JPH01151239A - Method and apparatus for resin-seal molding of semiconductor device - Google Patents

Method and apparatus for resin-seal molding of semiconductor device

Info

Publication number
JPH01151239A
JPH01151239A JP31167087A JP31167087A JPH01151239A JP H01151239 A JPH01151239 A JP H01151239A JP 31167087 A JP31167087 A JP 31167087A JP 31167087 A JP31167087 A JP 31167087A JP H01151239 A JPH01151239 A JP H01151239A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mold
resin
molding
molded body
cavity
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP31167087A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2518661B2 (en
Inventor
Michio Osada
道男 長田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
T & K Internatl Kenkyusho kk
Original Assignee
T & K Internatl Kenkyusho kk
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by T & K Internatl Kenkyusho kk filed Critical T & K Internatl Kenkyusho kk
Priority to JP31167087A priority Critical patent/JP2518661B2/en
Publication of JPH01151239A publication Critical patent/JPH01151239A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2518661B2 publication Critical patent/JP2518661B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C45/00Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
    • B29C45/14Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor incorporating preformed parts or layers, e.g. injection moulding around inserts or for coating articles
    • B29C45/14639Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor incorporating preformed parts or layers, e.g. injection moulding around inserts or for coating articles for obtaining an insulating effect, e.g. for electrical components
    • B29C45/14655Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor incorporating preformed parts or layers, e.g. injection moulding around inserts or for coating articles for obtaining an insulating effect, e.g. for electrical components connected to or mounted on a carrier, e.g. lead frame
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C45/00Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
    • B29C45/16Making multilayered or multicoloured articles
    • B29C45/1671Making multilayered or multicoloured articles with an insert
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched

Abstract

PURPOSE:To prevent a void or a defective part from being produced in a molded body by a method wherein a process to resin-seal a semiconductor on one face of a lead frame and a process to mold a thin resin on the other face are executed separately. CONSTITUTION:A molding process of a resin molded body 20a for resin-sealing a semiconductor device attached to one face of a lead frame 18 and a molding process of a required thin resin molded body 20b on the other face of the lead frame 18 are executed separately. Especially during the molding process of the thin resin molded body 20b, an air discharge action inside a cavity 13 for molding use is carried out efficiently; an air inhalation action by a molten resin material 212 can be prevented surely; accordingly, when the required thin resin molded body 20b is to be fixed to the other face of the lead frame 16, an unfilled state of the resin material inside the cavity 13 is eliminated; it is possible to surely prevent a void or a defective part from being produced in the shaped thin resin molded body 20b.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は、半導体素子を樹脂材料にて封止成形する方
法とその成形装置の改良に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a method for sealing and molding a semiconductor element with a resin material, and to improvements in a molding apparatus for the same.

(従来の技術) 半導体素子を樹脂材料によって封止成形するための装置
として、トランスファ樹脂封止成形装置が従来より用い
られている。
(Prior Art) A transfer resin encapsulation molding apparatus has been conventionally used as an apparatus for encapsulating a semiconductor element with a resin material.

この装置には、例えば、第10図に示すように、対向配
置した固定上型1及び可動下型2と、該両型のP、L 
(パーティングライン)面に対設した樹脂成形用のキャ
ビティ3・4と、上型1側に設けた樹脂材料供給用のポ
ット5と、該ポット5と上記キャビティ(イ)内とを連
通させた溶融樹脂材料の移送用通路6等が設けられてい
る。なお、同図中の符号7は下型2の21面に設けたリ
ードフレーム8の嵌合セット用溝部、同符号8aは該リ
ードフレームの一面側に装着された半導体素子、同符号
9はポット5内に供給される樹脂材料10の加圧用プラ
ンジャを夫々示している。また、回倒の装置は、半導体
素子8aを嵌合してこれを樹脂封止するためのキャビテ
ィ内を下型2側に配設したものを示している。また、樹
脂成形品(製品)の使用時における放熱作用を効率良く
行わせる等の目的で、半導体素子8aを装着していない
側のリードフレーム面を被覆する樹脂成形体の肉厚が可
及的に薄くなるように成形するためのキャビティ(3)
を上型1側に設けた場合を示している。
For example, as shown in FIG. 10, this device includes a fixed upper mold 1 and a movable lower mold 2 arranged opposite each other, and
(Parting line) The cavities 3 and 4 for resin molding provided opposite to each other, the pot 5 for supplying resin material provided on the upper mold 1 side, and the pot 5 and the inside of the cavity (A) are communicated with each other. A passage 6 for transferring the molten resin material is provided. In addition, the reference numeral 7 in the same figure is a groove for fitting and setting the lead frame 8 provided on the 21st surface of the lower mold 2, the same reference numeral 8a is a semiconductor element mounted on one side of the lead frame, and the same reference numeral 9 is a pot. The plungers for pressurizing the resin material 10 supplied into the chamber 5 are respectively shown. Further, the rotating device is shown in which the inside of the cavity for fitting the semiconductor element 8a and sealing it with resin is disposed on the lower mold 2 side. In addition, in order to efficiently dissipate heat when using the resin molded product (product), the thickness of the resin molded body that covers the lead frame surface on the side where the semiconductor element 8a is not mounted is increased as much as possible. Cavity (3) for molding to make it thinner
The case is shown in which the upper die 1 is provided.

上記従来装置における樹脂成形は、まず、両型(1・2
)を型開きし、次に、下型2の溝部7における所定位置
Gqリードフレーム8を嵌合セットし、次に、両型(1
・2)を再び型締めし、次に、樹脂材料10を加熱溶融
化して、これをその移送通路6を通して上下両型のキャ
ビティ3・4内に加圧注入することによって行われる。
Resin molding using the conventional equipment described above begins with both molds (1 and 2).
) is opened, then the Gq lead frame 8 is fitted and set at a predetermined position in the groove 7 of the lower mold 2, and then both molds (1
- 2) is again clamped, and then the resin material 10 is melted by heating and injected under pressure into the cavities 3 and 4 of both the upper and lower molds through the transfer passage 6.

従って、この場合は、各キャビティ3・4の形状に対応
して成形される樹脂封止成形体は、第11図に示すよ゛
うに、半導体素子8aを装着したリードフレーム8の一
面側に固着される該半導体装置の封止用肉厚樹脂成形体
10aと、該肉厚樹脂成形体と対応するリードフレーム
8の他面側に固着される該リードフレーム面の被覆用肉
薄樹脂成形体10bとから形成されることになる。
Therefore, in this case, the resin-sealed molded body molded to correspond to the shape of each cavity 3 and 4 is fixed to one side of the lead frame 8 on which the semiconductor element 8a is mounted, as shown in FIG. a thick resin molded body 10a for sealing the semiconductor device; and a thin resin molded body 10b for covering the lead frame surface, which is fixed to the other surface of the lead frame 8 corresponding to the thick resin molded body. It will be formed from.

(発明が解決しようとする問題点) ところで、上記した従来の方法においては、上型キャビ
ティ3により成形される肉薄樹脂成形体10bと下型キ
ャビティ4により成形される肉厚樹脂成形体10aとか
ら成る半導体素子8aの樹脂封止成形体の全体形状を同
時に一次成形することができるという利点があるが、そ
の反面、該−吹成形によるときは、次のような重大な欠
点を有するものである。
(Problems to be Solved by the Invention) By the way, in the conventional method described above, the thin resin molded body 10b molded by the upper mold cavity 3 and the thick resin molded body 10a molded by the lower mold cavity 4 are separated. Although there is an advantage in that the entire shape of the resin-sealed molded body of the semiconductor element 8a can be simultaneously primary-molded, on the other hand, when using blow molding, it has the following serious drawbacks. .

即ち、第11図に示すように、上記肉厚樹脂成形体10
aは、半導体素子8aを樹脂封止するために必要な肉厚
Tを有するように設定され、また、上記肉薄樹脂成形体
10bは、放熱効果を考慮して可及的に薄い肉厚tを有
するように設定される。
That is, as shown in FIG. 11, the thick resin molded body 10
a is set to have a wall thickness T necessary for resin-sealing the semiconductor element 8a, and the thin resin molded body 10b is set to have a wall thickness t as thin as possible in consideration of heat dissipation effect. It is set to have.

しかしながら、上記した従来方法を用いるときは、キャ
ビティ(3・4)内に加圧注入された溶融樹脂材料、は
、大容量となる肉厚樹脂成形体10aの成形用下型キャ
ビティ(イ)内に充填され易く、且つ、小容量となる肉
薄樹脂成形体10bの成形用上型キャビティ(3)内に
は充填され難いといった傾向があること、また、充填さ
れ難い上型キャビティ(3)内部のエアについてはその
排出効率が悪いため該キャビティ内部に残留し易いこと
、更に、下型キャビティ4)内部に注入された溶融樹脂
材料がリードフレーム8を越えて上型キャビティ(3)
側へ流入する際に上記残留エアをその溶融樹脂材料中に
巻き込み易いこと等から、特に、該上型キャビティ(3
)内については樹脂材料の未充填状態が発生して、該肉
薄樹脂成形体10bにボイド(気泡)や同図に示すよう
な欠損部10cが形成されることになる。
However, when using the above-mentioned conventional method, the molten resin material injected under pressure into the cavities (3 and 4) is inside the lower mold cavity (a) of the thick resin molded body 10a, which has a large capacity. There is a tendency that the inside of the upper mold cavity (3), which is difficult to fill, is difficult to be filled into the upper mold cavity (3) of the thin resin molded body 10b, which has a small volume. Air tends to remain inside the cavity due to its poor discharge efficiency, and furthermore, the molten resin material injected into the lower mold cavity 4) crosses the lead frame 8 and flows into the upper mold cavity (3).
In particular, the upper mold cavity (3
), a state in which the resin material is not filled occurs, and voids (bubbles) and a defective portion 10c as shown in the figure are formed in the thin resin molded body 10b.

従って、リードフレーム面の被覆・封止が不゛完全とな
ってその耐湿性を欠くことになるため、この種製品の高
品質性及び高信頼性を著しく低下させるという重大な問
題がある。
Therefore, the coating and sealing of the lead frame surface becomes incomplete, resulting in a lack of moisture resistance, which poses a serious problem in that the high quality and high reliability of this type of product are significantly reduced.

本発明は、リードフレーム面を被覆させる上記肉薄樹脂
成形体の成形を確実に行うことができる半導体素子の樹
脂封止成形方法とその装置を提供することによって、上
述した従来の問題点を確実に解消することを目的とする
ものである。
The present invention reliably solves the above-mentioned conventional problems by providing a resin encapsulation molding method and apparatus for a semiconductor element that can reliably mold the thin resin molded body that covers the lead frame surface. The purpose is to eliminate the problem.

(問題点を解決するための手段) 上述した従来の問題点に対処するための本発明樹脂封止
成形方法は、半導体素子を装着したリードフレームの一
面側に対して、該半導体素子を封止する所要肉厚の樹脂
成形体を一体に固着させる樹脂成形工程と、上記半導体
素子の封止用樹脂成形体の固着位置と対応するリードフ
レームの他面側に対して、所要の肉薄樹脂成形体を一体
に固着させる樹脂成形工程との各工程を各別に行うこと
を特徴とするものである。
(Means for Solving the Problems) In order to solve the above-mentioned conventional problems, the resin encapsulation molding method of the present invention seals a semiconductor element on one side of a lead frame on which the semiconductor element is mounted. A resin molding process in which a resin molded body of a required thickness is fixed together, and a required thin resin molded body is fixed to the other side of the lead frame corresponding to the fixing position of the resin molded body for sealing the semiconductor element. This method is characterized in that each process is performed separately from the resin molding process of fixing the parts together.

また、本発明に係る他の樹脂封止成形方法は、半導体素
子を装着したリードフレームの一面側に対して、該半導
体素子を封止する所要肉厚の樹脂成形体を一体に固着さ
せる第一次樹脂成形工程を行い、次に、上記第一次樹脂
成形工程において成形された樹脂成形体の固着位置と対
応するリードフレームの他面側に対して、所要の肉薄樹
脂成形体を一体に固着させる第二次樹脂成形工程を行う
ことを特徴とするものである。
In addition, another resin sealing molding method according to the present invention includes a first method in which a resin molded body having a required thickness for sealing a semiconductor element is integrally fixed to one side of a lead frame on which a semiconductor element is mounted. The next resin molding process is performed, and then the required thin resin molded body is integrally fixed to the other side of the lead frame corresponding to the fixed position of the resin molded body molded in the above first resin molding process. This method is characterized by performing a second resin molding step.

また、本発明に係る他の樹脂封止成形方法は、樹脂成形
用第一金型(A)におけるキャビティ(14)部に、リ
ードフレーム°(18)の−面側に装着した半導体素子
<181)を嵌装セットする工程と、上記樹脂成形用第
一金型(A)と、該第一金型(A)にセットされた上記
リードフレーム(18)の他面側に密に接合する接合面
(22)を設けた樹脂成形用第二金型(B)とを型合わ
せする該第一及び第二金型(A−B)の型締工程と、上
記第一及び第二金型(A−B)の型締後に、該第一金型
(A)におけるキャビティ(14)内に溶融樹脂材料を
注入充填させて、該キャビティ内の半導体素子(tgt
)を樹脂封止成形する第一次樹脂成形工程と、上記第一
次樹脂成形工程の終了後に、該第一及び第二金型(A−
B)を離反させる該両型(A−B)の型開工程と、上記
第一及び第二金型の型開工程後に、若しくは、該型開工
程と同時的に、該両型における溶融樹脂材料の移送用通
路(161)内にて成形された樹脂成形体を離型させる
第−次突出工程と、上記第一次突出工程の終了後におい
て、上記樹脂成形用第一金型(A)と、該第一金型(A
)のキャビティ(14)位置と対応する所要の肉薄樹脂
成形体成形用のキャビティ(13)を配設した樹脂成形
用第三金型(C)とを型合わせする該第一及び第三金型
(A−C>の型締工程と、上記第一及び第三金型(A−
C)の型締後に、該第三金型(C)におけるキャビティ
(13)内に溶融樹脂材料を注入充填させて、上記半導
体素子の樹脂封止成形体の固着位置と対応するリードフ
レーム(18)の他面側に、所要の肉薄樹脂成形体を固
着させる第二次樹脂成形工程と、上記第二次樹脂成形工
程の終了後に、該第一及び第三金型(A−C)を離反さ
せる該両型の型開工程と、上記第一及び第三金型の型開
工程後に、若しくは、該型開工程と同時的に、該第一金
型(A)のキャビティ(14)内にて成形された樹脂成
形体及びリードフレーム(18)と該両型における溶融
樹脂材料の移送用通路(162)内にて成形された樹脂
成形体を離型させる第二次突出工程との各工程から成る
ことを特徴とするものである。
Further, in another resin encapsulation molding method according to the present invention, a semiconductor element <181 ), and a step of closely joining the first mold for resin molding (A) to the other side of the lead frame (18) set in the first mold (A). A clamping step of the first and second molds (A-B) in which the second mold for resin molding (B) provided with the surface (22) is fitted; After mold clamping of A-B), a molten resin material is injected and filled into the cavity (14) in the first mold (A), and the semiconductor element (tgt
), and after the completion of the first resin molding process, the first and second molds (A-
B) After the mold opening process of the two molds (A-B) to separate them, and the mold opening process of the first and second molds, or simultaneously with the mold opening process, the molten resin in the two molds is removed. After the completion of the first ejection step of releasing the resin molded body molded in the material transfer passageway (161) and the first ejection step, the first mold for resin molding (A) and the first mold (A
) and a third mold for resin molding (C) having a cavity (13) for molding a required thin resin molded body corresponding to the position of the cavity (14) of the first and third molds. (A-C> mold clamping process and the first and third molds (A-
After the mold clamping in C), a molten resin material is injected and filled into the cavity (13) in the third mold (C), and the lead frame (18 ) a second resin molding step in which a required thin resin molded body is fixed to the other side of the mold, and after the above-mentioned second resin molding step is completed, the first and third molds (A-C) are separated. into the cavity (14) of the first mold (A) after or simultaneously with the mold opening process of both the molds and the mold opening process of the first and third molds. The resin molded body and the lead frame (18) molded in the above-mentioned molds, and the second ejection process in which the molded resin molded body is released from the mold in the passage (162) for transferring the molten resin material in both molds. It is characterized by consisting of the following.

また、上記した方法を実施するための本発明樹脂封止成
形装置は、樹脂成形用第一金型(A)と、該第一金型(
A)に対して型締めさせる樹脂成形用第二金型(B)及
び第三金型(C)と、該第−と第二金型(A−B)及び
第一と第三金型(A−C)の各型締時において、それら
のいずれか一方側に夫々配設される樹脂材料供給用のポ
ット(15、・152)と、該各ポット(151・15
2)に夫々嵌合される樹脂材料(201・20□)加圧
用のプランジャ(191・192)と、上記第一及び第
二金型(A−B)の型締時に構成されるボッ) (15
1)とキャビティ(14)とを連通させる溶融樹脂材料
の移送用通路(161)と、上記第一及び第三金型(A
−C)の型締時に構成されるポット(152)とキャビ
ティ(13)とを連通させる溶融樹脂材料の移送用通路
(162)と、上記各通路(161・162)内にて成
形される樹脂成形体の突出機構(21)とを備えると共
に、上記第一金型(A)には、リードフレームの一面側
に装着した半導体素子(181)の樹脂封止成形用キャ
ビティ(14)を配設し、また、上記第二金型(B)に
は、第一金型(A)との型締時に上記リードフレーム(
18)の他面側に密に接合させる接合面(22)を形成
し、更に、上記第三金型(C)には、第一金型(A)と
の型締時に該第一金型(A)のキャビティ(14)位置
と対応する所要の肉薄樹脂成形体成形用のキャビティ(
13)を配設して構成したことを特徴とするものである
Moreover, the resin encapsulation molding apparatus of the present invention for carrying out the above-described method includes a first mold for resin molding (A), and the first mold (A).
A second mold (B) and third mold (C) for resin molding are clamped against A), and the first and second molds (A-B) and the first and third molds ( At the time of each mold clamping of A-C), the pots (15, 152) for supplying resin material disposed on either side of them, and the respective pots (151, 15
2) plungers (191, 192) for pressurizing the resin materials (201, 20□) fitted into the respective parts, and the bogs (bottoms) formed when the first and second molds (A-B) are clamped. 15
1) and the cavity (14), a passageway (161) for transferring molten resin material, and the first and third molds (A
- A passageway (162) for transferring the molten resin material that communicates the pot (152) and the cavity (13) formed during mold clamping in C), and the resin molded in each of the passageways (161 and 162). The first mold (A) is provided with a molded body protrusion mechanism (21), and a cavity (14) for resin-sealing molding of a semiconductor element (181) mounted on one side of a lead frame. In addition, the second mold (B) is provided with the lead frame (
18) A joint surface (22) is formed to be closely joined to the other surface side, and the third mold (C) is further provided with a joint surface (22) that is closely joined to the other surface side, and the third mold (C) is further provided with the first mold (A) when the mold is clamped with the first mold (A). The cavity (14) for molding the required thin-walled resin molding corresponding to the position of the cavity (14) in (A)
13).

(作用) 本発明の方法及び構成によれば、リードフレームの一面
側に装着した半導体素子を樹脂封止する樹脂成形体の成
形工程と、該リードフレームの他面側に対する所要の肉
薄樹脂成形体の成形工程とが夫々各別に行われる。
(Function) According to the method and structure of the present invention, there is a step of molding a resin molded body for resin-sealing a semiconductor element mounted on one side of a lead frame, and a process of forming a necessary thin resin molded body on the other side of the lead frame. The molding steps are performed separately.

従って、特にミ肉薄樹脂成形体の成形工程において、そ
の成形用キャビティ内のエア排出作用が効率良く行われ
ると共に、溶融樹脂材料によるエアの巻込作用が確実に
防止されるため、所要の肉薄樹脂成形体をリードフレー
ムの他面側に固着させる場合に、該キャビティ内での樹
脂材料未充填状態が解消されて、成形された肉薄樹脂成
形体にボイドや欠損部が形成されるのを確実に防止する
ことができるものである。
Therefore, especially in the process of molding thin-walled resin moldings, the air in the molding cavity is efficiently discharged, and air entrainment by the molten resin material is reliably prevented. When fixing the molded body to the other side of the lead frame, ensure that the unfilled state of resin material in the cavity is eliminated and that voids and missing parts are not formed in the thin resin molded body. It is something that can be prevented.

(実施例) 次に、本発明を第1図〜第9図に示す実施例図に基づい
て説明する。
(Example) Next, the present invention will be explained based on the example diagrams shown in FIGS. 1 to 9.

第1図は本発明に係る成形装置の全体を概略図示してお
り、第2図及び第3図はその成形用金型の型締状態を示
しており、また、第4図と第5図及び第6図と第7図は
その要部の型締及び型開状態を図示している。
FIG. 1 schematically shows the entire molding apparatus according to the present invention, FIGS. 2 and 3 show the molding mold in a clamped state, and FIGS. 4 and 5 6 and 7 illustrate the main parts in the mold clamping and mold opening states.

この装置は、同各図に示すように、樹脂成形用第一金型
Aと、該第一金型Aに対して型締めさせる樹脂成形用第
二金型B及び第三金型Cと、該第−と第二金型(Δ・B
)及び第一と第三金型(A−C)の各型締時において、
それらのいずれか一方側(凹側においては、第二金型B
及び第三金型C)に夫々配設される樹脂材料供給用のポ
ット151・152と、該各ポットに夫々嵌合される樹
脂材料(20、・202)加圧用のプランジャ191・
192と、上記第一及び第二金型(A−B)の型締時に
構成されるポット151とキャビティ(14)とを連通
させる溶融樹脂材料の移送用通路161と、上記第一及
び第三金型(A・C)の型締時に構成されるポット15
2とキャビティ(13)とを連通させる溶融樹脂材料の
移送用通路162と、上記各通路(161・162)内
にて成形される樹脂成形体の突出機構21とを備えると
共に、上記第一金型Aには、リードフレーム18の一面
側に装着した半導体素子181の樹脂封止成形用キャビ
ティ14を配設し、また、上記第二金型Bには、第一金
型Aとの型締時に上記リードフレーム18の他面側に密
に接合させる接合面22を形成し、更に、上記第三金型
Cには、第一金型Aとの型締時に該第一金型Aのキャビ
ティ14位置と対応する所要の肉薄樹脂成形体成形用の
キャビティ13を配設して構成されている。なお、図中
の符号17は第一金型Aの21面に設けたリードフレー
ム18の嵌合セット用溝部、同符号23は第一金型Aの
キャビティ14内にて成形される樹脂成形体の突出機構
である。また、同符号24は第一金型A側に設けたリー
ドフレーム18の位置決め用ビン、同符号251・25
2は該ビン24の位置と対応する第二金型B及び第三金
型C側に穿設したビン穴である。
As shown in the figures, this device includes a first mold A for resin molding, a second mold B and a third mold C for resin molding that are clamped to the first mold A, The second and second molds (Δ・B
) and at the time of each mold clamping of the first and third molds (A-C),
Either side of them (on the concave side, the second mold B
and pots 151 and 152 for supplying resin material disposed in the third mold C), and plungers 191 and 191 for pressurizing the resin material (20, 202) fitted in each pot, respectively.
192, a passage 161 for transferring molten resin material that communicates between the pot 151 and the cavity (14) formed when the first and second molds (A-B) are clamped, and the first and third molds (A-B). Pot 15 configured when molds (A and C) are clamped
2 and the cavity (13), and a protruding mechanism 21 for the resin molded body molded in each of the passages (161 and 162). The mold A is provided with a cavity 14 for resin-sealing molding of the semiconductor element 181 mounted on one side of the lead frame 18, and the second mold B is provided with a mold clamping mechanism for molding the semiconductor element 181 mounted on one side of the lead frame 18. A bonding surface 22 is formed in the third mold C to be tightly joined to the other surface of the lead frame 18, and the third mold C has a cavity of the first mold A when the mold is clamped with the first mold A. It is constructed by disposing cavities 13 for molding a required thin resin molded body corresponding to 14 positions. In addition, the reference numeral 17 in the figure is a groove for fitting and setting the lead frame 18 provided on the 21st surface of the first mold A, and the same reference numeral 23 is a resin molded body molded within the cavity 14 of the first mold A. This is the ejection mechanism. In addition, the same reference numeral 24 is a positioning bin for the lead frame 18 provided on the first mold A side, and the same reference numeral 251 and 25
Reference numeral 2 denotes a bottle hole drilled in the second mold B and third mold C sides corresponding to the position of the bottle 24.

また、上記した第二金型B及び第三金型Cは、第1図に
示すように、装置フレームの上部固定盤26の左右水平
位置に並設されており、従って、夫々固定上型を構成し
ている。また、上記第一金型Aは第二金型Bの下方位置
に対向配置されると共に、その下部に備えられた上下駆
動機127によって上下往復郡動するように設けられて
おり、従って、可動下型を構成している。また、上記第
一金型Aにおける樹脂成形体の突出機構21・23は、
下部に備えた突出バー211・231を上動させること
によって、その上部に備えた突出ピン21□・23□を
有する突出プレート21s・233を各別に上動するよ
うに設けられている。従って、上記各突出バ21t・2
31゛の上動により夫々の突出ピン212・232が、
上記第一金型Aのキャビティ14内にて成形される樹脂
成形体と、その通路161・162内にて成形される樹
脂成形体とを該金型Aから各別に離型させることができ
る。更に、上記第一金型Aは、適宜なターンテーブル機
構28等を介して、上記第二金型B及び第三金型Cの下
方位置へ夫々交互に且つ任意に移動させることができ、
従って、該第一金型Aと第二金型B、及び、第一金型A
と第三金型Cの上下位置合わせとそれらの組合せから成
る両金型の型締め及び型開き操作を任意に行うことがで
きるように構成されている。
Furthermore, as shown in FIG. 1, the above-mentioned second mold B and third mold C are arranged side by side on the left and right horizontal positions of the upper fixed platen 26 of the device frame, and therefore each has a fixed upper mold. It consists of Further, the first mold A is disposed below the second mold B and is arranged to move vertically and reciprocally by a vertical drive machine 127 provided at the bottom of the second mold B. Therefore, the first mold A is movable. It makes up the lower mold. Moreover, the protruding mechanisms 21 and 23 of the resin molded body in the first mold A are as follows:
By moving up the protruding bars 211 and 231 provided at the lower part, the protruding plates 21s and 233 having protruding pins 21□ and 23□ provided at the upper part thereof are individually moved upward. Therefore, each of the protruding bars 21t.2
By upward movement of 31゛, the respective protruding pins 212 and 232 are
The resin molded body molded within the cavity 14 of the first mold A and the resin molded body molded within the passages 161 and 162 can be released from the mold A separately. Furthermore, the first mold A can be alternately and arbitrarily moved to a position below the second mold B and the third mold C, respectively, via a suitable turntable mechanism 28 or the like,
Therefore, the first mold A, the second mold B, and the first mold A
The vertical positioning of the third mold C and the third mold C, and the clamping and opening operations of both molds, which are a combination thereof, can be performed as desired.

以下、上記実施例の構成を有する成形装置を用いた樹脂
封止成形方法を説明する。
Hereinafter, a resin sealing molding method using a molding apparatus having the configuration of the above embodiment will be explained.

まず、第8図の(1)に示すように、樹脂成形用第一金
型Aにおけるキャビティ14部に、リードフレーム18
の一面側に装着した半導体素子181を嵌装セットする
工程を行う。なお、この場合、上記第一金型Aに設けた
位置決め用ビン24を上記リードフレームに穿設したピ
ン孔182に嵌挿させることによって、該リードフレー
ム18を第一金型Aにおける溝部17の所定位置に嵌合
セットさせることができる。
First, as shown in FIG. 8 (1), a lead frame 18 is placed in the cavity 14 portion of the first mold A for resin molding.
A step of fitting and setting the semiconductor element 181 mounted on one side of the is performed. In this case, by fitting the positioning pin 24 provided in the first mold A into the pin hole 182 bored in the lead frame, the lead frame 18 is inserted into the groove 17 in the first mold A. It can be fitted and set in a predetermined position.

次に、同図(2)に示すように、上記樹脂成形用第一金
型Aと、該第一金型Aにセットされた上記リードフレー
ム18の他面側に密に接合する接合面22を設けた樹脂
成形用第二金型Bとを型合わせする該第一及び第二金型
(A−B)の型締工程を行うと共に、該第二金型Bのポ
ット15wに供給した樹脂材料(20りを加熱し且つプ
ランジャ191にて加圧することにより、通路161を
通して該第一金型Aにおけるキャビティ14内に溶融樹
脂材料を注入充填させて、該キャビティ14内の半導体
素子181を肉厚樹脂成形体20a内に封止成形する第
一次樹脂成形工程を行う。
Next, as shown in FIG. 2 (2), the first mold A for resin molding and the joint surface 22 closely joined to the other surface of the lead frame 18 set in the first mold A. A mold clamping process is performed for the first and second molds (A-B) to match the second mold B for resin molding provided with the resin, and the resin supplied to the pot 15w of the second mold B is By heating the material (20) and pressurizing it with the plunger 191, the molten resin material is injected and filled into the cavity 14 in the first mold A through the passage 161, and the semiconductor element 181 in the cavity 14 is molded. A first resin molding step is performed to seal and mold the inside of the thick resin molded body 20a.

次に、同図(3)に示すように、該第一及び第二金型(
A−B)を離反させる該両型の型開工程を行うと共に、
上記第一及び第二金型(A−B)の型開工程後に、若し
くは、該型開工程と同時的に、突出機構21により突出
バー211  ・突出プレート213 ・突出ピン21
2を上動させて、該両型における溶融樹脂材料の移送用
通路161内にて成形された不要な樹脂成形体のみを離
型・排除する第一次突出工程を行う、なお、上記第二金
型B側に設けられた通路(ゲート)内の不要な樹脂成形
体は、第一金型A側に設けられた通路(カル部)内の樹
脂成形体とキャビティ14内の肉厚樹脂成形体20aと
に付着されているため、上記型開工程時において下方へ
離型される。
Next, as shown in the same figure (3), the first and second molds (
Performing a mold opening process for both molds to separate A-B),
After or simultaneously with the mold opening process of the first and second molds (A-B), the protrusion mechanism 21 causes the protrusion bar 211 , protrusion plate 213 , protrusion pin 21
2 is moved upward to perform a first ejection step in which only the unnecessary resin molded body molded in the molten resin material transfer passage 161 in both molds is released and removed from the mold. The unnecessary resin moldings in the passage (gate) provided on the mold B side are the resin moldings in the passage (cull part) provided on the first mold A side and the thick resin molding in the cavity 14. Since it is attached to the body 20a, it is released downward during the mold opening process.

次に、ターンテーブル機構28により上記第一金型Aを
側方に回転移動させて、同図(4)に示すように、該樹
脂成形用第一金型Aと、そのキャビティ14位置と対応
する所要の肉薄樹脂成形体成形用のキャビティ13を配
設した樹脂成形用第三金型Cとを型合わせする該第一及
び第三金型(A−C)の型締工程を行うと共に、該第三
金型Cのポット15□に供給した樹脂材料(202)を
加熱し且つプランジャ192にて加圧することにより、
通路162を通して該第三金型Cにおけるキャビティ1
3内に溶融樹脂材料を注入充填させて、上記半導体素子
の樹脂封止成形体の固着位置と対応するリードフレーム
18の他面側に、所要の肉薄樹脂成形体20bを固着さ
せる第二次樹脂成形工程を行う。
Next, the first mold A is rotated laterally by the turntable mechanism 28 so that the first mold A for resin molding corresponds to the position of its cavity 14, as shown in FIG. At the same time, performing a mold clamping process of the first and third molds (A-C) to match the third mold C for resin molding in which the cavity 13 for molding the required thin resin molded body is arranged. By heating the resin material (202) supplied to the pot 15□ of the third mold C and pressurizing it with the plunger 192,
Cavity 1 in the third mold C through passage 162
A secondary resin is injected and filled into 3 to fix a desired thin resin molded body 20b on the other side of the lead frame 18 corresponding to the fixing position of the resin-sealed molded body of the semiconductor element. Perform the molding process.

次に、同図(9に示すように、該第一及び第三金型(A
−C)を離反させる該両型の型開工程を行うと共に、上
記第一及び第三金型(A−C)の型開工程後に、若しく
は、該型開工程と同時的に、両突出機構21・23によ
り、突出バー2h・23t  ・突出プレート213・
23s ・突出ピン212・232を夫々上動させて、
該第一金型Aのキャビティ14内にて成形された肉厚樹
樹脂成形体20a及びリードフレーム18と該両型にお
ける通路162内にて成形された不要な樹脂成形体を離
型させる第二次突出工程を行う、なお、上記第三金型C
のキャビティ13内及び通路(ゲート)内にて夫々成形
された肉薄樹脂成形体20b及び不要な樹脂成形体は、
第一金型A側のキャビティ14内及び通路(カル部)内
にて成形された肉厚樹樹脂成形体20a及び不要な樹脂
成形体に夫々付着されているため、上記型開工程時にお
いて下方に離型される。また、これらの不要樹脂成形体
を適宜に切除することによって、第9図に示すような成
形品を得ることができる。
Next, as shown in the same figure (9), the first and third molds (A
-C), and at the same time, after the mold opening process of the first and third molds (A-C), or simultaneously with the mold opening process, both protruding mechanisms 21 and 23, the protruding bars 2h and 23t, the protruding plate 213,
23s ・Move the protruding pins 212 and 232 upward respectively,
A second mold for releasing the thick resin molded body 20a and the lead frame 18 molded in the cavity 14 of the first mold A and the unnecessary resin molded body molded in the passage 162 in both molds. The third mold C is used for the next ejection process.
The thin resin molded body 20b and unnecessary resin molded body molded in the cavity 13 and the passage (gate), respectively, are
Because they are attached to the thick resin molded body 20a molded in the cavity 14 and the passage (cull part) on the first mold A side, and to the unnecessary resin molded body, the lower part is removed during the mold opening process. It is released from the mold. Further, by appropriately cutting off these unnecessary resin molded bodies, a molded product as shown in FIG. 9 can be obtained.

上述したように、実施例の方法及び構成によれば、第9
図に示すように、リードフレーム18の一面側に装着し
た半導体素子181を樹脂封止する樹脂成形体20aの
成形工程と、該リードフレーム18の他面側に対する所
要の肉薄樹脂成形体20bの成形工程とが夫々各別に行
われることになる。
As described above, according to the method and structure of the embodiment, the ninth
As shown in the figure, a process of forming a resin molded body 20a for resin-sealing a semiconductor element 181 mounted on one side of the lead frame 18, and a process of forming a necessary thin resin molded body 20b on the other side of the lead frame 18. Each step will be performed separately.

また、上記肉薄樹脂成形体2015の成形工程を行うに
際して、第一金型Aのキャビティ14内には樹脂成形体
20aが既に成形されている。このため、該成形工程に
おける成形用キャビティ13内のエアは、該キャビティ
13内に注入充填される溶融樹脂材料によって第一及び
第三金型(A−C)の21面から外部へ順次に、且つ、
確実に排出されることになる。更に、このように、エア
の排出作用が効率良く且つスムーズに行われるので、注
入充填された溶融樹脂材料によるエアの巻込作用を確実
に防止できる。従って、所要の肉薄樹脂成形体をリード
フレームの他面側に被覆・固着させる場合に、その成形
用キャビティ13内での樹脂材料未充填状態が解消され
るため、成形された肉薄樹脂成形体20bにボイドや欠
損部が形成されるのを確実に防止することができるもの
である。
Further, when performing the molding process of the thin resin molded body 2015, the resin molded body 20a has already been molded in the cavity 14 of the first mold A. Therefore, the air inside the molding cavity 13 in the molding process is sequentially pumped outward from the 21 sides of the first and third molds (A-C) by the molten resin material injected into the cavity 13. and,
It will definitely be ejected. Furthermore, since the air discharging action is performed efficiently and smoothly in this manner, it is possible to reliably prevent the air from being entrained by the molten resin material that has been injected and filled. Therefore, when a desired thin resin molded body is coated and fixed on the other side of the lead frame, the state where the resin material is not filled in the molding cavity 13 is eliminated, so that the molded thin resin molded body 20b It is possible to reliably prevent the formation of voids and defects in the structure.

(他の実施例) 上述した各金型(A−B−C)の配置については、実施
例図に示したように、これを上下方向に配設して用いる
他、例えば、これを上下逆の配置態様に、或は、左右水
平方向に配設して用いるようにしてもよく、その配設位
置の選定は任意に採用できるものである。
(Other Examples) Regarding the arrangement of the above-mentioned molds (A-B-C), as shown in the example diagram, in addition to arranging them in the vertical direction, for example, using them upside down Alternatively, they may be arranged in the left and right horizontal directions, and the arrangement position can be arbitrarily selected.

また、両型のP、L面に構成されるセット用溝部(17
)に対してリードフレーム(18)を嵌合セットさせる
態様は、例えば、該リードフレームに装着された半導体
素子(tSt)が上向きとなるように設定してもよく、
この場合は、その半導体素子を樹脂封止するためのキャ
ビティ(14)を対向する上型側のP、L面に配設すれ
ばよい。なお、両型のP、L面が上下方向へ配設されて
いる場合、上記したリードフレーム(18)の嵌合セッ
トの態様は左向き或は右向きのいずれであってもよく、
また、その半導体素子の樹脂封止用キャビティ(14)
はこれと対向する側の金型21面に配設すればよい。
In addition, the setting grooves (17
), the lead frame (18) may be fitted and set, for example, so that the semiconductor element (tSt) mounted on the lead frame faces upward;
In this case, a cavity (14) for resin-sealing the semiconductor element may be provided on the P and L surfaces of the upper die which face each other. In addition, when the P and L surfaces of both types are arranged in the vertical direction, the aspect of the above-mentioned lead frame (18) fitting set may be either leftward or rightward.
Also, a cavity (14) for resin sealing of the semiconductor element.
may be provided on the side of the mold 21 opposite to this.

また、第一と第二金型(A−B)及び第一と第三金型(
A−C)の組合せにおいて、それらのうち、どちらを固
定側或は可動側とするかの選定も任意に採用できるもの
である。
In addition, the first and second molds (A-B) and the first and third molds (
In the combinations A-C), it is possible to arbitrarily select which side is the fixed side or the movable side.

また、ポット(151・152)及びプランジャ(19
1・192)の配設位置を、実施例図のものとは逆に、
下型側に配設してもよく、更に、それらを固定側或は可
動側のいずれの側に配置するかの選定も任意に採用でき
るものである。
Also, pots (151, 152) and plungers (19
1.192), the installation position is opposite to that in the example diagram.
They may be arranged on the lower mold side, and furthermore, they can be arbitrarily selected to be arranged on either the fixed side or the movable side.

また、第二及び第三金型(B−C)の夫々に、通路(ゲ
ート)内の不要な樹脂成形体及びキャビティ(13)内
の肉薄樹脂成形体(20b)を離型させるための専用突
出機構を設けるようにしてもよい。
In addition, each of the second and third molds (B-C) is dedicated for releasing the unnecessary resin molded body in the passage (gate) and the thin resin molded body (20b) in the cavity (13). A protruding mechanism may also be provided.

また、本発明に係る半導体素子の樹脂封止成形方法は、
まず、半導体素子を装着したリードフレームの一面側に
対して、該半導体素子を封止する所要肉厚の樹脂成形体
を一体に固着させる第一次樹脂成形工程を行い、次に、
上記第一次樹脂成形工程において成形された樹脂成形体
の固着位置と対応するリードフレームの他面側に対して
、所要の肉薄樹脂成形体を一体に被覆・固着させる第二
次樹脂成形工程とから成ることを特徴とするものであり
、これによって、前述した実施例のものと同様の作用効
果を得ることができるものである。
Further, the resin encapsulation molding method for a semiconductor element according to the present invention includes:
First, a primary resin molding process is performed to integrally fix a resin molded body of a required thickness to seal the semiconductor element to one side of the lead frame on which the semiconductor element is mounted, and then,
A second resin molding step of integrally covering and fixing the required thin resin molding onto the other side of the lead frame corresponding to the fixing position of the resin molding molded in the first resin molding step; This feature makes it possible to obtain the same effects as those of the above-mentioned embodiments.

しかしながら、本発明に係る半導体素子の樹脂封止成形
方法は、要するに、半導体素子を装着したリードフレー
ムの一面側に対して、該半導体素子を封止する所要肉厚
の樹脂成形体を一体に固着させる樹脂成形工程と、上記
半導体素子の封止用樹脂成形体の固着位置と対応するリ
ードフレームの他面側に対して、所要の肉薄樹脂成形体
を一体に被覆・固着させる樹脂成形工程との各工程を各
別に行うことを特徴とするもので、これにより、前述し
た実施例のものと同様の作用効果を得ることができる。
However, in the method for resin-sealing and molding a semiconductor element according to the present invention, in short, a resin molded body having a required thickness for sealing the semiconductor element is fixed integrally to one side of a lead frame on which the semiconductor element is mounted. and a resin molding step of integrally covering and fixing the required thin resin molding to the other side of the lead frame corresponding to the fixing position of the resin molding for sealing the semiconductor element. This method is characterized in that each step is performed separately, and thereby the same effects as those of the above-mentioned embodiments can be obtained.

従って、まず、上記した肉薄樹脂成形体の樹脂成形工程
を行い、次に、上記肉厚樹脂成形体の樹脂成形工程を行
うといった逆の方法を採用しても差し支えなく、これに
よっても、前述した実施例のものと同様の作用効果を得
ることができるものである。
Therefore, there is no problem in adopting the opposite method, such as first performing the resin molding process for the thin resin molding described above, and then performing the resin molding process for the thick resin molding. It is possible to obtain the same effects as those of the embodiment.

更に、上記した肉厚樹脂成形体(20a)と肉薄樹脂成
形体(20b)とのより確実な固着一体化を図る目的で
、例えば、予め、少なくともその一方側に凹凸その他の
適当な係合面を形成しておく方法及び構成を採用しても
よい。
Further, for the purpose of more securely integrating the thick resin molded body (20a) and the thin resin molded body (20b), for example, at least one side thereof is provided with irregularities or other suitable engagement surfaces. It is also possible to adopt a method and structure in which the .

また、上記肉厚樹脂成形体(20a)と肉薄樹脂成形体
(20b)とを異なる樹脂材料から成形するようにして
もよい。即ち、該肉薄樹脂成形体は放熱作用を効率良く
行わせる目的で形成されるものであるから、該肉厚樹脂
成形体は通常の半導体封止用の樹脂材料を用いると共に
、該肉薄樹脂成形体を成形するための樹脂材料としては
、上記放熱作用効果を更に向上させる目的で、例えば、
シリカ等の充填材を含まない、若しくは、その含有量が
少ない封止用樹脂材料、或は、放熱性に優れたその他の
封止用樹脂材料を用いればよい。
Further, the thick resin molded body (20a) and the thin resin molded body (20b) may be molded from different resin materials. That is, since the thin resin molded body is formed for the purpose of efficiently dissipating heat, the thick resin molded body uses a usual resin material for semiconductor encapsulation, and the thin resin molded body As the resin material for molding, for the purpose of further improving the heat dissipation effect, for example,
A sealing resin material that does not contain a filler such as silica or has a small content thereof, or another sealing resin material that has excellent heat dissipation properties may be used.

(発明の効果) 本発明の方法及び構成によれば、リードフレームの一面
側に装着した半導体素子を樹脂封止する樹脂成形体の成
形工程と、該リードフレームの他面側に対する所要の肉
薄樹脂成形体の成形工程とを夫々各別に行うものである
から、特に、肉薄樹脂成形体の成形工程において、その
成形用キャビティ内のエア排出作用を効率良く且つスム
ーズに行うと共に、溶融樹脂材料によるエアの巻込作用
を確実に防止するもめであるため、所要の肉薄樹脂成形
体をリードフレームの他面側に被覆・固着させる場合に
、該キャビティ内での樹脂材料未充填状態が解消されて
、成形された肉薄樹脂成形体にボイドや欠損部が形成さ
れるのを確実に防止することができるものである。
(Effects of the Invention) According to the method and configuration of the present invention, the process of molding a resin molded body for resin-sealing a semiconductor element mounted on one side of a lead frame, and the process of molding a resin molded body for resin-sealing a semiconductor element mounted on one side of a lead frame, and forming a thin resin body on the other side of the lead frame. Since the molding process of each molded body is performed separately, it is possible to efficiently and smoothly discharge air from the molding cavity, especially in the molding process of a thin resin molded body, and to remove air from the molten resin material. This is a conflict that reliably prevents the entrainment of the lead frame, so when the required thin resin molded body is coated and fixed on the other side of the lead frame, the state where the resin material is not filled in the cavity is eliminated, It is possible to reliably prevent voids and missing portions from being formed in the thin resin molded body.

従って、本発明の方法及び構成によるときは、リードフ
レーム面を被覆させる肉薄樹脂成形体の成形を確実に行
うことができる半導体素子の樹脂封止成形方法とその装
置を提供することができると共に、前述した従来の問題
点を確実に解消することができる優れた効果を奏するも
のである。
Therefore, according to the method and configuration of the present invention, it is possible to provide a resin encapsulation molding method and apparatus for a semiconductor element that can reliably mold a thin resin molded body that covers the surface of a lead frame, and This has an excellent effect of reliably solving the above-mentioned conventional problems.

特に、放熱作用を効率良く行わせることを目的とした肉
薄樹脂成形体の成形用キャビティ内において、従来のよ
うな樹脂材料の未充填状態が発生しないので、その肉薄
樹脂成形体にボイドや欠損部が形成されることがなく、
従って、放熱作用の確実化と、リードフレーム面の被覆
・封止という所期の目的を完全に達成することができて
、この種製品の高品質性及び高信頼性の向上を図ること
ができる優れた効果を奏するものである。
In particular, in the molding cavity of a thin resin molded body whose purpose is to efficiently dissipate heat, an unfilled state of resin material does not occur as in the conventional case, so there are no voids or missing parts in the thin resin molded body. is not formed,
Therefore, the intended purpose of ensuring heat dissipation and covering and sealing the lead frame surface can be completely achieved, and the high quality and reliability of this type of product can be improved. It has excellent effects.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明に係る半導体素子の樹脂封止成形装置の
全体概略を示す一部切欠正面図である。 第2図及び第3図はその成形用金型の型締状態を示す一
部切欠拡大正面図である。 第4図及び第5図はその成形用金型要部の型締状態を示
す一部切欠拡大縦断正面図である。 第6図及び第7図はその成形用金型要部の型開状態を示
す一部切欠拡大縦断正面図である。 第8図は、本発明方法の各工程説明図である。 第9図は、本発明方法により成形された成形品の要部を
示す縦断正面図である。 第10図及び第11図は、従来の半導体素子の樹脂封止
成形装置における成形用金型要部の型締状態を示す縦断
正面図及び該従来装置により成形された成形品の要部を
示す縦断正面図である。 (符号の説明) A ・・・ 第一金型 B ・・・ 第二金型 C・・・ 第三金型 13  ・・・ キャビティ 14  ・・・ キャビティ 151・・・ ポット 152・・・ ポット 161 ・・・  通  路 162・・・通路 17 ・・・  溝  部 18  ・・・ リードフレーム 181・・・ 半導体素子 182・・・ ピン孔 191・・・ プランジャ 192・・・ プランジャ 201・・・ 樹脂材料 202・・・ 樹脂材料 20a・・・ 肉厚樹脂成形体 20b・・・ 肉薄樹脂成形体 21  ・・・ 突出機構 211・・・ 突出バー 212・・・ 突出ビン 213・・・ 突出プレート 22  ・・・ 接合面 23  ・・・ 突出機構 231・・・ 突出バー 232・・・ 突出ビン 233・・・ 突出プレート 24  ・・・ 位置決め用ピン 251・・・ ピン孔 252・・・ ピン孔 26  ・・・ 固定盤 27  ・・・ 上下駆動機構 28  ・・・ ターンテーブル機構
FIG. 1 is a partially cutaway front view schematically showing the entire resin sealing molding apparatus for semiconductor elements according to the present invention. FIGS. 2 and 3 are partially cutaway enlarged front views showing the molding die in a clamped state. FIGS. 4 and 5 are partially cutaway enlarged longitudinal sectional front views showing the main parts of the mold for molding in a clamped state. FIGS. 6 and 7 are partially cutaway enlarged longitudinal sectional front views showing the main parts of the molding die in an open state. FIG. 8 is an explanatory diagram of each step of the method of the present invention. FIG. 9 is a longitudinal sectional front view showing the main parts of a molded product molded by the method of the present invention. FIGS. 10 and 11 are longitudinal sectional front views showing the clamping state of the main parts of the molding die in a conventional resin encapsulation molding apparatus for semiconductor devices, and the main parts of a molded product molded by the conventional apparatus. FIG. (Explanation of symbols) A: First mold B: Second mold C: Third mold 13: Cavity 14: Cavity 151: Pot 152: Pot 161 ... Passage 162 ... Passage 17 ... Groove portion 18 ... Lead frame 181 ... Semiconductor element 182 ... Pin hole 191 ... Plunger 192 ... Plunger 201 ... Resin material 202... Resin material 20a... Thick resin molded body 20b... Thin resin molded body 21... Protrusion mechanism 211... Protrusion bar 212... Protrusion bottle 213... Protrusion plate 22... - Joint surface 23... Protrusion mechanism 231... Protrusion bar 232... Protrusion bottle 233... Protrusion plate 24... Positioning pin 251... Pin hole 252... Pin hole 26... Fixed plate 27... Vertical drive mechanism 28... Turntable mechanism

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)半導体素子を装着したリードフレームの一面側に
対して、該半導体素子を封止する所要肉厚の樹脂成形体
を一体に固着させる樹脂成形工程と、上記半導体素子の
封止用樹脂成形体の固着位置と対応するリードフレーム
の他面側に対して、所要の肉薄樹脂成形体を一体に固着
させる樹脂成形工程との各工程を各別に行うことを特徴
とする半導体素子の樹脂封止成形方法。
(1) A resin molding step of integrally fixing a resin molded body of a required thickness for sealing the semiconductor element to one side of the lead frame on which the semiconductor element is mounted, and resin molding for sealing the semiconductor element. Resin encapsulation of a semiconductor element, characterized in that each process including a resin molding process of integrally fixing a required thin resin molded body to the other side of a lead frame corresponding to the fixing position of the body is performed separately. Molding method.
(2)半導体素子を装着したリードフレームの一面側に
対して、該半導体素子を封止する所要肉厚の樹脂成形体
を一体に固着させる第一次樹脂成形工程を行い、次に、
上記第一次樹脂成形工程において成形された樹脂成形体
の固着位置と対応するリードフレームの他面側に対して
、所要の肉薄樹脂成形体を一体に固着させる第二次樹脂
成形工程を行うことを特徴とする半導体素子の樹脂封止
成形方法。
(2) A primary resin molding process is performed to integrally fix a resin molded body of a required thickness to seal the semiconductor element to one side of the lead frame on which the semiconductor element is mounted, and then,
Performing a second resin molding process to integrally fix a required thin resin molded body to the other side of the lead frame corresponding to the fixing position of the resin molded body molded in the first resin molding process. A resin encapsulation molding method for a semiconductor element, characterized by:
(3)樹脂成形用第一金型におけるキャビティ部にリー
ドフレームの一面側に装着した半導体素子を嵌装セット
する工程と、 上記樹脂成形用第一金型と、該第一金型にセットされた
上記リードフレームの他面側に密に接合する接合面を設
けた樹脂成形用第二金型とを型合わせする該第一及び第
二金型の型締工程と、上記第一及び第二金型の型締後に
、該第一金型におけるキャビティ内に溶融樹脂材料を注
入充填させて、該キャビティ内の半導体素子を樹脂封止
成形する第一次樹脂成形工程と、 上記第一次樹脂成形工程の終了後に、該第一及び第二金
型を離反させる該両型の型開工程と、上記第一及び第二
金型の型開工程後に、若しくは、該型開工程と同時的に
、該両型における溶融樹脂材料の移送用通路内にて成形
された樹脂成形体を離型させる第一次突出工程と、 上記第一次突出工程の終了後において、上記樹脂成形用
第一金型と、該第一金型のキャビティ位置と対応する所
要の肉薄樹脂成形体成形用のキャビティを配設した樹脂
成形用第三金型とを型合わせする該第一及び第三金型の
型締工程と、 上記第一及び第三金型の型締後に、該第三金型における
キャビティ内に溶融樹脂材料を注入充填させて、上記半
導体素子の樹脂封止成形体の固着位置と対応するリード
フレームの他面側に、所要の肉薄樹脂成形体を固着させ
る第二次樹脂成形工程と、 上記第二次樹脂成形工程の終了後に、該第一及び第三金
型を離反させる該両型の型開工程と、上記第一及び第三
金型の型開工程後に、若しくは、該型開工程と同時的に
、該第一金型のキャビティ内にて成形された樹脂成形体
及びリードフレームと該両型における溶融樹脂材料の移
送用通路内にて成形された樹脂成形体を離型させる第二
次突出工程との各工程から成ることを特徴とする半導体
素子の樹脂封止成形方法。
(3) a step of fitting and setting the semiconductor element mounted on one side of the lead frame into the cavity part of the first mold for resin molding; a mold clamping step of the first and second molds for mold matching with a second mold for resin molding provided with a bonding surface closely bonded to the other surface of the lead frame; a first resin molding step of injecting and filling a molten resin material into a cavity in the first mold to seal and mold a semiconductor element in the cavity with resin after the mold is clamped; After the completion of the molding process, a mold opening process for separating the first and second molds, and after the mold opening process for the first and second molds, or simultaneously with the mold opening process. , a first ejection step in which the molded resin body is released from the mold in the passage for transferring the molten resin material in both molds, and after the completion of the first ejection step, the first molding metal for resin molding. The molds of the first and third molds are matched with a third mold for resin molding, which is provided with a cavity for molding a required thin resin molded body corresponding to the cavity position of the first mold. A tightening step: After the first and third molds are clamped, a molten resin material is injected and filled into the cavity of the third mold to correspond to the fixing position of the resin-sealed molded body of the semiconductor element. a second resin molding step in which a required thin resin molded body is fixed to the other side of the lead frame; and after the completion of the second resin molding step, the first and third molds are separated from each other. and a resin molded body and a lead frame molded in the cavity of the first mold after or simultaneously with the mold opening process of the first and third molds. and a second ejection step of releasing the molded resin body in the passageway for transferring molten resin material in both molds.
(4)樹脂成形用第一金型と、該第一金型に対して型締
めさせる樹脂成形用第二及び第三の金型と、該第一金型
と第二金型及び第一金型と第三金型の各型締時において
、それらのいずれか一方側に夫々配設される樹脂材料供
給用のポットと、該各ポットに夫々嵌合される樹脂材料
加圧用のプランジャと、上記第一金型及び第二金型の型
締時に構成されるポットとキャビティとを連通させる溶
融樹脂材料の移送用通路と、上記第一金型及び第三金型
の型締時に構成されるポットとキャビティとを連通させ
る溶融樹脂材料の移送用通路と、上記各通路内にて成形
される樹脂成形体の突出機構とを備えた半導体素子の樹
脂封止成形装置であって、上記第一金型には、リードフ
レームの一面側に装着した半導体素子の樹脂封止成形用
のキャビティを配設し、また、上記第二金型には、第一
金型との型締時に上記リードフレームの他面側に密に接
合させる接合面を形成し、更に、上記第三金型には、第
一金型との型締時に該第一金型のキャビティ位置と対応
する所要の肉薄樹脂成形体成形用のキャビティを配設し
て構成したことを特徴とする半導体素子の樹脂封止成形
装置。
(4) A first mold for resin molding, second and third molds for resin molding that are clamped to the first mold, the first mold, the second mold, and the first mold. pots for supplying resin material disposed on either side of the mold and the third mold when the molds are clamped, and plungers for pressurizing the resin material fitted into each pot, respectively; A passage for transferring molten resin material that communicates the pot and the cavity formed when the first and second molds are clamped, and a passage that is configured when the first and third molds are clamped. A resin encapsulation molding apparatus for a semiconductor element, comprising a passage for transferring a molten resin material that communicates a pot and a cavity, and a protrusion mechanism for a resin molded body molded in each of the passages, the apparatus comprising: The mold is provided with a cavity for resin sealing molding of the semiconductor element mounted on one side of the lead frame, and the second mold is provided with a cavity for molding the lead frame when the mold is clamped with the first mold. A joint surface is formed to be tightly joined to the other surface side, and the third mold has a required thin resin molding corresponding to the cavity position of the first mold when the mold is clamped with the first mold. A resin encapsulation molding apparatus for a semiconductor element, characterized in that it is configured by disposing a cavity for body molding.
JP31167087A 1987-12-08 1987-12-08 Method and apparatus for resin encapsulation molding of semiconductor element Expired - Lifetime JP2518661B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31167087A JP2518661B2 (en) 1987-12-08 1987-12-08 Method and apparatus for resin encapsulation molding of semiconductor element

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31167087A JP2518661B2 (en) 1987-12-08 1987-12-08 Method and apparatus for resin encapsulation molding of semiconductor element

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01151239A true JPH01151239A (en) 1989-06-14
JP2518661B2 JP2518661B2 (en) 1996-07-24

Family

ID=18020065

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP31167087A Expired - Lifetime JP2518661B2 (en) 1987-12-08 1987-12-08 Method and apparatus for resin encapsulation molding of semiconductor element

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2518661B2 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06349870A (en) * 1993-06-08 1994-12-22 Nec Corp Semiconductor device and manufacture thereof
WO2007147470A1 (en) * 2006-06-21 2007-12-27 Hansatronic Gmbh Method for producing an injection-moulded part comprising an integrated flexible printed circuit board

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06349870A (en) * 1993-06-08 1994-12-22 Nec Corp Semiconductor device and manufacture thereof
WO2007147470A1 (en) * 2006-06-21 2007-12-27 Hansatronic Gmbh Method for producing an injection-moulded part comprising an integrated flexible printed circuit board

Also Published As

Publication number Publication date
JP2518661B2 (en) 1996-07-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6261501B1 (en) Resin sealing method for a semiconductor device
GB2252746A (en) Resin sealing of electronic parts
JPH04147814A (en) Mold for resin seal molding
JP4417096B2 (en) Resin sealing method and resin sealing device
JP7134930B2 (en) Mold, resin molding apparatus, and method for manufacturing resin molded product
JPH01151239A (en) Method and apparatus for resin-seal molding of semiconductor device
KR100617654B1 (en) Mould part, mould and method for encapsulating electronic components mounted on a carrier
JP2893085B2 (en) Method and apparatus for resin sealing molding of electronic parts
JPH056094Y2 (en)
JP2675644B2 (en) Resin mold equipment for semiconductor devices
JPS60251633A (en) Transfer mold forming method and resin tablet pressurizing device thereof
JPH07112453A (en) Resin molding device
JP2631990B2 (en) Mold for resin molding of electronic parts
JPS59111334A (en) Molding die
JPH11168114A (en) Resin encapsulating apparatus for semiconductor chip
JPH0432755Y2 (en)
JP3581743B2 (en) Method and apparatus for resin sealing molding of electronic parts
JP4759259B2 (en) Resin mold and resin mold apparatus
JPH05166866A (en) Method and apparatus for resin-sealing of electronic component, and lead frame
KR100340979B1 (en) Resin bag molding method of electronic parts
JPH0537474Y2 (en)
JPH01216815A (en) Transfer resin encapsulation molding of component to be encapsulated, resin encapsulation mold assembly used therefor and film carrier
JPH01134955A (en) Molding for package of semiconductor and the like, molding device thereof and molding metal mold
JPH05212747A (en) Transfer molding method and resin tablet used therein
GB2280144A (en) Apparatus for sealing semiconductor devices