JPH01108325A - Au−Ge複合材の製造方法 - Google Patents
Au−Ge複合材の製造方法Info
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- JPH01108325A JPH01108325A JP26530587A JP26530587A JPH01108325A JP H01108325 A JPH01108325 A JP H01108325A JP 26530587 A JP26530587 A JP 26530587A JP 26530587 A JP26530587 A JP 26530587A JP H01108325 A JPH01108325 A JP H01108325A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/40—Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor
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- H01L29/49—Metal-insulator-semiconductor electrodes, e.g. gates of MOSFET
- H01L29/51—Insulating materials associated therewith
- H01L29/511—Insulating materials associated therewith with a compositional variation, e.g. multilayer structures
-
- H—ELECTRICITY
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- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
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- H01L29/78—Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
- H01L29/792—Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate with charge trapping gate insulator, e.g. MNOS-memory transistors
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、難加工性な80〜99wt%Au−Geの共
晶合金と同一の組成を持つAu−Ge複合材の製造方法
に関する。
晶合金と同一の組成を持つAu−Ge複合材の製造方法
に関する。
従来から電子部品ろう材にあっては、低融点ろう材とし
てAu−Ge0共晶合金によるろう材が使われており、
こ゛のろう材は溶解法によって造られている。
てAu−Ge0共晶合金によるろう材が使われており、
こ゛のろう材は溶解法によって造られている。
このAu−Ge0共晶合金によるろう材を加工するには
、約300℃から融点361 ”C付近直下の範囲で、
若干軟化して加工性がでてくることを利用して行ってい
る。
、約300℃から融点361 ”C付近直下の範囲で、
若干軟化して加工性がでてくることを利用して行ってい
る。
上記した加工法は、温間加工と呼ばれているが、この方
法によると適切な温度コントロールが要求されて加工機
械が複雑なものとなり、しかも−度の加工率をあまり高
くとることができず非常に工程数がかかるという問題が
あった。
法によると適切な温度コントロールが要求されて加工機
械が複雑なものとなり、しかも−度の加工率をあまり高
くとることができず非常に工程数がかかるという問題が
あった。
そこで、Au粉とGe粉とを混合して成形した後に、熱
処理により若干の拡散を起こさせて焼結加工する方法も
試みられている。
処理により若干の拡散を起こさせて焼結加工する方法も
試みられている。
ところが、この方法によると常温でのAu粉とGe粉と
の比重が約4倍も違うために均質に混合することが非常
に困難であり、さらに粉同士の親和性も低いために安定
した材料を得ることが難しいという問題がある。
の比重が約4倍も違うために均質に混合することが非常
に困難であり、さらに粉同士の親和性も低いために安定
した材料を得ることが難しいという問題がある。
また、上記のAu−Geの共晶合金によるろう材は極め
て脆く加工性が非常に悪いため、所定形状のろう材を得
るための圧延、伸線、切断および打ち抜き加工等が非常
に難しい問題もある。 。
て脆く加工性が非常に悪いため、所定形状のろう材を得
るための圧延、伸線、切断および打ち抜き加工等が非常
に難しい問題もある。 。
本発明は、Au粉とAuメッキされたGe粉とを混合し
、圧縮成形型によって成形した後AuとGeが著しく拡
散しない温度で焼鈍・成形加工することを特徴とする。
、圧縮成形型によって成形した後AuとGeが著しく拡
散しない温度で焼鈍・成形加工することを特徴とする。
以上の構成によると、Au粉とGe粉の均質な混合体を
得るためにGe粉にAuメッキを施して常温でのAu粉
との親和性を持たせて所望のAu−Ge0共晶合金によ
るろう材の組成重量%の粉体混合体とし、これを成形す
ることによってAuの持つ優れた展延性を利用して所定
の薄板や細線のろう材とするものである。
得るためにGe粉にAuメッキを施して常温でのAu粉
との親和性を持たせて所望のAu−Ge0共晶合金によ
るろう材の組成重量%の粉体混合体とし、これを成形す
ることによってAuの持つ優れた展延性を利用して所定
の薄板や細線のろう材とするものである。
以下に本発明の詳細な説明する。
第1実施例
粒径10〜20μmのGe粉体12gを、無電解メッキ
浴中で攪拌して分散させながら、0.1〜0.15μm
厚のAuメッキを施してAuに覆われたGe粉を製造す
る。
浴中で攪拌して分散させながら、0.1〜0.15μm
厚のAuメッキを施してAuに覆われたGe粉を製造す
る。
このAuに覆われたGe粉と合計100gとなるように
Au粉を配合し、ボールミルにより混合してこれを10
0kg/cdの圧力で約10nmX20■×L(長さ)
に成形したものを約200″Cで焼鈍と圧延加工を繰り
返して厚さが0.2mの板を得ることができた。
Au粉を配合し、ボールミルにより混合してこれを10
0kg/cdの圧力で約10nmX20■×L(長さ)
に成形したものを約200″Cで焼鈍と圧延加工を繰り
返して厚さが0.2mの板を得ることができた。
この圧延加工時に、この材料は脆さが少なく加工が容易
であった。また、板の各部分をサンプリングして定量分
析した結果、偏析がなく均質であった。
であった。また、板の各部分をサンプリングして定量分
析した結果、偏析がなく均質であった。
第2実施例
第1実施例と同様に粒径10〜20μmのGe粉体12
gを、無電解メッキ浴中で攪拌して分散させながら、0
.1〜0.15μm厚のAuメッキを施してAuに覆わ
れたGe粉を製造する。
gを、無電解メッキ浴中で攪拌して分散させながら、0
.1〜0.15μm厚のAuメッキを施してAuに覆わ
れたGe粉を製造する。
このAuに覆われたGe粉と合計100gとなるように
Au粉を配合し、ボールミルにより混合してこれを直径
Loamの丸棒とし、約200°Cで焼鈍と溝ロールも
しくはダイス伸線等により直径0、5 awiの線に加
工した。
Au粉を配合し、ボールミルにより混合してこれを直径
Loamの丸棒とし、約200°Cで焼鈍と溝ロールも
しくはダイス伸線等により直径0、5 awiの線に加
工した。
この伸線加工時に、この材料は脆さが少なく加工が容易
であった。また、線の各部分をサンプリングして定量分
析した結果、偏析がな(均質であった。
であった。また、線の各部分をサンプリングして定量分
析した結果、偏析がな(均質であった。
以上詳細に説明した本発明によると、Ge粉にAuメッ
キをを施したことにより、常温でのAu粉との親和性を
持たせて所望のAu−Ge0共晶合金によるろう材の組
成重量%の粉体温合体とすることができる効果を有し、
また、これを成形することによってAuの持つ優れた展
延性を利用して所定の薄板や細線のろう材とすることが
できる効果を有する。
キをを施したことにより、常温でのAu粉との親和性を
持たせて所望のAu−Ge0共晶合金によるろう材の組
成重量%の粉体温合体とすることができる効果を有し、
また、これを成形することによってAuの持つ優れた展
延性を利用して所定の薄板や細線のろう材とすることが
できる効果を有する。
特許出願人 株式会社 徳力本店
Claims (1)
- 1、Au粉とAuメッキしたGe粉とを混合し、成形し
た後AuとGeが著しく拡散しない温度で焼鈍・成形加
工することを特徴とするAu−Ge複合材の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62265305A JP2584797B2 (ja) | 1987-10-22 | 1987-10-22 | Au−Ge複合材の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62265305A JP2584797B2 (ja) | 1987-10-22 | 1987-10-22 | Au−Ge複合材の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01108325A true JPH01108325A (ja) | 1989-04-25 |
JP2584797B2 JP2584797B2 (ja) | 1997-02-26 |
Family
ID=17415353
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62265305A Expired - Lifetime JP2584797B2 (ja) | 1987-10-22 | 1987-10-22 | Au−Ge複合材の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2584797B2 (ja) |
-
1987
- 1987-10-22 JP JP62265305A patent/JP2584797B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2584797B2 (ja) | 1997-02-26 |
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