JP7468148B2 - ビーム偏向システム - Google Patents

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Description

本発明は、特定の走査範囲への走査の集中を実現できるビーム偏向システムに関するものである。
従来、ビーム偏向システムとして、特許文献1に示す光偏向デバイスが提案されている。この光偏向デバイスは、複数の波長可変のレーザ光源を用いて複数の走査範囲を同時に走査できる構成とされている。波長可変レーザ光源の波長可変範囲の制約により、1つのレーザビームで広い走査範囲をカバーすることができないため、この光偏向デバイスでは、複数のレーザ光源を設けることで分担して全走査範囲をカバーしている。具体的には、異なる波長の複数のレーザ光源から出力されるレーザビームをビーム偏光器に導入し、各波長に対応する出射角で放射する出射器を構成することで、複数の走査範囲が同時に走査可能となっている。
国際特許公開第2018/003852号明細書
複数のレーザ光源を使って複数の走査範囲を同時に走査する場合に、走査範囲をROI(Region Of Interest)に絞り、ROIを複数のビームを使って集中的に走査できれば、ROIを通常より高い角度分解能、つまり密度で走査することができる。
しかしながら、各レーザ光源が受け持つことができる波長範囲が限られているため、特定の走査範囲にレーザビームを集中させたい場合に、そのようなビーム制御を行うことができない。
本発明は上記点に鑑みて、複数のレーザ光源で広い走査範囲をカバーしているビーム偏向システムにおいて、レーザ光源数を制限しつつ、特定の走査範囲にレーザビームを集中させるビーム制御を実現できるようにすることを目的とする。
上記目的を達成するため、請求項1に記載のビーム偏向システムは、波長の変化によってレーザビームを偏向させるビーム偏向器(50)と、2つの異なる中心波長の切り替えが可能な複数のレーザ光源(10)と、複数のレーザ光源から出射されるレーザ光を合波させ、ビーム偏向器へ入力する波長合波器(30)と、を有した構成とされる。そして、複数のレーザ光源は、2つの異なる中心波長の切り替えが可能なレーザ光源をM種備えていると共に、M種それぞれのレーザ光源を2組ずつ備えており、波長合波器は、2組のM種のレーザ光源から出射されるレーザ光を合波させてビーム偏向器へ入力し、2組のM種のレーザ光源のN番目(1≦N≦M) のレーザ光源の中心波長をλNとλN+Mとしたとき、次式を満たすようにする。
(数1)
λ1<λ2<・・・<λN<・・・<λM<・・・<λN+M<・・・<λ2M
このような構成のビーム偏向システムによれば、通常走査時には、複数のレーザ光源それぞれを中心波長λ1~λ2Mとしてレーザ光を出射させることで、連続する複数の走査範囲に同時にレーザビームを照射できる。また、特定の走査範囲にレーザビームを集中させるビーム制御を行う際には、各組のM種のレーザ光源の対応するもの同士を同じ中心波長でレーザ発振させる。これにより、2組のM種のレーザ光源しか備えなくても、レーザ光源のうちの複数を用いて同じ走査範囲に同時にレーザビームを照射できる。
よって、複数のレーザ光源で広い走査範囲をカバーしているビーム偏向システムにおいて、レーザ光源の数を制限しつつ、特定の走査範囲にレーザビームを集中させるビーム制御を実現することが可能となる。
なお、各構成要素等に付された括弧付きの参照符号は、その構成要素等と後述する実施形態に記載の具体的な構成要素等との対応関係の一例を示すものである。
第1実施形態にかかるビーム偏向システムの概略構成を示した図である。 比較例である従来のビーム偏向システムの概略構成を示した図である。 比較例のビーム偏向システムに備えられる第1~第4レーザ光源の波長に対する利得媒体のゲインと波長可変範囲を示した図である。 比較例のビーム偏向システムに備えられる第1~第4レーザ光源の中心波長に対する光出力と波長可変範囲を示した図である。 比較例のビーム偏向システムの走査割当および走査範囲を示した図表である。 第1実施形態のビーム偏向システムに備えられる第1~第4レーザ光源の波長に対する利得媒体のゲインと波長可変範囲を示した図である。 第1実施形態のビーム偏向システムに備えられる第1~第4レーザ光源の中心波長に対する光出力と波長可変範囲を示した図である。 第1実施形態のビーム偏向システムの通常走査時の走査割当および走査範囲を示した図表である。 第1実施形態のビーム偏向システムの走査範囲(1)、(2)への集中走査時の走査割当および走査範囲を示した図表である。 第1実施形態のビーム偏向システムの走査範囲(3)、(4)への集中走査時の走査割当および走査範囲を示した図表である。 第1実施形態のビーム偏向システムの走査範囲(2)、(3)への集中走査時の走査割当および走査範囲を示した図表である。 第2実施形態にかかるビーム偏向システムの概略構成を示した図である。 第2実施形態のビーム偏向システムに備えられる第1~第6レーザ光源の波長に対する利得媒体のゲインと波長可変範囲を示した図である。 第2実施形態のビーム偏向システムに備えられる第1~第6レーザ光源の中心波長に対する光出力と波長可変範囲を示した図である。 第2実施形態のビーム偏向システムの通常走査時の走査割当および走査範囲を示した図表である。 第2実施形態のビーム偏向システムの走査範囲(1)~(3)への集中走査時の走査割当および走査範囲を示した図表である。 第2実施形態のビーム偏向システムの走査範囲(4)~(6)への集中走査時の走査割当および走査範囲を示した図表である。 第2実施形態のビーム偏向システムの走査範囲(2)~(4)への集中走査時の走査割当および走査範囲を示した図表である。 第2実施形態のビーム偏向システムの走査範囲(3)~(5)への集中走査時の走査割当および走査範囲を示した図表である。 外部レーザ共振器によって構成される1つのレーザ光源の概略構成を示した図である。 第1リング共振器の断面構造を示した図である。 SOAの断面構造を示した図である。 第1~第6レーザ光源の中心波長と波長可変下限および上限を示した図表である。
以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各実施形態相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、同一符号を付して説明を行う。
(第1実施形態)
第1実施形態にかかるビーム偏向システムについて説明する。このビーム偏向システムは、例えばレーザレーダやLiDAR(Light Detection And Ranging)などに適用される。
図1に示すように、ビーム偏向システムは、レーザ光源10、導波路20、波長合波器30、導波路40およびビーム偏向器50を有した構成とされている。
レーザ光源10は、例えば半導体レーザによって構成されており、本実施形態では、第1~第4レーザ光源11~14を有した構成とされている。このレーザ光源10の詳細については、後述する。
導波路20は、レーザ光源10と波長合波器30とを繋ぎ、レーザ光源10から出力されたレーザ光を波長合波器30に伝搬する光導波路としての役割を果たす。本実施形態の場合、導波路20として、第1~第4レーザ光源11~14それぞれと波長合波器30との間とを繋ぐ第1~第4導波路21~24が備えられ、第1~第4レーザ光源11~14から出力されたレーザ光を波長合波器30に伝搬する。
波長合波器30は、導波路20を通じて伝搬された第1~第4レーザ光源11~14からのレーザ光を合波し、合波したレーザ光を導波路40に出力する。
導波路40は、波長合波器30から出力された合波後のレーザ光をビーム偏向器50に伝搬する光導波路としての役割を果たす。
ビーム偏向器50は、例えばグレーティングカプラなどによって構成され、導波路40から伝搬された合波後のレーザ光の波長に応じた走査範囲のレーザビームとして出射させるものである。このビーム偏向器50から複数の波長のレーザビームが同時に出射されることで、複数の走査範囲にレーザビームを同時に出射させられるようになっている。
続いて、レーザ光源10の詳細について、従来用いられているレーザ光源との違いを示しつつ説明する。
本実施形態では、レーザ光源10は、第1、第2レーザ光源11、12を1つの組(以下、第1組という)、第3、第4レーザ光源の13、14をもう1つの組(以下、第2組という)として、2つの組を構成している。
第1組と第2組は、同数のレーザ光源10を有した構成とされ、同じ組に含まれるレーザ光源10は異なる種類の半導体レーザとされ、異なる波長のレーザ光が生成可能となっている。また、第1組を構成するレーザ光源10と第2組を構成するレーザ光源10は、それぞれ対となって、対となるレーザ光源10同士が同じ種類の半導体レーザで構成されている。
具体的には、第1レーザ光源11と第3レーザ光源13を同じ半導体レーザで構成しており、第2レーザ光源12と第4レーザ光源14を同じ半導体レーザで構成している。そして、第1レーザ光源11と第3レーザ光源13については、励起準位の波長を中心波長λ1とする場合と基底準位の波長を中心波長λ3とする場合という異なる中心波長でのレーザ発振の切替えが可能とされている。なお、励起準位の波長とは、励起準位によるゲインのピーク波長のことを指し、基底準位の波長とは、基底準位によるゲインのピーク波長のことを指す。 また、必ずしも中心波長とゲインのピーク波長を一致させる必要はない。同様に、第2レーザ光源12と第4レーザ光源14については、励起準位の波長を中心波長λ2とする場合と基底準位の波長を中心波長λ4とする場合という異なる中心波長でのレーザ発振の切替えが可能とされている。中心波長λ1~λ4は、λ1<λ2<λ3<λ4の関係になっている。このため、一方の対となるレーザ光源10、つまり第1、第3レーザ光源11、13の励起準位と基底準位との間に、もう一方の対となるレーザ光源10、つまり第2、第4レーザ光源12、14の励起準位もしくは基底準位が来る構成となる。
従来では、図2に示すように、本実施形態のような第1~第4レーザ光源J11~J14を備える場合、各レーザ光源J10はそれぞれ1つの中心波長λ1~λ4でレーザ発振させるものとして用いられる。例えば、図3に示すように、第1~第4レーザ光源J11~J14の利得媒体のゲイン、つまりレーザ発振していない状態においてレーザ光源10の材料によって決まるゲインのピークとなる中心波長を異ならせている。図3に示す例の場合、基底準位における第1レーザ光源J11の中心波長がλ1、第2レーザ光源J12の中心波長がλ2、第3レーザ光源J13の中心波長がλ3、第4レーザ光源J14の中心波長がλ4となるようにしている。この場合、利得媒体のゲインが所定ゲイン以上となる波長域が波長可変範囲となる。そして、レーザ発振させた場合の光出力は図4のように表され、各レーザ光源について中心波長に対して所定の波長可変範囲内において波長を変化させてもレーザ発振によって所望の光出力を得ることができる。
具体的には、図2に示すように、第1~第4レーザ光源J11~J14の出力する中心波長λ1~λ4のレーザ光が第1~第4導波路J21~J24を介して波長合波器J30に伝搬され、波長合波器J30で合波される。そして、波長合波器J30で合波された光が導波路J40を介してビーム偏向器J50に伝搬され、ビーム偏向器J50を通じてレーザビームとして出射される。これにより、各レーザ光源J11~J14から出射されたレーザビームを異なる走査範囲としてビーム偏向器J50から出射できる。具体的には、第1レーザ光源J11が出射するレーザ光は波長λ1を中心とした走査範囲(1)のレーザビームとなる。第2レーザ光源J12が出射するレーザ光は波長λ2を中心とした走査範囲(2)のレーザビームとなる。第3レーザ光源J13が出射するレーザ光は波長λ3を中心とした走査範囲(3)のレーザビームとなる。第4レーザ光源J14が出射するレーザ光は波長λ4を中心とした走査範囲(4)のレーザビームとなる。
なお、図2、図3および図4中に示したΔλ1~Δλ4は、各レーザ光源J11~J14での波長シフト量であり、波長可変範囲内において中心波長λ1~λ4からシフトさせられた量を示している。波長シフト量Δλ1~Δλ4とした場合のレーザ光は、中心波長λ1~λ4としてレーザ光を出射した場合に対して、その波長シフト量Δλ1~Δλ4に応じた角度シフト量で出射される。この角度シフト量をΔθ1~Δθ4とすると、波長シフト量Δλ1~Δλ4を波長可変範囲の下限値から上限値となるときに、角度シフト量Δθ1~Δθ4が所望の走査範囲と対応する値となるようにしている。つまり、複数のレーザ光源J11~J14それぞれの波長可変範囲が連続するように各レーザ光源J11~J14の材料などが調整される・これにより、走査範囲(1)~(4)が連続した範囲となる。したがって、図5に示すように、各レーザ光源J11~J14それぞれで走査割り当てし、各レーザ光源J11~J14から同時にレーザ光を出射することで、複数の走査範囲(1)~(4)のレーザビームを同時に走査することが可能になる。
しかしながら、このような形態の場合、各レーザ光源J11~J14は、それぞれの走査範囲(1)~(4)にしかレーザビームを出射することができず、ROIを複数のビームを使って集中的に走査することができない。
そこで、本実施形態では、第1~第4レーザ光源11~14で2つの組を構成している。また、第1組を構成するレーザ光源10と第2組を構成するレーザ光源10は、それぞれ対となって、対となるレーザ光源10同士が同じ種類の半導体レーザで構成されるようにしている。そして、第1~第4レーザ光源11~14を、それぞれ励起準位の波長を中心波長とする場合と基底準位の波長を中心波長とする場合の2つの異なる中心波長でのレーザ発振の切り替えが可能なものとしている。
具体的には、図6に示すように、第1レーザ光源11と第3レーザ光源13については同じ半導体レーザで構成し、各レーザ光源11、13の利得媒体のゲインの波長依存性が極大値を2つ持つようにしている。つまり、励起準位の波長と基底準位の波長においてピークを持つようにしている。そして、励起準位の波長を第1レーザ光源11の波長可変範囲の中心波長λ1とし、基底準位の波長を第3レーザ光源13の波長可変範囲の中心波長λ3としている。
同様に、第2レーザ光源12と第4レーザ光源14については同じ半導体レーザで構成し、各レーザ光源12、14の利得媒体のゲインの波長依存性が極大値を2つ持つようにしている。つまり、励起準位の波長と基底準位の波長においてピークを持つようにしている。そして、励起準位の波長を第2レーザ光源12の波長可変範囲の中心波長λ2とし、基底準位の波長を第4レーザ光源14の波長可変範囲の中心波長λ4としている。
これらの場合、レーザ発振させた場合の光出力は図7のように表され、各中心波長λ1~λ4を中心とした所定の波長可変範囲内において波長を変化させてもレーザ発振によって所望の光出力を得ることができる。このため、第1レーザ光源11と第3レーザ光源13を同じ半導体レーザによって構成し、第2レーザ光源12と第4レーザ光源14を同じ半導体レーザによって構成しても、中心波長λ1~λ4において所望の光出力を得ることが可能となる。
このため、図1に示すように、第1~第4レーザ光源11~14それぞれを中心波長λ1~λ4としてレーザ光を出射させることで、連続する複数の走査範囲(1)~(4)に同時にレーザビームを照射できる。したがって、連続する複数の走査範囲(1)~(4)を同時に走査できる。
一方、第1レーザ光源11と第3レーザ光源13を同じ半導体レーザによって構成し、第2レーザ光源12と第4レーザ光源14を同じ半導体レーザによって構成しているため、それぞれを同じ中心波長としてレーザ光を出射させることもできる。例えば、第1レーザ光源11と第3レーザ光源13を共に中心波長λ1としてレーザ光を出射させる。このようにすれば、第1レーザ光源11と第3レーザ光源13の両方から出射したレーザ光に基づくレーザビームを走査範囲(1)に集中させることが可能となる。
同様に、第1レーザ光源11と第3レーザ光源13を共に中心波長λ3としてレーザ光を出射させれば、第1レーザ光源11と第3レーザ光源13の両方から出射したレーザ光に基づくレーザビームを走査範囲(3)に集中させることが可能となる。また、第2レーザ光源12と第4レーザ光源14を共に中心波長λ2としてレーザ光を出射させれば、第2レーザ光源12と第4レーザ光源14の両方から出射したレーザ光に基づくレーザビームを走査範囲(2)に集中させることが可能となる。さらに、第2レーザ光源12と第4レーザ光源14を共に中心波長λ4としてレーザ光を出射させれば、第2レーザ光源12と第4レーザ光源14の両方から出射したレーザ光に基づくレーザビームを走査範囲(4)に集中させることが可能となる。
これに基づき、要望する走査範囲と第1~第4レーザ光源11~14の走査割り当てを図表に纏めると図8~図11のように表される。
まず、通常走査時として、走査範囲(1)~(4)を同時に走査する際には、図8に示す走査割当てとなる。具体的には、図8に示すように、第1~第4レーザ光源11~14それぞれで走査割り当てし、中心波長λ1~λ4として同時にレーザ光を出射する。これにより、複数の走査範囲(1)~(4)を同時に走査することが可能になる。
また、走査範囲(1)、(2)へ集中走査を行う場合には、図9に示すように、第1、第3レーザ光源11、13については走査範囲(1)、第2、第4レーザ光源12、14については走査範囲(2)をそれぞれ走査割り当てする。そして、第1、第3レーザ光源11、13については中心波長λ1として、第2、第4レーザ光源12、14については中心波長λ2として同時にレーザ光を出射する。これにより、第1~第4レーザ光源11~14から出射したレーザ光に基づくレーザビームを走査範囲(1)、(2)に集中させることが可能となる。
同様に、走査範囲(3)、(4)へ集中走査を行う場合には、図10に示すように、第1、第3レーザ光源11、13については走査範囲(3)、第2、第4レーザ光源12、14については走査範囲(4)をそれぞれ走査割り当てする。そして、第1、第3レーザ光源11、13については中心波長λ3として、第2、第4レーザ光源12、14については中心波長λ4として同時にレーザ光を出射する。これにより、第1~第4レーザ光源11~14から出射したレーザ光に基づくレーザビームを走査範囲(3)、(4)に集中させることが可能となる。
さらに、走査範囲(2)、(3)へ集中走査を行うこともでき、図11に示すように、第1、第3レーザ光源11、13については走査範囲(3)、第2、第4レーザ光源12、14については走査範囲(2)をそれぞれ走査割り当てする。そして、第1、第3レーザ光源11、13については中心波長λ3として、第2、第4レーザ光源12、14については中心波長λ2として同時にレーザ光を出射する。これにより、第1~第4レーザ光源11~14から出射したレーザ光に基づくレーザビームを走査範囲(2)、(3)に集中させることが可能となる。
以上説明したように、本実施形態のビーム偏向システムでは、第1~第4レーザ光源11~14で2つの組を構成している。また、第1組を構成するレーザ光源10と第2組を構成するレーザ光源10は、それぞれ対となって、対となるレーザ光源10同士が同じ種類の半導体レーザで構成されるようにしている。そして、第1~第4レーザ光源11~14を、それぞれ励起準位の波長を中心波長とする場合と基底準位の波長を中心波長とする場合の2つの異なる中心波長でのレーザ発振の切り替えが可能なものとしている。
これにより、通常走査時には、第1~第4レーザ光源11~14それぞれを中心波長λ1~λ4としてレーザ光を出射させることで、連続する複数の走査範囲(1)~(4)に同時にレーザビームを照射できる。また、特定の走査範囲にレーザビームを集中させるビーム制御を行う際には、第1、第3レーザ光源11、13を同じ中心波長でレーザ発振させ、第2、第4レーザ光源12、14を同じ中心波長でレーザ発振させるようにしている。これにより、第1~第4レーザ光源11~14という4つのレーザ光源10しか備えなくても、レーザ光源10のうちの複数を用いて同じ走査範囲に同時にレーザビームを照射できる。
よって、複数のレーザ光源10で広い走査範囲をカバーしているビーム偏向システムにおいて、レーザ光源10の数を制限しつつ、特定の走査範囲にレーザビームを集中させるビーム制御を実現することが可能となる。
(第2実施形態)
第2実施形態について説明する。本実施形態は、第1実施形態に対してレーザ光源10の数を変更したものであり、その他については第1実施形態と同様であるため、主に第1実施形態と異なる部分について説明する。
図12に示すように、本実施形態のビーム偏向システムでは、レーザ光源10として第1~第6レーザ光源11~16を備えている。また、導波路20についても、第1~第6レーザ光源11~16と波長合波器30とを繋ぐ第1~第6導波路21~26を備えている。
このような構成において、波長合波器30にて、導波路20を通じて伝搬された第1~第6レーザ光源11~16からのレーザ光を合波し、合波したレーザ光が導波路40に出力されたのちビーム偏向器50に伝えられるようにしている。これにより、ビーム偏向器50から複数の走査範囲にレーザビームが同時に出射されるようにできる。
より詳しくは、本実施形態では、レーザ光源10は、第1~第3レーザ光源11~13を1つの組となる第1組、第4~第6レーザ光源の14~16をもう1つの組となる第2組として、2つの組を構成している。第1組を構成するレーザ光源10と第2組を構成するレーザ光源10は、それぞれ対となって、対となるレーザ光源10同士が同じ種類の半導体レーザで構成されている。具体的には、第1レーザ光源11と第4レーザ光源14を同じ半導体レーザで構成しており、第2レーザ光源12と第5レーザ光源15を同じ半導体レーザで構成している。また、第3レーザ光源13と第6レーザ光源16を同じ半導体レーザで構成している。つまり、本実施形態でも、第1組と第2組は、同数のレーザ光源10を有した構成とされ、同じ組に含まれるレーザ光源10は異なる種類の半導体レーザとされ、異なる波長のレーザ光が生成可能となっている。
そして、図13に示すように、第1レーザ光源11と第4レーザ光源14については同じ半導体レーザで構成し、各レーザ光源11、14の利得媒体のゲインの波長依存性が極大値を2つ持つようにしている。つまり、励起準位の波長と基底準位の波長においてピークを持つようにしている。そして、通常走査時には、励起準位の波長を第1レーザ光源11の波長可変範囲の中心波長λ1、基底準位の波長を第4レーザ光源14の波長可変範囲の中心波長λ4としつつ、異なる中心波長でのレーザ発振の切替えも可能としている。つまり、第1レーザ光源11と第4レーザ光源14について、励起準位の波長を中心波長λ1とする場合と基底準位の波長を中心波長λ4とする場合という異なる中心波長でのレーザ発振の切替えを可能としている。
同様に、第2レーザ光源12と第5レーザ光源15については同じ半導体レーザで構成し、各レーザ光源12、15の利得媒体のゲインの波長依存性が極大値を2つ持つようにしている。つまり、励起準位の波長と基底準位の波長においてピークを持つようにしている。そして、通常走査時には、励起準位の波長を第2レーザ光源12の波長可変範囲の中心波長λ2、基底準位の波長を第5レーザ光源15の波長可変範囲の中心波長λ5としつつ、異なる中心波長でのレーザ発振の切替えも可能としている。つまり、第2レーザ光源12と第5レーザ光源15について、励起準位の波長を中心波長λ2とする場合と基底準位の波長を中心波長λ5とする場合という異なる中心波長でのレーザ発振の切替えを可能としている。
また、第3レーザ光源13と第6レーザ光源16については同じ半導体レーザで構成し、各レーザ光源13、16の利得媒体のゲインの波長依存性が極大値を2つ持つようにしている。つまり、励起準位の波長と基底準位の波長においてピークを持つようにしている。そして、通常走査時には、励起準位の波長を第3レーザ光源13の波長可変範囲の中心波長λ3、基底準位の波長を第6レーザ光源16の波長可変範囲の中心波長λ6としつつ、異なる中心波長でのレーザ発振の切替えも可能としている。つまり、第3レーザ光源13と第6レーザ光源16について、励起準位の波長を中心波長λ3とする場合と基底準位の波長を中心波長λ6とする場合という異なる中心波長でのレーザ発振の切替えを可能としている。
中心波長λ1~λ6は、λ1<λ2<λ3<λ4<λ5<λ6の関係になっている。このため、一つの対となるレーザ光源10の励起準位と基底準位との間に、残りの2つの対となるレーザ光源10の励起準位もしくは基底準位が来る構成とされている。より詳しくは、第1、第4レーザ光源11、14の励起準位と基底準位との間に、残りの2つの対となる第2、第5レーザ光源12、15や第3、第6レーザ光源13、16の励起準位もしくは基底準位が来る構成とされている。
これらの場合、レーザ発振させた場合の光出力は図14のように表され、各中心波長λ1~λ6を中心とした所定の波長可変範囲内において波長を変化させてもレーザ発振によって所望の光出力を得ることができる。このため、第1レーザ光源11と第4レーザ光源14、第2レーザ光源12と第5レーザ光源15、第3レーザ光源13と第6レーザ光源16をそれぞれ同じ半導体レーザによって構成しても、中心波長λ1~λ6において所望の光出力が得られる。
このため、図12に示すように、第1~第6レーザ光源11~16それぞれを中心波長λ1~λ6としてレーザ光を出射させることで、連続する複数の走査範囲(1)~(6)に同時にレーザビームを照射できる。したがって、連続する複数の走査範囲(1)~(6)を同時に走査できる。
また、第1、第4レーザ光源11、14を同じ半導体レーザによって構成し、第2、第5レーザ光源12、15を同じ半導体レーザによって構成し、第3、第6レーザ光源13,16を同じ半導体レーザによって構成している。このため、それぞれを同じ中心波長としてレーザ光を出射させることもできる。例えば、第1レーザ光源11と第4レーザ光源14を共に中心波長λ4としてレーザ光を出射させる。このようにすれば、第1レーザ光源11と第4レーザ光源14の両方から出射したレーザ光に基づくレーザビームを走査範囲(1)に集中させることが可能となる。
これに基づき、要望する走査範囲と第1~第6レーザ光源11~16の走査割り当てを図表に纏めると図15~図19のように表される。
まず、通常走査時として、走査範囲(1)~(6)を同時に走査する際には、図15に示す走査割当てとなる。具体的には、図15に示すように、第1~第6レーザ光源11~16それぞれで走査割り当てし、中心波長λ1~λ6として同時にレーザ光を出射する。これにより、複数の走査範囲(1)~(6)を同時に走査することが可能になる。
また、走査範囲(1)~(3)へ集中走査を行う場合には、図16に示すように、第1、第4レーザ光源11、14については走査範囲(1)、第2、第5レーザ光源12、15については走査範囲(2)をそれぞれ走査割り当てする。さらに、第3、第6レーザ光源13、16については走査範囲(3)を走査割り当てする。そして、第1、第4レーザ光源11、14については中心波長λ1、第2、第5レーザ光源12、15については中心波長λ2、第3、第6レーザ光源13、16については中心波長λ3として、同時にレーザ光を出射する。これにより、第1~第6レーザ光源11~16から出射したレーザ光に基づくレーザビームを走査範囲(1)~(3)に集中させることが可能となる。
走査範囲(4)~(6)へ集中走査を行う場合も同様であり、図17に示す割り当てとする。つまり、第1、第4レーザ光源11、14については中心波長λ4、第2、第5レーザ光源12、15については中心波長λ5、第3、第6レーザ光源13、16については中心波長λ6として、同時にレーザ光を出射する。これにより、第1~第6レーザ光源11~16から出射したレーザ光に基づくレーザビームを走査範囲(3)~(6)に集中させることが可能となる。
また、走査範囲(2)~(4)へ集中走査を行うこともでき、図18に示す割り当てとする。この場合、第1、第4レーザ光源11、14については中心波長λ4、第2、第5レーザ光源12、15については中心波長λ2、第3、第6レーザ光源13、16については中心波長λ3として、同時にレーザ光を出射する。これにより、第1~第6レーザ光源11~16から出射したレーザ光に基づくレーザビームを走査範囲(2)~(4)に集中させることが可能となる。
さらに、走査範囲(3)~(5)へ集中走査を行うこともでき、図19に示す割り当てとする。この場合、第1、第4レーザ光源11、14については中心波長λ4、第2、第5レーザ光源12、15については中心波長λ5、第3、第6レーザ光源13、16については中心波長λ3として、同時にレーザ光を出射する。これにより、第1~第6レーザ光源11~16から出射したレーザ光に基づくレーザビームを走査範囲(3)~(5)に集中させることが可能となる。
このように、6つのレーザ光源10を用いる場合おいても、第1実施形態と同様の効果を得ることができる。
(第3実施形態)
第3実施形態について説明する。本実施形態は、第1、第2実施形態で説明したレーザ光源10の具体例として、波長可変機構を備えた外部共振レーザを用いる場合について説明する。
図20は、外部レーザ共振器によって構成される1つのレーザ光源10の概略構成を示したものであり、この図に示すレーザ光源10が複数個、つまり第1実施形態の構成であれば4つ、第2実施形態の構成であれば6つ備えられることでビーム偏向システムが構成される。
図20に示すように、レーザ光源10は、光フィルタ101とSOA102とを有して構成されている。このレーザ光源は、SOA102から光を光フィルタ101に出射し、光フィルタ101およびSOA102において共振状態とした強い光として取り出し、SOA102から出射光として外部に出力するものである。このSOA102から外部に出力される出射光がレーザ光源10のレーザ光に相当する。
光フィルタ101は、例えば半導体基板110を用いて半導体プロセスを施すことによって形成されている。光フィルタ101についてはレーザ光源10毎に備えられることになるが、それぞれが分離した構成とされていても良いし、同じ半導体基板110に対して複数個が備えられて一体となった構成とされていても良い。具体的には、光フィルタ101を構成する半導体基板110には、SSC111、第1導波路112、第1リング共振器113、第2導波路114、第2リング共振器115、第3導波路116、変調器117、ループミラー118などが備えられている。
SSC111は、光スポットサイズ変換器である。SSC111は、SOA102と第1導波路112のモード径を合わせるためのものであり、一端が、半導体基板110の端面110aから露出させられており、他端が第1導波路112に接続されている。例えば、SSC111は、テーパ状に形成され、第1導波路112からSOA102に向けて徐々にモード径が拡径されている。また、SSC111のうちの第1導波路112側となる他端側は、反射を防止するため、第1導波路112の長手方向に対して所定角度だけ傾けられている。
第1導波路112、第2導波路114および第3導波路116は、SSC111から伝えられたSOA102からの光を伝搬する光導波路の役割を果たすものであり、一方向を長手方向としたライン状で構成され、互いに平行に並べられている。第1導波路112、第2導波路114および第3導波路116のうち先端部以外の内側部は、幅および厚みが等しくされ、一定の断面積とされている。第1導波路112は、光を第1リング共振器113に伝搬したり、第1リング共振器113から戻ってくる光をSOA102側に伝搬したりする。第2導波路114は、第1リング共振器113から伝搬された光を第2リング共振器115に伝搬したり、第2リング共振器115から戻ってくる光を第1リング共振器113側に伝搬したりする。第3導波路116は、第2リング共振器115から伝搬された光がループミラー118を介して戻されるため、これを再び第2リング共振器115に伝搬する。
第1導波路112のうちのSSC111と反対側の端部、第2導波路114の両端部、および、第3導波路116のうちのループミラー118と反対側の端部には、それぞれ、ターミネータ112a、114a、114b、116aが備えられている。これらターミネータ112a、114a、114b、116aにより、各導波路から伝搬されてきた不要な光が各導波路の外部に放出させられる。各ターミネータ112a、114a、114b、116aは、不要な光が反射して再び導波路に伝搬されることが抑制されるように、各導波路の長手方向に対して所定の角度傾斜した方向に延設され、先細りテーパ形状とされている。
また、第1導波路112のうちのSSC111と接続される側の端部も、第1導波路112の長手方向に対して所定の角度傾斜した方向に延設されている。そして、この端部は、先細り形状の導波路112bを含むSSC111に接続されることで、反射が抑制されて効率よく光がSSC111側に伝搬される構造とされている。
第1リング共振器113と第2リング共振器115は、光が入力されることにより、それぞれが所定の自由スペクトル間隔 (以下、FSRという)を有する透過スペクトルを生成する共振器である。
これら第1リング共振器113と第2リング共振器115それぞれで生成された透過スペクトルが重なった波長が、これらの合成スペクトルとなるダブルリングの透過スペクトルが最も高い1番目のピークとなる。この1番目のピークによって、反射鏡121とループミラー118の間で形成されるファブリペロー共振器の縦モードが選択され、レーザ発振が起こり強い光となるため、この強い光が出射光としてSOA102から外へ出力されるようになっている。
第1リング共振器113は、第1導波路112および第2導波路114の間に配置され、これらから所定距離離れた位置に配置されているが、これらに対して光結合されている。このため、第1導波路112から光が伝搬されてくると、第1リング共振器113にその光が伝搬され、第1リング共振器113内に伝搬された光が第2導波路114に伝搬される。
また、第2リング共振器115は、第2導波路114および第3導波路116の間に配置され、これらから所定距離離れた位置に配置されているが、これらに対して光結合されている。このため、第2導波路114から光が伝搬されてくると、第2リング共振器115にその光が伝搬され、第2リング共振器115内に伝搬された光が第3導波路116に伝搬される。
なお、第1リング共振器113や第2リング共振器115には、それぞれ、後述する図21に示されるようなヒータ135が備えられている。このヒータ135によって加熱されることで、意図的に、透過スペクトルのFSRを変化させられるようになっている。
第1導波路112、第2導波路114および第3導波路116は、共に幅が同じに設定されている。また、第1リング共振器113や第2リング共振器115は、長方形状の四隅を四分円としたもので構成され、幅を各導波路の幅と同じとしてある。第1リング共振器113のうち第1導波路112、第2導波路114と対向する直線部分や第2リング共振器115のうち第2導波路114、第3導波路116と対向する直線部分によって光結合され、結合効率を考慮してその長さが設定されている。また、第1リング共振器113と第1導波路112または第2導波路114との間隔である導波路間ギャップについても結合効率を考慮して設定されている。
図21は、第1リング共振器113の断面構造を示している。第1リング共振器113は、支持基板131、アンダークラッド層132、コア層133、オーバークラッド層134、ヒータ135を積層することで構成されている。
支持基板131は、シリコン基板などによって構成されている。アンダークラッド層132は、シリコン酸化膜(SiO)などの絶縁膜によって構成され、支持基板131の上に成膜されている。コア層133は、第1リング共振器113の導波路を構成する部分であり、シリコンなどによって構成されていて、上面形状が第1リング共振器113の形状となるようにパターニングされている。コア層133の幅が第1リング共振器113の幅に相当している。オーバークラッド層134は、SiOなどの絶縁膜によって構成され、コア層133を覆うように形成されている。ヒータ135は、オーバークラッド層134上において、コア層133と対応する位置に形成されている。ヒータ135は、例えばTa、TiN、TaNなどのように、通電によってコア層133を加熱できる発熱材料で構成されている。
なお、ここでは第1リング共振器113の断面構造として説明したが、第2リング共振器115も同様の構造とされている。また、第1~第3導波路112、114、116も、基本的には図21の断面構成とされ、ここからヒータ135を無くした構成とされている。また、支持基板131、アンダークラッド層132およびコア層133として、SOI(Silicon On Insulatorの略)基板が用いられ、SOI基板における活性層をパターニングしてコア層133を形成している。
変調器117は、第3導波路116を通過する光の位相を変調するものである。変調器117としては、例えば熱光学効果やキャリアプラズマ効果や電気光学効果などを利用した位相変調器が用いられる。なお、変調器117については、第3導波路116に限らず、第1導波路112や第2導波路114に備えられていても良い。
ループミラー118は、第3導波路116から伝搬されてきた光をループ状に伝搬させて、再び第3導波路116に伝搬させる役割を果たす。
一方、SOA102は、例えば、III-V族半導体構造などによって構成され、光を増幅して出力する光源となるものである。SOA102は、一面102aが半導体基板110の端面110aに貼り付けられることで光フィルタ101に接続されて一体となっている。この一面102aにおいて、第1導波路112と光結合されるように、図示しないマッチングオイルや紫外線硬化樹脂などを介して、SOA102が端面110aに接続されている。
SOA102の他面102bは、光の出射面となる面である。この他面102bには、反射鏡121が備えられており、SOA102から外部に光を取り出しつつも、内部において光を反射して光フィルタ101側に戻す役割を果たす。本実施形態のように、反射鏡121にて光を反射しつつ、外部に光を取り出す形態とする場合、一般的には、反射鏡121の反射率は1~10%程度とされる。
図22は、SOA102の断面構造を示している。SOA102は、下部電極140、基板141、アンダークラッド層142、中間層143、量子ドット層144、オーバークラッド層145、コンタクト層146、上部電極147の積層構造によって構成とされている。
下部電極140は、基板141の裏面側、つまりアンダークラッド層142と反対側に接触させられている。基板141は、例えばGaAs基板などによって構成されている。アンダークラッド層142は、n型のAlGaAsなどで構成されている。中間層143と量子ドット層144は、交互に形成されたもので、ここでは交互に繰り返し形成されたもの、例えば3段繰り返し積層した構造とされている。中間層143は、例えばInGa1-xAs(0≦x<1)によって構成されており、量子ドット層144は、例えばInAs、InGaAsによって構成されている。量子ドット層144は、結晶成長や微細加工などによって形成された粒状の量子ドットを備えた構造であり、表面側および裏面側が中間層143によって覆われている。
オーバークラッド層145は、最も上層に位置している中間層143の表面上に形成されており、例えばAlGaAsによって構成されている。コンタクト層146は、AlGaAsの上に形成されており、例えばGaAsによって構成され、上部電極147とのコンタクトを取るために形成されている。上部電極147は、コンタクト層146の表面に接触させられるように形成されている。上部電極147とコンタクト層146およびオーバークラッド層145の表層部に至るまで凹部148が形成されており、凹部148以外の位置に上部電極147とコンタクト層146が突き出たメサ構造とされている。
このように構成されたSOA102により、上部電極147と下部電極140との間に所定の電位差を発生させる電圧を印加することにより、レーザ発振を生じさせ、レーザ光を出射させることができる。
このようにして、光フィルタ101およびそれにSOA102を組み合わせることで構成されたレーザ光源が構成されている。このようなレーザ光源は、反射鏡121とループミラー118とによって光が反射させられるファブリペロー共振器を構成し、反射鏡121とループミラー118との間において縦モードとなる共振状態を作り出す。そして、第1リング共振器113と第2リング共振器115の強い共振状態によって、これら縦モードのうち一つ以上が選択され、強い共振状態が生じる波長においてレーザ発振し、強い光が反射鏡121から誘導放出されて出射光として出力されるようになっている。
そして、第1リング共振器113や第2リング共振器115に備えられたヒータ135の温度調整を行うことによってレーザ光源10を構成する外部レーザ共振器のレーザ共振器長を調整することで、レーザ光の波長を可変とすることができる。
また、レーザ光源10における利得媒体の基底準位と励起準位の制御に基づいて、レーザ光の波長を可変とすることもできる。例えば(1)量子ドット層144を構成する量子ドットのサイズの調整、(2)中間層143の組成調整、(3)アンダークラッド層142の組成調整、(4)SOA102の素子温度の調整の少なくとも1つによって基底準位と励起準位を制御できる。
これらレーザ共振器長の調整と基底準位と励起準位の制御を両方とも行っても良いが、少なくとも一方で良い。特に、利得媒体のゲインの波長依存性がブロードな場合には、必ずしも基底準位と励起準位の制御については必要ではない。
例えば、第2実施形態のように、6つのレーザ光源10を用いる場合には、図23に示すように第1~第6レーザ光源11~16の中心波長λ1~λ6をそれぞれ1215~1365nmまで30nm間隔で設定することができる。また、各中心波長λ1~λ6に対して波長可変下限を-15nm、波長可変上限を+15nmに設定することができ、第1~第6レーザ光源11~16の波長可変範囲を連続したものとすることが可能となる。
なお、図23では、第2実施形態のように6つのレーザ光源10を用いる場合の一例として示しているが、第1実施形態のように4つのレーザ光源10を用いる場合も同様である。その場合、例えば図23に示される6つうちの上から4つの中心波長λ1~λ4を選択すれば良いし、他の連続する4つの中心波長となるようにしても良い。
(他の実施形態)
本開示は、上記した実施形態に準拠して記述されたが、当該実施形態に限定されるものではなく、様々な変形例や均等範囲内の変形をも包含する。加えて、様々な組み合わせや形態、さらには、それらに一要素のみ、それ以上、あるいはそれ以下、を含む他の組み合わせや形態をも、本開示の範疇や思想範囲に入るものである。
例えば、上記第1実施形態ではレーザ光源10を4つ、第2実施形態ではレーザ光源10を6つ備える場合を例に挙げて説明したが、これらに限らない。すなわち、2つの異なる中心波長に切り替えることが可能な2組のM種のレーザ光源10を備えることで、合計2M個のレーザ光源10を備える。ただし、Mは正の整数である。そして、2組それぞれのM種のレーザ光源10のN番目のレーザ光源10の中心波長をそれぞれλNとλN+Mとしたとき、λ1<λ2<・・・<λN<・・・<λM<・・・<λN+M<・・・<λ2Mを満たすようにする。ただし、Nは正の整数、かつ、1≦N≦Mを満たす数を意味している。
このようにすれば、複数のレーザ光源10から出射されるレーザ光を波長合波器30にて合波させ、ビーム偏向器50より波長に応じた走査範囲のレーザビームとして出射させることが可能となる。また、特定の走査範囲にレーザビームを集中させるビーム制御を実現できる。
また、上記実施形態では、複数個のレーザ光源10における光フィルタ101について、それぞれが分離した構成とされていても良いし、一体となった構成とされていても良いことに付いて説明した。さらに、導波路20、波長合波器30、導波路40およびビーム偏向器50についても一体的に形成することもできる。
10 レーザ光源
11~16 第1~第6レーザ光源
20、40 導波路
21~26 第1~第6導波路
30 波長合波器
50 ビーム偏向器

Claims (4)

  1. 波長の変化によってレーザビームを偏向させるビーム偏向器(50)と、
    2つの異なる中心波長の切り替えが可能な複数のレーザ光源(10)と、
    複数のレーザ光源から出射されるレーザ光を合波させ、前記ビーム偏向器へ入力する波長合波器(30)と、を有し、
    前記複数のレーザ光源は、2つの異なる中心波長の切り替えが可能なレーザ光源をM種備えていると共に、M種それぞれの前記レーザ光源を2組ずつ備えており、
    前記波長合波器は、前記2組のM種の前記レーザ光源から出射されるレーザ光を合波させて前記ビーム偏向器へ入力し、
    前記2組のM種のレーザ光源のN番目(1≦N≦M) のレーザ光源の中心波長をλNとλN+Mとしたとき、
    λ1<λ2<・・・<λN<・・・<λM<・・・<λN+M<・・・<λ2M
    を満たしているビーム偏向システム。
  2. 前記レーザ光源のレーザ利得媒体のゲインの波長依存性が極大値を2つ持つ、請求項1に記載のビーム偏向システム。
  3. 前記レーザ光源の中心波長λ1~λMがレーザ利得媒体の励起準位による発振、かつ、中心波長λM+1~λ2Mがレーザ利得媒体の基底準位による発振である請求項1または2に記載のビーム偏向システム。
  4. 前記レーザ光源のうちレーザ利得媒体に量子ドット構造を用いている請求項1乃至3のいずれか1つに記載のビーム偏向システム。
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US10243328B2 (en) * 2013-11-20 2019-03-26 Elenion Technologies, Llc Semiconductor laser
US9525269B2 (en) * 2014-11-22 2016-12-20 TeraDiode, Inc. Wavelength beam combining laser systems utilizing etalons

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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