JP7484078B2 - 画像表示装置の製造方法および画像表示装置 - Google Patents
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Description
なお、図面は模式的または概念的なものであり、各部分の厚みと幅との関係、部分間の大きさの比率などは、必ずしも現実のものと同一とは限らない。また、同じ部分を表す場合であっても、図面により互いの寸法や比率が異なって表される場合もある。
なお、本願明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には、同一の符号を付して詳細な説明を適宜省略する。
図1は、実施形態に係る画像表示装置の一部を例示する模式的な断面図である。
図1には、本実施形態の画像表示装置のサブピクセル20の構成が模式的に示されている。画像表示装置に表示される画像を構成するピクセル10は、複数のサブピクセル20によって構成されている。
以下では、XYZの3次元座標系を用いて説明することがある。サブピクセル20は、2次元平面上に配列されている。サブピクセル20が配列された2次元平面をXY平面とする。サブピクセル20は、X軸方向およびY軸方向に沿って配列されている。
図1に示すように、画像表示装置のサブピクセル20は、トランジスタ103と、第1の配線層(第1配線層)110と、第1の層間絶縁膜(第1絶縁膜)112と、プラグ116kと、発光素子150と、第2の層間絶縁膜(第2絶縁膜)156と、第2の配線層(第2配線層)160と、を備える。サブピクセル20は、カラーフィルタ180をさらに備える。カラーフィルタ(波長変換部材)180は、表面樹脂層170上に、透明薄膜接着層188を介して設けられている。表面樹脂層170は、発光素子150、層間絶縁膜156および配線層160上に設けられている。
図2に示すように、この変形例のサブピクセル20aでは、接続部115kを介さずに、プラグ116kを配線110dに接続する。
発光素子150は、遮光プレート130aを介して、プラグ116k上に設けられている。遮光プレート130aについては後述する。発光素子150は、n形半導体層(第1半導体層)151と、発光層152と、p形半導体層(第2半導体層)153と、を含む。n形半導体層151、発光層152およびp形半導体層153は、層間絶縁膜112からZ軸の正方向に向かってこの順に積層されている。つまり、発光素子150の各層は、層間絶縁膜112から発光面153Sに向かって積層されている。n形半導体層151は、プラグ116kに電気的に接続されている。
サブピクセルの構成の変形例について説明する。
図3Aおよび図3Bは、本実施形態の画像表示装置の変形例の一部をそれぞれ例示する模式的な断面図である。
図3A以降のサブピクセルの断面図では、煩雑さを避けるため、表面樹脂層170およびカラーフィルタ180の表示が省略されている。特に記載のない場合には、第2の層間絶縁膜および第3の配線層上には、表面樹脂層170およびカラーフィルタ180が設けられる。後述の他の実施形態およびその変形例の場合についても同様である。
図3Aに示すように、サブピクセル20bは、配線160a1を含む。配線160a1は、第2の配線層160に含まれる配線として形成されている。本変形例では、p形半導体層153との電気的接続は、配線160a1の一端を発光面153Sの一部に接続することにより行われる。本変形例では、透明電極を含む透明導電膜を形成する工程を省略することができる。
図4に示すように、本実施形態の画像表示装置1は、表示領域2を備える。表示領域2には、サブピクセル20が配列されている。サブピクセル20は、たとえば格子状に配列されている。たとえば、サブピクセル20は、X軸に沿ってn個配列され、Y軸に沿ってm個配列される。
図5A~図11Bは、本実施形態の画像表示装置の製造方法を例示する模式的な断面図である。
図5Aに示すように、半導体成長基板1194が準備される。半導体成長基板1194は、結晶成長用基板(第1基板)1001上に成長させた半導体層1150を有する。結晶成長用基板1001は、たとえばSi基板やサファイア基板等である。好ましくは、Si基板が用いられる。
図7Aに示すように、結晶成長用基板1001は、除去される。結晶成長用基板1001の除去には、たとえばレーザリフトオフやウェットエッチングが用いられる。回路基板1100は、ウェハボンディングによってメタル層1130を介して半導体層1150に接合される。
図8A~図9Cには、回路基板1100にプラグ116kを形成する工程を説明するための断面図が示されている。
図8Aに示すように、回路基板1100が準備され、回路基板1100では、回路基板1100の絶縁膜108および第1の配線層110上を覆う層間絶縁膜1112が形成される。
図10Aおよび図10Bは、変形例のサブピクセル20bに対応する製造工程を表している。図11Aおよび図11Bは、変形例のサブピクセル20cに対応する製造工程を表している。図10A~図11Bは、図7Bの工程の後に実行されて、サブピクセル20b,20cを形成する工程がそれぞれ示されている。
図12に示すように、複数の半導体成長基板1194を準備して、1つの回路基板1100に、複数の結晶成長用基板1001に形成された半導体層1150を接合するようにしてもよい。
なお、図13では、煩雑さを避けるために、回路基板100内や層間絶縁膜112,156内等の配線等については、表示が省略されている。また、図13には、カラーフィルタ180等の色変換部材の一部が表示されている。ここでは、プラグ116k、接続部115k、発光素子150、配線層130、160、層間絶縁膜156および表面樹脂層170を含む構造物を発光回路部172と呼ぶ。また、回路基板100上に発光回路部172を設けた構造物を構造体1192と呼ぶ。
図14A~図14Dには、カラーフィルタをインクジェットで形成する方法が示されている。
本実施形態の画像表示装置1の製造方法では、発光素子150を駆動するトランジスタ103等の回路素子を含む回路基板1100(100)に、発光素子150のための発光層1152を含む半導体層1150を貼り合わせる。その後、半導体層1150をエッチングして発光素子150を形成する。そのため、回路基板1100(100)に個片化された発光素子を個々に転写するのに比べて、発光素子を転写する工程を著しく短縮することができる。
図15は、本実施形態に係る画像表示装置の一部を例示する模式的な断面図である。
図15は、サブピクセル220をXZ平面に平行な面で切断した場合の断面を模式的に示している。
本実施形態では、発光素子250の構成および発光素子250を駆動するトランジスタ203の構成が上述の他の実施形態の場合と相違する。上述の他の実施形態の場合と同一の構成要素には、同一の符号を付して詳細な説明を適宜省略する。
図16に示すように、本実施形態の画像表示装置201は、表示領域2、行選択回路205および信号電圧出力回路207を備える。表示領域2には、上述の他の実施形態の場合と同様に、たとえばサブピクセル220が格子状に配列されている。
図17A~図18Cは、本実施形態の画像表示装置の製造方法を例示する模式的な断面図である。
図17Aに示すように、本実施形態では、図5Aにおいてすでに説明した半導体成長基板1194とは異なる半導体成長基板1294が準備される。半導体成長基板1294は、結晶成長用基板1001上に成長させた半導体層1150を有する。半導体層1150は、この例では、バッファ層1140を介して成長されている。
本実施形態では、上述の他の実施形態の場合と同様の効果を有する。すなわち、回路基板1100に半導体層1150を貼り合わせた後、個別の発光素子250をエッチングにより形成するので、発光素子の転写工程を著しく短縮することができる。
上述した他の実施形態では、第2の層間絶縁膜156上に形成された配線層160,260によって、発光素子の発光面の側と電源線や接地線等とを電気的に接続する。本実施形態では、発光素子と回路素子との間に形成された配線層330によって、発光素子の発光面の側と電源線や接地線等とを電気的に接続する。
図19は、サブピクセル320をXZ平面に平行な面で切断した場合の断面を模式的に示している。
本実施形態では、発光素子250の構成は、第2の実施形態の場合と同じである。すなわち、発光素子250は、下層のp形半導体層253、発光層252および発光面251Sを有するn形半導体層251を有する。発光素子250の駆動用のトランジスタ203は、pチャネルトランジスタである。上述の他の実施形態と同一の構成要素には、同一の符号を付して、詳細な説明を適宜省略する。
図20A~図21Bは、本実施形態の画像表示装置の製造方法を例示する模式的な断面図である。
図20Aに示すように、結晶成長用基板1001に半導体層1150を成長させて半導体成長基板1294を準備する。本実施形態では、半導体成長基板1294は、結晶成長用基板1001にバッファ層1140を介して、結晶成長用基板1001の側からn形半導体層1151、発光層1152およびp形半導体層1153の順に成長させて形成される。
本実施形態の画像表示装置は、上述した他の実施形態の場合と同様の効果を奏し、さらに以下の効果を有する。
本実施形態の画像表示装置のサブピクセル320は、発光面251S側の電気的接続を透明電極で行い、発光面251Sに対向する面の側の電気的接続を配線層330、プラグ116a1および接続部115aで行う。そのため、発光面251S側の配線をすべて透明電極とすることができ、発光素子250の発光効率を向上させることができると同時に、配線プロセスコストの低減も可能である。
本実施形態では、プラグの構成が上述の他の実施形態の場合と相違している。本実施形態のプラグでは、第3の実施形態の場合の第3の配線層330およびプラグ116a1に相当する部分が一体で形成されている。他の構成要素は、第3の実施形態の場合と同じであり、同一の構成要素に同一の符号を付して詳細な説明を適宜省略する。
図22に示すように、本実施形態の画像表示装置のサブピクセル420は、配線層と、接続部115aと、を含む。配線層430は、プラグ430aを含む。この例では、接続部115aは、プラグ430aと配線110dとの間に設けられている。プラグ430aは、接続部115aを介して配線110dに接続されている。プラグ430a上には、発光素子250が設けられ、プラグ430aおよびp形半導体層253は、電気的に接続されている。
図23は、本変形例の画像表示装置の一部を例示する模式的な断面図である。
上述したサブピクセル420では、発光素子250の下層に形成されているp形半導体層253が、プラグ430aおよび接続部115aを介して、pチャネルのトランジスタ203に接続されている。この変形例では、開口262を介して露出された配線430kは、接続部を介して、nチャネルのトランジスタ103に接続される。発光面251Sは開口262から露出されたプラグ430aに接続される。このサブピクセル420aの構成は、上述した第3の実施形態のサブピクセル320の変形例としても適用することができる。
図24A~図25Bは、本実施形態の画像表示装置の製造方法を例示する模式的な断面図である。
メタル層1130が形成された半導体成長基板1294は、図17Aにおいて上述したものと同じものが準備される。
本実施形態の画像表示装置では、上述の他の実施形態における効果に加えて、以下の効果を奏する。すなわち、サブピクセル420,420aの形成工程において、半導体層1150と回路基板1100とを接合する前に、回路基板にメタル層を形成して研磨するので、平坦化膜を形成する工程を省略することができる。
本実施形態では、発光層を含む単一の半導体層に、複数の発光素子に相当する複数の発光面を形成することによって、より発光効率の高い画像表示装置を実現する。以下の説明では、上述の他の実施形態の場合と同一の構成要素には、同一の符号を付して詳細な説明を適宜省略する。
図26は、本実施形態に係る画像表示装置の一部を例示する模式的な断面図である。
図26に示すように、画像表示装置は、サブピクセル群520を備える。サブピクセル群520は、トランジスタ203-1,203-2と、第1の配線層510と、第1の層間絶縁膜112と、プラグ516a1,516a2と、半導体層550と、第2の層間絶縁膜556と、第2の配線層560と、を含む。
図27A~図28Bは、本実施形態の画像表示装置の製造方法を例示する模式的な断面図である。
図27Aに示すように、半導体層1150がエピタキシャル成長された結晶成長用基板1001を含む半導体成長基板1294は、準備された回路基板5100にプラグ516a1,516a2および接続部515a1,515a2が形成され、ウェハボンディングによって互いに接合される。
図29は、本実施形態の変形例に係る画像表示装置の一部を例示する模式的な断面図である。
本変形例では、発光層552上に2つのn形半導体層5551a1,5551a2を設けた点で上述の第5の実施形態の場合と異なっている。他の点では、第5の実施形態の場合と同じであり、同一の構成要素に同一の符号を付して詳細な説明を適宜省略する。
本変形例では、半導体層1150に、プラグ516a1,516a2および接続部515a1,515a2が形成された回路基板5100を接合するまでは、第5の実施形態の場合の図27Aおよび図27Bにおいて説明した工程と同様の工程が適用される。以下では、それ以降の工程について説明する。
図31は、画素LED素子の特性を例示するグラフである。
図31の縦軸は、発光効率[%]を表している。横軸は、画素LED素子に流す電流の電流密度を相対値によって表している。
図31に示すように、電流密度の相対値が1.0より小さい領域では、画素LED素子の発光効率は、ほぼ一定か、単調に増加する。電流密度の相対値が1.0よりも大きい領域では、発光効率は単調に減少する。つまり、画素LED素子には、発光効率が最大になるような適切な電流密度が存在する。
上述した画像表示装置は、適切なピクセル数を有する画像表示モジュールとして、たとえばコンピュータ用ディスプレイ、テレビ、スマートフォンのような携帯用端末、あるいは、カーナビゲーション等とすることができる。
図32には、コンピュータ用ディスプレイの構成の主要な部分が示されている。
図32に示すように、画像表示装置601は、画像表示モジュール602を備える。画像表示モジュール602は、たとえば上述した第1の実施形態の場合の構成を備えた画像表示装置である。画像表示モジュール602は、サブピクセル20が配列された表示領域2、行選択回路5および信号電圧出力回路7を含む。
図33は、本変形例の画像表示装置を例示するブロック図である。
図33には、高精細薄型テレビの構成が示されている。
図33に示すように、画像表示装置701は、画像表示モジュール702を備える。画像表示モジュール702は、たとえば上述した第1の実施形態の場合の構成を備えた画像表示装置1である。画像表示装置701は、コントローラ770およびフレームメモリ780を備える。コントローラ770は、バス740によって供給される制御信号にもとづいて、表示領域2の各サブピクセルの駆動順序を制御する。フレームメモリ780は、1フレーム分の表示データを格納し、円滑な動画再生等の処理のために用いられる。
図34に示すように、第1~第5の実施形態の画像表示装置は、上述したように、回路基板100上に、多数のサブピクセルを有する発光回路172が設けられている。発光回路部172上には、カラーフィルタ180が設けられている。なお、第6の実施形態においては、回路基板100、発光回路部172およびカラーフィルタ180を含む構造物は、画像表示モジュール602,702とされ、画像表示装置601,701に組み込まれている。
Claims (21)
- 発光層を含む半導体層を第1基板上に有する基板を準備する工程と、
回路素子および第1の配線層を含む回路が形成された第2基板上に第1の絶縁膜を形成する工程と、
前記第1の絶縁膜内で前記回路素子と接続されたプラグを形成する工程と、
前記半導体層を前記第2基板に貼り合わせ、前記プラグを前記半導体層に電気的に接続する工程と、
前記半導体層を加工して前記プラグに電気的に接続された発光素子を形成する工程と、
前記発光素子および前記第1の絶縁膜を覆う第2の絶縁膜を形成する工程と、
前記第2の絶縁膜の一部を除去して前記発光素子の一部を露出させる工程と、
前記第2の絶縁膜上に第2の配線層を形成する工程と、
を備えた画像表示装置の製造方法。 - 前記半導体層は、前記第1基板の側から、第1導電形の第1半導体層、前記発光層および前記第1導電形とは異なる第2導電形の第2半導体層の順に積層され、
前記第1導電形は、n形であり、
前記第2導電形は、p形である請求項1記載の画像表示装置の製造方法。 - 前記半導体層を前記第2基板に貼り合わせる前に前記半導体層にメタル層を形成する工程をさらに備えた請求項1または2に記載の画像表示装置の製造方法。
- 前記プラグを形成する工程は、前記半導体層を前記第2基板に貼り合わせる前に、前記回路素子に電気的に接続された第1メタル層を形成して前記第1メタル層を平坦化し、前記第1メタル層を加工して前記プラグを形成する工程を含む請求項1または2に記載の画像表示装置の製造方法。
- 前記プラグを形成する工程は、前記半導体層を前記第2基板に貼り合わせる前に、前記第1の絶縁膜および前記プラグを一括して平坦化する工程を含む請求項1または2に記載の画像表示装置の製造方法。
- 前記半導体層を前記第2基板に貼り合わせた後に前記メタル層を加工して第3の配線層を形成する工程をさらに備えた請求項3~5のいずれか1つに記載の画像表示装置の製造方法。
- 前記第2の絶縁膜の一部を除去して前記第2の配線層を露出させる工程
をさらに備えた請求項6記載の画像表示装置の製造方法。 - 前記第2の配線層は、前記発光素子の露出面に接続された配線を含む請求項1~7のいずれか1つに記載の画像表示装置の製造方法。
- 前記第1基板は、シリコンまたはサファイアを含む請求項1~8のいずれか1つに記載の画像表示装置の製造方法。
- 前記半導体層は、窒化ガリウム系化合物半導体を含み、
前記第2基板は、シリコンを含む請求項1~9のいずれか1つに記載の画像表示装置の製造方法。 - 前記発光素子上に波長変換部材を形成する工程をさらに備えた請求項1~10のいずれか1つに記載の画像表示装置の製造方法。
- 回路素子と、
前記回路素子に電気的に接続された第1配線層と、
前記回路素子および前記第1配線層を覆う第1絶縁膜と、
前記第1絶縁膜上に形成され、前記第1配線層に接続されたプラグと、
前記プラグ上に設けられ、前記プラグに接続された第1導電形の第1半導体層と、前記第1半導体層上に設けられた発光層と、前記発光層上に設けられ、前記第1導電形と異なる第2導電形の第2半導体層を含む発光素子と、
前記発光素子の少なくとも一部、前記プラグおよび前記第1絶縁膜を覆う第2絶縁膜と、
前記発光素子に接続され、前記第2絶縁膜上に設けられた第2配線層と、
を備えた画像表示装置。 - 前記プラグと前記第1半導体層との間に設けられた第3配線層をさらに備えた請求項12記載の画像表示装置。
- 前記第2絶縁膜は、前記発光素子の前記第1絶縁膜の側の面に対向する発光面を露出させる第1開口と、前記第3配線層の一部を露出させる第2開口と、を有し、
前記第2配線層は、第3配線層と前記発光面とを接続する透明電極を含む請求項13記載の画像表示装置。 - 前記第2絶縁膜は、前記発光素子の前記第1絶縁膜の側の面に対向する発光面を露出させる開口を有し、
第2配線層と前記発光面とを接続する透明電極をさらに備え、
前記開口から露出された露出面は、粗面を含む請求項12記載の画像表示装置。 - 回路素子と、
前記回路素子に電気的に接続された第1配線層と、
前記回路素子および前記第1配線層を覆う第1絶縁膜と、
前記第1絶縁膜上に形成されたプラグと、
前記プラグ上に設けられ、前記プラグに接続された第1導電形の第1半導体層と、前記第1半導体層上に設けられた発光層と、前記発光層上に設けられ、前記第1導電形と異なる第2導電形の第2半導体層を含む発光素子と、
前記発光素子の少なくとも一部、前記プラグおよび前記第1絶縁膜を覆う第2絶縁膜と、
前記発光素子に接続され、前記第2絶縁膜上に設けられた第2配線層と、
前記第1絶縁膜上に設けられ、前記第1配線層を介して前記回路素子に接続された第3配線層と、
を備え、
前記第2絶縁膜は、前記発光素子の前記第2半導体層の面を露出させた第1開口と、前記第3配線層の一部を露出させた第2開口と、を有し、
第2配線層は、前記第2半導体層であって前記発光素子の前記第1絶縁膜の側の面に対向する発光面と前記第3配線層とを接続する透明電極を含む画像表示装置。 - 前記第1導電形は、p形であり、
前記第2導電形は、n形である請求項12~16のいずれか1つに記載の画像表示装置。 - 前記発光素子は、窒化ガリウム系化合物半導体を含み、
前記回路素子は、基板に形成され、前記基板は、シリコンを含む請求項12~17のいずれか1つに記載の画像表示装置。 - 前記発光素子上に波長変換部材をさらに備えた請求項12~18のいずれか1つに記載の画像表示装置。
- 複数のトランジスタと、
前記複数のトランジスタに電気的に接続された第1配線層と、
前記複数のトランジスタおよび前記第1配線層を覆う第1絶縁膜と、
前記第1絶縁膜上に形成され、前記第1配線層に接続された複数のプラグと、
前記プラグ上に設けられた第1導電形の第1半導体層と、
前記第1半導体層上に設けられた発光層と、
前記発光層上に設けられ、前記第1導電形とは異なる第2導電形の第2半導体層と、
前記第1絶縁膜、前記プラグ、前記第1半導体層および前記発光層を覆うとともに前記第2半導体層の少なくとも一部を覆う第2絶縁膜と、
前記複数のトランジスタに応じて前記第2絶縁膜からそれぞれ露出された、前記第2半導体層の複数の露出面上に配設された透明電極に接続された第2配線層と、
を備えた画像表示装置。 - 前記第2半導体層は、前記第2絶縁膜によって分離された請求項20記載の画像表示装置。
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