JPH01100915A - プラズマcvd装置 - Google Patents
プラズマcvd装置Info
- Publication number
- JPH01100915A JPH01100915A JP62257430A JP25743087A JPH01100915A JP H01100915 A JPH01100915 A JP H01100915A JP 62257430 A JP62257430 A JP 62257430A JP 25743087 A JP25743087 A JP 25743087A JP H01100915 A JPH01100915 A JP H01100915A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrodes
- substrate
- raw material
- material gas
- mesh
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 44
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims abstract description 40
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 11
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 abstract description 49
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 abstract description 4
- 238000007664 blowing Methods 0.000 abstract 5
- 239000010408 film Substances 0.000 description 8
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 7
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011087 paperboard Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明はプラズマCV D (Chemical Va
pour DepO3itiOn)法により、基板上に
薄膜を形成するプラズマCVD装置に関するものである
。
pour DepO3itiOn)法により、基板上に
薄膜を形成するプラズマCVD装置に関するものである
。
[従来技術]
従来のプラズマCVD装置は、第4図に示すように、真
空反応容器1内の基板ヒータ2の上に処理すべき基板3
を寝かせて設置し、基板3の上方には基板ヒータ2に対
向させて電極4を設冒し、該電極4と基板ヒータ2との
間に高周波電源5から高周波電力を印加し、また真空反
応容器1内にはパイプよりなる原料ガス供給手段6で原
料ガスを供給し、プラズマCVD法で基板4の表面に薄
膜を形成する構造であった。
空反応容器1内の基板ヒータ2の上に処理すべき基板3
を寝かせて設置し、基板3の上方には基板ヒータ2に対
向させて電極4を設冒し、該電極4と基板ヒータ2との
間に高周波電源5から高周波電力を印加し、また真空反
応容器1内にはパイプよりなる原料ガス供給手段6で原
料ガスを供給し、プラズマCVD法で基板4の表面に薄
膜を形成する構造であった。
[発明が解決しようとする問題点]
しかしながら、このような構造では、基板3の片面(上
側となった而)にしか薄膜を形成できないので、もう一
方の面にも1dlllllを形成する作業をもう一度行
わなければならず、能率が悪い問題点があった。
側となった而)にしか薄膜を形成できないので、もう一
方の面にも1dlllllを形成する作業をもう一度行
わなければならず、能率が悪い問題点があった。
本発明の目的は、基板の両面に同時に薄膜を形成できる
プラズマCVD装置を提供することにある。
プラズマCVD装置を提供することにある。
[問題点を解決するための手段]
上記の目的を達成するための本発明の詳細な説明すると
、本発明のプラズマCVD装置は真空反応容器内に1対
の原料ガス流出電極が相互にOい合せに配置され、前記
両原料ガス流出電極間に1対のメツシュ電極が前記各原
料ガス流出電極に向い合せて配置され、前記両メツシュ
電極間には処理用の基板を位置させる基板設置空間が設
けられ、前記両原料ガス流出電極にはこれら電極の各原
料ガス流出孔から原料ガスを前記メツシュ電極に向けて
流出させるように原料ガス供給手段が設けられているこ
とを特徴とする。
、本発明のプラズマCVD装置は真空反応容器内に1対
の原料ガス流出電極が相互にOい合せに配置され、前記
両原料ガス流出電極間に1対のメツシュ電極が前記各原
料ガス流出電極に向い合せて配置され、前記両メツシュ
電極間には処理用の基板を位置させる基板設置空間が設
けられ、前記両原料ガス流出電極にはこれら電極の各原
料ガス流出孔から原料ガスを前記メツシュ電極に向けて
流出させるように原料ガス供給手段が設けられているこ
とを特徴とする。
[作用]
このようにすると、基板の両側のメツシュ電極とこれに
対向する原料ガス流出電極間にプラズマを発生させるこ
とができ、且つこれらメツシュ電極を通して原料ガス流
出電極からの原料ガスを基板の両面に受けて、基板の両
面に同時に薄膜が形成できる。
対向する原料ガス流出電極間にプラズマを発生させるこ
とができ、且つこれらメツシュ電極を通して原料ガス流
出電極からの原料ガスを基板の両面に受けて、基板の両
面に同時に薄膜が形成できる。
[実施例]
以下、本発明の実施例を第1図乃至第3図を参照して詳
細に説明する。本実施例のプラズマCVD装置において
は、真空反応容器1内に1対の原料ガス流出電極7が垂
直向きで向い合せにして互に平行に配管されている。各
原料ガス流出電極7は、金B’#であって多数のガス流
出孔8が分散して設けられている。各原料ガス流出電極
7の褒面には、金m製で漏斗状をした分配室形成体9Δ
と、これに原料ガスを供給する金属製の配管9Bとから
なる原料ガス供給手段9が設けられている。原料ガス流
出電橋7は原料ガス供給手段9を介してアースされてい
る。向い合せの原料ガス流出Ti極7問には、網目状を
なす1対のメツシュ電極10が垂直向きで向い合せにし
て原料ガス流出電極7に対して平行に配置されている。
細に説明する。本実施例のプラズマCVD装置において
は、真空反応容器1内に1対の原料ガス流出電極7が垂
直向きで向い合せにして互に平行に配管されている。各
原料ガス流出電極7は、金B’#であって多数のガス流
出孔8が分散して設けられている。各原料ガス流出電極
7の褒面には、金m製で漏斗状をした分配室形成体9Δ
と、これに原料ガスを供給する金属製の配管9Bとから
なる原料ガス供給手段9が設けられている。原料ガス流
出電橋7は原料ガス供給手段9を介してアースされてい
る。向い合せの原料ガス流出Ti極7問には、網目状を
なす1対のメツシュ電極10が垂直向きで向い合せにし
て原料ガス流出電極7に対して平行に配置されている。
各メツシュ電極10は高周波電WA5から図示しないマ
ツチングボックスを介して高周波電力が印加されるよう
になっている。両メツシュ電極10間には、処理用の基
板3を位置させる基板設置中B11が設けられている。
ツチングボックスを介して高周波電力が印加されるよう
になっている。両メツシュ電極10間には、処理用の基
板3を位置させる基板設置中B11が設けられている。
この基板設置空間11内には、処理用の基板3が垂直向
きで、両側のメツシュ電極9に平行で且つ等間隔となる
ように配置されるようになっている。基板3はボルダ−
12に支持され、ホルダー12は台!113上に固設さ
れ、台車13はベース14上に走行するようになってい
る。真空反応容器1の下部には図示しない真空ポンプで
真空引きするための排気管15が接続されている。
きで、両側のメツシュ電極9に平行で且つ等間隔となる
ように配置されるようになっている。基板3はボルダ−
12に支持され、ホルダー12は台!113上に固設さ
れ、台車13はベース14上に走行するようになってい
る。真空反応容器1の下部には図示しない真空ポンプで
真空引きするための排気管15が接続されている。
このようなプラズマCVD装置では、両側の原料ガス供
給手段9からキャリアガスと共に供給された原料ガスを
、両原料ガス流出電極7のガス流出孔8からメツシュ電
極10を経て基板3の両面側に流出させる。両メツシュ
電極10に高周波電力を印加すると、プラズマは両メツ
シュ電極10とそれに対向する原料ガス流出電極7との
間に起こり、これらの間で原料ガスが活性化され、基板
3の両面に共に成膜される。この場合、メツシュ電極1
0にかける高周波の周波数は13.56 Hllzとす
る。基板3とメツシュ電極10との間の距離は10sl
II以下とし、プラズマ中に基板3が存在するようにす
る。なお、上記実施例のようにメツシュ電極10に高周
波をかける方が、原料ガス流出電極7をアースしない電
極にして高周波をかけるより、硬い薄膜を基板3上に成
膜できる。柔かい成膜を必要とする場合には、原料ガス
流出電極7に高周波をかけるようにすればよい。
給手段9からキャリアガスと共に供給された原料ガスを
、両原料ガス流出電極7のガス流出孔8からメツシュ電
極10を経て基板3の両面側に流出させる。両メツシュ
電極10に高周波電力を印加すると、プラズマは両メツ
シュ電極10とそれに対向する原料ガス流出電極7との
間に起こり、これらの間で原料ガスが活性化され、基板
3の両面に共に成膜される。この場合、メツシュ電極1
0にかける高周波の周波数は13.56 Hllzとす
る。基板3とメツシュ電極10との間の距離は10sl
II以下とし、プラズマ中に基板3が存在するようにす
る。なお、上記実施例のようにメツシュ電極10に高周
波をかける方が、原料ガス流出電極7をアースしない電
極にして高周波をかけるより、硬い薄膜を基板3上に成
膜できる。柔かい成膜を必要とする場合には、原料ガス
流出電極7に高周波をかけるようにすればよい。
実験例
基板3は8.89 cIR(3,5” )のAi製ハー
ドディスクとした。原料ガスはArガスをキャリアガス
として搬送させた。高周波電源のパワーは100Wとし
た。原料ガス流出電極7間の距離は40〜50履とし、
メツシュ電極10間の距離は20〜1011mとした。
ドディスクとした。原料ガスはArガスをキャリアガス
として搬送させた。高周波電源のパワーは100Wとし
た。原料ガス流出電極7間の距離は40〜50履とし、
メツシュ電極10間の距離は20〜1011mとした。
基板3は台車13で図示しない予備室から移動させてき
て、メツシュ電極10間の中央にセットし、ここで停止
させ、約30秒間プラズマ中で成膜を行った。30秒後
に台車13を駆動して基板3を別室に移動させた。なお
、ホルダー12は絶縁物で構成した。原料ガス流出Ti
極7及びメツシュ電極10はステンレス製とし、キャリ
アガスArはマス70−コントローラで流量が一定とな
るようにi、IJ l t、、た。
て、メツシュ電極10間の中央にセットし、ここで停止
させ、約30秒間プラズマ中で成膜を行った。30秒後
に台車13を駆動して基板3を別室に移動させた。なお
、ホルダー12は絶縁物で構成した。原料ガス流出Ti
極7及びメツシュ電極10はステンレス製とし、キャリ
アガスArはマス70−コントローラで流量が一定とな
るようにi、IJ l t、、た。
成膜する前に基板3は、図示しない予備室で加熱を行い
、真空反応容器1内に移動させるようにした。真空反応
容器1内での成膜模に、基板3を後処理室に移動し、酸
素雰囲気に入れ、その後、後処理型から取り出した。予
備室では、輻射加熱により加熱を行った。
、真空反応容器1内に移動させるようにした。真空反応
容器1内での成膜模に、基板3を後処理室に移動し、酸
素雰囲気に入れ、その後、後処理型から取り出した。予
備室では、輻射加熱により加熱を行った。
メツシュ電極10のメツシュ数は、数が少ないと、プラ
ズマが均一とはならない。また、メツシュ数が多過ぎる
と、基板3にモノマが届がない。
ズマが均一とはならない。また、メツシュ数が多過ぎる
と、基板3にモノマが届がない。
そこで種々検討の結果、メツシュ数は5〜50メツシユ
/ 2.54 tsとした。
/ 2.54 tsとした。
ホルダー12は、基板3を1対のメツシュ電極10間の
中央に安定して供給するため、基板3の外周全体をホー
ルドする構造のものが好ましい。
中央に安定して供給するため、基板3の外周全体をホー
ルドする構造のものが好ましい。
原料ガス流出電極7及びメツシュ電極1oを大型化する
と、複数枚の基板3の同時両面成膜を行うことができる
。
と、複数枚の基板3の同時両面成膜を行うことができる
。
[発明の効果]
以上説明したように本発明に係るプラズマCVD装置で
は、1対の原料ガス流出電極間に1対のメツシュ電極を
配置し、両メツシュ電極とこれに対向する原料ガス流出
TI極周に高周波電力を印加してプラズマを発生するよ
うにし、両メツシュ電極聞に基板を配置して成膜を行わ
せるようにしたので、基板の両面に同時に成膜を行わせ
ることができる。従って、本発明によれば、プラズマC
VD法による成膜を能率よく行うことができる。また、
本発明では、メツシュ電極を用いたので、基板には高周
波電力を印加する必要がなくなり、従って基板を移動し
【の成膜処理も可能となり、大a生産も工業的に可能に
することができる。
は、1対の原料ガス流出電極間に1対のメツシュ電極を
配置し、両メツシュ電極とこれに対向する原料ガス流出
TI極周に高周波電力を印加してプラズマを発生するよ
うにし、両メツシュ電極聞に基板を配置して成膜を行わ
せるようにしたので、基板の両面に同時に成膜を行わせ
ることができる。従って、本発明によれば、プラズマC
VD法による成膜を能率よく行うことができる。また、
本発明では、メツシュ電極を用いたので、基板には高周
波電力を印加する必要がなくなり、従って基板を移動し
【の成膜処理も可能となり、大a生産も工業的に可能に
することができる。
第1図は本発明に係るプラズマcvoiimの一実施例
を示す縦断面図、第2図及び第3図は第1図で用いてい
る原料ガス流出電極及びメツシュ電極の各正面図、第4
図は従来のプラズマCVD装置の縦断面図である。 1・・・真空反応容器、3・・・紙板、5・・・高周波
電源、7・・・原料ガス流出電極、8・・・原料ガス流
出孔、9・・・原料ガス供給手段、9A・・・分配室形
成体、9B・・・配管、10・・・メツシュ電極、11
・・・基板設置空筒1図 ノー 1101100ヨし9 ↓ @4 @2図
を示す縦断面図、第2図及び第3図は第1図で用いてい
る原料ガス流出電極及びメツシュ電極の各正面図、第4
図は従来のプラズマCVD装置の縦断面図である。 1・・・真空反応容器、3・・・紙板、5・・・高周波
電源、7・・・原料ガス流出電極、8・・・原料ガス流
出孔、9・・・原料ガス供給手段、9A・・・分配室形
成体、9B・・・配管、10・・・メツシュ電極、11
・・・基板設置空筒1図 ノー 1101100ヨし9 ↓ @4 @2図
Claims (1)
- 真空反応容器内に1対の原料ガス流出電極が相互に向
い合せに配置され、前記両原料ガス流出電極間に1対の
メッシュ電極が前記各原料ガス流出電極に向い合せて配
置され、前記両メッシュ電極間には処理用の基板を位置
させる基板設置空間が設けられ、前記両原料ガス流出電
極にはこれら電極の各原料ガス流出孔から原料ガスを前
記メッシュ電極に向けて流出させるように原料ガス供給
手段が設けられていることを特徴とするプラズマCVD
装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25743087A JPH07118460B2 (ja) | 1987-10-14 | 1987-10-14 | プラズマcvd装置 |
US07/368,312 US4991542A (en) | 1987-10-14 | 1988-10-14 | Method of forming a thin film by plasma CVD and apapratus for forming a thin film |
PCT/JP1988/001043 WO1989003587A1 (en) | 1987-10-14 | 1988-10-14 | Method and apparatus for thin film formation by plasma cvd |
EP88908981A EP0336979B1 (en) | 1987-10-14 | 1988-10-14 | Apparatus for thin film formation by plasma cvd |
KR1019890700595A KR930003136B1 (ko) | 1987-10-14 | 1988-10-14 | 프라즈마 cvd에 의한 박막 형성장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25743087A JPH07118460B2 (ja) | 1987-10-14 | 1987-10-14 | プラズマcvd装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01100915A true JPH01100915A (ja) | 1989-04-19 |
JPH07118460B2 JPH07118460B2 (ja) | 1995-12-18 |
Family
ID=17306256
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25743087A Expired - Fee Related JPH07118460B2 (ja) | 1987-10-14 | 1987-10-14 | プラズマcvd装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07118460B2 (ja) |
-
1987
- 1987-10-14 JP JP25743087A patent/JPH07118460B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07118460B2 (ja) | 1995-12-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2005531147A5 (ja) | ||
NL8503163A (nl) | Inrichting en werkwijze voor dampneerslag. | |
JP2003017413A (ja) | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 | |
JPH01100915A (ja) | プラズマcvd装置 | |
JP3117366B2 (ja) | プラズマ処理装置 | |
JPS62123721A (ja) | 処理装置 | |
JP2001185491A (ja) | 雛壇形シャワーヘッド、及びそのシャワーヘッドを用いた真空処理装置 | |
JP3267306B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH01130517A (ja) | プラズマcvd装置 | |
JP2004211161A (ja) | プラズマ発生装置 | |
JPS60123033A (ja) | プラズマ処理装置 | |
JP4604591B2 (ja) | プラズマ処理方法 | |
JP2844771B2 (ja) | プラズマcvd装置 | |
JPH0628239B2 (ja) | 連続式プラズマcvd装置 | |
JP2002043289A5 (ja) | ||
JP3977962B2 (ja) | プラズマ処理装置及び方法 | |
JPH01103830A (ja) | プラズマcvd装置 | |
JPH0719755B2 (ja) | プラズマcvdによる薄膜形成方法 | |
JPH0111721Y2 (ja) | ||
US5900104A (en) | Plasma system for enhancing the surface of a material | |
JPH04329626A (ja) | 半導体素子の製造装置 | |
JPS5830125A (ja) | グロ−放電による膜形成装置 | |
JPS58117870A (ja) | 皮膜形成装置 | |
JPS6223106A (ja) | 処理装置 | |
JPS63247372A (ja) | 薄膜形成方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |