JP7779151B2 - 厚み測定装置 - Google Patents
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Description
例えば、特許文献1に記載の厚み測定装置は、超音波プローブから超音波を体内に送信し、測定対象と当該測定対象に隣接する層との境界面で反射される反射波を、当該超音波プローブで受信する。そして、超音波の送信タイミングから反射波の受信タイミングまでの時間に基づいて、前記境界面までの距離を測定する。
以下、第一実施形態の厚み測定装置について説明する。
本実施形態では、対象物の表面に固定し、対象物の内部の測定対象の境界を検出することで測定対象の厚みを測定する厚み測定装置を例示する。対象物としては、建築物等の各種構造体や人体等の生体が挙げられ、測定対象として建築物内部の鉄筋や生体内の臓器や筋肉、脂肪、骨等が挙げられる。
図1は、本実施形態の厚み測定装置1の概略構成を示すブロック図である。
本実施形態の厚み測定装置1は、図1に示すように、測定ユニット10と、制御ユニット20とを備えて構成されている。
測定ユニット10は、対象物に対して装着可能に構成されて、対象物の内部に対する超音波測定を実施する。
測定ユニット10は、例えば、超音波プローブ100と、超音波プローブ100を対象物に固定する固定部11(図2~図4参照)とを含んで構成されている。固定部11の構成は特に限定されず、例えば、対象物に対して装着可能で、対象物に装着された状態で超音波プローブ100を対象物に密着させる構成等が例示できる。また、固定部11として超音波プローブ100が設けられた構造体を例示するが、超音波プローブ100を対象物に固定するものであればこれに限定されない。例えば、ジェル等の粘性ゲルを固定部として、超音波プローブ100と対象物とを接着固定するものであってもよい。
保持部101は、超音波素子110を保持する部材であり、本実施形態では固定部11に固定される。本実施形態において、保持部101は、各超音波素子110を保持する複数の保持面102A~102Eを備え、これらの保持面102A~102Eの法線方向は、それぞれ異なる方向となる。
例えば、本実施形態では、第一保持面102AはXY平面に平行であり、その法線方向はZ軸と平行となる。
第二保持面102Bは、第一保持面102Aの-X側に配置される。第二保持面102Bは、Y軸に平行で、XY平面に対してY軸回りに+θ1の角度で傾斜する。よって、第二保持面102Bの法線方向は、Z方向から-X側にθ1の角度で傾斜する。
第三保持面102Cは、第一保持面102Aの+X側に配置される。第三保持面102Cは、Y軸に平行で、XY平面に対してY軸回りに-θ2の角度で傾斜する。よって、第三保持面102Cの法線方向は、Z方向から+X側にθ2の角度で傾斜する。
第四保持面102Dは、第一保持面102Aの-Y側に配置される。第四保持面102Dは、X軸に平行で、図4に示すように、XY平面に対してX軸回りに+θ3の角度で傾斜する。よって、第四保持面102Dの法線方向は、Z方向から-Y側にθ3の角度で傾斜する。
第五保持面102Eは、第一保持面102Aの+Y側に配置される。第五保持面102Eは、Y軸に平行で、XY平面に対してX軸回りに-θ4の角度で傾斜する。よって、第五保持面102Eの法線方向は、Z方向から+Y側にθ4の角度で傾斜する。
なお、θ1,θ2、θ3、及びθ4の角度は、全てが同一であってもよく、一部が異なっていてもよく、全てが異なっていてもよい。
例えば、薄膜状の振動部に圧電素子を配置した超音波トランスデューサーをアレイ状に複数配置し、圧電素子への電圧の印加により各振動部を振動させることで超音波を送信させる、薄膜型超音波素子であってもよい。このような薄膜型超音波素子では、反射波によって振動膜が振動されることで圧電素子から受信信号が出力される。
或いは、圧電体に対して電圧を印加することで、圧電体自体を振動させて超音波を送信し、反射波による圧電体自体の歪みにより出力される受信信号により反射波を検出するバルク型超音波素子を用いてもよい。
測定ユニット10として、薄型化及び小型化を図るためには、薄膜型超音波素子を用いることが好適である。
よって、第一保持面102Aに設けられた超音波素子110は、Z方向に沿って対象物に向かって(+Z側に)超音波を送信する。第二保持面102Bに設けられた超音波素子110は、Z方向より-X側にθ1の角度で傾斜する方向に超音波を送信する。第三保持面102Cに設けられた超音波素子110は、Z方向より+X側にθ2の角度で傾斜する方向に超音波を送信する。すなわち、X軸に沿って並ぶ超音波素子110は、XZ平面(第一平面)において互いに離隔する方向に超音波を送信する。
また、第四保持面102Dに設けられた超音波素子110は、Z方向より-Y側にθ3の角度で傾斜する方向に超音波を送信する。第五保持面102Eに設けられた超音波素子110は、Z方向より+Y側にθ4の角度で傾斜する方向に超音波を送信する。すなわち、Y軸に沿って並ぶ超音波素子110は、YZ平面(第二平面)において互いに離隔する方向に超音波を送信する。
制御ユニット20は、例えば、測定ユニット10の固定部11の超音波素子110が設けられる面とは反対側の面に設けられていてもよく、測定ユニット10とは別体に設けられ、有線または無線で測定ユニット10と通信可能な構成としてもよい。
この制御ユニット20は、本開示の制御部に相当し、各超音波素子110の動作を制御し、超音波素子110から得られる受信信号に基づいて、対象物の内部の測定対象の厚みを測定する。
駆動回路21は、プロセッサー24からの指令に基づいて、各超音波素子110に駆動信号を出力して駆動させ、超音波を送信させる。駆動回路21は、それぞれの超音波素子110毎に設けられてもよく、1つの駆動回路21と複数の超音波素子110とをスイッチ回路によって接続して、スイッチ回路により駆動信号を出力する駆動回路21を選択可能な構成としてもよい。
測定制御部241は、駆動回路21に超音波の送信指令を出力し、超音波素子110から超音波を送信させ、受信回路22から入力される受信信号を取得する。この際、測定制御部241は、複数の超音波素子110を独立して順次駆動させて、それぞれの超音波素子110からの受信信号を取得する。
次に、本実施形態における厚み測定方法について説明する。
図5は、本実施形態の厚み測定方法に係るフローチャートである。
本実施形態の厚み測定装置1により対象物の内部の測定対象の厚みを測定する場合、まず、ユーザーは、固定部11を用いて測定したい対象物に測定ユニット10を固定し、超音波プローブ100を対象物に密着させる(ステップS1)。
そして、素子選択部242は、得られた各超音波素子110からの受信信号から、所定の閾値以上でかつ、最大の受信信号に対応する受信信号を特定し、その受信信号を出力した超音波素子110を測定用の超音波素子110として特定する(ステップS3)。
例えば、図6に示す例では、第一保持面102Aに設置された超音波素子110は、測定対象である第二部分Ar2の表面に対して、略垂直の超音波を送信する。一方、その他の保持面102B~102Eの超音波素子110から送信される超音波は、第一保持面102Aの超音波素子110よりも、第二部分Ar2の表面の法線に対して傾斜して送信される。なお、図6及び図7では、保持面102D,102Eに保持される超音波素子110の図示は省略している。
この場合、第一保持面102Aの超音波素子110から送信される超音波は、第二部分Ar2の表面で略正反射され、当該超音波素子110で比較的強い音圧の反射波が受信される。したがって、第一保持面102Aの超音波素子110から信号強度が大きい受信信号が出力される。その他の保持面102B~102Eの超音波素子110では、第一保持面102Aの超音波素子110に比べて、受信した反射波の音圧が小さく、受信信号の信号強度も弱くなる。
したがって、第一境界P1で反射した反射波による受信信号、第二境界P2で反射した反射波による受信信号が得られるように、各超音波素子110は、超音波の送信タイミングから所定期間の間、超音波の受信処理を継続する。
図8に示すように、各受信信号は、それぞれ、第一境界P1に対応した第一ピーク値、第二境界P2に対応した第二ピーク値を有する。
図8において、第一受信信号の第一ピーク値の位置をQ11、第二ピーク値の位置をQ12とし、第二受信信号の第一ピーク値の位置をQ21、第二ピーク値の位置をQ22とし、第三受信信号の第一ピーク値の位置をQ31、第二ピーク値の位置をQ32として示している。また、第一受信信号の第一ピーク値をq11、第二ピーク値をq12とし、第二受信信号の第一ピーク値をq21、第二ピーク値をq22とし、第三受信信号の第一ピーク値をq31、第二ピーク値をq32として説明する。
本実施形態では、ステップS3において、素子選択部242は、まず、これらの第一ピーク値及び第二ピーク値の双方が閾値F以上である受信信号を特定する。
例えば、図8の例では、第三保持面102Cの超音波素子110から出力される第三受信信号は、第一ピーク値q31及び第二ピーク値q32が閾値F未満となる。したがって、ステップS3において、第三保持面102Cの超音波素子110は、測定用の素子から除外される。
一方、第一保持面102A及び第二保持面102Bの超音波素子110から出力される受信信号は、第一ピーク値q11,q21及び第二ピーク値q12,q22の双方が閾値Fを超えるため、測定用の素子の候補として特定される。さらに、第一保持面102Aの超音波素子110からの第一受信信号の第一ピーク値q11及び第二ピーク値q12は、第二保持面102Bの超音波素子110からの第二受信信号の第一ピーク値q21及び第二ピーク値q22よりも大きい。したがって、図8の例では、第一保持面102Aの超音波素子110が測定用の素子として選択される。
或いは、第一ピーク値と第二ピーク値の合計値が最大となる受信信号を出力する超音波素子110を、測定用の素子として選択してもよい。
つまり、厚み算出部243は、超音波の送信タイミングから受信信号の第一ピーク値が得られるまでの時間(第一時間)により、超音波素子110から第一境界P1までの距離L1(第一部分Ar1の厚み)を算出することができる。同様に、送信タイミングから受信信号の第二ピーク値が得られるまでの時間(第二時間)により、超音波素子110から第二境界P2までの距離L2を算出することができる。これにより、第二部分Ar2の厚みLをL=L2-L1により算出することができる。
第一実施形態の厚み測定装置1は、測定ユニット10と制御ユニット20(制御部)とを備える。測定ユニット10は、対象物の表面から内部に超音波を送信し、かつ対象物の内部の測定対象である第二部分Ar2の表面で反射された反射波を受信して受信信号を出力する複数の超音波素子110を有し、これらの複数の超音波素子110は、互いに異なる方向に超音波を送信する。制御ユニット20は、受信信号の信号強度と所定の閾値Fとを比較して、閾値Fよりも信号強度が大きい受信信号に基づいて、第二部分Ar2の厚みを測定する。
また、第二部分Ar2の表面の法線に対して斜めから超音波が入力されると、第二部分Ar2の表面から超音波素子110に向かう正反射成分の超音波が減少する。すなわち、超音波の音圧が小さくなり、受信信号がノイズの埋もれる可能性が高くなることで、測定精度が低下する。これに対して、本実施形態では、受信信号の信号強度が閾値Fを超えるため、受信信号がノイズに埋もれる可能性が低く、測定精度の向上を図れる。
これにより、三次元空間内の広い範囲に超音波を送信することができ、対象物に対して測定ユニット10の装着位置を変更せずとも、第二部分Ar2の表面に対して略垂直に超音波を送信可能な超音波素子110を容易に特定でき、適正な超音波素子110からの受信信号に基づいた第二部分Ar2の厚みを算出することで測定精度の向上を図れる。
上記第一実施形態では、送信超音波が互いに離隔する方向となるように複数の超音波素子110を配置する例である。これに対して、第二実施形態では、複数の超音波素子から送信される超音波が互いに近接する方向となる点で上記第一実施形態と相違する。
なお、以降の説明にあたり、既に説明した事項については、同符号を付し、その説明を省略または簡略化する。
本実施形態の測定ユニットは、第一実施形態と同様、固定部11に保持された1つ以上の超音波プローブ100Aを備えている。
そして、超音波プローブ100Aは、保持部101Aと、複数の超音波素子110により構成されており、保持部101Aは、複数の保持面102F~102Jを備える。ここで、第一実施形態では、保持部101は、第一保持面102Aが+Z側に突出する凸状となるように、各保持面102B~102Eが配置されているが、第二実施形態では、保持部101Aが凹状に形成されている。
また、超音波プローブ100AのYZ平面で切断した場合の断面図は省略するが、Y軸に沿って配置される第九保持面102I、第六保持面102F、第十保持面102Jも同様に構成される。つまり、第六保持面102Fの-Y側の第九保持面102Iは、X軸に平行で、XY平面に対してX軸回りに-θ3の角度で傾斜する。第六保持面102Fの+Y側の第十保持面102Jは、X軸に平行で、XY平面に対してX軸回りに+θ4の角度で傾斜する。
図11及び図12は、ステップS2における超音波素子110と、第二部分Ar2との位置関係の一例を示す図である。
本実施形態では、対象物に対して測定ユニットを装着して、ステップS2の超音波測定処理を実施すると、図11及び図12に示すように、各超音波素子110から互いに近接する方向に超音波が送信される。
例えば、図11に示す例では、第六保持面102Fに設置された超音波素子110は、第二部分Ar2の表面に対して、略垂直の超音波を送信し、その他の超音波素子110は、第二部分Ar2の表面の法線に対して傾斜する角度で超音波を送信する。したがって、第六保持面102Fの超音波素子110から送信される超音波は、他の超音波素子110と比べて比較的信号強度が強い受信信号を出力する。
これにより、ステップS3では、第一保持面102Aに設けられた超音波素子110が測定用の素子として選択され、ステップS4では、当該超音波素子110の受信信号に基づいて、第二部分Ar2の厚みが算出される。
これにより、第一実施形態と同様、第二部分Ar2の表面の法線方向に略沿った適正な厚みを測定でき、かつ、受信信号がノイズに埋もれる可能性が低く、測定精度の向上を図れる。
さらに、本実施形態では、複数の超音波素子が互いに近接する方向に超音波を送信する。つまり、X軸に沿って並ぶ超音波素子110は、XZ平面で互いに近接する方向に超音波を送信し、Y軸に沿って並ぶ超音波素子110は、YZ平面で互いに近接する方向に超音波を送信する。この場合、対象物の内部の第二部分Ar2のサイズが小さい場合でも、好適に第二部分Ar2の厚みを測定できる。例えば、建築物のコンクリート内部に存在する微小な空孔等に対して好適な測定を実施できる。
なお、本発明は上述の各実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良、および各実施形態を適宜組み合わせる等によって得られる構成は本発明に含まれるものである。
例えば、上記第一実施形態において、素子選択部242は、複数の超音波素子110のうち、信号強度が閾値以上であって、かつ最大信号強度の受信信号を出力する超音波素子110を選択した。
これに対して、素子選択部242は、信号強度が閾値F以上である受信信号を出力する複数の超音波素子110を選択してもよい。
また、保持面102A~102Eのいずれかに配置された超音波素子110によって、最大の第一ピーク値が検出され、保持面102A~102Eの他のいずれかに配置された超音波素子110によって、最大の第二ピーク値が検出される場合、第一実施形態では、信号強度の比に基づいて、測定用の素子を選択する例を示した。これに対して、最大の第一ピーク値の受信信号を出力した超音波素子110(第1の超音波素子)と、最大の第二ピーク値の受信信号を出力した超音波素子110(第2の超音波素子)とを測定用の素子として選択してもよい。
例えば、厚み算出部243は、第1の超音波素子から出力される受信信号に基づいて、超音波の送信タイミングから第一ピーク値が得られるまでの第一時間、及び第二ピーク値が得られるまでの第二時間を検出し、第1の測定対象の厚みを算出する。同様に、厚み算出部243は、第2の超音波素子から出力される受信信号に基づく第一時間及び第二時間から、第2の測定対象の厚みを算出する。そして、第1の測定大砲厚みと第2の測定対象の厚みの平均値を、測定対象の厚みとして採用する。
或いは、厚み算出部243は、各ピーク値が得られる平均時間に基づいて筋肉厚を算出してもよい。例えば、厚み算出部243は、測定用の素子として選択された複数の超音波素子110の各受信信号の第一ピーク値が得られるまでの第一時間の平均値により、超音波プローブ100から第一境界P1までの距離L1´を算出する。また、測定用の素子として選択された複数の超音波素子110の受信信号の第二ピーク値が得られるまでの第二時間の平均値により、超音波プローブ100から第二境界P2までの距離L2´を算出する。そして、厚み算出部243は、測定対象の厚みLをL=L2´-L1´により算出する。
上記第一実施形態では、保持部101の各保持面102A~102Eにより、各超音波素子110から出力される超音波が互いに離隔する方向に送信される例を示した。また、第二実施形態では、保持部101Aの各保持面102F~102Jにより、各超音波素子110から出力される超音波が互いに近接する方向に送信される例を示した。これに対して、超音波の送信方向を、音響レンズにより変化させる構成としてもよい。
図13及び図14は、変形例2に係る超音波プローブ100B,100Cの概略構成を示す断面図である。
図13の超音波プローブ100Bは、XY平面に平行な保持面102Kを有する保持部101Bに、X方向に沿って複数の超音波素子(第一超音波素子111、第二超音波素子112、及び第三超音波素子113)が配置されている。第二超音波素子112は、第一超音波素子111の-X側に配置され、第三超音波素子113は、第一超音波素子111の+X側に配置される。
音響レンズ120は、保持部101B及び複数の超音波素子を覆って設けられている。この音響レンズ120は、第一超音波素子111に対向する第一レンズ面121、第二超音波素子112に対向する第二レンズ面122、第三超音波素子113に対向する第三レンズ面123を有し、+Z側の面が凸状に形成される。つまり、第一レンズ面121は、XY平面に平行な平面となる。第二レンズ面122は、Y軸に平行で、XY平面に対してY軸回りに-θ1の角度で傾斜する、第三レンズ面123は、Y軸に平行で、XY平面に対してY軸回りに+θ2の角度で傾斜する。
このような構成では、音響レンズ120によって超音波が屈折されることで、第一実施形態と同様、各超音波素子111,112,113から送信される超音波を互いに離隔する方向に送信することができる。
そして、この超音波プローブ100Cでは、音響レンズ120Aの+Z側の面が凹状に形成される。つまり、第四レンズ面124は、XY平面に平行な平面となる。第五レンズ面125は、Y軸に平行で、XY平面に対してY軸回りに+θ1の角度で傾斜する、第六レンズ面126は、Y軸に平行で、XY平面に対してY軸回りに-θ2の角度で傾斜する。
このような構成では、音響レンズ120によって超音波が屈折されることで、第二実施形態と同様、各超音波素子111,112,113から送信される超音波を互いに近接する方向に送信することができる。
なお、Y方向に超音波素子を配置する場合も同様である。
本開示の厚み測定装置1として、各超音波素子110は、超音波の送信方向が互いに異なっていればよい。第一実施形態及び第二実施形態では、X方向に配置された各超音波素子110が、Y軸に直交し、X軸及びZ軸に対する傾斜角度がそれぞれ異なる超音波を送信する例である。これに対して、図15の超音波プローブ100Dは、保持部101Cに保持面102K,102L,102Mが設けられており、それぞれ、X軸に平行で、XY平面に対してX軸回りの傾斜角度がそれぞれ異なる。各保持面102K,102L,102Mには、それぞれ超音波素子110が設けられている。このような構成により、各超音波素子110は、X軸に直交し、Y軸及びZ軸に対する傾斜角度がそれぞれ異なる超音波を送信することができる。
このような超音波プローブ100Dでは、対象物の内部において深度の異なる第二部分Ar2に対して超音波を送信できる。つまり、第一部分Ar1の厚みの違いによる誤差を低減できる。
上記実施形態では、測定対象である第二部分Ar2の第一境界P1及び第二境界P2による反射波に基づいて第二部分Ar2の厚みを測定したが、測定対象を第一部分Ar1として、第一境界P1で反射される反射波に基づいて第一部分Ar1の厚みを測定してもよい。
本開示の第一態様の厚み測定装置は、内部に測定対象が含まれる対象物に装着され、超音波を用いて前記測定対象の厚みを測定する厚み測定装置であって、前記対象物の表面から前記超音波を送信し、かつ前記測定対象で反射された反射波を受信して受信信号を出力する複数の超音波素子と、前記超音波素子を制御する制御部と、を備え、複数の前記超音波素子は、互いに異なる方向に超音波を送信し、前記制御部は、前記受信信号の信号強度と所定の閾値とを比較して、前記閾値よりも前記信号強度が大きい前記受信信号に基づいて、前記測定対象の厚みを測定する。
これにより、広い範囲に超音波を送信することができるので、対象物に対する複数の超音波素子の装着位置を変更せずとも、測定対象の表面に対して略垂直となる方向に超音波を送信可能な超音波素子を容易に特定できる。
Claims (3)
- 内部に測定対象が含まれる対象物に装着され、超音波を用いて前記測定対象の厚みを測定する厚み測定装置であって、
前記対象物の表面から前記超音波を送信し、かつ前記測定対象で反射された反射波を受信して受信信号を出力する複数の超音波素子と、
前記超音波素子を制御する制御部と、を備え、
複数の前記超音波素子は、互いに異なる方向に超音波を送信し、
前記制御部は、前記受信信号の信号強度と所定の閾値とを比較して、前記閾値よりも前記信号強度が大きい前記受信信号を出力した前記超音波素子を測定用の超音波素子として特定し、特定された測定用の前記超音波素子から出力された前記受信信号と、測定用の前記超音波素子への送信指令の出力タイミングとに基づいて、前記超音波の送信タイミングから前記受信信号の第一ピーク値が得られるまでの時間により、測定用の前記超音波素子から前記測定対象の第一境界までの距離L1を算出し、同様に、前記送信タイミングから前記受信信号の第二ピーク値が得られるまでの時間により、測定用の前記超音波素子から前記測定対象の第二境界までの距離L2を算出し、前記測定対象の厚みLをL=L2-L1により測定する、
厚み測定装置。 - 複数の前記超音波素子は、互いに離隔する方向に前記超音波を送信する、
請求項1に記載の厚み測定装置。 - 複数の前記超音波素子は、第一軸に沿って並ぶ複数の前記超音波素子と、前記第一軸に直交する第二軸に沿って並ぶ複数の前記超音波素子とを備え、
前記第一軸に沿って並ぶ複数の前記超音波素子は、前記第一軸及び第二軸に直交する軸を第三軸として、前記第一軸及び前記第三軸を含む第一平面において、互いに離隔する方向に前記超音波を送信し、
前記第二軸に沿って並ぶ複数の前記超音波素子は、前記第二軸及び前記第三軸を含む第二平面において、互いに離隔する方向に前記超音波を送信する、
請求項2に記載の厚み測定装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
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