JPH01144649A - 集積回路の配線構造 - Google Patents
集積回路の配線構造Info
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- JPH01144649A JPH01144649A JP62303869A JP30386987A JPH01144649A JP H01144649 A JPH01144649 A JP H01144649A JP 62303869 A JP62303869 A JP 62303869A JP 30386987 A JP30386987 A JP 30386987A JP H01144649 A JPH01144649 A JP H01144649A
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- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/04—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
- H01L27/10—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a repetitive configuration
- H01L27/118—Masterslice integrated circuits
- H01L27/11803—Masterslice integrated circuits using field effect technology
- H01L27/11807—CMOS gate arrays
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- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、LSI等の集積回路をセル方式に基づいて設
計する場合における、各セル間の配線構造に関するもの
である。
計する場合における、各セル間の配線構造に関するもの
である。
CA D [computer aided desi
gnlにより集積回路を設計する場合、インバータ等の
基本回路素子からなる複数のセルを横並びに配列してセ
ル列を構成すると共に、このセル列を複数配置して各セ
ル列間に配線領域を形成するセル方式が用いられている
。このセル方式としては、予めセル領域が固定されたゲ
ートアレイ方式や、より自由度の高いスタンダードセル
方式がある。このようなセル方式を用いる場合、各セル
間の配線路を縦方向と横方向とで多層配線層における異
なる層に形成するのが一般的である。
gnlにより集積回路を設計する場合、インバータ等の
基本回路素子からなる複数のセルを横並びに配列してセ
ル列を構成すると共に、このセル列を複数配置して各セ
ル列間に配線領域を形成するセル方式が用いられている
。このセル方式としては、予めセル領域が固定されたゲ
ートアレイ方式や、より自由度の高いスタンダードセル
方式がある。このようなセル方式を用いる場合、各セル
間の配線路を縦方向と横方向とで多層配線層における異
なる層に形成するのが一般的である。
第3図は、従来のゲートアレイ方式によるインパーク論
理セルのレイアウト例を示したものである。
理セルのレイアウト例を示したものである。
この図における2点鎖線で囲まれた矩形の領域がセル3
1となる。このセル31の横方向の両隣には、同様に構
成されたセルが多数並んで配列されている。また、この
セル31の縦方向の両隣は、配線領域となっている。セ
ル31内には、相補型MOSインバータを構成するnチ
ャンネル型FETの能動素子領域32とnチャンネル型
FETの能動素子領域33とが縦に並んで配置されてい
る。これらの能動素子領域32・33の各ゲート34・
35は、セル31の中央(j近で、コンタクト36を介
して互いに接続されている。また、このコンタクト36
は、第1層配線路37及びコンタクI・38を介して上
層の入力端子配線路39に接続されている。能動素子領
域32・33及びゲ−1−34・35の上層には、多層
の配線層が形成されている。そして、第1層配線路37
ば、この多層配線層の下層側である第1層(1点鎖線)
に形成されている。また、入力端子配線路39は、この
多層配線層における上層側の第2層(実線)に形成され
ている。この入力端子配線路39は、縦方向に両扉線領
域まで引き出され、相補型M○Sインバータにおける入
力端子となる。
1となる。このセル31の横方向の両隣には、同様に構
成されたセルが多数並んで配列されている。また、この
セル31の縦方向の両隣は、配線領域となっている。セ
ル31内には、相補型MOSインバータを構成するnチ
ャンネル型FETの能動素子領域32とnチャンネル型
FETの能動素子領域33とが縦に並んで配置されてい
る。これらの能動素子領域32・33の各ゲート34・
35は、セル31の中央(j近で、コンタクト36を介
して互いに接続されている。また、このコンタクト36
は、第1層配線路37及びコンタクI・38を介して上
層の入力端子配線路39に接続されている。能動素子領
域32・33及びゲ−1−34・35の上層には、多層
の配線層が形成されている。そして、第1層配線路37
ば、この多層配線層の下層側である第1層(1点鎖線)
に形成されている。また、入力端子配線路39は、この
多層配線層における上層側の第2層(実線)に形成され
ている。この入力端子配線路39は、縦方向に両扉線領
域まで引き出され、相補型M○Sインバータにおける入
力端子となる。
nチャンネル型FETの能動素子領域32におけるソー
ス、及び、nチャンネル型F E’rの能動素子領域3
3におけるドレインは、それぞれ複数のコンタクト40
・・・を介して、共に第1層配線路41に接続されてい
る。第1層配線路41ば、多層配線層における第1層に
形成されている。そして、この第1層配線路41は、セ
ル31の中央付近で、コンタクト42を介して上層の出
力端子配線路43に接続されている。出力端子配線路4
3は、多層配線層における第2層に形成されている。こ
の出力端子配線路43ば、前記入力端子配線路39と並
んで縦方向に両扉線領域まで引き出され、相補型MOS
インバータにおける出力端子となる。
ス、及び、nチャンネル型F E’rの能動素子領域3
3におけるドレインは、それぞれ複数のコンタクト40
・・・を介して、共に第1層配線路41に接続されてい
る。第1層配線路41ば、多層配線層における第1層に
形成されている。そして、この第1層配線路41は、セ
ル31の中央付近で、コンタクト42を介して上層の出
力端子配線路43に接続されている。出力端子配線路4
3は、多層配線層における第2層に形成されている。こ
の出力端子配線路43ば、前記入力端子配線路39と並
んで縦方向に両扉線領域まで引き出され、相補型MOS
インバータにおける出力端子となる。
nチャンネル型FETの能動素子領域32におけるドレ
インは、複数のコンタクト44・・・を介して、上層の
電源端子配線路45に接続されている。また、nチャン
ネル型FETの能動素子領域33におけるソースは、複
数のコンタクト44・・・を介して、上層の接地端子配
線路46に接続されている。これらの電源端子配線路4
5及び接地端子配線路46は、多層配線層における第1
層に形成されている。能動素子領域32のドレインに接
続する電源端子配線路45は、同じ層内で縦方向の一方
の配線領域まで引き出され、電源電圧を供給する端子と
なる。また、能動素子領域33のソースに接続する接地
端子配線路46は、同じ層内で縦方向の他方の配線領域
まで引き出され、接地電圧を供給する端子となる。
インは、複数のコンタクト44・・・を介して、上層の
電源端子配線路45に接続されている。また、nチャン
ネル型FETの能動素子領域33におけるソースは、複
数のコンタクト44・・・を介して、上層の接地端子配
線路46に接続されている。これらの電源端子配線路4
5及び接地端子配線路46は、多層配線層における第1
層に形成されている。能動素子領域32のドレインに接
続する電源端子配線路45は、同じ層内で縦方向の一方
の配線領域まで引き出され、電源電圧を供給する端子と
なる。また、能動素子領域33のソースに接続する接地
端子配線路46は、同じ層内で縦方向の他方の配線領域
まで引き出され、接地電圧を供給する端子となる。
第4図は、上記インハーク論理セルを配置した従来のゲ
ートアレイ方式におけるレイアウト例の一部を示したも
のである。
ートアレイ方式におけるレイアウト例の一部を示したも
のである。
この図における2点鎖線で囲まれた領域がそれぞれセル
列47となる。このセル列47内に一ヒ記構成のセル3
1が多数様並びに配列されている。
列47となる。このセル列47内に一ヒ記構成のセル3
1が多数様並びに配列されている。
このセル列47の領域は、セル領域となる。また、各セ
ル列47の間は、配線領域となる。セル列47を構成す
る各セル31からは、それぞれ入力端子配線路39、出
力端子配線路43、電源端子配線路45及び接地端子配
線路46がこの配線領域に引き出されている。ここで、
各配線路39・43・45・46は、縦方向と横方向と
でそれぞれ多層配線層における異なる層に形成する必要
がある。そして、従来は、入力端子配線路39及び出力
端子配線路43が第2層において縦方向に引き出されて
いたので、配線領域において横方向に引き回すには、第
1層の配線層を用いなければならない。従って、この入
力端子配線路39及び出力端子配線路43は、配線領域
において、コンタクト48を介し下層の第1層に形成さ
れた横方向の入出力端子配線路49に接続されていた。
ル列47の間は、配線領域となる。セル列47を構成す
る各セル31からは、それぞれ入力端子配線路39、出
力端子配線路43、電源端子配線路45及び接地端子配
線路46がこの配線領域に引き出されている。ここで、
各配線路39・43・45・46は、縦方向と横方向と
でそれぞれ多層配線層における異なる層に形成する必要
がある。そして、従来は、入力端子配線路39及び出力
端子配線路43が第2層において縦方向に引き出されて
いたので、配線領域において横方向に引き回すには、第
1層の配線層を用いなければならない。従って、この入
力端子配線路39及び出力端子配線路43は、配線領域
において、コンタクト48を介し下層の第1層に形成さ
れた横方向の入出力端子配線路49に接続されていた。
また、電源端子配線路45及び接地端子配線路46は、
第1層のまま配線領域の端を横方向に引き回されていた
。なお、この電源端子配線路45及び接地端子配線路4
6は、セル列47内の端を第1層で横方向に引き回す場
合もある。
第1層のまま配線領域の端を横方向に引き回されていた
。なお、この電源端子配線路45及び接地端子配線路4
6は、セル列47内の端を第1層で横方向に引き回す場
合もある。
しかしながら、従来のこのような配線構造は、下記の問
題点が生じていた。
題点が生じていた。
■ 第4図からも明らかなように、セル方式においては
、各セル31から配線領域に引き出すための縦方向の配
線路に比べて、セル列47におげる各セル31の並び方
向である横方向の配線路の方が配線長が長くなる傾向に
ある。ところが、従来の配線構造では、信号線である入
力端子配線路39及び出力端子配線路43が多層配線層
における上層の第2層で縦方向に引き出され、下層の第
1層において入出力端子配線路49として横方向に引き
回されていた。即ち、第2層に比べ配線容量の大きい第
1層における入出力端子配線路49の配線長の方が長く
なり、信号線全体の配線容量を大きくしていた。この配
線容量は、集積回路の動作速度を決定づける重要な要因
となる。従って、このように信号線の配線容量が大きく
なることにより、集積回路の高速化の障害となっていた
。
、各セル31から配線領域に引き出すための縦方向の配
線路に比べて、セル列47におげる各セル31の並び方
向である横方向の配線路の方が配線長が長くなる傾向に
ある。ところが、従来の配線構造では、信号線である入
力端子配線路39及び出力端子配線路43が多層配線層
における上層の第2層で縦方向に引き出され、下層の第
1層において入出力端子配線路49として横方向に引き
回されていた。即ち、第2層に比べ配線容量の大きい第
1層における入出力端子配線路49の配線長の方が長く
なり、信号線全体の配線容量を大きくしていた。この配
線容量は、集積回路の動作速度を決定づける重要な要因
となる。従って、このように信号線の配線容量が大きく
なることにより、集積回路の高速化の障害となっていた
。
■ 従来は、電源電圧及び接地電圧を供給するだめの電
源端子配線路45及び接地端子配線路46が、配線領域
の端又はセル領域の端で横方向に引き回されていた。こ
のため、信号線の配線路を形成するための配線領域の面
積又は能動素子領域を形成するだめのセル領域の面積を
狭めないようにするためには、これらの配線路45・4
6の線路幅をあまり広くとることができなかった。従っ
て、これらの配線路45・46に大きな電流を流すこと
が困難になり、素子を安定に高速動作させることができ
なかった。
源端子配線路45及び接地端子配線路46が、配線領域
の端又はセル領域の端で横方向に引き回されていた。こ
のため、信号線の配線路を形成するための配線領域の面
積又は能動素子領域を形成するだめのセル領域の面積を
狭めないようにするためには、これらの配線路45・4
6の線路幅をあまり広くとることができなかった。従っ
て、これらの配線路45・46に大きな電流を流すこと
が困難になり、素子を安定に高速動作させることができ
なかった。
■ また、能動素子領域32・33は、第1層の電源端
子配線路45及び接地端子配線路46によって一部が覆
われているだけなので、外部の雑音の影響を受は易かっ
た。
子配線路45及び接地端子配線路46によって一部が覆
われているだけなので、外部の雑音の影響を受は易かっ
た。
本発明に係る集積回路の配線構造は、上記問題点を解決
するために、セル方式に基づき、セル列における各セル
の並び方向である横方向とこれに対して直交する縦方向
とで多層配線層の異なる層に配線路を形成するように設
計された集積回路の配線構造において、配線領域におけ
る信号線の横方向の配線路が各セルからこの配線領域に
信号線を引き出す縦方向の配線路より多層配線層におけ
る上層側に形成されると共に、電源電圧及び接地電圧を
供給する配線路がセル領域における多層配線層にそれぞ
れ横方向に形成されたことを特徴としている。
するために、セル方式に基づき、セル列における各セル
の並び方向である横方向とこれに対して直交する縦方向
とで多層配線層の異なる層に配線路を形成するように設
計された集積回路の配線構造において、配線領域におけ
る信号線の横方向の配線路が各セルからこの配線領域に
信号線を引き出す縦方向の配線路より多層配線層におけ
る上層側に形成されると共に、電源電圧及び接地電圧を
供給する配線路がセル領域における多層配線層にそれぞ
れ横方向に形成されたことを特徴としている。
多層配線層の上層側に形成した配線路は、素子形成基板
との間の誘電体層が厚くなり、配線容量が小さくなる。
との間の誘電体層が厚くなり、配線容量が小さくなる。
また、セル方式における配線路は、セル列を構成する各
セルの並び方向である横方向の方が縦方向に比べて線路
長が長くなる。従って、本発明のように、信号線の横方
向の配線路を縦方向より多層配線層の上層側に形成する
と、信号線全体の配線容量を低減することができる。
セルの並び方向である横方向の方が縦方向に比べて線路
長が長くなる。従って、本発明のように、信号線の横方
向の配線路を縦方向より多層配線層の上層側に形成する
と、信号線全体の配線容量を低減することができる。
また、電源電圧及び接地電圧を供給する配線路をセル領
域における多層配線層に形成するので、セル領域に形成
する能動素子領域の面積や配線領域の面積に影響を与え
ることなく、広い幅に形成することができる。しかも、
最も電位の安定したこれらの配線路によって、幅広く下
層の能動素子領域を覆うことができるので、この能動素
子領域を外部の雑音からシールドすることができる。
域における多層配線層に形成するので、セル領域に形成
する能動素子領域の面積や配線領域の面積に影響を与え
ることなく、広い幅に形成することができる。しかも、
最も電位の安定したこれらの配線路によって、幅広く下
層の能動素子領域を覆うことができるので、この能動素
子領域を外部の雑音からシールドすることができる。
さらに、従来、ラッチアップ防止用のガードリングを形
成した場合には、このガードリングに電源電圧又は接地
電圧を供給するために、ガードリングを与えたコンタク
トからこれらの配線路まで配線を引き回さなければなら
なかった。しかしながら、本発明のように電源電圧及び
接地電圧を供給する配線路が能動素子領域を覆うように
形成することが可能になれば、ガードリング上の任意の
位置でこれらの電圧を供給することができるようになる
。
成した場合には、このガードリングに電源電圧又は接地
電圧を供給するために、ガードリングを与えたコンタク
トからこれらの配線路まで配線を引き回さなければなら
なかった。しかしながら、本発明のように電源電圧及び
接地電圧を供給する配線路が能動素子領域を覆うように
形成することが可能になれば、ガードリング上の任意の
位置でこれらの電圧を供給することができるようになる
。
本発明の一実施例を第1図及び第2図に基づいて説明す
れば、以下の通りである。
れば、以下の通りである。
第2図は、ゲートアレイ方式によるインバータ論理セル
のレイアウト例を示したものである。
のレイアウト例を示したものである。
この図における2点鎖線で囲まれた矩形の領域がセル1
となる。このセル1の横方向の両隣には、同様に構成さ
れたセルが多数並んで配列されている。また、このセル
1の縦方向の両隣は、配線領域となっている。セル1内
には、相補型MOSインバータを構成するpチャンネル
型FETの能動素子領域2とnチャンネル型FBTの能
動素子領域3とが縦に並んで配置されている。これらの
能動素子領域2・3の中央上層には、薄いゲート酸化膜
を介してゲート4・5がそれぞれ形成されている。ごれ
らのゲート4・5は、セル1の中央部でコンタクト6を
介して互いに接続されている。また、ゲート4は、セル
1の縦方向の一端部で、コンタクト7を介して入力端子
配線路8に接続され、一方の配線領域に引き出されてい
る。さらに、ゲート5は、セル1の縦方向の他端部で、
コンタクト9を介して入力端子配線路10に接続され、
他方の配線領域に引き出されている。能動素子領域2・
3及びゲート4・5の上層には、多層の配線層が形成さ
れている。そして、これらの入力端子配線路8・10ば
、この多層配線層の下層側である第1Nに形成され、相
補型MOSインバータの入力端子となる。
となる。このセル1の横方向の両隣には、同様に構成さ
れたセルが多数並んで配列されている。また、このセル
1の縦方向の両隣は、配線領域となっている。セル1内
には、相補型MOSインバータを構成するpチャンネル
型FETの能動素子領域2とnチャンネル型FBTの能
動素子領域3とが縦に並んで配置されている。これらの
能動素子領域2・3の中央上層には、薄いゲート酸化膜
を介してゲート4・5がそれぞれ形成されている。ごれ
らのゲート4・5は、セル1の中央部でコンタクト6を
介して互いに接続されている。また、ゲート4は、セル
1の縦方向の一端部で、コンタクト7を介して入力端子
配線路8に接続され、一方の配線領域に引き出されてい
る。さらに、ゲート5は、セル1の縦方向の他端部で、
コンタクト9を介して入力端子配線路10に接続され、
他方の配線領域に引き出されている。能動素子領域2・
3及びゲート4・5の上層には、多層の配線層が形成さ
れている。そして、これらの入力端子配線路8・10ば
、この多層配線層の下層側である第1Nに形成され、相
補型MOSインバータの入力端子となる。
nチャンネル型FETの能動素子領域2におけるソース
、及び、nチャンネル型FETの能動素子領域3におけ
るドレインは、それぞれ複数のコンタクト11・・・を
介して、配線層の第1層に形成された出力端子配線路1
2に共通に接続されている。この出力端子配線路12ば
、縦方向の両端部をそれぞれ両扉線領域に引き出されて
、相補型MOSインバータの出力端子となる。
、及び、nチャンネル型FETの能動素子領域3におけ
るドレインは、それぞれ複数のコンタクト11・・・を
介して、配線層の第1層に形成された出力端子配線路1
2に共通に接続されている。この出力端子配線路12ば
、縦方向の両端部をそれぞれ両扉線領域に引き出されて
、相補型MOSインバータの出力端子となる。
nチャンネル型FETの能動素子領域2におけるドレイ
ンは、複数のコンタクト13・・・を介して、多層配線
層の第1層に形成された第1層配線路14に接続されて
いる。また、nチャンネル型FETの能動素子領域3に
おけるソースは、複数のコンタクト13・・・を介して
、同じく第1層に形成された第1層配線路15に接続さ
れている。第1層配線路14は、コンタクト16・16
を介して上層の電源端子配線路17に接続されている。
ンは、複数のコンタクト13・・・を介して、多層配線
層の第1層に形成された第1層配線路14に接続されて
いる。また、nチャンネル型FETの能動素子領域3に
おけるソースは、複数のコンタクト13・・・を介して
、同じく第1層に形成された第1層配線路15に接続さ
れている。第1層配線路14は、コンタクト16・16
を介して上層の電源端子配線路17に接続されている。
また、第1層配線路15は、コンタクト18を介して上
層の接地端子配線路19に接続されている。
層の接地端子配線路19に接続されている。
これらの電源端子配線路17及び接地端子配線路19ば
、多層配線層における。上層側である第2層に形成され
ている。また、これらの電源端子配線路17及び接地端
子配線路19は、それぞれ各能動素子領域2・3の上層
を覆うように幅広に形成され、かつ、セル1の領域を超
えて横方向に長く形成されている。そして、この電源端
子配線路17は、電源電圧を供給する端子となり、接地
端子配線路19ば、接地電圧を供給する端子となる。
、多層配線層における。上層側である第2層に形成され
ている。また、これらの電源端子配線路17及び接地端
子配線路19は、それぞれ各能動素子領域2・3の上層
を覆うように幅広に形成され、かつ、セル1の領域を超
えて横方向に長く形成されている。そして、この電源端
子配線路17は、電源電圧を供給する端子となり、接地
端子配線路19ば、接地電圧を供給する端子となる。
第1図は、上記インバータ論理セルを配置したゲーI・
アレイ方式におけろレイアウト例の一部を示したもので
ある。
アレイ方式におけろレイアウト例の一部を示したもので
ある。
この図における2点鎖線で囲まれた領域がそれぞれセル
列20となる。このセル列20内に上記構成のセルlが
多数機並びに配列されている。このセル列20の領域は
、セル領域となる。このセル領域における多層配線層の
第2層に形成された各セル1の電源端子配線路17及び
接地端子配線路19は、互いに横方向に長く繋がって、
セル列20の側方に引き出されている。これらの電源端
子配線路17及び接地端子配線路19は、それぞれ各セ
ル1のnチャンネル型FETの能動素子領域2又すまn
チャンネル型F E Tの能動素子領域3を覆うような
幅広に形成されている。
列20となる。このセル列20内に上記構成のセルlが
多数機並びに配列されている。このセル列20の領域は
、セル領域となる。このセル領域における多層配線層の
第2層に形成された各セル1の電源端子配線路17及び
接地端子配線路19は、互いに横方向に長く繋がって、
セル列20の側方に引き出されている。これらの電源端
子配線路17及び接地端子配線路19は、それぞれ各セ
ル1のnチャンネル型FETの能動素子領域2又すまn
チャンネル型F E Tの能動素子領域3を覆うような
幅広に形成されている。
また、各セル列20の間が配線領域となる。セル列20
を構成する各セル1からは、それぞれ多層配線層の第1
層に形成された入力端子配線路8・10と出力端子配線
路12とがこの配線領域に縦方向に引き出されている。
を構成する各セル1からは、それぞれ多層配線層の第1
層に形成された入力端子配線路8・10と出力端子配線
路12とがこの配線領域に縦方向に引き出されている。
配線領域の横方向には、配線層の第2層に入出力端子配
線路21・・・が多数形成されている。そして、縦方向
の各配線路8・10・12は、この横方向の入出力端子
配線路21・・・にそれぞれコンタクト22・・・を介
して接続され引き回されている。
線路21・・・が多数形成されている。そして、縦方向
の各配線路8・10・12は、この横方向の入出力端子
配線路21・・・にそれぞれコンタクト22・・・を介
して接続され引き回されている。
」−記構酸により、各セル1の相補型MOSインバータ
における信号線は、線路長の短い縦方向が第1層の入力
端子配線路8・10及び出力端子配線路12によって形
成される。また、線路長の長い横方向は、第2層の入出
力端子配線路21・・・によって形成される。従って、
線路長の長い横方向が多層配線層の上層側に形成される
ので、信号線全体の配線容量を低減することができる。
における信号線は、線路長の短い縦方向が第1層の入力
端子配線路8・10及び出力端子配線路12によって形
成される。また、線路長の長い横方向は、第2層の入出
力端子配線路21・・・によって形成される。従って、
線路長の長い横方向が多層配線層の上層側に形成される
ので、信号線全体の配線容量を低減することができる。
また、電源端子配線路17及び接地端子配線路19をセ
ル領域における多層配線層に形成するので、このセル領
域に形成する能動素子領域2・3の面積や配線領域の面
積に影響を与えることなく、幅広に形成することができ
る。しかも、最も電位の安定したこれらの配線路17・
19によって、下層の能動素子領域2・3を覆うので、
この能動素子領域2・3を外部の雑音からシールドする
ことができる。
ル領域における多層配線層に形成するので、このセル領
域に形成する能動素子領域2・3の面積や配線領域の面
積に影響を与えることなく、幅広に形成することができ
る。しかも、最も電位の安定したこれらの配線路17・
19によって、下層の能動素子領域2・3を覆うので、
この能動素子領域2・3を外部の雑音からシールドする
ことができる。
さらに、電源端子配線路17及び接地端子配線路19を
多層配線層の第2層に横方向に形成するので、セル領域
における縦方向の信号線である第1層の出力端子配線路
12等をもシールドすることができ、しかも、この出力
端子配線路12等と能動素子領域2・3との接続も容易
にすることができる。
多層配線層の第2層に横方向に形成するので、セル領域
における縦方向の信号線である第1層の出力端子配線路
12等をもシールドすることができ、しかも、この出力
端子配線路12等と能動素子領域2・3との接続も容易
にすることができる。
本発明に係る集積回路の配線構造は、以上のように、セ
ル方式に基づき、セル列における各セルの並び方向であ
る横方向とこれに対して直交する縦方向とで多層配線層
の異なる層に配線路を形成するように設計された集積回
路の配線構造において、配線領域における信号線の横方
向の配線路が各セルからこの配線領域に信号線を引き出
す縦方向の配線路より多層配線層における上層側に形成
されると共に、電源電圧及び接地電圧を供給する配線路
がセル領域における多層配線層にそれぞれ横方向に形成
された構成をなしている。
ル方式に基づき、セル列における各セルの並び方向であ
る横方向とこれに対して直交する縦方向とで多層配線層
の異なる層に配線路を形成するように設計された集積回
路の配線構造において、配線領域における信号線の横方
向の配線路が各セルからこの配線領域に信号線を引き出
す縦方向の配線路より多層配線層における上層側に形成
されると共に、電源電圧及び接地電圧を供給する配線路
がセル領域における多層配線層にそれぞれ横方向に形成
された構成をなしている。
これにより、本発明に係る集積回路の配線構造は、下記
のような効果を奏する。
のような効果を奏する。
■ 信号線において最も線路長の長い横方向の配線路を
多層配線層の上層側に形成するので、信号線全体の配線
容量が低減される。従って、集積回路の動作速度を高め
ることができる。
多層配線層の上層側に形成するので、信号線全体の配線
容量が低減される。従って、集積回路の動作速度を高め
ることができる。
■ 電源電圧及び接地電圧を供給する配線路を、セル領
域に形成する能動素子領域の面積や配線領域の面積に影
響を与えることなく、幅広く形成することができる。従
って、これらの配線路に大きな電流を流すことができる
ので、各素子の高速動作を安定化させることができる。
域に形成する能動素子領域の面積や配線領域の面積に影
響を与えることなく、幅広く形成することができる。従
って、これらの配線路に大きな電流を流すことができる
ので、各素子の高速動作を安定化させることができる。
■ また、電源電圧及び接地電圧を供給する配線路をこ
のようにセル領域における多層配線層に幅広く形成する
ことにより、能動素子領域をこれらの配線路で覆うこと
ができる。従って、この能動素子領域が最も電位の安定
したこれらの配線路によってシールドされるので、外部
の雑音の影響を排除することができる。
のようにセル領域における多層配線層に幅広く形成する
ことにより、能動素子領域をこれらの配線路で覆うこと
ができる。従って、この能動素子領域が最も電位の安定
したこれらの配線路によってシールドされるので、外部
の雑音の影響を排除することができる。
第1図及び第2図は本発明の一実施例を示すものであっ
て、第1図はインバータ論理セルを用いたゲートアレイ
方式のレイアウト図、第2図はインバータ論理セルのレ
イアウト図である。第3図及び第4図は従来例を示すも
のであって、第3図はインバータ論理セルのレイアウト
図、第4図はインバータ論理セルを用いたゲートアレイ
方式のレイアウト図である。 1はセル、2はnチャンネル型FETの能動素子領域、
3はnチャンネル型FETの能動素子領域、4・5はゲ
ート、8・10は入力端子配線路(信号線の縦方向の配
線路)、12は出力端子配線路(信号線の縦方向の配線
路)、17は電源端子配線路(電源電圧を供給する配線
路)、19は接地端子配線路(接地電圧を供給する配線
路)、20はセル列、21は入出力端子配線路(信号線
の横方向の配線路)である。 第3図 配 棒−−−45 頒)つ 広し− 34r、 ヨ ゛ 1 1 ・] 31〜.−1 、 .1 、−32 、:li 。 ト セ 1 1、 1 tIL
、 、 3
9頒 19.1 頒珠、1」、
1 博 1 ”1 1、 1 、 配° 1
〜37 繰 伸 49′ ・ 、 ・ 36 .
4I ・I! −2Q
A −第4図 1′1「■ 径り 甘−−−−j
て、第1図はインバータ論理セルを用いたゲートアレイ
方式のレイアウト図、第2図はインバータ論理セルのレ
イアウト図である。第3図及び第4図は従来例を示すも
のであって、第3図はインバータ論理セルのレイアウト
図、第4図はインバータ論理セルを用いたゲートアレイ
方式のレイアウト図である。 1はセル、2はnチャンネル型FETの能動素子領域、
3はnチャンネル型FETの能動素子領域、4・5はゲ
ート、8・10は入力端子配線路(信号線の縦方向の配
線路)、12は出力端子配線路(信号線の縦方向の配線
路)、17は電源端子配線路(電源電圧を供給する配線
路)、19は接地端子配線路(接地電圧を供給する配線
路)、20はセル列、21は入出力端子配線路(信号線
の横方向の配線路)である。 第3図 配 棒−−−45 頒)つ 広し− 34r、 ヨ ゛ 1 1 ・] 31〜.−1 、 .1 、−32 、:li 。 ト セ 1 1、 1 tIL
、 、 3
9頒 19.1 頒珠、1」、
1 博 1 ”1 1、 1 、 配° 1
〜37 繰 伸 49′ ・ 、 ・ 36 .
4I ・I! −2Q
A −第4図 1′1「■ 径り 甘−−−−j
Claims (1)
- 1、セル方式に基づき、セル列における各セルの並び方
向である横方向とこれに対して直交する縦方向とで多層
配線層の異なる層に配線路を形成するように設計された
集積回路の配線構造において、配線領域における信号線
の横方向の配線路が各セルからこの配線領域に信号線を
引き出す縦方向の配線路より多層配線層における上層側
に形成されると共に、電源電圧及び接地電圧を供給する
配線路がセル領域における多層配線層にそれぞれ横方向
に形成されたことを特徴とする集積回路の配線構造。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62303869A JP2575760B2 (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | 集積回路の配線構造 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62303869A JP2575760B2 (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | 集積回路の配線構造 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01144649A true JPH01144649A (ja) | 1989-06-06 |
JP2575760B2 JP2575760B2 (ja) | 1997-01-29 |
Family
ID=17926254
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62303869A Expired - Fee Related JP2575760B2 (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | 集積回路の配線構造 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2575760B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04142060A (ja) * | 1990-10-02 | 1992-05-15 | Hitachi Ltd | 半導体集積装置の配線方法 |
JPH04216668A (ja) * | 1990-12-15 | 1992-08-06 | Sharp Corp | 半導体集積回路 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56138939A (en) * | 1980-03-31 | 1981-10-29 | Chiyou Lsi Gijutsu Kenkyu Kumiai | Master slice type integrated circuit |
JPS61156751A (ja) * | 1984-12-28 | 1986-07-16 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路 |
-
1987
- 1987-11-30 JP JP62303869A patent/JP2575760B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56138939A (en) * | 1980-03-31 | 1981-10-29 | Chiyou Lsi Gijutsu Kenkyu Kumiai | Master slice type integrated circuit |
JPS61156751A (ja) * | 1984-12-28 | 1986-07-16 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04142060A (ja) * | 1990-10-02 | 1992-05-15 | Hitachi Ltd | 半導体集積装置の配線方法 |
JPH04216668A (ja) * | 1990-12-15 | 1992-08-06 | Sharp Corp | 半導体集積回路 |
US5237184A (en) * | 1990-12-15 | 1993-08-17 | Sharp Kabushiki Kaisha | Semiconductor integrated circuit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2575760B2 (ja) | 1997-01-29 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |