置 |
CN105372564A (zh) * | 2015-11-23 | 2016-03-02 | 北京环境特性研究所 | 一种紫外成像电晕检测方法与装置 |
CN106707115A (zh) * | 2016-11-29 | 2017-05-24 | 国网辽宁省电力有限公司沈阳供电公司 | 反射高能电子衍射技术对高压电缆局部放电的检测装置 |
CN109375068A (zh) * | 2018-09-26 | 2019-02-22 | 北京环境特性研究所 | 一种基于紫外成像电晕检测的目标识别方法及装置 |
WO2019087288A1 (ja) * | 2017-10-31 | 2019-05-09 | 株式会社東芝 | 部分放電検出装置および部分放電検出方法 |
CN110275098A (zh) * | 2019-06-28 | 2019-09-24 | 杭州赫太克科技有限公司 | 紫外成像仪 |
CN110988773A (zh) * | 2019-12-19 | 2020-04-10 | 国网山西省电力公司电力科学研究院 | 一种紫外成像仪的校验比对方法 |
CN110988772A (zh) * | 2019-12-19 | 2020-04-10 | 国网山西省电力公司电力科学研究院 | 一种紫外成像仪的校验比对电路 |
US10914629B2 (en) | 2017-03-21 | 2021-02-09 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Imaging system, and method for specifying UV emission location using same |
-
1987
- 1987-12-10 JP JP62311022A patent/JPH01152377A/ja active Pending
Cited By (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0682196A (ja) * | 1992-07-17 | 1994-03-22 | Tech Res & Dev Inst Of Japan Def Agency | 射撃評価装置および射撃評価方法 |
JP2005241623A (ja) * | 2004-01-27 | 2005-09-08 | Jfe Steel Kk | 放電検出装置 |
JP4529624B2 (ja) * | 2004-01-27 | 2010-08-25 | Jfeスチール株式会社 | 放電検出装置 |
CN104991175A (zh) * | 2013-02-05 | 2015-10-21 | 宁波光之瞳光电科技有限公司 | 单激光定位电晕紫外探测仪 |
CN103105567A (zh) * | 2013-02-05 | 2013-05-15 | 宁波工程学院 | 分光镜型电晕紫外探测仪 |
CN103135044A (zh) * | 2013-02-05 | 2013-06-05 | 吴礼刚 | 单激光定位电晕紫外探测仪 |
CN103135043A (zh) * | 2013-02-05 | 2013-06-05 | 宁波工程学院 | 带翻转反光镜的电晕紫外探测仪 |
CN103135042A (zh) * | 2013-02-05 | 2013-06-05 | 吴礼刚 | 带翻转反光镜的电晕紫外探测仪 |
CN103149510A (zh) * | 2013-02-05 | 2013-06-12 | 吴礼刚 | 激光阵列定位型电晕放电探测仪 |
CN103149511A (zh) * | 2013-02-05 | 2013-06-12 | 吴礼刚 | 分光镜型电晕紫外探测仪 |
CN103149509A (zh) * | 2013-02-05 | 2013-06-12 | 吴礼刚 | 可定位测距电晕紫外探测仪 |
CN103616621A (zh) * | 2013-11-25 | 2014-03-05 | 中国科学院电工研究所 | 一种电子枪真空放电检测装置 |
CN105372564A (zh) * | 2015-11-23 | 2016-03-02 | 北京环境特性研究所 | 一种紫外成像电晕检测方法与装置 |
CN106707115A (zh) * | 2016-11-29 | 2017-05-24 | 国网辽宁省电力有限公司沈阳供电公司 | 反射高能电子衍射技术对高压电缆局部放电的检测装置 |
US10914629B2 (en) | 2017-03-21 | 2021-02-09 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Imaging system, and method for specifying UV emission location using same |
WO2019087288A1 (ja) * | 2017-10-31 | 2019-05-09 | 株式会社東芝 | 部分放電検出装置および部分放電検出方法 |
CN109375068A (zh) * | 2018-09-26 | 2019-02-22 | 北京环境特性研究所 | 一种基于紫外成像电晕检测的目标识别方法及装置 |
CN109375068B (zh) * | 2018-09-26 | 2021-02-05 | 北京环境特性研究所 | 一种基于紫外成像电晕检测的目标识别方法及装置 |
CN110275098A (zh) * | 2019-06-28 | 2019-09-24 | 杭州赫太克科技有限公司 | 紫外成像仪 |
CN110988773A (zh) * | 2019-12-19 | 2020-04-10 | 国网山西省电力公司电力科学研究院 | 一种紫外成像仪的校验比对方法 |
CN110988772A (zh) * | 2019-12-19 | 2020-04-10 | 国网山西省电力公司电力科学研究院 | 一种紫外成像仪的校验比对电路 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH01152377A (ja) | 部分放電検出方法 | |
ES2380322T3 (es) | Aparato y cámara de visión UV insensibles a la luz solar | |
US6323491B1 (en) | Corona discharge imaging system for outdoor daylight use | |
US5576550A (en) | Phytoluminometer | |
JP2819358B2 (ja) | 光学器械用較正装置および較正方法 | |
US6150652A (en) | Corona detector with narrow-band optical filter | |
JPS60111217A (ja) | 入射光量制御手段を備えた内視鏡装置 | |
CN2932376Y (zh) | 一种宽谱短波红外激光成像探测器 | |
Pollehn | Evaluation of image intensifiers | |
GB1588234A (en) | Transmission type beam nicroscopes utilising a scanning technique | |
JPH0536769B2 (ja) | ||
Lebedev et al. | Development and testing of subpicosecond streak camera for soft X-ray measurements | |
Iso et al. | Capturing the spectrotemporal structure of a biphoton wave packet with delay-line-anode single-photon imagers | |
CN1362868A (zh) | 光学成象装置中作为多检测器的ccd阵列 | |
JPH04242B2 (ja) | ||
JPH0980319A (ja) | 内視鏡装置 | |
RU2078349C1 (ru) | Оптико-электронный прибор визуализации изображения | |
Castracane et al. | High-resolution image intensifier development: preliminary results | |
JPH01292221A (ja) | 高感度分光装置 | |
JPS6312343A (ja) | 紫外線レ−ザモニタ− | |
Tada et al. | Development of high-resolution and high-speed camera system for a Cherenkov telescope using image intensifiers | |
RU2148849C1 (ru) | Устройство для наблюдения в видимой и инфракрасной областях спектра | |
JPH09213496A (ja) | レーザプラズマ光源 | |
JPS55166617A (en) | Color dark viewing device | |
JPH0947429A (ja) | 電子内視鏡 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20051117 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051129 |
|
A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20060404 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |