JPH01100362U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH01100362U JPH01100362U JP19673287U JP19673287U JPH01100362U JP H01100362 U JPH01100362 U JP H01100362U JP 19673287 U JP19673287 U JP 19673287U JP 19673287 U JP19673287 U JP 19673287U JP H01100362 U JPH01100362 U JP H01100362U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mass spectrometer
- icp
- ions
- sampling
- lens system
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 6
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims 8
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims 1
Landscapes
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
第１図は本考案の一実施例の断面図を示す。
１……高周波電源、５……イオンレンズ、２…
…プラズマ、６……質量分析計、３……サンプリ
ングコーン、４……スキマーコーン。
…プラズマ、６……質量分析計、３……サンプリ
ングコーン、４……スキマーコーン。
Claims (1)
- 試料をイオン化するＩＣＰイオン源（誘導結合
高周波プラズマ）と、前記ＩＣＰイオン源で生成
したイオンを取り入れるサンプリングコーン、該
サンプリングコーンに接続されるサンプリング室
、該サンプリング室を通過したイオンを引き出し
収束させるイオンレンズ系、該イオンレンズ系を
通過したイオンを分析するための質量分析計及び
イオンレンズ及び質量分析計を収納するための真
空室よりなるＩＣＰ質量分析装置において、該サ
ンプリングコーンを絶縁物で構成することを特徴
とするＩＣＰ質量分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19673287U JPH01100362U (ja) | 1987-12-24 | 1987-12-24 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19673287U JPH01100362U (ja) | 1987-12-24 | 1987-12-24 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01100362U true JPH01100362U (ja) | 1989-07-05 |
Family
ID=31487329
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19673287U Pending JPH01100362U (ja) | 1987-12-24 | 1987-12-24 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01100362U (ja) |
-
1987
- 1987-12-24 JP JP19673287U patent/JPH01100362U/ja active Pending
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