JPH01117553U - - Google Patents

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JPH01117553U
JPH01117553U JP1268288U JP1268288U JPH01117553U JP H01117553 U JPH01117553 U JP H01117553U JP 1268288 U JP1268288 U JP 1268288U JP 1268288 U JP1268288 U JP 1268288U JP H01117553 U JPH01117553 U JP H01117553U
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slit
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は従来のX線回折装置の説明図、第2a
図、第2b図及び第2c図は、それぞれ本考案の
携帯用X線回折装置に用いられる平面用架台を備
えたゴニオメータの正面図、側面図及び裏面図、
第3a図及び第3b図は、それぞれ調整治具を取
り付けたゴニオメータの正面図及び側面図、第4
a図は同じく集中ビーム法の光学系図、第4b図
は平行ビーム法の光学系図、第5a図は垂直面用
架台を備えたゴニオメータの正面図、第5b図は
同じく球面用架台を備えた正面図、第5c図は同
じくR部用架台を備えた正面図である。 1:アーム、2:ゴニオメータ、3:試料また
は実構造物、4:自冷式送水装置、5:水冷ホー
ス、6:X線管球、7:X線発生装置、8:高圧
ケーブル、9:X線、10:ソーラスリツト、1
1:回折X線、12:フイルター、13:受光ソ
ーラスリツト、14:計数管、15:制御器、1
6:増幅器、17:計数装置、18:演算装置、
19:表示装置、20:リード線、21:ケイブ
ル、22:ガイドフレーム、23:ガイドレール
、24:ラツク、25:駆動装置、26:ピニオ
ンギヤー、27:保持板、28,34:ノブ、2
9:ビーム角粗調整機構、30:ビーム角微調整
機構、31:管球固定ピン、32:固定ピン用穴
、33:治具、35:X線源、36,37:発散
スリツト、38,39:受光スリツト。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 実構造物にX線ビームを照射し、該実構造物か
    ら放射される回折X線を受光するようにしたX線
    回折装置において: ゴニオメータを持ち運びが容易な架台とともに
    構成し、X線管球またはX線検出器を該架台のガ
    イドフレームやガイドレール上に可動にした構造
    ; 実構造物に任意の角度でX線ビームを入射する
    ための調整機構を設けた該架台;及び 交換可能なスリツト及び受光部移動装置を有す
    るX線ビーム照射構造; からなる携帯用X線回折装置。
JP1988012682U 1988-02-02 1988-02-02 携帯用x線回折装置 Expired - Lifetime JPH0622240Y2 (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2003029798A1 (fr) * 2001-09-27 2003-04-10 Rigaku Corporation Instrument de mesure des rayons x, et systeme et procede de mesure et de formation de couches minces

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JP6576814B2 (ja) * 2015-12-14 2019-09-18 株式会社Ihi検査計測 位置決め装置及び位置決め方法

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5425437A (en) * 1977-07-28 1979-02-26 Suwa Seikosha Kk Method of charging

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