JPH01152377A - 部分放電検出方法 - Google Patents
部分放電検出方法Info
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- JPH01152377A JPH01152377A JP62311022A JP31102287A JPH01152377A JP H01152377 A JPH01152377 A JP H01152377A JP 62311022 A JP62311022 A JP 62311022A JP 31102287 A JP31102287 A JP 31102287A JP H01152377 A JPH01152377 A JP H01152377A
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Landscapes
- Testing Relating To Insulation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、電力設備等から発生する部分放電を検出する
方法に関する。更に詳述すると、本発明は、電力設備の
不特定箇所・設備に生ずるコロナ放電等の部分放電光を
検出するのに好適な部分放電検出方法に関する。
方法に関する。更に詳述すると、本発明は、電力設備の
不特定箇所・設備に生ずるコロナ放電等の部分放電光を
検出するのに好適な部分放電検出方法に関する。
（従来の技術）
高電圧に関与する設備、例えば電力機器、送電線などの
電力設備にあっては、絶縁劣化等の設備の経時的劣化が
生じる。このため設備の劣化を常時あるいは定期的にし
なければならないが、現状では作業員等の目視観察等に
頼る処が多く、改善が望まれている。そこで、近年、電
力設備の劣化に伴い発生する、電力設備からのコロナ放
電に代表される部分放電光の検出が電力設備の劣化診断
技術として非常に有望視されている。
電力設備にあっては、絶縁劣化等の設備の経時的劣化が
生じる。このため設備の劣化を常時あるいは定期的にし
なければならないが、現状では作業員等の目視観察等に
頼る処が多く、改善が望まれている。そこで、近年、電
力設備の劣化に伴い発生する、電力設備からのコロナ放
電に代表される部分放電光の検出が電力設備の劣化診断
技術として非常に有望視されている。
（発明が解決しようとする問題点）
しかしながら、部分放電に伴い発生する光スペクトルは
、放電により空気中の成分が励起されることにより発生
するため、光の強い領域は第３図に示すように窒素原子
による紫外領域がほとんどである。従って、これらの紫
外光を照明下で肉眼で検出しようとすると照明光が邪魔
になり、見ることができない、このため、部分放電光の
観察による電力設備の劣化診断技術は、夜間あるいは照
明光のない場所においてのみ使えるものである。
、放電により空気中の成分が励起されることにより発生
するため、光の強い領域は第３図に示すように窒素原子
による紫外領域がほとんどである。従って、これらの紫
外光を照明下で肉眼で検出しようとすると照明光が邪魔
になり、見ることができない、このため、部分放電光の
観察による電力設備の劣化診断技術は、夜間あるいは照
明光のない場所においてのみ使えるものである。
したがって、部分放電光の存在即ち電力設備の劣化の有
無を診断することはできても、放電周辺の電力設備を観
察できないのでそれがどの設備のどの部分であるかの特
定をすることが難しい欠点がある。
無を診断することはできても、放電周辺の電力設備を観
察できないのでそれがどの設備のどの部分であるかの特
定をすることが難しい欠点がある。
そこで、本発明は、部分放電光を太陽光や照明光の下で
検出できる方法を提供することを目的とする。
検出できる方法を提供することを目的とする。
（問題点を解決するための手段）
かかる目的を達成するため、本発明は、２００ｎ１ｍ〜
４００ｎｍの波長の紫外線をこれに対し相当微弱な可視
光と同時に紫外線撮像手段に取込み、背景を目視しつつ
部分放電を検出するようにしている。
４００ｎｍの波長の紫外線をこれに対し相当微弱な可視
光と同時に紫外線撮像手段に取込み、背景を目視しつつ
部分放電を検出するようにしている。
（作用）
したがって、微弱な可視光を利用して検出対象や位置の
特定を行いつつ、これに比べて光強度の大きい２００
ｎｍ〜４００ ｎｎの波長の紫外線領域の光から部分放
電光を検出する。
特定を行いつつ、これに比べて光強度の大きい２００
ｎｍ〜４００ ｎｎの波長の紫外線領域の光から部分放
電光を検出する。
（実施例）
以下、本発明の構成を図面に示す実施例に基づいて詳細
に説明する。
に説明する。
第３図に電力設備等から発生する部分放電光のスペクト
ルを示す、このスペクトルより明らかなように、電力設
備が劣化し始めると、この電力設備の部位より部分放電
が発生し、部分放電光が放出される。この部分放電光は
、波長３３７ｒｖの紫外光の強度が一番強く、そして波
長３５８ｎｎの紫外光、波長３１６ｎ１１の紫外光、波
長４００ｎ１１近傍の紫外光が強く発生し、可視光は微
弱な状態で含まれている。従って、２００ ｎｍ〜４０
０ ｎ１１の波長の紫外光を検出し、観測すれば電力設
備の劣化の診断ができる。
ルを示す、このスペクトルより明らかなように、電力設
備が劣化し始めると、この電力設備の部位より部分放電
が発生し、部分放電光が放出される。この部分放電光は
、波長３３７ｒｖの紫外光の強度が一番強く、そして波
長３５８ｎｎの紫外光、波長３１６ｎ１１の紫外光、波
長４００ｎ１１近傍の紫外光が強く発生し、可視光は微
弱な状態で含まれている。従って、２００ ｎｍ〜４０
０ ｎ１１の波長の紫外光を検出し、観測すれば電力設
備の劣化の診断ができる。
第２図に本発明の部分放電検出方法に使用する紫外線撮
像手段の一実施例を原理図で示す、この紫外線撮像手段
は、対物レンズ８と、光電変換部材にて形成された光電
面１が貼着された入射窓７と、電子レンズ２と、マイク
ロチャンネルプレート４（以下ＭＣＰと記載する）と、
螢光面５と、接眼レンズ６及び電源部３とから構成され
ている。
像手段の一実施例を原理図で示す、この紫外線撮像手段
は、対物レンズ８と、光電変換部材にて形成された光電
面１が貼着された入射窓７と、電子レンズ２と、マイク
ロチャンネルプレート４（以下ＭＣＰと記載する）と、
螢光面５と、接眼レンズ６及び電源部３とから構成され
ている。
本実施例の場合の光電変換部材としては、セシウム（Ｃ
ｓ）とチリウム（Ｔｅ）及び若干のカリウム（Ｋ）の混
合物から成るものが使用されている。この光電変換部材
（即ち光電面）は例えば真空蒸着技術によって入射窓７
上に薄膜状に形成されている。このセシウム、チリウム
及び若干のカリウムの混合によって形成された光電面の
波長透過特性は第１図■に示すように、２４０ｎｎ以下
の短い波長に対して強く応答し、それより長い波長の光
に対しては透過率が漸次に落ちて行き、可視光領域と重
なる４００ｎｍ〜４６０止付近では微弱な光しか透過さ
せない特性を有する。但し、この光電面の波長透過特性
は、３００ ｎ１１近傍からその波長に対する透過率が
落ちていくのであるが、波長透過特性はブロー（Ｂ Ｉ
ｏｗ）な特性曲線を描いて落ちていくため、可視光の
波長部分まで到達し、微弱な可視光をも一部透過させる
。この場合、可視光波長における光な変換効率、即ち量
子効率は３００ｎ１１以前の波長に対する量子効率に比
べて非常に小さいものである。従って、部分放電光が入
力された場合、２００ｎｍ〜４００ｎ１１の範囲の波長
の紫外光に対してこの光電面が強く応答すると同時にこ
れらの紫外光の光量に比して相当微弱とはなるが、若干
の可視光波長にも応答する。
ｓ）とチリウム（Ｔｅ）及び若干のカリウム（Ｋ）の混
合物から成るものが使用されている。この光電変換部材
（即ち光電面）は例えば真空蒸着技術によって入射窓７
上に薄膜状に形成されている。このセシウム、チリウム
及び若干のカリウムの混合によって形成された光電面の
波長透過特性は第１図■に示すように、２４０ｎｎ以下
の短い波長に対して強く応答し、それより長い波長の光
に対しては透過率が漸次に落ちて行き、可視光領域と重
なる４００ｎｍ〜４６０止付近では微弱な光しか透過さ
せない特性を有する。但し、この光電面の波長透過特性
は、３００ ｎ１１近傍からその波長に対する透過率が
落ちていくのであるが、波長透過特性はブロー（Ｂ Ｉ
ｏｗ）な特性曲線を描いて落ちていくため、可視光の
波長部分まで到達し、微弱な可視光をも一部透過させる
。この場合、可視光波長における光な変換効率、即ち量
子効率は３００ｎ１１以前の波長に対する量子効率に比
べて非常に小さいものである。従って、部分放電光が入
力された場合、２００ｎｍ〜４００ｎ１１の範囲の波長
の紫外光に対してこの光電面が強く応答すると同時にこ
れらの紫外光の光量に比して相当微弱とはなるが、若干
の可視光波長にも応答する。
本実施例において、光電面はセシウム、チリウム及び若
干のカリウムを混合して形成したものについてのみ説明
したが、これに限定されるものではない６例えば、第１
図■の特性を示すマルチアルカリ光電部材と可視光除去
フィルタとを組合せて第１図■の透過特性を示す光電面
を形成するようにしても良いし、他の光電部材や螢光体
あるいは紫外線写真機などを使用するようにしても良い
。
干のカリウムを混合して形成したものについてのみ説明
したが、これに限定されるものではない６例えば、第１
図■の特性を示すマルチアルカリ光電部材と可視光除去
フィルタとを組合せて第１図■の透過特性を示す光電面
を形成するようにしても良いし、他の光電部材や螢光体
あるいは紫外線写真機などを使用するようにしても良い
。
または、紫外光を選択的に捕える光電変換素子と同等の
カットオフ機能を有する可視光除去フィルターを利用し
たイメージインテンシファイヤなどの使用が可能である
。
カットオフ機能を有する可視光除去フィルターを利用し
たイメージインテンシファイヤなどの使用が可能である
。
以上のように構成された紫外線撮像手段によると、部分
放電光Ａは対物レンズ８及び入射窓７を経て光電面１に
入力され、光分子量に比例した電子エネルギーに変換さ
れた後、電子レンズ３を介して螢光面５に結像される。
放電光Ａは対物レンズ８及び入射窓７を経て光電面１に
入力され、光分子量に比例した電子エネルギーに変換さ
れた後、電子レンズ３を介して螢光面５に結像される。
光電面１は２００ ｎｍ〜４００ｎ１１の紫外光に対し
て強く反応するが微弱である可視光にも同時に反応する
。尚、ＭＣＰ４は光電変換後の電子エネルギーを増幅す
る増幅器であり、電源部３は電子レンズ２及びＭＣＰ４
に定格電源供給を行なう、また、螢光面５はその表面に
螢光部材が貼着されており、前記ＭＣＰ４で増幅された
電子エネルギーによって作られた像を表示する したがって、螢光面５には２００ｎＩｌ〜４００ｎｔの
波長の紫外光即ち部分放電光と紫外光領域に近い微弱な
可視光から成る像が表示される。そこで、観測者は接眼
レンズ６を介して、この螢光面５に表示された像を観測
することができる。
て強く反応するが微弱である可視光にも同時に反応する
。尚、ＭＣＰ４は光電変換後の電子エネルギーを増幅す
る増幅器であり、電源部３は電子レンズ２及びＭＣＰ４
に定格電源供給を行なう、また、螢光面５はその表面に
螢光部材が貼着されており、前記ＭＣＰ４で増幅された
電子エネルギーによって作られた像を表示する したがって、螢光面５には２００ｎＩｌ〜４００ｎｔの
波長の紫外光即ち部分放電光と紫外光領域に近い微弱な
可視光から成る像が表示される。そこで、観測者は接眼
レンズ６を介して、この螢光面５に表示された像を観測
することができる。
（発明の効果）
以上の説明より明らかなように、本発明の部分放電検出
方法は、２００ ｎｍ〜４００ｎｍの波長の紫外線をこ
れに対し相当微弱な可視光と同時に紫外線！ｆｆ１手段
に取込み、微弱な可視光を利用して検出対象や位置の特
定を行い、これに比べて光強度の大きい部分放電光を検
出するようにしているので、太陽光や照明光下でも部分
放電光を測定・観察して電力設備の劣化を診断できると
共にその周辺の背景を確認して設備の方角、場所並びに
部分放電箇所を特定することができる。
方法は、２００ ｎｍ〜４００ｎｍの波長の紫外線をこ
れに対し相当微弱な可視光と同時に紫外線！ｆｆ１手段
に取込み、微弱な可視光を利用して検出対象や位置の特
定を行い、これに比べて光強度の大きい部分放電光を検
出するようにしているので、太陽光や照明光下でも部分
放電光を測定・観察して電力設備の劣化を診断できると
共にその周辺の背景を確認して設備の方角、場所並びに
部分放電箇所を特定することができる。
第１図は本実施例に使用する光電変換部材の波長透過特
性を示す１子効率−波長グラフ、第２図は本発明方法に
使用する紫外線撮像手段の一実施例を示す概略図、第３
図は部分放電に伴い発生する光スペクトル図である。 １・・・光電面、２・・・電子レンズ、５・・・螢光面
、Ａ・・・入力される部分放電光。
性を示す１子効率−波長グラフ、第２図は本発明方法に
使用する紫外線撮像手段の一実施例を示す概略図、第３
図は部分放電に伴い発生する光スペクトル図である。 １・・・光電面、２・・・電子レンズ、５・・・螢光面
、Ａ・・・入力される部分放電光。
Claims (1)
- ２００ｎｍ〜４００ｎｍの波長の紫外線をこれに対し相
当微弱な可視光と同時に紫外線撮像手段に取込み、背景
を目視しつつ部分放電を検出することを特徴とする部分
放電検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62311022A JPH01152377A (ja) | 1987-12-10 | 1987-12-10 | 部分放電検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62311022A JPH01152377A (ja) | 1987-12-10 | 1987-12-10 | 部分放電検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01152377A true JPH01152377A (ja) | 1989-06-14 |
Family
ID=18012175
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62311022A Pending JPH01152377A (ja) | 1987-12-10 | 1987-12-10 | 部分放電検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01152377A (ja) |
Cited By (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JP2005241623A (ja) * | 2004-01-27 | 2005-09-08 | Jfe Steel Kk | 放電検出装置 |
| CN103105567A (zh) * | 2013-02-05 | 2013-05-15 | 宁波工程学院 | 分光镜型电晕紫外探测仪 |
| CN103135044A (zh) * | 2013-02-05 | 2013-06-05 | 吴礼刚 | 单激光定位电晕紫外探测仪 |
| CN103135043A (zh) * | 2013-02-05 | 2013-06-05 | 宁波工程学院 | 带翻转反光镜的电晕紫外探测仪 |
| CN103135042A (zh) * | 2013-02-05 | 2013-06-05 | 吴礼刚 | 带翻转反光镜的电晕紫外探测仪 |
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| CN103149511A (zh) * | 2013-02-05 | 2013-06-12 | 吴礼刚 | 分光镜型电晕紫外探测仪 |
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-
1987
- 1987-12-10 JP JP62311022A patent/JPH01152377A/ja active Pending
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