JPH01101631A - 電子ビームパターン描画方法 - Google Patents

電子ビームパターン描画方法

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Publication number
JPH01101631A
JPH01101631A JP62259948A JP25994887A JPH01101631A JP H01101631 A JPH01101631 A JP H01101631A JP 62259948 A JP62259948 A JP 62259948A JP 25994887 A JP25994887 A JP 25994887A JP H01101631 A JPH01101631 A JP H01101631A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sub
pattern
drawn
regions
region
Prior art date
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Pending
Application number
JP62259948A
Other languages
English (en)
Inventor
Masashi Kamio
神尾 昌司
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP62259948A priority Critical patent/JPH01101631A/ja
Publication of JPH01101631A publication Critical patent/JPH01101631A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Moving Of Heads (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電子ビームのビーム偏向によりパターンを描画
する方法に関する。
〔従来の技術〕
一般にこの種の方法に用いる電子ビーム装置は、可変ビ
ーム成形器から発せられた電子ビームを主偏向器、副偏
向器を経てテーブル上の描画対象物、例えば印刷配線板
等に照射し、パターン描画を行うが、広い描画対象物に
対し1度に描画を行うことは誤差が太き(なるため、通
常は誤差を許容範囲内に留め得る電子ビーム偏向幅で決
まる領域に区分して各区分毎にパターンの相応部分を描
画する方法が採られている。
第4図はパターン描画を行うべき描画対象物表面に設定
した領域の区分態様を示す模式図、第5図はその部分拡
大図であり、描画対象物19の表面に破線で区分された
基盤目状の各部分が夫々領域(電子ビーム偏向幅で決ま
る領域:以下サブフィールドという)a、b・・・を示
している。描画すべきパターン(図示せず)もこれに相
応するよう区 ・分し、各サブフィールドa、b・・・
に対応するパターンの各区分を夫々対応するサブフィー
ルドa。
b・・・に順次的に描画してゆくこととしている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところがこのような描画方法では相隣するサブフィール
ド、例えばa、bの双方にまたがるパターンを描画する
場合、各サブフィールドa、b夫々の範囲毎に描き分け
ると、相隣するサブフィールドa、bの境界部分では各
種の誤差等のためにパターンの連続性が損なわれる、所
謂切れ目lが生じるという問題があった。
本発明はかかる事情に鑑みなされたものであって、その
目的とするところは相隣する領域の境界部分においても
パターンに切れ目を生じることのない電子ビームパター
ン描画方法を提供するにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明方法にあっては、描画対象物の表面を区分して設
定された複数の領域における相隣する領域間に、その境
界を含み、両領域夫々に所定幅にわたる重合領域を設定
し、相隣する各領域に対する描画に際し、当該領域及び
前記重合領域にわたってこれに相応するパターン区分を
描画する。
〔作用〕
本発明にあってはこれによって相隣する領域の境界上を
含む所定範囲にわたってパターンが重ね書きされ連続性
を維持し得ることとなる。
〔実施例〕
以下本発明方法を図面に基づき具体的に説明する。第1
図は本発明方法において描画対象物の表面に設定するサ
ブフィールドの区分態様を示す模式的平面図、第2図は
その部分拡大図であり、描画対象物19表面に破線で示
す如く設定された基盤目状のサブフィールドa、b・・
・のうち第1図で縦。
横及び斜めの方向に相隣するサブフィールドの間にはこ
の両サブフィールドの境界を含み、且つ両サブフィール
ドに夫々所要幅にわたる帯状の重合領域n(ハツチング
を施して示す部分)を設定する。
例えば相隣するサブフィールドa、b間にはその境界を
含み、且つ両すブフィールドa、b夫々に所要幅にわた
って帯状の重合領域nを設定する。
なお、両サブフィールドa、bの境界は重合領域nの幅
寸法の中央である。
そしてサブフィールドaに対する描画に際しては第1図
に実線(太線)で囲って示す如くサブフィールドa及び
これに隣接する各サブフィールドとの間に設定された重
合領域nにわたって夫々これらの領域に相応するパター
ン部分を描画し、またサブフィールドbに対する描画に
際しては同じく第1図に実線(細線)で囲って示す如く
サブフィールドb及びこれに隣接する各サブフィールド
との間に設定された重合領域nにわたって夫々これらに
相応するパターン部分を描画する。
なお、第2図は図面を簡単にするためサブフィールドa
、b間に位置する重合領域についてのみ示している。
これによって第2図はハツチングを付した部分は相隣す
るサブフィールドa、bの両方の描画過程で共に描画さ
れて、所謂重ね書きされることとなり、両すブフィール
ドa、b間の境界においてもパターンに切れ目が生じる
ことはなく連続した描画が行えることとなる。
第3図は本発明方法を実施するための電子ビームパター
ン描画装置のブロック図であり、7は真空チャンバを示
している。真空チャンバ7内には上部に可変ビーム成形
器6が、また下部にはテーブル20上に印刷配線板等の
描画対象物19が配置され、更に可変ビーム成形器6か
ら描画対象物19に至る途中には主偏向器13、副偏向
器17が配設されており、可変ビーム成形器7から発せ
られた電子ビームは途中主偏向器13、副偏向器17に
て偏向されて描画対象物19上に照射され描画を行うよ
うになっている。
描画対象物19表面に描くべき描画パターンは予め描画
データとして他のデータと共に描画データデコーダ9に
人力され、ここから描画データのうちセルデータ名はセ
ルデータバッファ2へ、またサブフィールド番号は主偏
向器コントローラ11へ、更にオフセットデータは副偏
向器コントローラ15へ夫々分けて出力される。
セルデータバッファ2には描画パターンの元になるサブ
フィールド内に包含される図形データ、所謂セルデータ
が入力され、記憶されており、前記描画データデコーダ
9から入力されたセルデータ名に基づき所定のパターン
データをパターンデータデコーダ4に、またセルサイズ
を副偏向器コントローラ15へ出力する。パターンデー
タデコーダ4は入力されたパターンデータに基づき可変
ビーム成形器ドライバ5を制御し、該可変ビーム成形器
ドライバ5から可変ビーム成形器6に制御信号を出力し
、可変ビーム成形器6からパターンデータに応じた所定
の条件を満たす電子ビームを描画対象物19側に向けて
照射せしめる。
一方主偏向器コントローラ11は描画データデコーダ9
から入力されたサブフィールド番号に基づき主偏向器ド
ライバ12を制御して主偏向器13へ供給する電圧、電
流をコントロールさせるようになっている。
副偏向器コントローラ15はセルデータバッファ2から
入力されたセルサイズ及び描画データデコーダ9から入
力されたオフセットデータに基づき、副偏向器ドライバ
16を制御し、副偏向器17へ供給すべき電圧、電流を
コントロールさせるようになっている。
而して可変ビーム成形器6から描画対象物19側に向け
て照射された電子ビームを途中主偏向器13にて偏向し
、描画を行うべき所定のサブフィールド及びこれと隣接
するサブフィールド間に設定されている重合領域nに向
わせ、次いで副偏向器17にて所定のサブフィールド及
びこれと隣接するサブフィールド間に設定されている重
合領域nを含む領域内で当該サブフィールド及び重合領
域nに描画すべきパターン部分の描画を行うべく制御さ
れることとなる。
なお、上述の実施例では所定サブフィールドへの電子ビ
ームの移動を主偏向器13の制御で、またサブフィール
ド内のパターン描画を副偏向器17を用いて行なう場合
を示したが、主偏向器13で描画を、また副偏向器17
でサブフィールドへの移動を行ってもよい。更に所定サ
ブフィールドへの電子ビームを移動させる代わりにテー
ブル20を操作して描画対象物19を電子ビームに対し
て移動させることとしてもよい゛。
〔発明の効果〕
以上の如く本発明方法にあっては相隣する領域間に連続
するパターンを描画する時は相隣する両領域夫々にわた
る重合領域を設定し、各領域の描画の際に重合領域を夫
々各領域の一部として描画を行うこととしたから、領域
相互の間でのパターンの突き合わせによる途切れがなく
連続したパターンを描くことが出来る優れた効果を奏す
るものである。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明方法による描画対象物表面でのサブフィ
ールドの区分態様を示す模式的平面図、第2図はその部
分拡大平面図、第3図は本発明方法を実施するための装
置のブロック図、第4図は従来における描画対象物表面
でのサブフィールドの区分態様を示す模式的平面図、第
5図はその部分拡大平面図である。 2・・・セルデータバッファ 6・・・可変ビーム成形
器 9・・・描画データデコーダ 13・・・主偏向器
17・・・副偏向器 19・・・描画対象物 a、b・
・・サブフィールド n・・・重合領域 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人  大   岩   増   雄、′−全 h +p4

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、描画対象物の表面を複数の領域に区分すると共に、
    この描画対象物に描くべきパターンを各領域に合わせて
    区分し、描画対象物の各領域夫々に相応するパターンの
    区分を順次的に描画する電子ビームパターン描画方法に
    おいて、相隣する領域間にその境界を含み、両領域夫々
    に所定幅にわたる重合領域を設定し、相隣する各領域夫
    々に対する描画に際し、当該領域及び前記重合領域にわ
    たってこれに相応するパターン区分を描画することを特
    徴とする電子ビームパターン描画方法。
JP62259948A 1987-10-14 1987-10-14 電子ビームパターン描画方法 Pending JPH01101631A (ja)

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JP62259948A JPH01101631A (ja) 1987-10-14 1987-10-14 電子ビームパターン描画方法

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JPH01101631A true JPH01101631A (ja) 1989-04-19

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ID=17341143

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JP62259948A Pending JPH01101631A (ja) 1987-10-14 1987-10-14 電子ビームパターン描画方法

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010279702A (ja) * 2010-06-16 2010-12-16 Mitsubishi Electric Corp 粒子線照射装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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