JPH01126574A - 三相一括形断路器の電流遮断試験方法 - Google Patents
三相一括形断路器の電流遮断試験方法Info
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- JPH01126574A JPH01126574A JP62283118A JP28311887A JPH01126574A JP H01126574 A JPH01126574 A JP H01126574A JP 62283118 A JP62283118 A JP 62283118A JP 28311887 A JP28311887 A JP 28311887A JP H01126574 A JPH01126574 A JP H01126574A
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- 238000010998 test method Methods 0.000 claims abstract description 11
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 9
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、接地タンク内に充電部が絶縁ガスとともに
密閉収納されたガス絶縁開閉装置の三相一括形断路器の
電流遮断試験方法に関するものである。
密閉収納されたガス絶縁開閉装置の三相一括形断路器の
電流遮断試験方法に関するものである。
第４および５図は例えば実開昭６０−１４７９１８゛号
公報に示された従来のガス絶縁開閉装置の三相一括形断
路器の一例を示す平断面図および正断面図である、図に
おいて、（１）は接地タンク、（２）は絶縁スペーサ、
（３ａＬ（３ｂＬ（３ｃ）は絶縁スペーサ（２）によっ
て絶縁支持されたＡ相、Ｂ相およびＣ相の可動側電極、
（３ｄ）は絶縁ロッド、〔３ｅ）はレバー、（３ｆ）は
可動コンタクト、（３ｇ）は可動接触子、（３ｈ）は可
動側シールドである。
公報に示された従来のガス絶縁開閉装置の三相一括形断
路器の一例を示す平断面図および正断面図である、図に
おいて、（１）は接地タンク、（２）は絶縁スペーサ、
（３ａＬ（３ｂＬ（３ｃ）は絶縁スペーサ（２）によっ
て絶縁支持されたＡ相、Ｂ相およびＣ相の可動側電極、
（３ｄ）は絶縁ロッド、〔３ｅ）はレバー、（３ｆ）は
可動コンタクト、（３ｇ）は可動接触子、（３ｈ）は可
動側シールドである。
（４ａ）、（４ｂ）、（４Ｃ）はそれぞれ人相、Ｂ相お
よびＣ相の固定側電極であり、（４ｄ）は固定接触子、
（４ｅ）は固定側シールドである。（５）は絶縁ロッド
（３ｄ）を気中から回転させる駆動軸である。
よびＣ相の固定側電極であり、（４ｄ）は固定接触子、
（４ｅ）は固定側シールドである。（５）は絶縁ロッド
（３ｄ）を気中から回転させる駆動軸である。
上記のように構成された三相一括形断路器は、駆動軸（
５）が操作装置（図示せず）によって回転駆動され、そ
れによって絶縁ロッド（３ｄ）が回転し、可動コンタク
ト（３ｆ）はレバー（３ｅ）で直線運動に変換される。
５）が操作装置（図示せず）によって回転駆動され、そ
れによって絶縁ロッド（３ｄ）が回転し、可動コンタク
ト（３ｆ）はレバー（３ｅ）で直線運動に変換される。
そして、可動コンタクト（３ｆ）は可動接触子（３ｇ）
を摺動して固定接触子（４ｄ）と離間する。
を摺動して固定接触子（４ｄ）と離間する。
次に、三相一括形断路器の電流遮断試験方法について説
明する。第６および７図はその試験形態図であり、図に
おいて（６）はブッシングタンク、（７）他端部はコン
デンサ（８）にそれぞれ接続されており、他の二相は可
動側および固定側ともに接地電位にある。そして、通常
、試験設備能力上電流遮断試験は重相でされることが多
い。
明する。第６および７図はその試験形態図であり、図に
おいて（６）はブッシングタンク、（７）他端部はコン
デンサ（８）にそれぞれ接続されており、他の二相は可
動側および固定側ともに接地電位にある。そして、通常
、試験設備能力上電流遮断試験は重相でされることが多
い。
従来の三相−指形断路器の電流遮断試験方法では、遮断
相のみ電圧が印加され、他の二相は接地電位にあるが、
実系統では他の二相も遮断過程にあり、他の二相にも遮
断アークが発生しており、他の二相の遮断アークが遮断
相に及ぼす絶縁上の影響については検証されておらず、
不十分な試験であるといった問題点があった。
相のみ電圧が印加され、他の二相は接地電位にあるが、
実系統では他の二相も遮断過程にあり、他の二相にも遮
断アークが発生しており、他の二相の遮断アークが遮断
相に及ぼす絶縁上の影響については検証されておらず、
不十分な試験であるといった問題点があった。
この発明は、上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、他相の遮断アークを模擬でき、実系統と等
価な三相−指形断路器の電流遮断試験方法を得ることを
目的とする。
れたもので、他相の遮断アークを模擬でき、実系統と等
価な三相−指形断路器の電流遮断試験方法を得ることを
目的とする。
この発明に係る三相−指形断路器の電流遮断試験方法は
、遮断相を除く他相の相対向する極間部に、遮断アーク
を模擬した金属導電体を接続して交流もしくは直流の電
圧を印加し、この状態で前記遮断相での通電を遮断した
ものである。
、遮断相を除く他相の相対向する極間部に、遮断アーク
を模擬した金属導電体を接続して交流もしくは直流の電
圧を印加し、この状態で前記遮断相での通電を遮断した
ものである。
この発明においては、遮断相以外の極間部を遮断アーク
を模擬した金属導電体にて短絡する。
を模擬した金属導電体にて短絡する。
以下、この発明の実施例を図について説明する。
第１図ないし第３図はこの発明の一実施例を示すもので
、第４ＶＡないし第８図と同一または相当部分は同一符
号を付し、その説明は省略する。
、第４ＶＡないし第８図と同一または相当部分は同一符
号を付し、その説明は省略する。
図において、（１０）は人相、Ｃ相の極間部に電気的に
接続され遮断アークを模擬した金属導電体、（１１）は
遮断相に生じる遮断アーク、（１２）は遮断相以外の他
の二相の固定側に接続されたＤＣ電圧源である。
接続され遮断アークを模擬した金属導電体、（１１）は
遮断相に生じる遮断アーク、（１２）は遮断相以外の他
の二相の固定側に接続されたＤＣ電圧源である。
ところで、上記のものの場合、Ｂ相の遮断相にのみ電流
を通電し、断路器を駆動軸（５）より動作させるとＡ相
、Ｂ相およびＣ相の各可動側電極（３ａ）（３ｂ）＊（
３ｃ）は−括で動作し、遮断相のみ電流は遮断される。
を通電し、断路器を駆動軸（５）より動作させるとＡ相
、Ｂ相およびＣ相の各可動側電極（３ａ）（３ｂ）＊（
３ｃ）は−括で動作し、遮断相のみ電流は遮断される。
一方、他のＡ相、Ｃ相はＤＣｔ圧源（１２）と接続され
ているので、人相、Ｃ相の可動側電極（３ａ）、（３Ｃ
）はその動作ｋかかわらずＤＣ電圧源（１２）の電圧が
印加され【いる。囲えば、ＡＣ’４圧源（９）が１００
％の電圧とすると、ＤＣ電圧源は一１００％の電圧を印
加している。
ているので、人相、Ｃ相の可動側電極（３ａ）、（３Ｃ
）はその動作ｋかかわらずＤＣ電圧源（１２）の電圧が
印加され【いる。囲えば、ＡＣ’４圧源（９）が１００
％の電圧とすると、ＤＣ電圧源は一１００％の電圧を印
加している。
には例えば２００％の電位差があり、この間での絶縁性
能が実系統と等価に検証できる。
能が実系統と等価に検証できる。
なお、上記実施例ではコンデンサ（８）を用いた進み電
流遮断試験方法について説明したが、この発明は遅れ電
流遮断、ループ電流遮断、負荷を流遮断等であっても適
用でき、上記実施例と同様の効果を奏する。
流遮断試験方法について説明したが、この発明は遅れ電
流遮断、ループ電流遮断、負荷を流遮断等であっても適
用でき、上記実施例と同様の効果を奏する。
以上のように、この発明の三相−指形断路器の電流遮断
試験方法によれば、遮断相以外の他の二短絡したので、
単相遮断試験により、他相の遮断アークと遮断相の遮断
アークとの間の絶縁性能を検証できキ存等、実系統と等
価な三相−指形断路器の電流遮断試験が可能であるとい
う効果がある。
試験方法によれば、遮断相以外の他の二短絡したので、
単相遮断試験により、他相の遮断アークと遮断相の遮断
アークとの間の絶縁性能を検証できキ存等、実系統と等
価な三相−指形断路器の電流遮断試験が可能であるとい
う効果がある。
第１図はこの発明の一実施例を示す平断面図、第２図は
第１図の正断面図、第３図はこの発明の試験回路図、第
４図は従来の断路器の一例を示す平断面図、第５図は第
４図の正断面図、第６図は従来の試験形態図、第７図は
第６図の側面図、第８図は従来の試験回路図である。 図において、（１）は接地タンク、（１０）は金属導電
体、（１２）はＤＣ電圧源である。 なお、各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。
第１図の正断面図、第３図はこの発明の試験回路図、第
４図は従来の断路器の一例を示す平断面図、第５図は第
４図の正断面図、第６図は従来の試験形態図、第７図は
第６図の側面図、第８図は従来の試験回路図である。 図において、（１）は接地タンク、（１０）は金属導電
体、（１２）はＤＣ電圧源である。 なお、各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 接地タンク内に断路器の三相を一括収納した三相一括形
断路器の電流遮断試験方法において、遮断相を除く他相
の相対向する極間部に、遮断アークを模凝した金属導電
体を接続して交流もしくは直流の電圧を印加し、この状
態で前記遮断相での通電を遮断することを特徴とする三
相一括形断路器の電流遮断試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62283118A JPH0810249B2 (ja) | 1987-11-11 | 1987-11-11 | 三相一括形断路器の電流遮断試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62283118A JPH0810249B2 (ja) | 1987-11-11 | 1987-11-11 | 三相一括形断路器の電流遮断試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01126574A true JPH01126574A (ja) | 1989-05-18 |
| JPH0810249B2 JPH0810249B2 (ja) | 1996-01-31 |
Family
ID=17661457
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62283118A Expired - Lifetime JPH0810249B2 (ja) | 1987-11-11 | 1987-11-11 | 三相一括形断路器の電流遮断試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0810249B2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6010182A (ja) * | 1983-06-29 | 1985-01-19 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | 三相ループ電流の遮断試験装置 |
-
1987
- 1987-11-11 JP JP62283118A patent/JPH0810249B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6010182A (ja) * | 1983-06-29 | 1985-01-19 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | 三相ループ電流の遮断試験装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0810249B2 (ja) | 1996-01-31 |
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