JP7675366B2 - 昇華ガス供給システムおよび昇華ガス供給方法 - Google Patents
昇華ガス供給システムおよび昇華ガス供給方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7675366B2 JP7675366B2 JP2021114451A JP2021114451A JP7675366B2 JP 7675366 B2 JP7675366 B2 JP 7675366B2 JP 2021114451 A JP2021114451 A JP 2021114451A JP 2021114451 A JP2021114451 A JP 2021114451A JP 7675366 B2 JP7675366 B2 JP 7675366B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sublimation gas
- buffer tank
- path
- solid material
- sublimation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01B—BOILING; BOILING APPARATUS ; EVAPORATION; EVAPORATION APPARATUS
- B01B1/00—Boiling; Boiling apparatus for physical or chemical purposes ; Evaporation in general
- B01B1/06—Preventing bumping
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/448—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for generating reactive gas streams, e.g. by evaporation or sublimation of precursor materials
- C23C16/4481—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for generating reactive gas streams, e.g. by evaporation or sublimation of precursor materials by evaporation using carrier gas in contact with the source material
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45561—Gas plumbing upstream of the reaction chamber
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45563—Gas nozzles
- C23C16/4557—Heated nozzles
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Feeding, Discharge, Calcimining, Fusing, And Gas-Generation Devices (AREA)
Description
固体材料の昇華ガスを後段のプロセスに供給するための昇華ガス供給システムであって、
第1の固体材料を収納する第1の容器と、
前記第1の固体材料が昇華して、第1の昇華ガスを生成するように前記第1の容器を加熱する第1の加熱部と、
昇華ガスを貯留する第1のバッファータンクと、
前記第1の昇華ガスを前記第1のバッファータンクへ導入する第1の経路と、
前記第1のバッファータンクから導出された前記第1の昇華ガスを後段のプロセスへ供給するための第2の経路と、
前記第2の経路における第1の接続部と接続されており、前記第2の経路へ希釈用ガスを導入するための希釈用ガス経路と、
前記第2経路上であって、前記第1の接続部と前記第1のバッファータンクとの間に設けられ、流量を制御するための第1の流量制御装置と、
前記希釈用ガス経路上に設けられ、流量を制御するための第2の流量制御装置と、
前記第2の経路上に設けられ、前記第1の接続部で合流した前記希釈用ガスと前記第1の昇華ガスとを混合するための混合器と、を有する。
前記第1の経路上に設けられた第1の弁と、
前記第2の経路上であって、前記第1の接続部と前記第1のバッファータンクとの間に設けられた第2の弁と、
前記希釈用ガス経路上であって、前記第1の接続部と前記第2のバッファータンクとの間に設けられた第3の弁と、を有する構成であってもよい。
前記第2の経路上であって、前記混合器と前記後段のプロセスとの間に設けられ、流量を制御するための第3の流量制御装置と、
前記第2の経路上であって、前記混合器と前記第3の流量制御装置との間に設けられ、前記第2の経路上のガスを排出する排ガス経路と、と有する構成であってもよい。
前記混合器を加熱するための混合器用加熱部と、を有していてもよい。
前記第2の固体材料が昇華して、第2の昇華ガスを生成するように前記第2の容器を加熱する第2の加熱部と、
前記第2の昇華ガスを前記第1のバッファータンクへ導入する第3の経路と、有していてもよい。ここで、前記第1の固体材料と前記第2の固体材料とは同じ固体材料である。
同じ材料とは、実質的に同じ材料で構成されていることを意味する。
前記第2の固体材料が昇華して、第2の昇華ガスを生成するように前記第2の容器を加熱する第2の加熱部と、
前記第2の昇華ガスを貯留するための第3のバッファータンクと、
前記第2の昇華ガスを前記第3のバッファータンクへ導入するための第4の経路と、
前記第3のバッファータンクから導出された前記第2の昇華ガスを、前記混合器と前記第1のバッファータンクとの間の前記第2の経路へ供給するための第5の経路と、
前記第5の経路上に設けられ、流量を制御するための第4の流量制御装置と、
前記第5の経路上に設けられた弁と、有していてもよい。ここで、前記第1の固体材料と前記第2の固体材料とは、異なる固体材料である。「前記第1の固体材料と前記第2の固体材料とは異なる固体材料」とは、実質的に異なる材料で構成されていることを意味する。
前記制御器は、起動時において、前記第2の圧力計が所定の圧力に達したとき、前記第1の昇華ガスが第1の接続部を流通するように前記第2の弁を開けるように制御する構成であってもよい。
この構成によれば、後段のプロセスへ適切に第1の昇華ガスを提供することができる。ここで、所定の圧力とは、例えば、第1の固体材料がAlCl3の場合、1×10-6から1×10-1atmである。また所定の圧力とは、例えば、第1の固体材料がMoO2Cl2の場合、1kPa以上50kPa以下である。所定の圧力値から、所定の第1の昇華ガスの濃度に換算することができる。
前記制御器は、停止制御において、前記第2の弁と前記第前記第3の弁とを閉めるように制御する構成であってもよい。
(1)第2の弁と第3の弁とを同時に閉める。
(2)第2の弁を閉めてから第3の弁を閉める。
(3)第3の弁を閉めてから第2の弁を閉める。
前記制御器は、定常運転時において、または後段のプロセスの状況に応じて、前記後段のプロセスに導入される前記第1の昇華ガスの濃度を調整するように、前記第1の流量制御装置及び前記第2の流量制御装置からなる群から選択される少なくとも一つを制御する。
第1の固体材料を収納する第1の容器を加熱して、第1の固体材料に由来する第1の昇華ガスを生成する第1の加熱工程と
前記第1の昇華ガスを第1のバッファータンクに導入する第1の導入工程と、
前記第1のバッファータンクから導出された前記第1の昇華ガスを後段のプロセスへ供給する第1の供給工程と、
希釈用ガスを前記第1のバッファータンクから導出された前記第1の昇華ガスに供給する第1の希釈工程と、
前記第1のバッファータンクから導出された前記第1の昇華ガスの流量を制御する第1の流量制御工程と、
前記希釈用ガス経路から供給される前記希釈用ガスの流量を制御する第2の流量制御工程と、を有する。
前記第2の昇華ガスを第1のバッファータンクに導入する第2の導入工程と、
前記第1の導入工程を停止して、前記第2の導入工程に切り替える第1の切替工程と、有する。ここで、前記第1の固体材料と前記第2の固体材料とは同じ固体材料である。
前記第2の昇華ガスを第3のバッファータンクに導入する第2の導入工程と、
前記第3のバッファータンクから導出された前記第2の昇華ガスを後段のプロセスへ供給する第2の供給工程と、
前記希釈用ガスを前記第3のバッファータンクから導出された前記第2の昇華ガスに供給する第2の希釈工程と、
前記第1の導入工程と前記第1の供給工程とを停止して、前記第2の導入工程及び前記第2の供給工程に切り替える第2の切替工程と、有していてもよい。ここで、前記第1の固体材料と前記第2の固体材料とは異なる固体材料である。
なお、以下で説明される構成の全てが本発明の必須の構成であるとは限らない。
図1は、昇華ガス供給システムの概略を示す。図1で示される矢印は、各種ガス(例えば、昇華ガス、希釈用ガス)の流れる方向を示す。
本実施形態は、容器が一つである。さらに、バッファータンクは一つである。そのバッファータンクは、容器から生成された昇華ガスを貯留する。
次いで、貯留された昇華ガスは、第2の経路16を通じて、後段のプロセスBPに供給される。また第2の経路16上には、第1の接続部C1を有する。第1の接続部C1は、希釈用ガスを導入するための希釈用ガス経路17と接続されている。
制御器100は、第1の固体材料S1を収納する第1の容器11を加熱するように第1の加熱部12を制御する。そして、第1の固体材料S1に由来する第1の昇華ガスを生成する。
第1の昇華ガスを第1のバッファータンク13に導入する第1の導入工程を有する。具体的には、制御器100は、第1の弁V1及び第4の弁V4とを開けるように制御する。そして、第1の経路15を通じて、第1の容器11に、第1の昇華ガスを導入する。次いで、第1のバッファータンク13から導出された第1の昇華ガスを後段のプロセスBPへ供給する。この時、制御器100は、第2の弁V2を開けるように、制御する。
この第1の供給工程において、途中で希釈用ガスが供給される。
第1の希釈工程において、制御器100は、第3の弁V3を開けるように第3の弁V3を制御する。
制御器100は、後段のプロセスBPが求める第1の昇華ガスの濃度になるよう、第1の流量制御装置と第2の流量制御装置とをそれぞれ制御する。
(1)制御器100の指令により、ポンプ26を稼働させて、第1のバッファータンク13を真空状態(すなわち、実質的な真空状態)にする。
(2)第2の圧力計P2は、第1のバッファータンク13内の圧力を測定する。
(3)第2の圧力計P2の測定値から第1のバッファータンク13内が真空状態になったか否かを制御器100の判定部(不図示)が判定してもよい。
(4)ポンプ26を稼働させる時は、第1の排出経路25のみを開ける。
(5)第1の排出経路25に弁が備わっている場合、その弁を開けるように制御器100が制御する。
(6)第1のバッファータンク13に接続される他の経路の各種弁(V2、V3及びV4)は、閉じた状態になるよう、制御器100によって制御されている。この時、第1の加熱部12は、第1の容器11を加熱してもよい。この場合、第1の固体材料S1から第1の昇華ガスが第1の容器11内において生成される。
(7)第1のバッファータンク13内が、真空状態になったと判定されたとき、制御器100は第1の弁V1及び第4の弁V4を開けるように制御する。この時、不図示の第1の排出経路25及びパージガス経路27の弁は閉じている。そして、第1の容器11に貯留されている第1の昇華ガスは、第1の経路15を通じて、第1のバッファータンク13に供給される。
(8)第2の圧力計P2で測定された圧力が所定の圧力を超えたとき、制御器100は第2の弁V2を開けるように制御する。また制御器100は、第3の弁V3を開けるように制御して、希釈用ガスを第2の経路16に供給できるようにする。
(9)第1の昇華ガスの濃度が、所定の濃度(例えば、後段のプロセスBPが求める濃度)となるように、制御器100は、第1の流量制御装置19及び第2の流量制御装置21とを適宜制御できる。
ここで、希釈用ガスの温度に応じて、混合器22に設けられた混合器加熱部28を制御してもよい。例えば、希釈用ガスの温度が、第1の昇華ガスの温度と比べて低い場合、第1の昇華ガスの温度が低下することが推測される。その結果、第1の昇華ガスが固化する可能性がある。混合器加熱部28によって混合器22を加熱することで、第1の昇華ガスが固化することを防ぐことができる。
制御器100は、第2の弁V2と第3の弁V3とを同時に閉めるように、第2の弁V2と第3の弁V3とを制御してもよい。このような制御により、第1のバッファータンク13へ希釈用ガスが流入することを防ぐことができる。また、第2のバッファータンク18に昇華ガスが流入することを防ぐことができる。したがって、第1のバッファータンク13に貯留されている昇華ガス及び2のバッファータンク18に貯留されている希釈用ガスを排出せず、昇華ガス供給システムを再度、開始することができる。
第2の実施形態で示す昇華ガス供給システムは、図2が示すように、第1の実施形態で示す昇華ガス供給システムに、さらに第2の固体材料S2が収納されている第2の容器31を有する。そして、第2の容器31から生成された第2の昇華ガスは、第1のバッファータンク13に供給できるように構成されている。ここで、この実施形態において、第1の固体材料S1と第2の固体材料S2とは、同じ固体材料で構成されている。第1の実施形態との違いを中心に説明する。
第2の容器31から生じた第2の昇華ガスは、第3の経路33及び第1の経路15を通じて、第1のバッファータンク13に導入される。ここで、第3の経路33は、第1の経路15と第4の接続部C4において接続されている。図2において、第4の接続部C4は、第1の弁V1と第3の接続部C3との間に設けられているが、第1の弁V1と第4の弁V4との間であれば、特に限定されない。ここで、この実施形態における昇華ガス供給方法について説明する。
制御器100は、第5の弁V5を閉じるように制御する。次いで、制御器100は、第2の固体材料S2を収納する第2の容器31を加熱するように、制御する。そして、第2の固体材料S2に由来する第2の昇華ガスを生成する。
制御器100は、第5の弁V5及び第4の弁V4を開けるように制御する。その後、第2の昇華ガスを第1のバッファータンクに導入する。
第1の実施形態で説明された第1の導入工程を停止する。言い換えると、制御器100は、第1の弁V1を閉じるように制御する。このようにして、第1の導入工程から第2の導入工程へ切り替える。
また第1の切替工程の後、第1の容器11を第1の固体材料を含む別の容器に交換してもよい。したがって、仮に第1の容器11から生成される第1の昇華ガスが減少したとき、第2の容器から第2の昇華ガスを第1のバッファータンク13へ供給できる。ここで、本実施形態の第1の昇華ガスと第2の昇華ガスとは、同じ固体材料に由来する。したがって、第1の導入工程から第2の導入工程に切り替えるにあたり、第1のバッファータンク13から貯留されている昇華ガスを除く必要はない。したがって、従来の供給方法より昇華ガスの利用率を高くすることができる。
第3の実施形態で示す昇華ガス供給システムは、図3が示すように、第1の実施形態で示す昇華ガス供給システムに、さらに第2の固体材料S2が収納されている第2の容器31を有する。そして、第2の容器31から生成された第2の昇華ガスは、第3のバッファータンク43に供給できるように構成されている。ここで、この実施形態において、第1の固体材料S1と第2の固体材料S2とは、異なる固体材料で構成されている。
次いで、貯留された第2の昇華ガスは、第5の経路46を通じて、後段のプロセスBPに供給される。具体的には、図3で示すように第5の経路46は、第1の接続部C1と第1の流量制御装置19との間に設けられた第5の接続部C5と接続されている。なお、第5の接続部C5は、第1の接続部C1と混合器22との間に設けられていてもよい。
本実施形態における各種経路について、第1の実施形態及び第2の実施形態と異なる点を中心に説明する。
例えば、第1のバッファータンク13及び第1の経路15をパージしたいとき、制御器100は、第8の弁V8及び第2の弁V2を閉じるように制御する。また制御器100は、第4の弁V4、第6の弁V6及び第7の弁V7を開けるように制御する。このようにして、第1のバッファータンク13及び第1の経路15にパージガスを導入することができる。
制御器100は、第11の弁V11を閉じるように制御する。次いで、制御器100は、第2の固体材料S2を収納する第2の容器31を加熱するように、制御する。そして、第2の固体材料S2に由来する第2の昇華ガスを生成する。
制御器100は、第11の弁V11及び第12の弁V12を開けるように制御する。その後、第2の昇華ガスを第3のバッファータンク43に導入する。
この時、第1の導入工程を停止する。言い換えると、制御器100は、第1の弁V1を閉じるように制御する。このようにして、第1の導入工程から第2の導入工程へ切り替える。
第2の切替工程において、真空パージ工程があってもよい。真空パージ工程は、以下のステップを備える。また、以下のステップは繰り返し行われてもよい。
(1)第3の弁V3、第14の弁V14及び第15の弁V15とを閉めるように制御する。
(2)排ガス経路23に設けられたポンプ(不図示)を駆動させる。ここで、ポンプと排ガス用接続部CEとの間に設けられた弁(不図示)を開ける。そして、第2の経路16の一部を真空状態にする。
(3)排ガス経路23に設けられた弁(不図示)を閉じる。次いで、第3の弁V3を開けて、希釈ガスを流通させる。
(4)第3の弁V3を閉じる。次いで、排ガス経路23に設けられた弁(不図示)を開ける。このようにして、排出ガス経路から希釈用ガスが排出される。
11 第1の容器
12 第1の加熱部
13 第1のバッファータンク
14 第1のバッファータンク用加熱部
15 第1の経路
16 第2の経路
17 希釈用ガス経路
C1 第1の接続部
C2 第2の接続部
C3 第3の接続部
18 第2のバッファータンク
19 第1の流量制御装置
21 第2の流量制御装置
22 混合器
V1 第1の弁
V2 第2の弁
V3 第3の弁
23 排ガス経路
24 第3の流量制御装置
25 第1の排出経路
26 ポンプ
27 パージガス経路
28 混合器用加熱部
P1 第1の圧力計
P2 第2の圧力計
T1 第1の温度計
100 制御器
S1 第1の固体材料
BP 後段のプロセス
P3 第3の圧力計
S2 第2の固体材料
T2 第2の温度計
C4 第4の接続部
31 第2の容器
32 第2の加熱部
33 第3の経路
V5 第5の弁
43 第3のバッファータンク
44 第3の加熱部
45 第4の経路
46 第5の経路
47 第6の経路
48 第7の経路
49 第8の経路
50 第9の経路
51 第4の流量制御装置
Claims (12)
- 固体材料の昇華ガスを後段のプロセスに供給するための昇華ガス供給システムであって、
第1の固体材料を収納する第1の容器と、
前記第1の固体材料が昇華して、第1の昇華ガスを生成するように前記第1の容器を加熱する第1の加熱部と、
昇華ガスを貯留する第1のバッファータンクと、
前記第1の昇華ガスを前記第1のバッファータンクへ導入する第1の経路と、
前記第1のバッファータンクから導出された前記第1の昇華ガスを後段のプロセスへ供給するための第2の経路と、
前記第2の経路における第1の接続部と接続されており、前記第2の経路へ希釈用ガスを導入するための希釈用ガス経路と、
前記第2の経路上であって、前記第1の接続部と前記第1のバッファータンクとの間に設けられ、流量を制御するための第1の流量制御装置と、
前記希釈用ガス経路上に設けられ、流量を制御するための第2の流量制御装置と、
前記第1の経路上に設けられた第1の弁と、
前記第2の経路上に設けられ、前記第1の接続部で合流した前記希釈用ガスと前記第1の昇華ガスとを混合するための混合器と、を備えた、
昇華ガス供給システム。 - 請求項1に記載の昇華ガス供給システムであって、ここで、
前記希釈用ガス経路上に設けられ、前記希釈用ガスを貯留する第2のバッファータンクと、
前記第2の経路上であって、前記第1の接続部と前記第1のバッファータンクとの間に設けられた第2の弁と、
前記希釈用ガス経路上であって、前記第1の接続部と前記第2のバッファータンクとの間に設けられた第3の弁と、を備えた、
昇華ガス供給システム。 - 請求項2に記載の昇華ガス供給システムであって、ここで、
前記第1の経路上であって、前記第1の弁と前記第1のバッファータンクとの間に設けられ、前記第1のバッファータンクから前記第1の昇華ガスを排出するための第1の排出経路と、
前記第2の経路上であって、前記混合器と前記後段のプロセスとの間に設けられ、流量を制御するための第3の流量制御装置と、
前記第2の経路上であって、前記混合器と前記第3の流量制御装置との間に設けられ、前記第2の経路上のガスを排出する排ガス経路とを、備えた、
昇華ガス供給システム。 - 請求項1から3のいずれか1項に記載の昇華ガス供給システムであって、ここで、
前記第1のバッファータンクを加熱するための第1のバッファータンク用加熱部と、
前記混合器を加熱するための混合器用加熱部と、を備えた、
昇華ガス供給システム。 - 請求項2から4のいずれか1項に記載の昇華ガス供給システムであって、
第2の固体材料を収納する第2の容器と、
前記第2の固体材料が昇華して、第2の昇華ガスを生成するように前記第2の容器を加熱する第2の加熱部と、
前記第2の昇華ガスを前記第1のバッファータンクへ導入する第3の経路と、さらに備え、
ここで、前記第1の固体材料と前記第2の固体材料とは同じ固体材料である、
昇華ガス供給システム。 - 請求項2から4のいずれか1項に記載の昇華ガス供給システムであって、
第2の固体材料を収納する第2の容器と、
前記第2の固体材料が昇華して、第2の昇華ガスを生成するように前記第2の容器を加熱する第2の加熱部と、
前記第2の昇華ガスを貯留するための第3のバッファータンクと、
前記第2の昇華ガスを前記第3のバッファータンクへ導入するための第4の経路と、
前記第3のバッファータンクから導出された前記第2の昇華ガスを、前記混合器と前記第1のバッファータンクとの間の前記第2の経路へ供給するための第5の経路と、
前記第5の経路上に設けられ、流量を制御するための第4の流量制御装置と、
前記第5の経路上に設けられた弁と、をさらに備え、
ここで、前記第1の固体材料と前記第2の固体材料とは異なる固体材料である、
昇華ガス供給システム。 - 請求項2から6のいずれか1項に記載の昇華ガス供給システムであって、
前記第1のバッファータンク内の圧力を計測する第2の圧力計と、
制御器と、をさらに備え、ここで、
前記制御器は、起動時において、前記第2の圧力計が所定の圧力に達したとき、前記第1の昇華ガスが第1の接続部を流通するように前記第2の弁を開けるように制御する、
昇華ガス供給システム。 - 請求項2から6のいずれか1項に記載の昇華ガス供給システムであって、
制御器と、をさらに備え、ここで、
前記制御器は、停止制御において、前記第2の弁と前記第前記第3の弁とを閉めるように制御する、
昇華ガス供給システム。 - 請求項2から6のいずれか1項に記載の昇華ガス供給システムであって、
制御器と、をさらに備え、ここで、
前記制御器は、定常運転時において、または前記後段のプロセスの状況に応じて、前記後段のプロセスに導入される前記第1の昇華ガスの濃度を調整するように、前記第1の流量制御装置及び前記第2の流量制御装置からなる群から選択される少なくとも一つを制御する、
昇華ガス供給システム。 - 固体材料の昇華ガスを後段のプロセスに供給するための昇華ガス供給方法であって、
第1の固体材料を収納する第1の容器を加熱して、第1の固体材料に由来する第1の昇華ガスを生成する第1の加熱工程と、
前記第1の昇華ガスを第1のバッファータンクに導入する第1の導入工程と、
前記第1のバッファータンクから導出された前記第1の昇華ガスを後段のプロセスへ供給する第1の供給工程と、
希釈用ガスを前記第1のバッファータンクから導出された前記第1の昇華ガスに供給する第1の希釈工程と、
前記第1のバッファータンクから導出された前記第1の昇華ガスの流量を制御する第1の流量制御工程と、
希釈用ガス経路から供給される前記希釈用ガスの流量を制御する第2の流量制御工程と、を備えた、
昇華ガス供給方法。 - 請求項10に記載の昇華ガス供給方法であって、
第2の固体材料を収納する第2の容器を加熱して、第2の固体材料に由来する第2の昇華ガスを生成する第2の加熱工程と、
前記第2の昇華ガスを第1のバッファータンクに導入する第2の導入工程と、
前記第1の導入工程を停止して、前記第2の導入工程に切り替える第1の切替工程と、を備え、
ここで、前記第1の固体材料と前記第2の固体材料とは同じ固体材料である、
昇華ガス供給方法。 - 請求項10に記載の昇華ガス供給方法であって、
第2の固体材料を収納する第2の容器を加熱して、第2の固体材料に由来する第2の昇華ガスを生成する第2の加熱工程と、
前記第2の昇華ガスを第3のバッファータンクに導入する第2の導入工程と、
前記第3のバッファータンクから導出された前記第2の昇華ガスを後段のプロセスへ供給する第2の供給工程と、
前記希釈用ガスを前記第3のバッファータンクから導出された前記第2の昇華ガスに供給する第2の希釈工程と、
前記第1の導入工程と前記第1の供給工程とを停止して、前記第2の導入工程及び前記第2の供給工程に切り替える第2の切替工程と、を備え、
ここで、前記第1の固体材料と前記第2の固体材料とは異なる固体材料である、
昇華ガス供給方法。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2021114451A JP7675366B2 (ja) | 2021-07-09 | 2021-07-09 | 昇華ガス供給システムおよび昇華ガス供給方法 |
| CN202280046370.1A CN117769453A (zh) | 2021-07-09 | 2022-07-05 | 具有缓冲罐的升华气体供应系统和升华气体供应方法 |
| KR1020247003806A KR20240033242A (ko) | 2021-07-09 | 2022-07-05 | 버퍼 탱크를 구비한 승화 가스 공급 시스템 및 승화 가스 공급 방법 |
| US18/577,936 US20240247372A1 (en) | 2021-07-09 | 2022-07-05 | Sublimation gas supply system and sublimation gas supply method with buffer tank |
| PCT/EP2022/068563 WO2023280840A1 (en) | 2021-07-09 | 2022-07-05 | Sublimation gas supply system and sublimation gas supply method with buffer tank |
| EP22744183.9A EP4366851A1 (en) | 2021-07-09 | 2022-07-05 | Sublimation gas supply system and sublimation gas supply method with buffer tank |
| TW111125140A TW202317260A (zh) | 2021-07-09 | 2022-07-05 | 昇華氣體供給系統及昇華氣體供給方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2021114451A JP7675366B2 (ja) | 2021-07-09 | 2021-07-09 | 昇華ガス供給システムおよび昇華ガス供給方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2023010362A JP2023010362A (ja) | 2023-01-20 |
| JP7675366B2 true JP7675366B2 (ja) | 2025-05-13 |
Family
ID=82611112
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2021114451A Active JP7675366B2 (ja) | 2021-07-09 | 2021-07-09 | 昇華ガス供給システムおよび昇華ガス供給方法 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20240247372A1 (ja) |
| EP (1) | EP4366851A1 (ja) |
| JP (1) | JP7675366B2 (ja) |
| KR (1) | KR20240033242A (ja) |
| CN (1) | CN117769453A (ja) |
| TW (1) | TW202317260A (ja) |
| WO (1) | WO2023280840A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102788932B1 (ko) * | 2024-07-17 | 2025-04-01 | 포이스주식회사 | 고체 화학약품 공급탱크의 디개싱방법 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003527481A (ja) | 2000-02-10 | 2003-09-16 | カール ツァイス シュティフトゥング | 蒸気圧の低い前駆体用のガス供給装置 |
| JP2015143383A (ja) | 2013-12-27 | 2015-08-06 | 株式会社日立国際電気 | 基板処理システム、半導体装置の製造方法および記録媒体 |
| JP2016186094A (ja) | 2015-03-27 | 2016-10-27 | 東京エレクトロン株式会社 | タングステン膜の成膜方法 |
| JP2020128566A (ja) | 2019-02-07 | 2020-08-27 | 株式会社高純度化学研究所 | 薄膜形成用金属ハロゲン化合物の固体気化供給システム。 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03141192A (ja) * | 1989-10-26 | 1991-06-17 | Fujitsu Ltd | 気相成長装置および気相成長方法 |
| JPH10306377A (ja) * | 1997-05-02 | 1998-11-17 | Tokyo Electron Ltd | 微量ガス供給方法及びその装置 |
| US10214817B2 (en) * | 2013-10-16 | 2019-02-26 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Multi-metal films, alternating film multilayers, formation methods and deposition system |
| JP6409021B2 (ja) * | 2016-05-20 | 2018-10-17 | 日本エア・リキード株式会社 | 昇華ガス供給システムおよび昇華ガス供給方法 |
-
2021
- 2021-07-09 JP JP2021114451A patent/JP7675366B2/ja active Active
-
2022
- 2022-07-05 US US18/577,936 patent/US20240247372A1/en active Pending
- 2022-07-05 WO PCT/EP2022/068563 patent/WO2023280840A1/en not_active Ceased
- 2022-07-05 CN CN202280046370.1A patent/CN117769453A/zh active Pending
- 2022-07-05 KR KR1020247003806A patent/KR20240033242A/ko active Pending
- 2022-07-05 EP EP22744183.9A patent/EP4366851A1/en active Pending
- 2022-07-05 TW TW111125140A patent/TW202317260A/zh unknown
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003527481A (ja) | 2000-02-10 | 2003-09-16 | カール ツァイス シュティフトゥング | 蒸気圧の低い前駆体用のガス供給装置 |
| JP2015143383A (ja) | 2013-12-27 | 2015-08-06 | 株式会社日立国際電気 | 基板処理システム、半導体装置の製造方法および記録媒体 |
| JP2016186094A (ja) | 2015-03-27 | 2016-10-27 | 東京エレクトロン株式会社 | タングステン膜の成膜方法 |
| JP2020128566A (ja) | 2019-02-07 | 2020-08-27 | 株式会社高純度化学研究所 | 薄膜形成用金属ハロゲン化合物の固体気化供給システム。 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20240247372A1 (en) | 2024-07-25 |
| EP4366851A1 (en) | 2024-05-15 |
| CN117769453A (zh) | 2024-03-26 |
| JP2023010362A (ja) | 2023-01-20 |
| KR20240033242A (ko) | 2024-03-12 |
| TW202317260A (zh) | 2023-05-01 |
| WO2023280840A1 (en) | 2023-01-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6409021B2 (ja) | 昇華ガス供給システムおよび昇華ガス供給方法 | |
| US11819838B2 (en) | Precursor supply system and precursors supply method | |
| KR101103119B1 (ko) | 기화기를 포함하는 반도체 처리 시스템 및 그 사용 방법 | |
| US9725808B2 (en) | Raw material gas supply apparatus | |
| CN103688339B (zh) | 用于ald/cvd工艺的反应物输送系统 | |
| JP6565645B2 (ja) | 原料ガス供給装置、原料ガス供給方法及び記憶媒体 | |
| US10113235B2 (en) | Source gas supply unit, film forming apparatus and source gas supply method | |
| US9777377B2 (en) | Film forming method and film forming device | |
| CN101514446A (zh) | 多安瓿输送系统 | |
| JP2013076113A (ja) | ガス供給装置及び成膜装置 | |
| JP7675366B2 (ja) | 昇華ガス供給システムおよび昇華ガス供給方法 | |
| JP4356943B2 (ja) | 基板処理装置及び半導体装置の製造方法 | |
| JP2006086392A (ja) | 半導体製造装置及びそのメンテナンス方法 | |
| JP2013199673A (ja) | 酸化ルテニウム膜の成膜方法および酸化ルテニウム膜成膜用処理容器のクリーニング方法 | |
| WO2022004520A1 (ja) | 成膜方法及び成膜装置 | |
| EP4467683A1 (en) | Solid material remaining amount measurement method, sublimated gas supply method, and sublimated gas supply system | |
| US20250092520A1 (en) | Semiconductor manufacturing apparatus and process | |
| JP7299448B2 (ja) | 前駆体供給容器 | |
| JP4304354B2 (ja) | 半導体装置の処理方法 | |
| JP3892845B2 (ja) | 処理方法 | |
| JP2007109865A (ja) | 基板処理装置および半導体装置の製造方法 | |
| JP4149595B2 (ja) | 原料ガス供給装置 | |
| JP2000183048A (ja) | 化学的気相成長装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20240205 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20241023 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20241115 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20250114 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20250402 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20250415 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7675366 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |