CN110988773A - 一种紫外成像仪的校验比对方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种紫外成像仪的校验比对方法,解决了如何对紫外成像仪进行有效的校验比对的问题。380伏电源系统(1)通过高压电缆(2)与变频电源(3)的输入端连接,励磁变压器(4)的输出端通过加压线(6)与电抗器(5)的低压端连接,电抗器(5)的高压端通过无晕导线(8)与分压器(11)的高压端连接,无局部放电的励磁变压器(4)的高压尾端、分压器(11)的地端和检测阻抗(12)的地端,均通过接地屏蔽线(9)与接地端(10)连接;在无晕导线(8)上设置有微小破口毛刺点(15),同轴电缆(13)的另一端与局部放电测试仪(14)的输入端连接。实现对带电检测仪器紫外成像仪的入网检测工作。
Description
技术领域
本发明涉及一种带电检测设备的检验比对电路,特别涉及一种对实时检测带电设备局部放电所产生的电晕现象的紫外成像仪进行校验比对的电路及校验比对方法。
背景技术
紫外成像仪是电网设备带电检测的主要装备之一,一般用来实时检测带电设备局部放电所产生的电晕现象,从而及时提醒运维人员对带电设备进行状态检修;紫外成像仪价格昂贵,产品质量却参差不齐;目前,电网运营部门还没有针对紫外成像仪的校验手段,不能对其检测性能进行有效的校验比对装,现场急需开发一种能对紫外成像仪进行比对的电路和检验比对方法,指导入网检测工作,使进入到电网运行部门的紫外成像仪的性能得到保障,提高运维人员通过紫外成像仪发现设备故障的精准效率。
发明内容
本发明提供了一种紫外成像仪的校验比对方法,解决了如何对紫外成像仪进行有效的校验比对的技术问题。
本发明是通过以下技术方案解决以上技术问题的:
本发明的总体构思是:搭建校验比对试验回路,通过校验比对试验回路产生微弱局部放电,从而引起目测无法识别的电晕现象;通过搭建校验比对试验回路,形成紫外成像仪监测放电粒子数与局部放电量、起始放电电压关联数据,定义紫外成像仪线性度和检测电压灵敏度考核指标,从而实现对紫外成像仪有效性进行比对校验,有效开展入网检测工作。
一种紫外成像仪的校验比对电路,包括380伏电源系统、将三相电源变为频率可调节的单相电源的变频电源、无局部放电的励磁变压器、电抗器、无晕导线、耦合电容器、检测阻抗器、分压器、局部放电测试仪和紫外成像仪,380伏电源系统通过高压电缆与变频电源的输入端连接在一起,励磁变压器的输出端通过加压线与电抗器的低压端连接在一起,耦合电容器与检测阻抗器串联后是并联在分压器两端的,电抗器的高压端通过无晕导线与分压器的高压端连接在一起,无局部放电的励磁变压器的高压尾端、分压器的地端和检测阻抗的地端,均通过接地屏蔽线与接地端连接在一起;在无晕导线上,设置有微小破口毛刺点,在微小破口毛刺点的正上方设置有紫外成像仪,在检测阻抗的信号输出端上连接有同轴电缆,同轴电缆的另一端与局部放电测试仪的输入端连接在一起。
微小破口毛刺点是1厘米×1厘米的方形孔。
一种紫外成像仪的校验比对方法,校验比对工作是在试验室进行的,该试验室要求处于全密封状态,且检测环境的温度和湿度是恒定的,要经过多次检测试验室的环境的温度和湿度,当检测到的数据保持不变的情况下,进行以下步骤:
第一步、用高压电缆将380伏电源系统与变频电源相连接,将变频电源与无局部放电的励磁变压器相连接,变频电源是将三相电源变为频率可调节的单相电源的变频电源,无局部放电的励磁变压器是将低电压输入变为高电压输出的;
第二步、用加压线将无局部放电的励磁变压器的输出端与电抗器的低压端连接在一起,加压线是采用横截面为4平方毫米的护套线,电抗器的高压端通过无晕导线与耦合电容器的高压端,以及分压器的高压端连接在一起,将耦合电容器的末端与检测阻抗器的输入端连接在一起,将无局部放电的励磁变压器的高压尾端、分压器的地端和检测阻抗的地端,用接地屏蔽线与接地端连接在一起,完成校验比对试验回路的搭建;电抗器与耦合电容器、分压器相连接所形成的谐振放大电路,将无晕导线上的施加电压放大为无局部放电的励磁变压器输出电压的Q倍,Q为搭建的本校验比对试验回路的品质因数;
第三步、用同轴电缆将检测阻抗器的信号输出端上与局部放电测试仪的检测输入端连接在一起;
第四步、启动校验比对试验回路,开始升压,当分压器显示的电压值达到500千伏时,用被检的紫外成像仪对无晕导线的放电情况进行现场观测,并通过局部放电测试仪测量无晕导线的局部放电量,若,紫外成像仪和局部放电测试仪都未发现放电现象,则说明校验比对试验回路良好,然后进行下一步骤;
第五步、停止校验比对试验回路的试验,对无晕导线进行局部穿刺,穿刺出1厘米×1厘米的方形破口,制造出了微小破口毛刺点;
第六步、再次启动校验比对试验回路,逐步升高电压,当紫外成像仪监测到无晕导线出现了放电粒子后,开始记录,分压器的电压值、紫外成像仪监测的放电粒子数、局部放电测试仪监测到的局部放电量,之后,分压器的电压值每升高10千伏,记录一次紫外成像仪监测的放电粒子数和局部放电测试仪监测到的局部放电量,直到分压器的电压值达到500千伏为止;
第七步、将第六步记录的每个电压值下的紫外成像仪监测的放电粒子数与局部放电测试仪显示的放电量值分别进行线性拟合,并建立紫外放电粒子数随试验电压的变化曲线和局部放电量随试验电压的变化曲线,若,各试验电压下紫外成像仪监测的放电粒子数环比增大幅度与相同试验电压下局部放电测试仪监测到的放电量环比增大幅度相差均不大于30%时,则表明被测紫外成像仪的线性度是合格的,否则,则表明被测的紫外成像仪的线性度是不合格的;
第八步、再次启动校验比对试验回路,逐步升高电压,用被测的紫外成像仪观测无晕导线上的微小破口毛刺点,当分压器上的电压值达到6千伏时,若被测的紫外成像仪观测到放电现象,则紫外成像仪的检测电压灵敏度是合格,若被测的紫外成像仪观测不到放电现象,则紫外成像仪的检测电压灵敏度不合格。
本发明实用、简便,可以针对紫外成像仪有效性进行检验比对,首次实现对带电检测仪器紫外成像仪的入网检测工作,提高了设备质量水平,杜绝不合格产品入网运行。
附图说明
图1为本发明的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明进行详细说明:
一种紫外成像仪的校验比对电路,包括380伏电源系统1、将三相电源变为频率可调节的单相电源的变频电源3、无局部放电的励磁变压器4、电抗器5、无晕导线8、耦合电容器7、检测阻抗器12、分压器11、局部放电测试仪14和紫外成像仪16,380伏电源系统1通过高压电缆2与变频电源3的输入端连接在一起,励磁变压器4的输出端通过加压线6与电抗器5的低压端连接在一起,耦合电容器7与检测阻抗器12串联后是并联在分压器11两端的,电抗器5的高压端通过无晕导线8与分压器11的高压端连接在一起,无局部放电的励磁变压器4的高压尾端、分压器11的地端和检测阻抗12的地端,均通过接地屏蔽线9与接地端10连接在一起;在无晕导线8上,设置有微小破口毛刺点15,在微小破口毛刺点15的正上方设置有紫外成像仪16,在检测阻抗12的信号输出端上连接有同轴电缆13,同轴电缆13的另一端与局部放电测试仪14的输入端连接在一起。
微小破口毛刺点15是1厘米×1厘米的方形孔。
一种紫外成像仪的校验比对方法,校验比对工作是在试验室进行的,该试验室要求处于全密封状态,且检测环境的温度和湿度是恒定的,要经过多次检测试验室的环境的温度和湿度,当检测到的数据保持不变的情况下,进行以下步骤:
第一步、用高压电缆2将380伏电源系统1与变频电源3相连接,将变频电源3与无局部放电的励磁变压器4相连接,变频电源3是将三相电源变为频率可调节的单相电源的变频电源,无局部放电的励磁变压器4是将低电压输入变为高电压输出的;
第二步、用加压线6将无局部放电的励磁变压器4的输出端与电抗器5的低压端连接在一起,加压线6是采用横截面为4平方毫米的护套线,电抗器5的高压端通过无晕导线8与耦合电容器7的高压端,以及分压器11的高压端连接在一起,将耦合电容器7的末端与检测阻抗器12的输入端连接在一起,将无局部放电的励磁变压器4的高压尾端、分压器11的地端和检测阻抗12的地端,用接地屏蔽线9与接地端10连接在一起,完成校验比对试验回路的搭建;电抗器5与耦合电容器7、分压器11相连接所形成的谐振放大电路,将无晕导线8上的施加电压放大为无局部放电的励磁变压器4输出电压的Q倍,Q为搭建的本校验比对试验回路的品质因数;
第三步、用同轴电缆13将检测阻抗器12的信号输出端上与局部放电测试仪14的检测输入端连接在一起;
第四步、启动校验比对试验回路,开始升压,当分压器11显示的电压值达到500千伏时,用被检的紫外成像仪16对无晕导线8的放电情况进行现场观测,并通过局部放电测试仪14测量无晕导线8的局部放电量,若,紫外成像仪16和局部放电测试仪14都未发现放电现象,则说明校验比对试验回路良好,然后进行下一步骤;
第五步、停止校验比对试验回路的试验,对无晕导线8进行局部穿刺,穿刺出1厘米×1厘米的方形破口,制造出了微小破口毛刺点15;
第六步、再次启动校验比对试验回路,逐步升高电压,当紫外成像仪16监测到无晕导线8出现了放电粒子后,开始记录,分压器11的电压值、紫外成像仪16监测的放电粒子数、局部放电测试仪14监测到的局部放电量,之后,分压器11的电压值每升高10千伏,记录一次紫外成像仪16监测的放电粒子数和局部放电测试仪14监测到的局部放电量,直到分压器11的电压值达到500千伏为止;
第七步、将第六步记录的每个电压值下的紫外成像仪16监测的放电粒子数与局部放电测试仪14显示的放电量值分别进行线性拟合,并建立紫外放电粒子数随试验电压的变化曲线和局部放电量随试验电压的变化曲线,若,各试验电压下紫外成像仪16监测的放电粒子数环比增大幅度与相同试验电压下局部放电测试仪14监测到的放电量环比增大幅度相差均不大于30%时,则表明被测紫外成像仪16的线性度是合格的,否则,则表明被测的紫外成像仪16的线性度是不合格的;
第八步、再次启动校验比对试验回路,逐步升高电压,用被测的紫外成像仪16观测无晕导线8上的微小破口毛刺点15,当分压器11上的电压值达到6千伏时,若被测的紫外成像仪16观测到放电现象,则紫外成像仪16的检测电压灵敏度是合格,若被测的紫外成像仪16观测不到放电现象,则紫外成像仪16的检测电压灵敏度不合格。
Claims (1)
1.一种紫外成像仪的校验比对方法,校验比对工作是在试验室进行的,该试验室要求处于全密封状态,且检测环境的温度和湿度是恒定的,要经过多次检测试验室的环境的温度和湿度,当检测到的数据保持不变的情况下,进行以下步骤:
第一步、用高压电缆(2)将380伏电源系统(1)与变频电源(3)相连接,将变频电源(3)与无局部放电的励磁变压器(4)相连接,变频电源(3)是将三相电源变为频率可调节的单相电源的变频电源,无局部放电的励磁变压器(4)是将低电压输入变为高电压输出的;
第二步、用加压线(6)将无局部放电的励磁变压器(4)的输出端与电抗器(5)的低压端连接在一起,加压线(6)是采用横截面为4平方毫米的护套线,电抗器(5)的高压端通过无晕导线(8)与耦合电容器(7)的高压端,以及分压器(11)的高压端连接在一起,将耦合电容器(7)的末端与检测阻抗器(12)的输入端连接在一起,将无局部放电的励磁变压器(4)的高压尾端、分压器(11)的地端和检测阻抗(12)的地端,用接地屏蔽线(9)与接地端(10)连接在一起,完成校验比对试验回路的搭建;电抗器(5)与耦合电容器(7)、分压器(11)相连接所形成的谐振放大电路,将无晕导线(8)上的施加电压放大为无局部放电的励磁变压器(4)输出电压的Q倍,Q为搭建的本校验比对试验回路的品质因数;
第三步、用同轴电缆(13)将检测阻抗器(12)的信号输出端上与局部放电测试仪(14)的检测输入端连接在一起;
第四步、启动校验比对试验回路,开始升压,当分压器(11)显示的电压值达到500千伏时,用被检的紫外成像仪(16)对无晕导线(8)的放电情况进行现场观测,并通过局部放电测试仪(14)测量无晕导线(8)的局部放电量,若,紫外成像仪(16)和局部放电测试仪(14)都未发现放电现象,则说明校验比对试验回路良好,然后进行下一步骤;
第五步、停止校验比对试验回路的试验,对无晕导线(8)进行局部穿刺,穿刺出1厘米×1厘米的方形破口,制造出了微小破口毛刺点(15);
第六步、再次启动校验比对试验回路,逐步升高电压,当紫外成像仪(16)监测到无晕导线(8)出现了放电粒子后,开始记录,分压器(11)的电压值、紫外成像仪(16)监测的放电粒子数、局部放电测试仪(14)监测到的局部放电量,之后,分压器(11)的电压值每升高10千伏,记录一次紫外成像仪(16)监测的放电粒子数和局部放电测试仪(14)监测到的局部放电量,直到分压器(11)的电压值达到500千伏为止;
第七步、将第六步记录的每个电压值下的紫外成像仪(16)监测的放电粒子数与局部放电测试仪(14)显示的放电量值分别进行线性拟合,并建立紫外放电粒子数随试验电压的变化曲线和局部放电量随试验电压的变化曲线,若,各试验电压下紫外成像仪(16)监测的放电粒子数环比增大幅度与相同试验电压下局部放电测试仪(14)监测到的放电量环比增大幅度相差均不大于30%时,则表明被测紫外成像仪(16)的线性度是合格的,否则,则表明被测的紫外成像仪(16)的线性度是不合格的;
第八步、再次启动校验比对试验回路,逐步升高电压,用被测的紫外成像仪(16)观测无晕导线(8)上的微小破口毛刺点(15),当分压器(11)上的电压值达到6千伏时,若被测的紫外成像仪(16)观测到放电现象,则紫外成像仪(16)的检测电压灵敏度是合格,若被测的紫外成像仪(16)观测不到放电现象,则紫外成像仪(16)的检测电压灵敏度不合格。
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