JP7583178B2 - 電圧測定回路及び方法、回路基板及び制御モジュール - Google Patents
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Description
2 第1スイッチ回路
3 第2スイッチ回路
4 基準電圧源
5 高電圧測定モジュール
C1-Cn セル
V1-Vn 低電圧測定モジュール
S0-Sn 第1スイッチユニット
A0-An+1/A0-A2n-1 第2スイッチユニット
Claims (17)
- 電池が出力する電圧を測定することに用いられる電圧測定回路であって、前記電池は直列接続されるn個のセルを含み、nは1より大きい整数であり、
前記電圧測定回路は、前記n個のセルに一対一で対応して設置されるn個の低電圧測定モジュールと、第1スイッチ回路と、第2スイッチ回路と、基準電圧源と、制御モジュールと、を含み、前記基準電圧源は、事前設定基準電圧V REF を出力することに用いられ、
各前記低電圧測定モジュールの両端は、前記第1スイッチ回路を介して対応する前記セルの両端に接続され、各前記低電圧測定モジュールの両端は、さらに前記第2スイッチ回路を介して前記基準電圧源の両端に接続され、前記制御モジュールは、前記第1スイッチ回路及び前記第2スイッチ回路におけるスイッチユニットに接続され、前記制御モジュールは、さらに各前記低電圧測定モジュールに接続され、
前記制御モジュールは、前記スイッチユニットのオン又はオフを制御し、且つ各前記低電圧測定モジュールが測定した各前記セルの電圧を取得することに用いられ、
前記第2スイッチ回路は、2n個の第2スイッチユニットを含み、
前記n個の低電圧測定モジュールの両端は、いずれも第2スイッチユニットを介して前記基準電圧源の両端に接続される、電圧測定回路。 - 電池が出力する電圧を測定することに用いられる電圧測定回路であって、前記電池は直列接続されるn個のセルを含み、nは1より大きい整数であり、
前記電圧測定回路は、前記n個のセルに一対一で対応して設置されるn個の低電圧測定モジュールと、第1スイッチ回路と、第2スイッチ回路と、基準電圧源と、制御モジュールと、を含み、前記基準電圧源は、事前設定基準電圧V REF を出力することに用いられ、
各前記低電圧測定モジュールの両端は、前記第1スイッチ回路を介して対応する前記セルの両端に接続され、各前記低電圧測定モジュールの両端は、さらに前記第2スイッチ回路を介して前記基準電圧源の両端に接続され、前記制御モジュールは、前記第1スイッチ回路及び前記第2スイッチ回路におけるスイッチユニットに接続され、前記制御モジュールは、さらに各前記低電圧測定モジュールに接続され、
前記制御モジュールは、前記スイッチユニットのオン又はオフを制御し、且つ各前記低電圧測定モジュールが測定した各前記セルの電圧を取得することに用いられ、
前記第1スイッチ回路は、n+1個の第1スイッチユニットを含み、
前記n個の低電圧測定モジュールを直列接続して形成されたn-1個の接続ノード及び前記n個の低電圧測定モジュールを直列接続して形成された分岐回路の両端を第1接続可能ノードとし、前記n個のセルを直列接続して形成されたn-1個の接続ノード及び前記n個のセルを直列接続して形成された分岐回路の両端を第2接続可能ノードとし、各前記第1接続可能ノードは、それぞれ前記第1スイッチユニットを介して対応する前記第2接続可能ノードに接続される、電圧測定回路。 - 前記第2スイッチ回路は、n+2個の第2スイッチユニットを含み、
n個の前記第2スイッチユニットを直列接続して形成されたn-1個の接続ノード及びn個の前記第2スイッチユニットを直列接続して形成された分岐回路の両端を第3接続可能ノードとし、各前記第1接続可能ノードは、それぞれ前記第2スイッチユニットを介して対応する前記第3接続可能ノードに接続され、前記第2スイッチユニットを直列接続して形成された分岐回路の両端は、さらに前記第2スイッチユニットを介して前記基準電圧源の両端に接続される、請求項2に記載の電圧測定回路。 - 前記第2スイッチ回路は、2n個の第2スイッチユニットを含み、
前記n個の低電圧測定モジュールの両端は、いずれも第2スイッチユニットを介して前記基準電圧源の両端に接続される、請求項2に記載の電圧測定回路。 - 前記制御モジュールは、具体的に、前記第2スイッチ回路における各スイッチユニットを制御し、各前記低電圧測定モジュールと前記基準電圧源との接続がいずれもオフにされる状況で、前記第1スイッチ回路における各スイッチユニットを制御し、且つ各前記低電圧測定モジュールを介して対応するセルの電圧U1、U2、…、Unを測定することに用いられ、
前記制御モジュールは、さらに、前記第1スイッチ回路における各スイッチユニットを制御し、各前記低電圧測定モジュールと各前記セルとの接続がいずれもオフにされる状況で、前記第2スイッチ回路における各スイッチユニットを制御し、且つそれぞれ各前記低電圧測定モジュールを介して前記基準電圧源が出力する電圧V1、V2、…、Vnを測定することに用いられ、
前記制御モジュールは、さらにそれぞれV1、V2、…、Vnと前記事前設定基準電圧V REF との差の値を計算し、各前記低電圧測定モジュールの誤差σv1、σv2、…、σvnを得て、且つσv1、σv2、…、σvnに基づいてU1、U2、…、Unを較正し、U1’、U2’、…、Un’を得て、さらにU1’、U2’、…、Un’を積算して得られたUsumを、測定された前記電池が出力した電圧とすることに用いられる、請求項1~4のいずれか一項に記載の電圧測定回路。 - 高電圧測定モジュールをさらに含み、前記高電圧測定モジュールの両端は、前記電池の両端に接続され、前記制御モジュールは、さらに前記高電圧測定モジュールに接続され、
前記高電圧測定モジュールは、前記電池が出力した電圧を測定してVtotalを得ることに用いられ、
前記制御モジュールは、具体的に、|Vtotal-Usum|が前記高電圧測定モジュールの許容誤差より大きい場合、Usumを、測定された前記電池が出力した電圧とすることに用いられる、請求項5に記載の電圧測定回路。 - 前記制御モジュールは、さらに具体的に、|σvN|>σallowであり、且つσvN≧0である場合、公式Un’=Un-|σvN|に基づいてU1、U2、…、Unを較正し、|σvN|>σallowであり、且つσvN<0である場合、公式Un’=Un+|σvN|に基づいてU1、U2、…、Unを較正し、|σvN|≦σallowである場合、Un’=Unであることから、U1’、U2’、…、Un’を得ることに用いられ、
但し、σallow は各前記低電圧測定モジュールの設定許容誤差である、請求項6に記載の電圧測定回路。 - 前記σallow は、第1許容誤差と第2許容誤差のうち小さいほうの値であり、但し、前記第1許容誤差は各前記低電圧測定モジュールの最大許容誤差であり、前記第2許容誤差は|σvtotal|/Nであり、|σvtotal|は前記高電圧測定モジュールの最大許容誤差である、請求項7に記載の電圧測定回路。
- 前記制御モジュールは、さらに前記基準電圧源に接続され、前記制御モジュールは、さらに、前記事前設定基準電圧VREF=(V1+V2+…+Vn)/nを設定することに用いられる、請求項5~8のいずれか一項に記載の電圧測定回路。
- 請求項1~4のいずれか一項に記載の電圧測定回路における制御モジュールによる電圧測定方法であって、
第1スイッチ回路及び第2スイッチ回路におけるスイッチユニットのオン又はオフを制御し、且つ各低電圧測定モジュールが各セルを測定した電圧を取得するステップを含む、電圧測定方法。 - 第1スイッチ回路及び第2スイッチ回路におけるスイッチユニットのオン又はオフを制御し、且つ各低電圧測定モジュールが各セルを測定した電圧を取得するステップは、
前記第2スイッチ回路における各スイッチユニットを制御し、各前記低電圧測定モジュールと基準電圧源との接続がいずれもオフにされる状況で、前記第1スイッチ回路における各スイッチユニットを制御し、且つ各前記低電圧測定モジュールを介して対応するセルの電圧U1、U2、…、Unを測定するステップを含み、
さらに、
前記第1スイッチ回路における各スイッチユニットを制御し、各前記低電圧測定モジュールと各前記セルとの接続がいずれもオフにされる状況で、前記第2スイッチ回路における各スイッチユニットを制御し、且つそれぞれ各前記低電圧測定モジュールを介して前記基準電圧源が出力する電圧V1、V2、…、Vnを測定するステップと、
それぞれV1、V2、…、Vnと前記基準電圧源が出力した事前設定基準電圧との差の値を計算し、各前記低電圧測定モジュールの誤差σv1、σv2、…、σvnを得るステップと、
σv1、σv2、…、σvnに基づいてU1、U2、…、Unを較正し、U1’、U2’、…、Un’を得るステップと、
U1’、U2’、…、Un’を積算して得られたUsumを、測定された電池が出力した電圧とするステップと、を含む、請求項10に記載の電圧測定方法。 - 前記電圧測定回路は、高電圧測定モジュールをさらに含み、前記高電圧測定モジュールの両端は、前記電池の両端に接続され、前記制御モジュールは、さらに前記高電圧測定モジュールに接続され、前記高電圧測定モジュールは、前記電池が出力した電圧を測定してVtotalを得ることに用いられ、
前記U1’、U2’、…、Un’を積算して得られたUsumを、測定された電池が出力した電圧とするステップは、
|Vtotal-Usum|が前記高電圧測定モジュールの許容誤差よりも大きい場合、Usumを、測定された前記電池が出力する電圧とするステップを含む、請求項11に記載の電圧測定方法。 - σv1、σv2、…、σvnに基づいてU1、U2、…、Unを較正し、U1’、U2’、…、Un’を得る前記ステップは、
|σvN|>σallowであり、且つσvN≧0である場合、公式Un’=Un-|σvN|に基づいてU1、U2、…、Unを較正するステップと、
|σvN|>σallowであり、且つσvN<0である場合、公式Un’=Un+|σvN|に基づいてU1、U2、…、Unを較正するステップと、
|σvN|≦σallowである場合、Un’=Unであることから、U1’、U2’、…、Un’を得るステップと、を含み、
但し、σallow は各前記低電圧測定モジュールの設定許容誤差である、請求項12に記載の電圧測定方法。 - 前記σallow は、第1許容誤差と第2許容誤差のうち小さいほうの値であり、但し、前記第1許容誤差は各前記低電圧測定モジュールの最大許容誤差であり、前記第2許容誤差は|σvtotal|/Nであり、|σvtotal|は前記高電圧測定モジュールの最大許容誤差である、請求項13に記載の電圧測定方法。
- 前記制御モジュールは、さらに前記基準電圧源に接続され、前記制御モジュールは、さらに、前記事前設定基準電圧VREF=(V1+V2+…+Vn)/nを設定することに用いられる、請求項11~14のいずれか一項に記載の電圧測定方法。
- 請求項1~9のいずれか一項に記載の電圧測定回路を含む回路基板。
- 少なくとも1つのプロセッサと、前記少なくとも1つのプロセッサと通信接続されたメモリを含み、
前記メモリには前記少なくとも1つのプロセッサによって実行可能なコマンドが記憶され、前記コマンドは前記少なくとも1つのプロセッサによって実行され、それにより前記少なくとも1つのプロセッサは請求項10~15のいずれか一項に記載の電圧測定方法を実行することができる制御モジュール。
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