JPH01138673A - メモリ回路 - Google Patents
メモリ回路Info
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- JPH01138673A JPH01138673A JP63031126A JP3112688A JPH01138673A JP H01138673 A JPH01138673 A JP H01138673A JP 63031126 A JP63031126 A JP 63031126A JP 3112688 A JP3112688 A JP 3112688A JP H01138673 A JPH01138673 A JP H01138673A
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- address
- input
- internal clock
- internal
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 5
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 abstract 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 2
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
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- Static Random-Access Memory (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、メモリ回路に係り、特に集積回路化された非
同期型ICメモリ回路に関する。
同期型ICメモリ回路に関する。
外部クロックを用いない非同期型メモリ回路のライトサ
イクルに於ては、アドレス入力の論理変化から外部よシ
供給さハる書き込み信号(外部ライト信号)の入力迄の
時間が規定されており、通常コれをアドレスセットアツ
プ時間tAllの意味する所は、ライトサイクルの前の
サイクルで選択されていたアドレスに誤書き込み金しな
いように、そのアドレスに対応するワードライン又はピ
ットラインが非選択になり几後に外部ライト信号に対応
する内部のライト信号が発生するように、アドレス入力
と外部ライト信号との間に時間に関する一定の制約を設
は友ものである。
イクルに於ては、アドレス入力の論理変化から外部よシ
供給さハる書き込み信号(外部ライト信号)の入力迄の
時間が規定されており、通常コれをアドレスセットアツ
プ時間tAllの意味する所は、ライトサイクルの前の
サイクルで選択されていたアドレスに誤書き込み金しな
いように、そのアドレスに対応するワードライン又はピ
ットラインが非選択になり几後に外部ライト信号に対応
する内部のライト信号が発生するように、アドレス入力
と外部ライト信号との間に時間に関する一定の制約を設
は友ものである。
さて、このtA8という規格を満念す定めに、従来性な
われていたメモリ回路の設計例について述べる。以下、
−例としてtA8が零の場合について考える。
われていたメモリ回路の設計例について述べる。以下、
−例としてtA8が零の場合について考える。
第1図に示される従来例のメモリ回路、すなわチ、アド
レスバラフッ回路B、アドレスf :2− f回路DE
、メモリセルアレイC1入出カッ櫂ツファ回路IO及び
ライト信号バッファ回路WBで構成されるメモリ回路に
おいて、外部ライト信号WEは遅延回路りを通シインバ
ータ回路工により内部ライト信号Wとして取シ込まれ1
.入出力バッファ回路工0を制御する。
レスバラフッ回路B、アドレスf :2− f回路DE
、メモリセルアレイC1入出カッ櫂ツファ回路IO及び
ライト信号バッファ回路WBで構成されるメモリ回路に
おいて、外部ライト信号WEは遅延回路りを通シインバ
ータ回路工により内部ライト信号Wとして取シ込まれ1
.入出力バッファ回路工0を制御する。
第2図を参照し動作について説明する。時刻T2.にお
いてROW側のアドレス入力A、が論理変化すると、変
化前後のアドレスに対応する2つのワードラインWLk
、 WL、が時間T□後の時刻T2□においてクロス変
化し旧いアドレスに代わって新しいアドレスが選択され
る。一方、外部ライト信号WEは上記時刻T21におい
て入力され、遅延回路りを経てインバータ回路工に入力
され、時間T。
いてROW側のアドレス入力A、が論理変化すると、変
化前後のアドレスに対応する2つのワードラインWLk
、 WL、が時間T□後の時刻T2□においてクロス変
化し旧いアドレスに代わって新しいアドレスが選択され
る。一方、外部ライト信号WEは上記時刻T21におい
て入力され、遅延回路りを経てインバータ回路工に入力
され、時間T。
を経た時刻T25において内部ライト信号Wとして取り
込まれる。この信号Wにより、上記の新しいアドレスに
データが葺き込まれる。ここで上記の旧いアドレスに書
き込みをしない之めには、TA < Tw
・・−・・・・・(1)であることが必要である。従来
は、第1図における遅延回路りの遅延時間を調整するこ
とにより、(1)式を満tすように設計するのが一般的
であり念。
込まれる。この信号Wにより、上記の新しいアドレスに
データが葺き込まれる。ここで上記の旧いアドレスに書
き込みをしない之めには、TA < Tw
・・−・・・・・(1)であることが必要である。従来
は、第1図における遅延回路りの遅延時間を調整するこ
とにより、(1)式を満tすように設計するのが一般的
であり念。
しかし、上記遅延時間は、製造のバラツキ、を源変動等
により犬きく変化するものであジ、その分の余裕産金見
込んで設計する必要があり、その余裕度を見積ること自
体難かしいことであるばかりでなく、余裕度を見込むこ
とにより内部ライト信号の巾TwPが短かくなり罹災な
書き込みが困難になったり、高速動作が困難になる等の
欠点がめった。
により犬きく変化するものであジ、その分の余裕産金見
込んで設計する必要があり、その余裕度を見積ること自
体難かしいことであるばかりでなく、余裕度を見込むこ
とにより内部ライト信号の巾TwPが短かくなり罹災な
書き込みが困難になったり、高速動作が困難になる等の
欠点がめった。
本発明の目的は、上記し几アドレスセットアツプ時間t
A8に関する欠点を取り除き、製造バラツキ等に対する
余裕度を見込む必要のないメモリ回路を提供することに
ある。
A8に関する欠点を取り除き、製造バラツキ等に対する
余裕度を見込む必要のないメモリ回路を提供することに
ある。
本発明の構成及び実施例について説明する前に内部同期
型メモリ回路について説明する。本発明の出願人は既に
特願昭54−46848において、非同期型であってし
かも同期型と同程度の速度電力積のメモリ回路を提案し
次。この既出類の発明によるメモリ回路は、外部からク
ロックを受けることなく内部でクロック(内部クロック
)全発生させるもので、内部クロックは少くとも1つ以
上のアドレス入力の論理変化が起きた場合にのみ発生さ
れるようにしたものである。即ち、上記出口によるメモ
リ回路は、アドレス入力の論理変化を検知する手段と、
少くとも1つ以上のアドレス入力に関して論理変化が起
こった場合にのみ内部クロックを発生させる手段とを含
むことを特徴とする。
型メモリ回路について説明する。本発明の出願人は既に
特願昭54−46848において、非同期型であってし
かも同期型と同程度の速度電力積のメモリ回路を提案し
次。この既出類の発明によるメモリ回路は、外部からク
ロックを受けることなく内部でクロック(内部クロック
)全発生させるもので、内部クロックは少くとも1つ以
上のアドレス入力の論理変化が起きた場合にのみ発生さ
れるようにしたものである。即ち、上記出口によるメモ
リ回路は、アドレス入力の論理変化を検知する手段と、
少くとも1つ以上のアドレス入力に関して論理変化が起
こった場合にのみ内部クロックを発生させる手段とを含
むことを特徴とする。
上記検知手段は、アドレス入力を遅延させる回路と、前
記アドレス入力及び前記遅延回路の出力を各々第1及び
第2の入力とする排他的論理和回路とで構成でき、上記
内部クロック発生手段は、前記排他的論理和回路の出力
を入力とするOR回路で構成できる。この既出類発明に
よるメモリ回路は、内部で発生した内部クロックをあた
かも同期型における外部からのクロックと同様に利用す
るもので、メモリ回路は基本的には同期型の構成をとる
。この意味で、このメモリ回路を内部同期型メモリ回路
と呼ぶことにする。
記アドレス入力及び前記遅延回路の出力を各々第1及び
第2の入力とする排他的論理和回路とで構成でき、上記
内部クロック発生手段は、前記排他的論理和回路の出力
を入力とするOR回路で構成できる。この既出類発明に
よるメモリ回路は、内部で発生した内部クロックをあた
かも同期型における外部からのクロックと同様に利用す
るもので、メモリ回路は基本的には同期型の構成をとる
。この意味で、このメモリ回路を内部同期型メモリ回路
と呼ぶことにする。
次に、上記内部同期型メモリ回路につい、て第3図ない
し第51Jを参照して説明する。
し第51Jを参照して説明する。
内部同期泣メモリ[j21路は、第3図に示すようにア
ドレスバッファ回路B、アドレスデコーダ回路DE、メ
モリセルアレイC1入出力パツフア回路IO及び内部ク
ロック発生回路Gで構成される。
ドレスバッファ回路B、アドレスデコーダ回路DE、メ
モリセルアレイC1入出力パツフア回路IO及び内部ク
ロック発生回路Gで構成される。
内部クロック発生回路Gから発生される内部クロックC
Eが上記各ブロックに供給される。上記内部クロック発
生回路は、第4図に示すように、アドレス入力A。、A
4.・・・、Anの各々全排他的論理和回路EXo、E
X、、・・・、 EXnの各々の一人力及び遅延回路り
。、Dl、・・・、Dnの各々の入力に供給すると共に
、遅延回路り。、Dl・・・l Dnの各々の出力DA
Or DAl ’・・・tDAlll一対応する排他的
論理和回路EX 、EX4.・・・、EXnの各々の
他の入力に供給する。排他的論理和回路EX(3# E
XI *・・・。
Eが上記各ブロックに供給される。上記内部クロック発
生回路は、第4図に示すように、アドレス入力A。、A
4.・・・、Anの各々全排他的論理和回路EXo、E
X、、・・・、 EXnの各々の一人力及び遅延回路り
。、Dl、・・・、Dnの各々の入力に供給すると共に
、遅延回路り。、Dl・・・l Dnの各々の出力DA
Or DAl ’・・・tDAlll一対応する排他的
論理和回路EX 、EX4.・・・、EXnの各々の
他の入力に供給する。排他的論理和回路EX(3# E
XI *・・・。
EXnの各々の出力oso、 os、 、−・・、08
niOR回路ORに入力し、OR回路ORから内部クロ
ックCEi出力することによりw成される。
niOR回路ORに入力し、OR回路ORから内部クロ
ックCEi出力することによりw成される。
第5図により動作について説明する。ここでは−例とし
てアドレス入力A。が論理変化したときについて説明す
る。アドレス人力A。が時刻T5.にて@種変化すると
、排他的論理和回路EXoはアドレス人力A。の遅延1
6号DAoが遅延回路り。の遅延時間Tdに応じた期間
上記論理変化に至らないmめ。
てアドレス入力A。が論理変化したときについて説明す
る。アドレス人力A。が時刻T5.にて@種変化すると
、排他的論理和回路EXoはアドレス人力A。の遅延1
6号DAoが遅延回路り。の遅延時間Tdに応じた期間
上記論理変化に至らないmめ。
時刻T5□迄の期間Tdにわ九りて高レベルの出力発生
する。この高レベルの出力O8oはOR回路ORを介し
て内部クロックCEとして出力される。時刻T52を過
ぎると遅延出力DAoはアドレス入力Aoと同−劇埋レ
ベルとなシ、出力O8oは低レベルとなる。さらに時刻
T52でアドレス人力A。のレベルが復帰すると桝び時
刻T54迄の遅延回路り。の遅延時間T、にわたってア
ドレス入力A。とその遅延信号DAoとに不一致が生じ
、排他的論理和回路EX0の出力O8oが高レベルとな
シ、高レベルの内部クロックCEとして出力される0以
上は、アドレス入力A。のみが論理変化した場合である
が、1つ以上のいずれのアドレス入力が論理変化した場
合も同様の動作が行なわれることは明らかである。以上
のようにして発生し次内部クロックCEをあたかも同期
型における外部からのクロックと同様に用いることによ
り各10ツクが同期的に動作する。
する。この高レベルの出力O8oはOR回路ORを介し
て内部クロックCEとして出力される。時刻T52を過
ぎると遅延出力DAoはアドレス入力Aoと同−劇埋レ
ベルとなシ、出力O8oは低レベルとなる。さらに時刻
T52でアドレス人力A。のレベルが復帰すると桝び時
刻T54迄の遅延回路り。の遅延時間T、にわたってア
ドレス入力A。とその遅延信号DAoとに不一致が生じ
、排他的論理和回路EX0の出力O8oが高レベルとな
シ、高レベルの内部クロックCEとして出力される0以
上は、アドレス入力A。のみが論理変化した場合である
が、1つ以上のいずれのアドレス入力が論理変化した場
合も同様の動作が行なわれることは明らかである。以上
のようにして発生し次内部クロックCEをあたかも同期
型における外部からのクロックと同様に用いることによ
り各10ツクが同期的に動作する。
又、各ブロックが必ずしもすべて同期的に動作する必要
はなく、例えはアドレスバッファ回路Bが非同期的に1
作するようにしても何ら差し支えはない。史に、各ブロ
ックの制御信号として必ずしも内部クロックCEを直接
用いる必蚤はなく、内部クロックCEi用いて通常よく
知られ次男法で作られる制御信号で各ブロックを動作さ
せるようにしても側ら差し支えない。
はなく、例えはアドレスバッファ回路Bが非同期的に1
作するようにしても何ら差し支えはない。史に、各ブロ
ックの制御信号として必ずしも内部クロックCEを直接
用いる必蚤はなく、内部クロックCEi用いて通常よく
知られ次男法で作られる制御信号で各ブロックを動作さ
せるようにしても側ら差し支えない。
以上のように、先出願発明によれば、外部からクロック
を受けることなく内部でクロックを発生することにより
、非同期型の使い易さと、同期型の速度電力積を合わせ
持りた改良されたメモリ回路を得ることが出来る。以上
、内部同期型メモリ回路について説明した。
を受けることなく内部でクロックを発生することにより
、非同期型の使い易さと、同期型の速度電力積を合わせ
持りた改良されたメモリ回路を得ることが出来る。以上
、内部同期型メモリ回路について説明した。
本発明によるメモリ回路は、内部同期型であって外部ラ
イト信号が内部クロックにより同期されてメモリ回路内
部に取り込まれること全特徴とする。
イト信号が内部クロックにより同期されてメモリ回路内
部に取り込まれること全特徴とする。
本発明の実施例について、第6図、第7図を参照して説
明する。第6図に示すように、内部クロック発生回路G
よシ内部クロックCEが発生される。この内部クロック
発生回路は第4図に示したものが用いられる。内部クロ
ックCEを入力としてこれを屓次遅延処理、さらには論
理処理することにより制御信号発生回路G1から制御信
号CII〜CE4が発生される。アドレスパクファ回路
B1アドレスデコーダ回路DE、メモリセルアレイC入
出力パラフッ回路IQは各々制御信号CEI〜CIE4
により制御される。更に、内部ライト信号Wは、外部ラ
イト信号WEの逆相信号とアドレスデコーダ回路の制御
信号CE2とを入力とするAND回路Aより出力される
。
明する。第6図に示すように、内部クロック発生回路G
よシ内部クロックCEが発生される。この内部クロック
発生回路は第4図に示したものが用いられる。内部クロ
ックCEを入力としてこれを屓次遅延処理、さらには論
理処理することにより制御信号発生回路G1から制御信
号CII〜CE4が発生される。アドレスパクファ回路
B1アドレスデコーダ回路DE、メモリセルアレイC入
出力パラフッ回路IQは各々制御信号CEI〜CIE4
により制御される。更に、内部ライト信号Wは、外部ラ
イト信号WEの逆相信号とアドレスデコーダ回路の制御
信号CE2とを入力とするAND回路Aより出力される
。
第7図に示すタイミング図を用いて動作について説明す
る。時刻T71においてROWアドレス入力A、が変化
すると、内部クロックCEが発生し一定期間Td後の時
刻T7□において消滅する。アドレスデコーダ回路DE
の制御信号CE2は時刻T71から時刻T7□の期間低
レベルとなってアドレスデコーダ回路DEをリセット状
態にし、時刻T7□において高レベルとなってイネーブ
ル状態にする。これに対応して、ワードラインwLk、
WL、は上記リセット状態の時には共に低レベルにあ
り、時刻T7□において選択されたワードラインWLe
が高レベルとなる。一方、T71において入力された外
部ライト信号WEは時刻T7□において前記制御信号C
E2が高レベルとなって初めて内部ライト信号Wとして
メモリ回路内部に取込まれる。そこで時刻T7゜におい
て、選択されたメモリセルへの書き込みが可能となる0
時刻T75において外部ライト信号WEが高レベルとな
ると、内部ライト伯°号Wが低レベルとなって書き込み
可能状態が終了する。
る。時刻T71においてROWアドレス入力A、が変化
すると、内部クロックCEが発生し一定期間Td後の時
刻T7□において消滅する。アドレスデコーダ回路DE
の制御信号CE2は時刻T71から時刻T7□の期間低
レベルとなってアドレスデコーダ回路DEをリセット状
態にし、時刻T7□において高レベルとなってイネーブ
ル状態にする。これに対応して、ワードラインwLk、
WL、は上記リセット状態の時には共に低レベルにあ
り、時刻T7□において選択されたワードラインWLe
が高レベルとなる。一方、T71において入力された外
部ライト信号WEは時刻T7□において前記制御信号C
E2が高レベルとなって初めて内部ライト信号Wとして
メモリ回路内部に取込まれる。そこで時刻T7゜におい
て、選択されたメモリセルへの書き込みが可能となる0
時刻T75において外部ライト信号WEが高レベルとな
ると、内部ライト伯°号Wが低レベルとなって書き込み
可能状態が終了する。
以上の説明から明らかなように、内部ライト信号Wはア
ドレスデコーダ回路CEを制御するイg号CE2に同期
して発生されるので、前のサイクルで選択された旧いア
ドレスへ書き込むことはあり得ない。即ち、tABとい
う規格は論理的に満足される訳であり、製造のバラツキ
、電源変動等に対する余裕度を考慮する必要がない。
ドレスデコーダ回路CEを制御するイg号CE2に同期
して発生されるので、前のサイクルで選択された旧いア
ドレスへ書き込むことはあり得ない。即ち、tABとい
う規格は論理的に満足される訳であり、製造のバラツキ
、電源変動等に対する余裕度を考慮する必要がない。
以上の説明においては、tAs=0□としたが、本発明
は、この仮定により制限を受けるものではないことは明
らかである。又、 ROWアドレス入力が変化した場合
について説明したが、いずれのアドレス入力が変化した
場合でも本発明が有効であることは明らかである。
は、この仮定により制限を受けるものではないことは明
らかである。又、 ROWアドレス入力が変化した場合
について説明したが、いずれのアドレス入力が変化した
場合でも本発明が有効であることは明らかである。
又、外部ライト信号を取υ込む際の同期信号としてアド
レスデコーダ回路のu1惧借号を用いたが他の制御信号
を用いてもよいことは明らかである。
レスデコーダ回路のu1惧借号を用いたが他の制御信号
を用いてもよいことは明らかである。
なお、制?n倍号発生回路は通常よく知られた手法によ
り容易に設計出来る。次に本発明を適用したメモリ回路
の具体例を第8図および第9図を参照して説明する。
り容易に設計出来る。次に本発明を適用したメモリ回路
の具体例を第8図および第9図を参照して説明する。
本具体例ではPチャンネルMO8TとNチャンネルMO
8Tとを用いたC −MO8講成0場合について示す。
8Tとを用いたC −MO8講成0場合について示す。
XデコーダはPチャンネルMO8T Q、4〜Qj7お
よびNチャンネルMOS T Q5、〜Q57?宮む。
よびNチャンネルMOS T Q5、〜Q57?宮む。
ここでコントロール信号CE2が本発明においてアドレ
ス信号の変化を検知して発生される信号O8,を適当な
遅延処理して得られるものであり、ここではこの信号C
E2がPチャンネルMo8TQ141 Q15のダート
に与えられて低レベルのときこれらのトランジスタをリ
セット用、すなわちダイヤミックタイプの負荷として動
作させる。iた信号CE2はNチャンネルM OS T
Q5B + Q54のダートにも与えられ高レベルの
ときこのXデコーダ回路をイネーブル状態とする。この
ようにこの例では相補のイざ号CE2.CE2を設ける
かわりに回路側で1つの信号CE2’fz相補的に利用
するように構成されている。メモリセルはPチャンネル
MO8T Q 、 QP2、NチャンネルMO8TQ
Nl 1 QN2により構成され、一対の交叉接続点は
それぞれr−)がワード線wLkに接続されたトランス
ファーf −) トしてのNチャンネルMO8TQア7
.QT□を介して一対のデイジット線り、 、 D。
ス信号の変化を検知して発生される信号O8,を適当な
遅延処理して得られるものであり、ここではこの信号C
E2がPチャンネルMo8TQ141 Q15のダート
に与えられて低レベルのときこれらのトランジスタをリ
セット用、すなわちダイヤミックタイプの負荷として動
作させる。iた信号CE2はNチャンネルM OS T
Q5B + Q54のダートにも与えられ高レベルの
ときこのXデコーダ回路をイネーブル状態とする。この
ようにこの例では相補のイざ号CE2.CE2を設ける
かわりに回路側で1つの信号CE2’fz相補的に利用
するように構成されている。メモリセルはPチャンネル
MO8T Q 、 QP2、NチャンネルMO8TQ
Nl 1 QN2により構成され、一対の交叉接続点は
それぞれr−)がワード線wLkに接続されたトランス
ファーf −) トしてのNチャンネルMO8TQア7
.QT□を介して一対のデイジット線り、 、 D。
に接続される。このデイノットD5.D2はPチャネル
MO8T Q 1、〜Q、3によp、コントロール信号
CE3が低レベルの期間、リセット状態、すなわちプリ
チャージされる。PチャンネルMo8TQ29〜qgt
、Nチャンネk MO8T Q5 B 〜Q61はセ
7スアンデを構成し、コントロール信号CE 4’の低
レベル期間にリセット状態とされ、コントロール信号C
E 4’の高レベル期間でイネーブル状態となる。Yデ
コーダ10は同様にコントロール信号CE2′の低レベ
ルでリセット高レベルでイネ−グル状態とされ、イネー
ブル状態におhてY選択MO8T Q6oをコントロー
ルする。出力ラッチ回路13はセンタアングの出力をダ
ートQ271 Q2Bを介して受けてコントロール信号
CE4に応答してこれを保持し、PチャンネルMo5T
Q25.Q26ノプツシユーグル形式の出力回路を、蛎
動し、出方を入出力端子I10に供給する。Pチャンネ
ルMO8TQ18〜Q2oは書き込み回路のリセット機
能を有し、コン)cr−ル信号CE5の低レベルに応じ
てデイジット線D1. D、をプリチャージする。アン
ドr−411,12、PチャンネA/ MO8T Q2
1〜Q24は書き込み枢動回路であり、CF2が高レベ
ルのとき内部書き込み信号Wの高レベル時に入出力端子
I10のデータ金相補の形でそれぞれ2つのグッシ^−
デル形式のインバータを介してデイジット線り、 、
D、に与えるように動作する。
MO8T Q 1、〜Q、3によp、コントロール信号
CE3が低レベルの期間、リセット状態、すなわちプリ
チャージされる。PチャンネルMo8TQ29〜qgt
、Nチャンネk MO8T Q5 B 〜Q61はセ
7スアンデを構成し、コントロール信号CE 4’の低
レベル期間にリセット状態とされ、コントロール信号C
E 4’の高レベル期間でイネーブル状態となる。Yデ
コーダ10は同様にコントロール信号CE2′の低レベ
ルでリセット高レベルでイネ−グル状態とされ、イネー
ブル状態におhてY選択MO8T Q6oをコントロー
ルする。出力ラッチ回路13はセンタアングの出力をダ
ートQ271 Q2Bを介して受けてコントロール信号
CE4に応答してこれを保持し、PチャンネルMo5T
Q25.Q26ノプツシユーグル形式の出力回路を、蛎
動し、出方を入出力端子I10に供給する。Pチャンネ
ルMO8TQ18〜Q2oは書き込み回路のリセット機
能を有し、コン)cr−ル信号CE5の低レベルに応じ
てデイジット線D1. D、をプリチャージする。アン
ドr−411,12、PチャンネA/ MO8T Q2
1〜Q24は書き込み枢動回路であり、CF2が高レベ
ルのとき内部書き込み信号Wの高レベル時に入出力端子
I10のデータ金相補の形でそれぞれ2つのグッシ^−
デル形式のインバータを介してデイジット線り、 、
D、に与えるように動作する。
第9図にアドレスの変化を受けて内部フロックO6,が
発生され、さらに信号O81に基いて周知の方法等によ
り各機能回路に最適な各コントロール信号CE2〜CE
5のタイミング関係の一例を示す。データ出力(1沖端
子での)は各機能ブロックのリセットが終了してイネー
ブル状態になりてからアクセスされたアドレスのデータ
が有効となる。
発生され、さらに信号O81に基いて周知の方法等によ
り各機能回路に最適な各コントロール信号CE2〜CE
5のタイミング関係の一例を示す。データ出力(1沖端
子での)は各機能ブロックのリセットが終了してイネー
ブル状態になりてからアクセスされたアドレスのデータ
が有効となる。
第1図は、従来例を示すメモリ回路のブロック図、第2
図は、そのタイミング図、第3図は、内部同期型メモリ
回路のブロック図、第4図は、第3図に於ける内部クロ
ック発生回路の一例を示す回路図、第5図は、そのタイ
ミング図、第6図は本発明の実施例を示すメモリ回路の
ブロック図、第7図は、そのタイミング図、第8図は本
発明を適用したメモリ回路を示す図、第9図は第8図の
回路で用いられるタイミング信号を示す図である。 AOI A1 #・・・、 A11 r AI・・・ア
ドレス入力、B・・・アドレスバッファ回路、DE・・
・アドレスデコーダ回路、C・・・メモリセルアレイ、
IO・・・入出力バッファ回路、WB・・・ライト信号
バッファ回路、G・・・内部クロック発生回路、CE・
・・内部クロック、Do、 D、 、−、D、、、 D
−・・遅延回路、EXo、 EXl。 ・・・、 EXn・・・排他的論理和回路、OR・・・
OR回路、■・・・インバータ回路、G1・・・制御信
号発生回路、CEI〜CE4・・・制御信号、A・・・
AND回路、WE・・・外部ライト信号、W・・・内部
ライト信号。 第1図 第2図 第3図 G 第4図 Ts+ 、 T52 T53 T54第4図 第6図 第7図
図は、そのタイミング図、第3図は、内部同期型メモリ
回路のブロック図、第4図は、第3図に於ける内部クロ
ック発生回路の一例を示す回路図、第5図は、そのタイ
ミング図、第6図は本発明の実施例を示すメモリ回路の
ブロック図、第7図は、そのタイミング図、第8図は本
発明を適用したメモリ回路を示す図、第9図は第8図の
回路で用いられるタイミング信号を示す図である。 AOI A1 #・・・、 A11 r AI・・・ア
ドレス入力、B・・・アドレスバッファ回路、DE・・
・アドレスデコーダ回路、C・・・メモリセルアレイ、
IO・・・入出力バッファ回路、WB・・・ライト信号
バッファ回路、G・・・内部クロック発生回路、CE・
・・内部クロック、Do、 D、 、−、D、、、 D
−・・遅延回路、EXo、 EXl。 ・・・、 EXn・・・排他的論理和回路、OR・・・
OR回路、■・・・インバータ回路、G1・・・制御信
号発生回路、CEI〜CE4・・・制御信号、A・・・
AND回路、WE・・・外部ライト信号、W・・・内部
ライト信号。 第1図 第2図 第3図 G 第4図 Ts+ 、 T52 T53 T54第4図 第6図 第7図
Claims (1)
- アドレス入力の論理変化を検知する手段と、少くとも1
つ以上のアドレス入力に関して論理変化が起こった場合
にのみ内部クロックを発生させる手段と、変化後のアド
レス入力に基いてアドレスの選択を行なうアドレスデコ
ーダと、外部より供給される書き込み信号を前記内部ク
ロックにより同期せしめて内部書き込み信号を発生する
手段と、前記内部書き込み信号を受ける書き込み回路と
を含み、前記内部書き込み信号は前記アドレスデコーダ
の動作開始に実質的に同期して発生されることを特徴と
するメモリ回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63031126A JPH01138673A (ja) | 1988-02-13 | 1988-02-13 | メモリ回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63031126A JPH01138673A (ja) | 1988-02-13 | 1988-02-13 | メモリ回路 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14469479A Division JPS5668990A (en) | 1979-04-17 | 1979-11-08 | Memory circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01138673A true JPH01138673A (ja) | 1989-05-31 |
Family
ID=12322731
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63031126A Pending JPH01138673A (ja) | 1988-02-13 | 1988-02-13 | メモリ回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01138673A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100379825B1 (ko) * | 1994-07-08 | 2003-07-18 | 히다치초엘에스아이 엔지니어링가부시키가이샤 | 반도체기억장치 |
US7370561B2 (en) * | 2003-08-12 | 2008-05-13 | Nitto Kohki Co., Ltd. | Electric driver |
-
1988
- 1988-02-13 JP JP63031126A patent/JPH01138673A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100379825B1 (ko) * | 1994-07-08 | 2003-07-18 | 히다치초엘에스아이 엔지니어링가부시키가이샤 | 반도체기억장치 |
US7370561B2 (en) * | 2003-08-12 | 2008-05-13 | Nitto Kohki Co., Ltd. | Electric driver |
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